JPS6113170A - シンチレーシヨンカメラの誤差修正方法 - Google Patents
シンチレーシヨンカメラの誤差修正方法Info
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- JPS6113170A JPS6113170A JP60130093A JP13009385A JPS6113170A JP S6113170 A JPS6113170 A JP S6113170A JP 60130093 A JP60130093 A JP 60130093A JP 13009385 A JP13009385 A JP 13009385A JP S6113170 A JPS6113170 A JP S6113170A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2914—Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2985—In depth localisation, e.g. using positron emitters; Tomographic imaging (longitudinal and transverse section imaging; apparatus for radiation diagnosis sequentially in different planes, steroscopic radiation diagnosis)
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/037—Emission tomography
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、一般にシンチレーションまたはガンマ線カメ
ラに関し、特に、時にはECTまたはECATまたは5
PECTと称される放射計算軸方向断層撮影法(emi
sIlion computed axial tom
ography)あるいは単一光子放出計算断層撮影法
(singlephoton emlssion co
mputed tomograph)’ )に関連して
患者の周シを回転するように設計されたタイプのカメラ
類に関する。
ラに関し、特に、時にはECTまたはECATまたは5
PECTと称される放射計算軸方向断層撮影法(emi
sIlion computed axial tom
ography)あるいは単一光子放出計算断層撮影法
(singlephoton emlssion co
mputed tomograph)’ )に関連して
患者の周シを回転するように設計されたタイプのカメラ
類に関する。
各種のイメージ装置が[アンガー(aug・r)Jタイ
プのガンマ線カメラを用いる3次元イメージ法を行うた
めに提案されて来たが、伝統的に核医学は、対象の体積
から構成される2次元イメージの生成に注意を向けて来
た。1980年頃以来、数社の核カメラ製造業者は、デ
ータ収集用の平行孔コリメータおよび関連ディジタルコ
ンピュータを備えた回転可能検出装置すなわちカメラヘ
ッドにより特徴づけられる回転型の核カメラ装置を市場
に導入して来た。このコンピュータは収集したデータを
処理し、かつ断面X線図を再構成する、知られたCTタ
イプのアルゴリズム、すなわち、患者と交差する面に沿
って患者の2次元イメージを実行する。
プのガンマ線カメラを用いる3次元イメージ法を行うた
めに提案されて来たが、伝統的に核医学は、対象の体積
から構成される2次元イメージの生成に注意を向けて来
た。1980年頃以来、数社の核カメラ製造業者は、デ
ータ収集用の平行孔コリメータおよび関連ディジタルコ
ンピュータを備えた回転可能検出装置すなわちカメラヘ
ッドにより特徴づけられる回転型の核カメラ装置を市場
に導入して来た。このコンピュータは収集したデータを
処理し、かつ断面X線図を再構成する、知られたCTタ
イプのアルゴリズム、すなわち、患者と交差する面に沿
って患者の2次元イメージを実行する。
この種のECT装置はプラドコビイツチ(Bradoo
