JPS6183924A - 旋光度測定装置 - Google Patents
旋光度測定装置Info
- Publication number
- JPS6183924A JPS6183924A JP20515984A JP20515984A JPS6183924A JP S6183924 A JPS6183924 A JP S6183924A JP 20515984 A JP20515984 A JP 20515984A JP 20515984 A JP20515984 A JP 20515984A JP S6183924 A JPS6183924 A JP S6183924A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- light
- polarized light
- linearly polarized
- rotary power
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title abstract description 15
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims abstract description 17
- 238000000711 polarimetry Methods 0.000 claims description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 101150118300 cos gene Proteins 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 2
- 101100234408 Danio rerio kif7 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100221620 Drosophila melanogaster cos gene Proteins 0.000 description 1
- 101100398237 Xenopus tropicalis kif11 gene Proteins 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000004886 process control Methods 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J4/00—Measuring polarisation of light
- G01J4/04—Polarimeters using electric detection means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ・ 産業上の利用分野
本発明は長期にわたり連続的に試料の旋光度を測定する
のに適した旋光度測定装置に関する。
のに適した旋光度測定装置に関する。
口・ 従来技術
連続的に旋光度を測定することができる従来の旋光度測
定装置は第３図に示すような構成になっていた。第３図
で１は光源、２は偏光子、３はファラーデー素子で交流
電圧が印加され偏光子２を透過した偏光の偏光方向を正
負に変調している。
定装置は第３図に示すような構成になっていた。第３図
で１は光源、２は偏光子、３はファラーデー素子で交流
電圧が印加され偏光子２を透過した偏光の偏光方向を正
負に変調している。
能でありサーボモータ６により厄動される。７は受光素
子であり、その出力は信号処理回路８に入力される。偏
光子２と５を直交させ、フローセルを空にしておくと、
ファラデー素子３に電圧が印加されていないときは受光
素子７に入射する光は遮断されているが、ファラデー素
子に交番電圧を印加すると、偏光方向が正負に振れるの
で、検光子５を透過する偏光成分が生じ、受光素子７の
出力はファラデー素子に印加する交番電圧の周波数の２
倍の周波数で変化する。検光子５の偏光方向が偏光子２
と直交の方向からファラデー素子による偏光面の振れの
振幅より大きな角度だけ回転していると受光素子７の出
力はファラデー素子に印加する電圧と同じ周期で変動す
る。そこで信号処理回路８が、ファラデー素子に印加す
る電圧と同一の周波数の交流成分が最小になるようにサ
ーボモータ６を制御するように構成しておくと、（この
ときファラデー素子に印加する電圧の２倍の交流成分は
最大となる。）検光子５の回転角即ち信号処理回路８が
サーボモータ６を駆動した制御量が試料の旋光度を表わ
すことになり、これが記録装置９に記録される。
子であり、その出力は信号処理回路８に入力される。偏
光子２と５を直交させ、フローセルを空にしておくと、
ファラデー素子３に電圧が印加されていないときは受光
素子７に入射する光は遮断されているが、ファラデー素
子に交番電圧を印加すると、偏光方向が正負に振れるの
で、検光子５を透過する偏光成分が生じ、受光素子７の
出力はファラデー素子に印加する交番電圧の周波数の２
倍の周波数で変化する。検光子５の偏光方向が偏光子２
と直交の方向からファラデー素子による偏光面の振れの
振幅より大きな角度だけ回転していると受光素子７の出
力はファラデー素子に印加する電圧と同じ周期で変動す
る。そこで信号処理回路８が、ファラデー素子に印加す
る電圧と同一の周波数の交流成分が最小になるようにサ
ーボモータ６を制御するように構成しておくと、（この
ときファラデー素子に印加する電圧の２倍の交流成分は
最大となる。）検光子５の回転角即ち信号処理回路８が
サーボモータ６を駆動した制御量が試料の旋光度を表わ
すことになり、これが記録装置９に記録される。
ハ・ 発明が解決しようとする問題点
上述しまたように従来の旋光度測定装置は検光子５をサ
