JPS6114392U - 核医学イメ−ジング機器の散乱線除去装置 - Google Patents

核医学イメ−ジング機器の散乱線除去装置

Info

Publication number
JPS6114392U
JPS6114392U JP9823184U JP9823184U JPS6114392U JP S6114392 U JPS6114392 U JP S6114392U JP 9823184 U JP9823184 U JP 9823184U JP 9823184 U JP9823184 U JP 9823184U JP S6114392 U JPS6114392 U JP S6114392U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
nuclear medicine
imaging equipment
medicine imaging
removal device
scattered radiation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9823184U
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0448546Y2 (ja
Inventor
淳一 大井
Original Assignee
株式会社島津製作所
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社島津製作所 filed Critical 株式会社島津製作所
Priority to JP9823184U priority Critical patent/JPS6114392U/ja
Publication of JPS6114392U publication Critical patent/JPS6114392U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0448546Y2 publication Critical patent/JPH0448546Y2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の一実施例のブロック図、第2図は従
来例のブロック図、第3図A, B, Cはエネルギス
ペクトルを示すグラフである。 1,11・・・検出器、2,21・・・増幅器、3・・
・SCA,3 i・・・TSCA,4・・・エンコーダ
、5・・・アドレス発生回路、6・・・メモリ、7・・
・CPU、81・・・ゲート回路、91・・・同時計数
回路。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 多数の放射線検出器と、これらの放射線検出器の出力信
    号がそれぞれ入力されてこの出力信号の波高値をそれぞ
    れ分析する多数のアナライザとを有する核医学イメージ
    ング機器において、各アナライザの出力端子にそれぞれ
    接続された多数のゲート回路と、上記多数の検出器のう
    ち客々近傍に位置する少なくとも2個の検出器に放射線
    が同時入射したことをそれぞれ検出する多数の同時計数
    回路とを有し、この同時計数回路が同時入射を検出した
    ときに生じる信号で対応するゲート回路に禁止をかける
    ようにしたことを特徴とする核医学イメージング機器の
    散乱線除去装置。
JP9823184U 1984-06-28 1984-06-28 核医学イメ−ジング機器の散乱線除去装置 Granted JPS6114392U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9823184U JPS6114392U (ja) 1984-06-28 1984-06-28 核医学イメ−ジング機器の散乱線除去装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9823184U JPS6114392U (ja) 1984-06-28 1984-06-28 核医学イメ−ジング機器の散乱線除去装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6114392U true JPS6114392U (ja) 1986-01-28
JPH0448546Y2 JPH0448546Y2 (ja) 1992-11-16

Family

ID=30657780

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9823184U Granted JPS6114392U (ja) 1984-06-28 1984-06-28 核医学イメ−ジング機器の散乱線除去装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6114392U (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06138237A (ja) * 1992-10-23 1994-05-20 Toshiba Corp シンチレーションカメラ
JP2000321357A (ja) * 1999-03-10 2000-11-24 Toshiba Corp 核医学診断装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06138237A (ja) * 1992-10-23 1994-05-20 Toshiba Corp シンチレーションカメラ
JP2000321357A (ja) * 1999-03-10 2000-11-24 Toshiba Corp 核医学診断装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0448546Y2 (ja) 1992-11-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6114392U (ja) 核医学イメ−ジング機器の散乱線除去装置
US4075486A (en) Method and device for diminishing the background effect in a proportional counter
JPS58151863U (ja) 放射線測定装置
JPS6113983Y2 (ja)
Binnall et al. Digitizing electronics for the EMI multi-wire proportional chambers
JPS59125795U (ja) 表示装置
JPS5954871U (ja) 検出装置
JPS59106057U (ja) 電子分光装置
JPS59124352U (ja) 質量分析装置
JPS60139280U (ja) パルス監視装置
JPS58150330U (ja) 異常検出装置
JPS5972492U (ja) 穀物乾燥機の異常表示装置
JPS58156228U (ja) X線検査装置
JPS5932548U (ja) 建設機械の安全装置
JPS61104389U (ja)
JPS58121000U (ja) 臨界警報装置
KOVNATSKII et al. A simple two-dimensional analyzer of beta-gamma coincidences in the study of radioactive fallout samples
JPS5882684U (ja) Ct装置のx線検出器
JPS5994393U (ja) 画像処理装置
JPS5996699U (ja) ロ−ドサ−ベイ装置
JPS58101392U (ja) テ−プ量表示装置
JPS5962543U (ja) 吸光分析計
JPS58105156U (ja) 半導体2次電子検出装置
JPS59113774U (ja) 半導体素子特性の自動測定装置
JPS58150839U (ja) 電子ビ−ムを用いた測定装置