−vich)他の米国特許第4 、426 、578号
であって、本願の譲受人に譲渡されたものに記載されて
いる。
−vich)他の米国特許第4 、426 、578号
であって、本願の譲受人に譲渡されたものに記載されて
いる。
プラドコピッチ他は、患者を経由する長軸の周シモ回転
させるためにその一端でカメラヘッドを支持する釣合せ
C字形アームを特徴とする装置を発明した。カメラヘッ
ドと長軸間の半径方向距離は、固定ベースにC字形アー
ムを回転可能に取付ける、いわゆるキャリア部材に関連
する周囲通路に沿うC字形アームの変位によりp節可能
とすることができる。他のECT装置はレイフジ(La
ng・)の米国特許第4,216,381号中に記載さ
れておシ、これは1対の細長フレーム部材により支持さ
れる回転可能な検出装置ヘッドを特徴とするものであり
、前記フレ゛−ム部材は、検出装置ヘッドが患者を経由
する長軸の周シで回転するときそれを枢動可能に支持す
るものである。レインジの配列において、長軸と検出装
置ヘッドとの間の半径方向距離は細長フレーム対を傾斜
させることにより調整され、前記フレーム対は一対の直
立柱により順次支持される円形フレーム内に装着されて
いる。
させるためにその一端でカメラヘッドを支持する釣合せ
C字形アームを特徴とする装置を発明した。カメラヘッ
ドと長軸間の半径方向距離は、固定ベースにC字形アー
ムを回転可能に取付ける、いわゆるキャリア部材に関連
する周囲通路に沿うC字形アームの変位によりp節可能
とすることができる。他のECT装置はレイフジ(La
ng・)の米国特許第4,216,381号中に記載さ
れておシ、これは1対の細長フレーム部材により支持さ
れる回転可能な検出装置ヘッドを特徴とするものであり
、前記フレ゛−ム部材は、検出装置ヘッドが患者を経由
する長軸の周シで回転するときそれを枢動可能に支持す
るものである。レインジの配列において、長軸と検出装
置ヘッドとの間の半径方向距離は細長フレーム対を傾斜
させることにより調整され、前記フレーム対は一対の直
立柱により順次支持される円形フレーム内に装着されて
いる。
回転可能なカメラヘッドを支持するために用いる装置の
タイプとは無関係に、再構成アルゴリズムは、コンピュ
ータによる回転検出装置およびデータの引続くバック−
プロジェクション(back −projection
)によって患者の周ルの一組の視角において得られる投
影データの収集に常に基づくものである。一般的なアプ
ローチの詳細な議論については、たとえば、キース、ジ
ュニア(K@yes Jr−)の「核医学における計算
断層撮影法(Computedtomography
in nuclear mediains ) Jを参
照されたい。バックプロジェクション中の投影線の正確
な後戻シは、良好なイメージ解像度および品質を保証す
るためには本質的なものである。ECTのオペレーショ
ンにおいて、イメージ品質の主な劣化は収集されたデー
タの実際の光子通路とバックプロジェクション中にトレ
ースされたそれらの通路との簡の偏位により引起される
。
タイプとは無関係に、再構成アルゴリズムは、コンピュ
ータによる回転検出装置およびデータの引続くバック−
プロジェクション(back −projection
)によって患者の周ルの一組の視角において得られる投
影データの収集に常に基づくものである。一般的なアプ
ローチの詳細な議論については、たとえば、キース、ジ
ュニア(K@yes Jr−)の「核医学における計算
断層撮影法(Computedtomography
in nuclear mediains ) Jを参
照されたい。バックプロジェクション中の投影線の正確
な後戻シは、良好なイメージ解像度および品質を保証す
るためには本質的なものである。ECTのオペレーショ
ンにおいて、イメージ品質の主な劣化は収集されたデー
タの実際の光子通路とバックプロジェクション中にトレ
ースされたそれらの通路との簡の偏位により引起される
。
所望の平面イメージまたは断面X線図を作シ出すために
用いられる再構成アルゴリズムの具体的なタイプとは関
係無く、その技法はカメラヘッドが常に予期通路をフォ
ローすることを一様に保証する。しかし、実際には検出
