JPS61140851A - 分析装置 - Google Patents
分析装置Info
- Publication number
- JPS61140851A JPS61140851A JP59263985A JP26398584A JPS61140851A JP S61140851 A JPS61140851 A JP S61140851A JP 59263985 A JP59263985 A JP 59263985A JP 26398584 A JP26398584 A JP 26398584A JP S61140851 A JPS61140851 A JP S61140851A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- specific
- electrode
- sample
- tube bundle
- reference electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/28—Electrolytic cell components
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
Ｆ産業上の利用分野コ
本発明は電気化学的検出を利用した分析装置に関する。
［従来の技術］
電気化学的検出を利用した分析装置として、例えば、第
２図に示すようなものがある。図中１は生体液２が収容
された容器で、該容器の中に、生体液中の特定イオン丈
を取込む事が出来る感応膜３が設けられた特定電極４と
、生体液と電気的に通じている液絡部５を有する参照電
極６が配置されている。該特定電極４と参照電極６の内
部には電解液７，７′が収容されていると同時に銀・塩
化銀電極８，８−が配置されている。多眼・塩化銀電極
には他端に電圧計９が接続されたリード線１０．１０＝
が接続されている。しかして、生体液中の特定イオンが
前記特定電極４の感応膜３に取込まれる事によって、該
感応膜と電極８の間において電気的交換が行なわれ、該
電極と前記参照電極６との間に電位差が生じ、該電位差
が前記電圧計９によって測定される。該電位差は特定成
分の濃度に対応している。
２図に示すようなものがある。図中１は生体液２が収容
された容器で、該容器の中に、生体液中の特定イオン丈
を取込む事が出来る感応膜３が設けられた特定電極４と
、生体液と電気的に通じている液絡部５を有する参照電
極６が配置されている。該特定電極４と参照電極６の内
部には電解液７，７′が収容されていると同時に銀・塩
化銀電極８，８−が配置されている。多眼・塩化銀電極
には他端に電圧計９が接続されたリード線１０．１０＝
が接続されている。しかして、生体液中の特定イオンが
前記特定電極４の感応膜３に取込まれる事によって、該
感応膜と電極８の間において電気的交換が行なわれ、該
電極と前記参照電極６との間に電位差が生じ、該電位差
が前記電圧計９によって測定される。該電位差は特定成
分の濃度に対応している。
［発明が解決しようとする問題点］
さて、前記の様に、生体液の収容された容器の中に参照
電極と特定電極を配置して、特定成分を分析する構成の
装置では、比較的大きな容器が必要になり、サンプルも
多量に必要になる。前記例では一つの特定成分を検出す
る場合を示したが、複数の成分を同時に検出する場合に
は検出成分数に応じて特定電極数を増やさねばならず、
この傾向は大となる。
電極と特定電極を配置して、特定成分を分析する構成の
装置では、比較的大きな容器が必要になり、サンプルも
多量に必要になる。前記例では一つの特定成分を検出す
る場合を示したが、複数の成分を同時に検出する場合に
は検出成分数に応じて特定電極数を増やさねばならず、
この傾向は大となる。
又、容器中のサンプルの動きが無いので、静電的に、物
理的に、そして化学的に検出すべき成分以外の物質（異
物）が特定電極の感応膜に付着してしまい、特定イオン
の取込みが妨害される。
理的に、そして化学的に検出すべき成分以外の物質（異
物）が特定電極の感応膜に付着してしまい、特定イオン
の取込みが妨害される。
本発明はこの様な問題を解決する事を目的としたもので
ある。
ある。
［問題点を解決するための手段］