ーボ機構で駆動して、検光子５を透過する光が最小にな
る位置を検出する構成であるから、機械的な運動部分を
有し、機械的運動部分は作動することにより必ず磨耗を
生ずるので長期連続の使用には不適当である。他方製造
工程におけるプロセス制御とか品質管理のため、常時連
続的に工程から試料を抽出し、継続的に試料の旋光度を
測定する必要がある。上述した従来装置はこのような場
合に用いるときは、機械的な構造部分を有するため、耐
久性の面でも、信頼性の面でも甚だ不満足であった。
ーボ機構で駆動して、検光子５を透過する光が最小にな
る位置を検出する構成であるから、機械的な運動部分を
有し、機械的運動部分は作動することにより必ず磨耗を
生ずるので長期連続の使用には不適当である。他方製造
工程におけるプロセス制御とか品質管理のため、常時連
続的に工程から試料を抽出し、継続的に試料の旋光度を
測定する必要がある。上述した従来装置はこのような場
合に用いるときは、機械的な構造部分を有するため、耐
久性の面でも、信頼性の面でも甚だ不満足であった。
本発明は」二連した従来装置の問題点を解消し、可動部
分を含まず、従って耐久性のきわめて秀れた連続測定用
旋光度測定装置を提供するものである。
分を含まず、従って耐久性のきわめて秀れた連続測定用
旋光度測定装置を提供するものである。
二、問題解決のだめの手段
本発明は試料を透過した直線偏光を、偏光方向が互に直
交する二光束に分離する型の検光子例えばウォラストン
プリズムとかロションプリズム等を用いて、偏光方向が
直交する二つの偏光に分解し、二つの偏光の強度の関係
から試料の旋光度を算出するようにした旋光度測定装置
である。
交する二光束に分離する型の検光子例えばウォラストン
プリズムとかロションプリズム等を用いて、偏光方向が
直交する二つの偏光に分解し、二つの偏光の強度の関係
から試料の旋光度を算出するようにした旋光度測定装置
である。
ホ１作用
試料の前面（光の入射側）に配量される偏光子を偏光子
、試料の後側（光の出射側）に配量される偏光子を検光
子と云うことにする。本発明は偏る。試料セルが空又は
旋光性のない試料の場合、偏光子を透過した直線偏光を
、その偏光方向と±４５ の方向で互に直交する二つの
偏光に分離するように検光子を配量する。この場合検光
子で分離された二つの偏光は強さが等しい。試料が旋光
性の場合、試料セルを透過した直線偏光は偏光子線偏光
の振幅をＡ′、試料から出た直線偏光の振幅をＡＯ１検
光子で分解された直交２方向の偏光成分をＡ（＋α）、
Ａ（−α）とすると、光強度は振幅の自乗に比例するの
で、上記偏光成分の強度工（＋α）、工（−α）は ■（十α）＝Ａ０２ｃｏｓ２（α＋４５°）＝Ａ０２（
−！ ＣＯｓ２ａ＋−’ ８ ｉ ｎ２α−５ｉｎαｃ
ｏｓα）■（−α）＝Ａ□”ｃｏｓ２（α〜４５°）＝
Ａ０２（−！−ｃｏｏ２α＋−Ｌｓｉｎ２α＋ｓｉｎα
ＣＯ８α）上２式を整理して工（＋α）／工（−α）を
計算すると となり、上記偏光成分の強度化工（＋α）／工（〜α）
から偏光の旋光角αを計算することができる。
、試料の後側（光の出射側）に配量される偏光子を検光
子と云うことにする。本発明は偏る。試料セルが空又は
旋光性のない試料の場合、偏光子を透過した直線偏光を
、その偏光方向と±４５ の方向で互に直交する二つの
偏光に分離するように検光子を配量する。この場合検光
子で分離された二つの偏光は強さが等しい。試料が旋光
性の場合、試料セルを透過した直線偏光は偏光子線偏光
の振幅をＡ′、試料から出た直線偏光の振幅をＡＯ１検
光子で分解された直交２方向の偏光成分をＡ（＋α）、
Ａ（−α）とすると、光強度は振幅の自乗に比例するの
で、上記偏光成分の強度工（＋α）、工（−α）は ■（十α）＝Ａ０２ｃｏｓ２（α＋４５°）＝Ａ０２（
−！ ＣＯｓ２ａ＋−’ ８ ｉ ｎ２α−５ｉｎαｃ
ｏｓα）■（−α）＝Ａ□”ｃｏｓ２（α〜４５°）＝
Ａ０２（−！−ｃｏｏ２α＋−Ｌｓｉｎ２α＋ｓｉｎα
ＣＯ８α）上２式を整理して工（＋α）／工（−α）を
計算すると となり、上記偏光成分の強度化工（＋α）／工（〜α）
から偏光の旋光角αを計算することができる。
へ、実施例
第１図に本考案の一実施例を示す。１は光源、２は偏光
子、−４は試料セルで、５は入射光を直交二偏光に分離
する検光子で、この例ではウォラストンプリズムを使っ
ている。７１．７２はウォラストンプリズム５で分離さ
れた二光束を各別に受光する受光素子で、夫々の出力は
プリアンプ１０．１１を経て演算装置１２に入力される
。プリアンプ１０．１１の出力が前項で述べた工（＋α
）、工（−α）に相当し、演算装置１２は前記（１）式
の演算を行って旋光角αを算出し、演算結果を表示装置
１３に送って表示する。なお１４は単色フィルタである
。
子、−４は試料セルで、５は入射光を直交二偏光に分離
する検光子で、この例ではウォラストンプリズムを使っ
ている。７１．７２はウォラストンプリズム５で分離さ
れた二光束を各別に受光する受光素子で、夫々の出力は
プリアンプ１０．１１を経て演算装置１２に入力される
。プリアンプ１０．１１の出力が前項で述べた工（＋α
）、工（−α）に相当し、演算装置１２は前記（１）式
の演算を行って旋光角αを算出し、演算結果を表示装置
１３に送って表示する。なお１４は単色フィルタである
。
検光子５は前項で述べたように、試料セル４を通過し走
光の偏光方向が回転していない場合に、入射した直線偏
光即ち偏光子２の透過光を互に等しくかつ直交している
二個光成分に分解する方向に配量されている。この方向
では入射した偏光はその方向と±４５ の方向に偏光し
た二成分に分解される。
光の偏光方向が回転していない場合に、入射した直線偏
光即ち偏光子２の透過光を互に等しくかつ直交している
二個光成分に分解する方向に配量されている。この方向
では入射した偏光はその方向と±４５ の方向に偏光し