装置の現実の通路は予期通路から偏位するので、各角度
におけるその位置は、大部分は検出装置支持システムに
おける機械的屈曲に起因して、またよシ少ない程度にお
いては電子イメージ平面のシフトに起因して若干のオフ
セットを示すことになる。これはカメラの光電子増倍管
作用中の僅かな不一致により引起され、この作用は検出
装置面と地球/大気磁界との間の変動オリエンテーショ
ンから生ずるものである。これらの偏位は大部分無視さ
れて再構成されるイメージ中に誤差をもたらす。
用いられる再構成アルゴリズムの具体的なタイプとは関
係無く、その技法はカメラヘッドが常に予期通路をフォ
ローすることを一様に保証する。しかし、実際には検出
装置の現実の通路は予期通路から偏位するので、各角度
におけるその位置は、大部分は検出装置支持システムに
おける機械的屈曲に起因して、またよシ少ない程度にお
いては電子イメージ平面のシフトに起因して若干のオフ
セットを示すことになる。これはカメラの光電子増倍管
作用中の僅かな不一致により引起され、この作用は検出
装置面と地球/大気磁界との間の変動オリエンテーショ
ンから生ずるものである。これらの偏位は大部分無視さ
れて再構成されるイメージ中に誤差をもたらす。
この種の誤差は一般に不可避である。しかし、それにも
拘らず、それらの誤差は、どんな特定装置中の偏位量を
も測定できるので予測可能であることが判明している。
拘らず、それらの誤差は、どんな特定装置中の偏位量を
も測定できるので予測可能であることが判明している。
偏位量は視角の関数として変動するが、それらの誤差は
長期間に及ぶ回転から回転へと相対的に一定となる傾向
がある。
長期間に及ぶ回転から回転へと相対的に一定となる傾向
がある。
我々は事象ごとの基準による各視角におけるX。
y方向の知られたオフセット量にニジシフトされる各ガ
ンマ線事象のロケーションを有することによって、各回
転角における予期位置からの回転ガンマ線カメラの実際
の検出装置位置における偏位について修正する方法を発
明した。本方法の適用はガンマ線カメラの較正(cal
ibration )を包含し、これは複数個の視角に
ついての対の値の組を生成させるが、6対はXおよびy
オフセット値を含む工程と、対応する視角について予め
測定された適切なオフセット値により各事象の検出され
たロケーションをリアルタイムに改める工程とを包含す
るものである。
ンマ線事象のロケーションを有することによって、各回
転角における予期位置からの回転ガンマ線カメラの実際
の検出装置位置における偏位について修正する方法を発
明した。本方法の適用はガンマ線カメラの較正(cal
ibration )を包含し、これは複数個の視角に
ついての対の値の組を生成させるが、6対はXおよびy
オフセット値を含む工程と、対応する視角について予め
測定された適切なオフセット値により各事象の検出され
たロケーションをリアルタイムに改める工程とを包含す
るものである。
第1図に示す装置は「オメガ(Om@ga) 500
Jという名称の下に市販される〔オハイオ州44139
、ソウロンの「テクニケア・コーポレイション(Tec
hni−car* Corporation) J 〕
先行技術に係るECT核カメラ(nualear ca
mera )装置である。「オメガ500」の詳細な説
明はプラドコピッチ他の米国特許第4,426,578
号中に示されておシ、この明細書はここに参考として引
用するものとする。簡単に云えば、核カメラは断層撮影
法の検討のために固定的に保持されるペース部材10を
含んで成っている。ベース部材10にはキャリア部材2
0が取付けられておシ、これは長軸Xの周囲で回転自在
である。キャリア部材20は、釣合せC字形支持部材ま
たはC字形アーム30の一端はヨーク40中に終結して
おシ、これにはシンチレーション検出装置またはカメラ
ヘッド50が枢着されている。
Jという名称の下に市販される〔オハイオ州44139
、ソウロンの「テクニケア・コーポレイション(Tec
hni−car* Corporation) J 〕
先行技術に係るECT核カメラ(nualear ca
mera )装置である。「オメガ500」の詳細な説