本発明の分析装置は、側壁に多数の超微小孔を有する高
分子性チューブの長手方向に沿って互いに絶縁して参照
電極と検出すべき成分に応じた特定イオン電極を配置し
、該チューブの中空部にサンプルを流す事によって該チ
ューブと該電極の空間に該サンプルを滲み出させ、・前
記参照電極と特定イオン電極との間に生じたサンプル中
の特定イオン濃度に応じた電位差を検出するように成し
たものである。
分子性チューブの長手方向に沿って互いに絶縁して参照
電極と検出すべき成分に応じた特定イオン電極を配置し
、該チューブの中空部にサンプルを流す事によって該チ
ューブと該電極の空間に該サンプルを滲み出させ、・前
記参照電極と特定イオン電極との間に生じたサンプル中
の特定イオン濃度に応じた電位差を検出するように成し
たものである。
［実施例］
第１図は本発明に基づく分析装置の一実施例である。
図中１１は・側壁に多数の超微小孔（０，０１μｍ〜１
μｍ）を有する内径５００μｍ程度の高分子性チューブ
が複数本束ねられたチューブ束体である。該チューブ束
体の側面長手方向には該チューブ束体の外径より少し大
きい内径を有する環状の特定電極１２．絶縁体１３．特
定電極１４．絶縁体１５．参照電極１６が互に隙間無く
設【プられている。特定電極１２．１４夫々の内面には
特定成分Ａ、Ｂのイオン丈に感じる感応物質１２Ａ。
μｍ）を有する内径５００μｍ程度の高分子性チューブ
が複数本束ねられたチューブ束体である。該チューブ束
体の側面長手方向には該チューブ束体の外径より少し大
きい内径を有する環状の特定電極１２．絶縁体１３．特
定電極１４．絶縁体１５．参照電極１６が互に隙間無く
設【プられている。特定電極１２．１４夫々の内面には
特定成分Ａ、Ｂのイオン丈に感じる感応物質１２Ａ。
１４Ｂが膜状に塗布されている。該特定電極１２゜１４
と参照電極１６夫々の間には電圧計１７．１８が設けら
れている。１９．２０は環状のチューブ束体支持体であ
る。該支持体１９はチューブ束体の上端部側面との間及
び前記特定電極１２との間に隙間が生じる事が無いよう
に、図の如く配置される。又、該支持体２０はチューブ
束体の下部側面との間及び前記参照電極との間に隙間が
生じる事が無いように、図の如く配置される。又、前記
支持体１９には一端が外部に繋がり、他端が前記特定電
極１２とチューブ束体１１との隙間１」に繋がる貫通孔
２１が設けられている。前記支持体２０には一端が外部
と繋がり、他端が前記参照電極１６とチューブ束体１１
との隙間Ｈに繋がる貫通孔２２が設けられている。２３
は注射器の如き液体注入器で、先端部が前記支持体１９
の孔に挿入される。２４は前記チューブ束体１１の下端
部の近傍に配置された廃液槽である。
と参照電極１６夫々の間には電圧計１７．１８が設けら
れている。１９．２０は環状のチューブ束体支持体であ
る。該支持体１９はチューブ束体の上端部側面との間及
び前記特定電極１２との間に隙間が生じる事が無いよう
に、図の如く配置される。又、該支持体２０はチューブ
束体の下部側面との間及び前記参照電極との間に隙間が
生じる事が無いように、図の如く配置される。又、前記
支持体１９には一端が外部に繋がり、他端が前記特定電
極１２とチューブ束体１１との隙間１」に繋がる貫通孔
２１が設けられている。前記支持体２０には一端が外部
と繋がり、他端が前記参照電極１６とチューブ束体１１
との隙間Ｈに繋がる貫通孔２２が設けられている。２３
は注射器の如き液体注入器で、先端部が前記支持体１９
の孔に挿入される。２４は前記チューブ束体１１の下端
部の近傍に配置された廃液槽である。
斯くの如き装置において、先端部がチューブ束体１１の
上端面に当るように液体注入器２３を支持体の孔に挿入
し、サンプルを注入する前に、電解液（例えばＮａ ０
Ｍ液）をデユープ束体１１に注入する。該電解液の注入
により、電解液がチューブ束体内を流れる。この時、該
チューブ束体内外の圧力の違いにより、電解液が該チュ
ーブ束体の側壁の超微小孔から滲み出し、各電極と該チ
ューブ束体との隙間ト１を非常に緩慢に流れる。該電解
液の注入により、特定電極１２．１４夫々と参照電極１
６との間の電位差は特定の値になる。この状態から、前
記液体注入器２３からサンプルをチューブ束体１１に注
入する。該サンプルの注入により、サンプルがチューブ
