JPS59124352U - 質量分析装置 - Google Patents

質量分析装置

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JPS59124352U
JPS59124352U JP1872783U JP1872783U JPS59124352U JP S59124352 U JPS59124352 U JP S59124352U JP 1872783 U JP1872783 U JP 1872783U JP 1872783 U JP1872783 U JP 1872783U JP S59124352 U JPS59124352 U JP S59124352U
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JP
Japan
Prior art keywords
signal
microdetector
spectrum
array
microdetector array
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Pending
Application number
JP1872783U
Other languages
English (en)
Inventor
統広 内藤
内藤　善博
Original Assignee
日本電子株式会社
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Publication date
Application filed by 日本電子株式会社 filed Critical 日本電子株式会社
Priority to JP1872783U priority Critical patent/JPS59124352U/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は掃引型質量分析装置の基本構成を示す図、第２
図は本考案の考え方を説明するための図、第３図は本考
案の一実施例の構成を示す図である。 １：イオン源、３．　３’　　：電極、４：磁石、５：
チャンネルプレート、６：微小検出器列、７：読出し制
御回路、９：メモリ、１０：コンピュータ、１１：磁場
制御回路、１２：掃引回路、１３：変換回路、１４：対
数回路、１５：加算回路、１６：カウンタ、１８：増幅
器。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. イオン源と、該イオン源で生成されたイオンを質量スペ
    クトルとして展開するための手段と、スペクトルの展開
    面に沿って配置された空間分解能を有する微小検出器列
    と、該微小検出器列上でスペクトルを掃引するするため
    の手段と、該スペクトル掃引よりも速い掃引速度で上記
    微小検出器列から検出信号を順次くり返し読み出す手段
    と、該読出し手段によって読み出されている検出器の位
    置を示す位置信号ｎを発生する手段と、該位置信号ｎに
    定数Ｋを掛ける掛算手段と、前記微小検出器列の基準位
    置に到達するイオンの質量数Ｍ。に対応する対数信号を
    発生する手段と、該対数信号と前記掛算手段の出力信号
    を加算する加算手段と、各微小検出器から順次読出され
    た検出信号を該加算手段の出力信号に基づいて積算する
    記憶演算手段とを備えたことを特徴とする質量分析装置
    。
JP1872783U 1983-02-10 1983-02-10 質量分析装置 Pending JPS59124352U (ja)

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JPS59124352U true JPS59124352U (ja) 1984-08-21

Family

ID=30149905

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5760654A (en) * 1980-09-26 1982-04-12 Jeol Ltd Spectral detecting method

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5760654A (en) * 1980-09-26 1982-04-12 Jeol Ltd Spectral detecting method

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