明はプラドコピッチ他の米国特許第4,426,578
号中に示されておシ、この明細書はここに参考として引
用するものとする。簡単に云えば、核カメラは断層撮影
法の検討のために固定的に保持されるペース部材10を
含んで成っている。ベース部材10にはキャリア部材2
0が取付けられておシ、これは長軸Xの周囲で回転自在
である。キャリア部材20は、釣合せC字形支持部材ま
たはC字形アーム30の一端はヨーク40中に終結して
おシ、これにはシンチレーション検出装置またはカメラ
ヘッド50が枢着されている。
C字形アーム30の他端には釣合せ重シロ0が取付けら
れている。診断を受ける患者は、手術台80に固定され
ている片持ばシ患者支持台TO上に横たえられる。作動
を説明すると、シンチレーション検出装置50は、この
検出装置と患者との間ならびにカメ゛うの回転中は患者
支持台との間に空隙を許容しながら出来るだけ患者に近
接して配置され、セして−・般に円形である規定された
通路に沿って患者の周シで回転される。データは複数個
の視角によって、あるいは典型的には電動式機構によっ
てカメラヘッドが患者の周シで連続的に回転されること
により得られる。各種の視角から収集されたデータは引
続いて関連ディジタル計算機(図示せず)により再構成
され、そして患者の所望の平面的断面の断層撮影イメー
ジが生成される。
れている。診断を受ける患者は、手術台80に固定され
ている片持ばシ患者支持台TO上に横たえられる。作動
を説明すると、シンチレーション検出装置50は、この
検出装置と患者との間ならびにカメ゛うの回転中は患者
支持台との間に空隙を許容しながら出来るだけ患者に近
接して配置され、セして−・般に円形である規定された
通路に沿って患者の周シで回転される。データは複数個
の視角によって、あるいは典型的には電動式機構によっ
てカメラヘッドが患者の周シで連続的に回転されること
により得られる。各種の視角から収集されたデータは引
続いて関連ディジタル計算機(図示せず)により再構成
され、そして患者の所望の平面的断面の断層撮影イメー
ジが生成される。
検出装置ヘッドの回転半径はキャリア部材20に関連し
てC字形アーム30を移動させることにより調節可能で
ある。
てC字形アーム30を移動させることにより調節可能で
ある。
先行技術によるECT核カメラの他の例は第2図中に示
されている。本発明の原理は第2図に示されるような装
置にも同様に適用可能であるが、以下の説明は第1図の
装置に関連するものである。
されている。本発明の原理は第2図に示されるような装
置にも同様に適用可能であるが、以下の説明は第1図の
装置に関連するものである。
第1図に示す装置において、検出装置゛ヘッド50は「
アンガー(ang@r ) JカメラでToシ、このも
のは大きな平坦長方形視検面(viewing fac
e )を規定する長方形よう化ナトリウム結晶52を包
含している。カメラヘッド50内の結晶52の後方に位
置しているのはガラス窓および55PMTの集成装置で
ある。作動について述べると、カメラヘッド50は、平
坦フェース52の中間点が一般に円形通路を規定するよ
うに患者の周囲で回転される。
アンガー(ang@r ) JカメラでToシ、このも
のは大きな平坦長方形視検面(viewing fac
e )を規定する長方形よう化ナトリウム結晶52を包
含している。カメラヘッド50内の結晶52の後方に位
置しているのはガラス窓および55PMTの集成装置で
ある。作動について述べると、カメラヘッド50は、平
坦フェース52の中間点が一般に円形通路を規定するよ
うに患者の周囲で回転される。
この方法により、第3図に図式的に示されるように平坦
検出装置フェース52は、診断される対象物のいたる所
の視角によってデータを収集、すなわちガンマ線の事象
を検出する。ガンマ線カメラヘッド50の回転は非常に
大きな質量を内包するので、支持体構造、特にC字形ア
ーム30はキャリア部材20がX軸の周りに回転される
とき、変動量によって屈曲する。この屈曲が現われると
、平坦フェース52によって横切られる通路は第3図中
の想像円Cにより表わされる純粋に円筒形の通路から偏
位する。12時の位置を示す仮定の取決めを用いると、