束体内を流れる。この時、該チューブ束体内外の圧力の
違いにより、サンプルが該チューブ束体の側壁の超微小
孔から滲み出し、各電極と該チューブ束体との隙間Ｈを
非常に緩慢に流れる。該隙間においては、サンプルが非
常に緩慢に移動しており、参照電極１６とチューブ束体
の隙間に達したサンプルは貫通孔２２から外部へ出て行
く。尚、サンプル中に混入している比較的径の大きい異
物はチューブの超微小孔を通過出来ないので、実際に該
隙間Ｈに入り込むのは径の大きい異物が取除かれたもの
である。
上端面に当るように液体注入器２３を支持体の孔に挿入
し、サンプルを注入する前に、電解液（例えばＮａ ０
Ｍ液）をデユープ束体１１に注入する。該電解液の注入
により、電解液がチューブ束体内を流れる。この時、該
チューブ束体内外の圧力の違いにより、電解液が該チュ
ーブ束体の側壁の超微小孔から滲み出し、各電極と該チ
ューブ束体との隙間ト１を非常に緩慢に流れる。該電解
液の注入により、特定電極１２．１４夫々と参照電極１
６との間の電位差は特定の値になる。この状態から、前
記液体注入器２３からサンプルをチューブ束体１１に注
入する。該サンプルの注入により、サンプルがチューブ
束体内を流れる。この時、該チューブ束体内外の圧力の
違いにより、サンプルが該チューブ束体の側壁の超微小
孔から滲み出し、各電極と該チューブ束体との隙間Ｈを
非常に緩慢に流れる。該隙間においては、サンプルが非
常に緩慢に移動しており、参照電極１６とチューブ束体
の隙間に達したサンプルは貫通孔２２から外部へ出て行
く。尚、サンプル中に混入している比較的径の大きい異
物はチューブの超微小孔を通過出来ないので、実際に該
隙間Ｈに入り込むのは径の大きい異物が取除かれたもの
である。
そして、該サンプル中の特定成分Ａのイオンは特定電極
１２の感応物質１２Ａに取込まれ、特定成分Ｂは特定電
極１４の感応物質１４Ｂに夫々取込まれる。該夫々の取
込みにより、該各感応膜と各特定電極間で電気的交換が
行なわれ、該各特定電極１４．１５夫々と参照電極１６
との間にはサンプル中の特定成分Ａ、Ｂのイオン濃度に
対応した電位差が生じ、該夫々の電位差は電圧計１７，
１８に表示される。尚、該電圧計の示す電位差は初め漸
次上昇し、成る時間後飽和する。特定成分の濃度はこの
飽和値に対応したものである。尚、別のサンプルを分析
する場合には、貫通孔２１から洗浄液として生理食塩水
を流し込み、各電極とチューブ束体との隙間に残ってい
るサンプルを貫通孔２２から外部へ排出する。そして、
充分に洗浄を行なった後、前記貫通孔２２に適宜な抵抗
を与えてやれば１、生理食塩水はチューブ束体１１の側
壁の超微小孔からチューブ束体内に流れ込み、該チュー
ブ束体内に残っているサンプルが廃液槽２４へ排出され
る。そして、前記の工程を行なう。
１２の感応物質１２Ａに取込まれ、特定成分Ｂは特定電
極１４の感応物質１４Ｂに夫々取込まれる。該夫々の取
込みにより、該各感応膜と各特定電極間で電気的交換が
行なわれ、該各特定電極１４．１５夫々と参照電極１６
との間にはサンプル中の特定成分Ａ、Ｂのイオン濃度に
対応した電位差が生じ、該夫々の電位差は電圧計１７，
１８に表示される。尚、該電圧計の示す電位差は初め漸
次上昇し、成る時間後飽和する。特定成分の濃度はこの
飽和値に対応したものである。尚、別のサンプルを分析
する場合には、貫通孔２１から洗浄液として生理食塩水
を流し込み、各電極とチューブ束体との隙間に残ってい
るサンプルを貫通孔２２から外部へ排出する。そして、
充分に洗浄を行なった後、前記貫通孔２２に適宜な抵抗
を与えてやれば１、生理食塩水はチューブ束体１１の側
壁の超微小孔からチューブ束体内に流れ込み、該チュー
ブ束体内に残っているサンプルが廃液槽２４へ排出され
る。そして、前記の工程を行なう。
尚、前記実施例では二つの特定成分を分析する例を示し
たが、分析する特定成分数を増やす場合は、内面にその
特定成分丈を検知するような感応物質を膜状に塗布した
特定電極を第１図の如き特定電極の上に絶縁体を介して
配置し、参照電極との間に新な電圧計を設ければよい。
たが、分析する特定成分数を増やす場合は、内面にその
特定成分丈を検知するような感応物質を膜状に塗布した
特定電極を第１図の如き特定電極の上に絶縁体を介して