た二成分に分解される。
ト・効果
本発明は上述したように試料透過光を偏光方向が直交し
た二光束に分離する検光子を用い、この分離された二光
束の強度比から試料による偏光の旋光角を算出する構成
で機械的な運動部分を含んでいないから、試料の変化に
即応でき、機械的な故障の心配が全くなく、機溝の磨耗
もないからきわめて耐久的であシ、長期連続使用に対し
て高度の信頼性が得られる。
た二光束に分離する検光子を用い、この分離された二光
束の強度比から試料による偏光の旋光角を算出する構成
で機械的な運動部分を含んでいないから、試料の変化に
即応でき、機械的な故障の心配が全くなく、機溝の磨耗
もないからきわめて耐久的であシ、長期連続使用に対し
て高度の信頼性が得られる。
第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
２図は計算導出の説明をする偏光ベクトル図、第３図は
従来例のブロック図である。 １・・・光源、２・・・偏光子、４・・・試料セル（フ
ローセル）、５・・・検光子、７１．’７２・・・受光
素子、１２・・・演算装置。
２図は計算導出の説明をする偏光ベクトル図、第３図は
従来例のブロック図である。 １・・・光源、２・・・偏光子、４・・・試料セル（フ
ローセル）、５・・・検光子、７１．’７２・・・受光
素子、１２・・・演算装置。
Claims (1)
- 試料に直線偏光を入射させる手段と、試料透過光束を偏
光方向が互に直交する二光束に分離する型の検光子と、
同検光子によつて分離された二光束を各別に受光する受
光素子と、同受光素子の出力の比から試料の偏光旋光角
を算出する演算装置とよりなり、上記検光子は試料によ
る偏光面の回転がない場合の入射直線偏光をその偏光方
向と±４５°の方向を偏光方向とする互に等しい二つの
偏光成分に分解するように配量されていることを特徴と
する旋光度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59205159A JPH0672807B2 (ja) | 1984-09-29 | 1984-09-29 | 旋光度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59205159A JPH0672807B2 (ja) | 1984-09-29 | 1984-09-29 | 旋光度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6183924A true JPS6183924A (ja) | 1986-04-28 |
| JPH0672807B2 JPH0672807B2 (ja) | 1994-09-14 |
Family
ID=16502397
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59205159A Expired - Lifetime JPH0672807B2 (ja) | 1984-09-29 | 1984-09-29 | 旋光度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0672807B2 (ja) |
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0468487A2 (en) * | 1990-07-27 | 1992-01-29 | Showa Denko Kabushiki Kaisha | Method of detecting angle of optical rotation in solution having time-dependent concentration, detection apparatus therefor, and detector cell therefor |
| JPH0445932U (ja) * | 1990-08-21 | 1992-04-20 | ||
| US5311285A (en) * | 1991-08-29 | 1994-05-10 | Nkk Corporation | Measuring method for ellipsometric parameter and ellipsometer |
| US5335066A (en) * | 1991-08-29 | 1994-08-02 | Nkk Corporation | Measuring method for ellipsometric parameter and ellipsometer |
| US5438415A (en) * | 1991-01-30 | 1995-08-01 | Nkk Corporation | Ellipsometer and method of controlling coating thickness therewith |
| JPH07318429A (ja) * | 1994-05-20 | 1995-12-08 | Yanmar Agricult Equip Co Ltd | 旋光角の測定方法 |
| US5613675A (en) * | 1994-01-27 | 1997-03-25 | Heidelberger Druckmaschinen | Method and device for conveying sheets in a feeder region of a sheet-processing machine |
| US6675713B2 (en) | 2001-03-08 | 2004-01-13 | Heidelberger Druckmaschinen Ag | Eccentric belt drive |