第3図は理想的に配置された12時の位flKおける平
坦フェース52を示している。
検出装置フェース52は、診断される対象物のいたる所
の視角によってデータを収集、すなわちガンマ線の事象
を検出する。ガンマ線カメラヘッド50の回転は非常に
大きな質量を内包するので、支持体構造、特にC字形ア
ーム30はキャリア部材20がX軸の周りに回転される
とき、変動量によって屈曲する。この屈曲が現われると
、平坦フェース52によって横切られる通路は第3図中
の想像円Cにより表わされる純粋に円筒形の通路から偏
位する。12時の位置を示す仮定の取決めを用いると、
第3図は理想的に配置された12時の位flKおける平
坦フェース52を示している。
しかし、4時の位置すなわち略120 の位置で、平
坦フェース52は長軸Xの方向に沿う増分によってオフ
セットしていることを示している。従って、4時の位置
において収集されたデーjを12時の位置で収集された
データと組合わせると、2組のデータの投影が一致しな
いことになるので、不鮮明誤差が導入されるととKなる
のが理解できる。同様に、第3図は、8時の位置すなわ
ち約240℃における平坦フェース52は、それが仮想
の長方形52′にょシ示される場所に位置すべきなので
、軸方向においては何らの偏位を示さないが、回転軸す
なわちX方向から君子オフセットしていることを示す。
坦フェース52は長軸Xの方向に沿う増分によってオフ
セットしていることを示している。従って、4時の位置
において収集されたデーjを12時の位置で収集された
データと組合わせると、2組のデータの投影が一致しな
いことになるので、不鮮明誤差が導入されるととKなる
のが理解できる。同様に、第3図は、8時の位置すなわ
ち約240℃における平坦フェース52は、それが仮想
の長方形52′にょシ示される場所に位置すべきなので
、軸方向においては何らの偏位を示さないが、回転軸す
なわちX方向から君子オフセットしていることを示す。
どんな与えられた視角に関しても、平坦フェース52は
検出装置平面の表示枠内のXおよびX方向の一方または
双方においてオフセラトラ有スることになる。従って、
たとえば、第4図に示すように、0度をとる、参照数字
100で示される仮想枠は適切に整列しておル、一方1
度をとる枠101はX方向において量ΔXiの偏位すな
わちオフセット、セしてX方向におけるΔ71のオフセ
ットを有することになる。一般に角度θlをとる枠lに
関して、オフセッ゛トはX方向においてΔXisそして
X方向においてΔγ1となる。従って、第4図の図示に
よって視覚的に認識できるように、1組の視角から収集
された投影データは一致しなくなシ、その結果誤差が再
構成イメージ中に導入されることになる。理想的には、
視角の組からの凡ゆる投影データの組は第5図に示すよ
うに、整列されて現われるべきそある。
検出装置平面の表示枠内のXおよびX方向の一方または
双方においてオフセラトラ有スることになる。従って、
たとえば、第4図に示すように、0度をとる、参照数字
100で示される仮想枠は適切に整列しておル、一方1
度をとる枠101はX方向において量ΔXiの偏位すな
わちオフセット、セしてX方向におけるΔ71のオフセ
ットを有することになる。一般に角度θlをとる枠lに
関して、オフセッ゛トはX方向においてΔXisそして
X方向においてΔγ1となる。従って、第4図の図示に
よって視覚的に認識できるように、1組の視角から収集
された投影データは一致しなくなシ、その結果誤差が再
構成イメージ中に導入されることになる。理想的には、
視角の組からの凡ゆる投影データの組は第5図に示すよ
うに、整列されて現われるべきそある。
このようにして、バック・プロジェクション中に仮想通
路を正確になぞるために、検出装置の表示枠内で収集さ
れた事象の各座標(x、y)は下記の関係式: %式%( (但し、ΔX(のは視角θに関するX方向におけるオフ
セットを示し、セしてΔy(のけ同じ視角θに関するX
方向におけるオフセットを示す)による投影データの表
示枠内の(x’ + y’)座標に変換されるべきであ
る。
路を正確になぞるために、検出装置の表示枠内で収集さ