配置し、参照電極との間に新な電圧計を設ければよい。
又、チューブ束体の代りに１本の高分子性チューブを使
用してもよい。但し、この場合、支持体としては、サン
プル注入器の先端が挿入可能な形状にする必要がある。
用してもよい。但し、この場合、支持体としては、サン
プル注入器の先端が挿入可能な形状にする必要がある。
［発明の効果］
本発明によれば、高分子製のチューブの側面長手方向に
参照電極と分析成分数に応じた数の特定電極を配置する
丈の構成なので、サンプルが微量で済み、又、従来の装
置のようにサンプルを収容する為の大きな容器が不要と
なるので装置全体がコンパクト化する。
参照電極と分析成分数に応じた数の特定電極を配置する
丈の構成なので、サンプルが微量で済み、又、従来の装
置のようにサンプルを収容する為の大きな容器が不要と
なるので装置全体がコンパクト化する。
又、サンプルに混入している径の大きい異物は電極に達
する事は無く、又、サンプルを高分子製のチューブ内を
貫通させ、常にサンプルを移動させているので、径の小
さい異物といえども特定電極に異物が付着しにくい。
する事は無く、又、サンプルを高分子製のチューブ内を
貫通させ、常にサンプルを移動させているので、径の小
さい異物といえども特定電極に異物が付着しにくい。
第１図は本発明の一実施例を示した分析装置の概略図、
第２図は従来の分析装置の一例図である。 １１：チューブ束体、１２，１４：特定電極。
第２図は従来の分析装置の一例図である。 １１：チューブ束体、１２，１４：特定電極。
Claims (1)
- 側壁に多数の超微小孔を有する高分子性チューブの長手
方向に沿って参照電極と検出すべき成分に感応する特定
イオン電極を配置し、該チューブの中空部にサンプルを
流す事によって該チューブと該電極との間の空間に該サ
ンプルを滲み出させ、前記参照電極と特定イオン電極と
の空間に生じたサンプル中の特定イオン濃度に応じた電
位差を検出するように成した分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59263985A JPS61140851A (ja) | 1984-12-14 | 1984-12-14 | 分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59263985A JPS61140851A (ja) | 1984-12-14 | 1984-12-14 | 分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61140851A true JPS61140851A (ja) | 1986-06-27 |
| JPH0456943B2 JPH0456943B2 (ja) | 1992-09-10 |
Family
ID=17396938
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59263985A Granted JPS61140851A (ja) | 1984-12-14 | 1984-12-14 | 分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61140851A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018113390A (ja) * | 2017-01-13 | 2018-07-19 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置 |
-
1984
- 1984-12-14 JP JP59263985A patent/JPS61140851A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018113390A (ja) * | 2017-01-13 | 2018-07-19 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0456943B2 (ja) | 1992-09-10 |
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