| JP2013126509A (ja) * | 2011-12-19 | 2013-06-27 | Sony Corp | 測定装置、測定方法、プログラム及び記録媒体 |
| JP2014130045A (ja) * | 2012-12-28 | 2014-07-10 | Seiko Epson Corp | 旋光度測定方法、成分濃度測定方法、旋光度測定装置及び医療機器 |
| CN108709860A (zh) * | 2018-07-19 | 2018-10-26 | 湖北汽车工业学院 | 一种基于差动过零检测的旋光仪及测量方法 |
| RU2680861C1 (ru) * | 2018-02-07 | 2019-02-28 | Акционерное общество "Швабе - Технологическая лаборатория" | Поляриметр погружной для контроля доли ароматических углеводородов в светлых нефтепродуктах |
| CN113588216A (zh) * | 2021-08-02 | 2021-11-02 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种偏振片光学零位快速高精度定标装置和方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2648014C1 (ru) * | 2017-01-18 | 2018-03-21 | Акционерное общество "Швабе - Технологическая лаборатория" | Поляриметр для измерения постоянной верде прозрачных веществ |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58153145A (ja) * | 1982-02-25 | 1983-09-12 | アメリカン・クリスタル・シユガ−・カンパニ− | 光学的旋回を測定する方法及びその偏光装置 |
-
1984
- 1984-09-29 JP JP59205159A patent/JPH0672807B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58153145A (ja) * | 1982-02-25 | 1983-09-12 | アメリカン・クリスタル・シユガ−・カンパニ− | 光学的旋回を測定する方法及びその偏光装置 |
Cited By (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0468487A2 (en) * | 1990-07-27 | 1992-01-29 | Showa Denko Kabushiki Kaisha | Method of detecting angle of optical rotation in solution having time-dependent concentration, detection apparatus therefor, and detector cell therefor |
| JPH04231848A (ja) * | 1990-07-27 | 1992-08-20 | Showa Denko Kk | 旋光度検出方法、その検出装置および旋光度検出用セル |
| US5168326A (en) * | 1990-07-27 | 1992-12-01 | Showa Denko K.K. | Method of detecting angle of optical rotation in solution having time-dependent concentration, detection apparatus therefor, and detector cell therefor |
| JPH0445932U (ja) * | 1990-08-21 | 1992-04-20 | ||
| US5438415A (en) * | 1991-01-30 | 1995-08-01 | Nkk Corporation | Ellipsometer and method of controlling coating thickness therewith |
| US5311285A (en) * | 1991-08-29 | 1994-05-10 | Nkk Corporation | Measuring method for ellipsometric parameter and ellipsometer |
| US5335066A (en) * | 1991-08-29 | 1994-08-02 | Nkk Corporation | Measuring method for ellipsometric parameter and ellipsometer |
| US5613675A (en) * | 1994-01-27 | 1997-03-25 | Heidelberger Druckmaschinen | Method and device for conveying sheets in a feeder region of a sheet-processing machine |
| JPH07318429A (ja) * | 1994-05-20 | 1995-12-08 | Yanmar Agricult Equip Co Ltd | 旋光角の測定方法 |
| US6675713B2 (en) | 2001-03-08 | 2004-01-13 | Heidelberger Druckmaschinen Ag | Eccentric belt drive |
| JP2013126509A (ja) * | 2011-12-19 | 2013-06-27 | Sony Corp | 測定装置、測定方法、プログラム及び記録媒体 |
| WO2013094362A1 (ja) * | 2011-12-19 | 2013-06-27 | ソニー株式会社 | 測定装置、測定方法、プログラム及び記録媒体 |
| CN103987316A (zh) * | 2011-12-19 | 2014-08-13 | 索尼公司 | 测量设备、测量方法、程序和记录介质 |
| US9867559B2 (en) | 2011-12-19 | 2018-01-16 | Sony Corporation | Measurement device, measurement method, program and recording medium |
| JP2014130045A (ja) * | 2012-12-28 | 2014-07-10 | Seiko Epson Corp | 旋光度測定方法、成分濃度測定方法、旋光度測定装置及び医療機器 |
| RU2680861C1 (ru) * | 2018-02-07 | 2019-02-28 | Акционерное общество "Швабе - Технологическая лаборатория" | Поляриметр погружной для контроля доли ароматических углеводородов в светлых нефтепродуктах |
| CN108709860A (zh) * | 2018-07-19 | 2018-10-26 | 湖北汽车工业学院 | 一种基于差动过零检测的旋光仪及测量方法 |
| CN113588216A (zh) * | 2021-08-02 | 2021-11-02 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种偏振片光学零位快速高精度定标装置和方法 |
| CN113588216B (zh) * | 2021-08-02 | 2023-09-19 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种偏振片光学零位快速高精度定标装置和方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0672807B2 (ja) | 1994-09-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6183924A (ja) | 旋光度測定装置 | |
| JP4556463B2 (ja) | 複屈折率測定装置 | |
| US10168274B2 (en) | Polarization properties imaging systems | |
| US3183763A (en) | Polarization analyzers for optical systems employing polarized light | |
| JPH054606B2 (ja) | ||
| US3741661A (en) | Universal polarimeter | |
| JPH04231848A (ja) | 旋光度検出方法、その検出装置および旋光度検出用セル | |
| US20030081196A1 (en) | Method and arrangement for optical stress analysis of solids | |
| US2829555A (en) | Polarimetric method and apparatus | |
| US3741660A (en) | Conversion of circular dichroism spectropolarimeter to linear dichroism measurement mode | |
| EP0080540A1 (en) | Method and apparatus for measuring quantities which characterize the optical properties of substances | |
| US3602597A (en) | Differential circular dichroism measuring apparatus | |
| US3016789A (en) | Polarimetric apparatus | |
| JP3341928B2 (ja) | 二色性分散計 | |
| JPH08201277A (ja) | 複屈折測定方法及び装置 | |
| US3637311A (en) | Optical dichroism measuring apparatus and method | |
| JP2780988B2 (ja) | スペクトロポーラリメータ | |
| JP2665917B2 (ja) | ４ビームスプリッタプリズム | |
| RU2224240C2 (ru) | Способ измерения концентрации сахара и сахариметр для его реализации | |
| JP2509692B2 (ja) | 光学式測定装置 | |
| US3361027A (en) | Spectrophotometer | |
| JPS5892832A (ja) | 旋光計 | |
| JPS61145421A (ja) | 旋光分散・円二色性同時測定装置 | |
| JP3227934B2 (ja) | 偏光特性測定方法 | |
| JPS60253804A (ja) | 偏波面保存光フアイバを用いた光干渉計 |