れた事象の各座標(x、y)は下記の関係式: %式%( (但し、ΔX(のは視角θに関するX方向におけるオフ
セットを示し、セしてΔy(のけ同じ視角θに関するX
方向におけるオフセットを示す)による投影データの表
示枠内の(x’ + y’)座標に変換されるべきであ
る。
実際の操作に際して、第7図に示すような参照テーブル
はその全身通路を表わす夫にの特定の機械について先ず
作シ出される。これらの較正値を作シ出すための方法の
一例を下記に示すことにするが、特定の方法は用いられ
る特定の装置によって左右される容易さと便利さにより
決定されるべきである。一度較正値が作られると、それ
らは記憶メモリー領域内に記憶される。次に各角度θに
おいてデータ収集に先立ってX(の、y(のオフセット
の適合対がメモリーから回収され、そして2台のレジス
タR1およびR2中に記憶される。用いられる視角の数
が参照テーブルに関して作シ出されるオフセットペア・
エントリー(offs+et pair entry)
の数よシも大きくなると、この種の各中間視角のオフセ
ットペアは参照テーブル中の有効な値から書込まれる。
はその全身通路を表わす夫にの特定の機械について先ず
作シ出される。これらの較正値を作シ出すための方法の
一例を下記に示すことにするが、特定の方法は用いられ
る特定の装置によって左右される容易さと便利さにより
決定されるべきである。一度較正値が作られると、それ
らは記憶メモリー領域内に記憶される。次に各角度θに
おいてデータ収集に先立ってX(の、y(のオフセット
の適合対がメモリーから回収され、そして2台のレジス
タR1およびR2中に記憶される。用いられる視角の数
が参照テーブルに関して作シ出されるオフセットペア・
エントリー(offs+et pair entry)
の数よシも大きくなると、この種の各中間視角のオフセ
ットペアは参照テーブル中の有効な値から書込まれる。
次いで、データ収集の間、Xおよびy座標により検出装
置フェース52上で検出される各到来事象ロケーション
は投影座標(x’ + y’) K対し、下記の関係式
: %式% (但し、R1は、上記したように、その事象が検出され
るときの検出装置の角度θに関するXオフセットであ)
、セしてR2は同一角度についてのX方向におけるオフ
セットである)に従ってカメラ内にリアルタイムでディ
ジタル的に変換される。
置フェース52上で検出される各到来事象ロケーション
は投影座標(x’ + y’) K対し、下記の関係式
: %式% (但し、R1は、上記したように、その事象が検出され
るときの検出装置の角度θに関するXオフセットであ)
、セしてR2は同一角度についてのX方向におけるオフ
セットである)に従ってカメラ内にリアルタイムでディ
ジタル的に変換される。
カメラヘッドの回転を円形にしようとするときは、カメ
ラフェース52の中心の期待通路は所定の半径により規
制される。しかし、異なったサイズの患者に適合させる
ため、「オメガ500」のようなこの種のECT装置に
おける回転半径はオペレータの選択可能となっている。
ラフェース52の中心の期待通路は所定の半径により規
制される。しかし、異なったサイズの患者に適合させる
ため、「オメガ500」のようなこの種のECT装置に
おける回転半径はオペレータの選択可能となっている。
別の参照テーブルを選定した半径について作シ出すこと
ができる。
ができる。
更に非円形通路におけるカメラヘッドのトラバースを得
て、それによりカメラと、一般にその断面周縁が円形と
いうよシはむしろ楕円形である光子放射している患者と
の間で最小距離を連続的に維持するために改良された解
像度がしばしば望ましいものである。この種の各所定通
路はデータ収集視角の組全体を通じて予想誤差を有する
ことになシ、そして一般に参照テーブルは各通路につい
て作ル出すことができる。この種の表の数は問題の困難
さと、成る選択可能な通路から他のものへの視角に関す
る計算された座標シフト中の差異によって左右されるこ
とになる。
て、それによりカメラと、一般にその断面周縁が円形と
いうよシはむしろ楕円形である光子放射している患者と
の間で最小距離を連続的に維持するために改良された解
像度がしばしば望ましいものである。この種の各所定通
路はデータ収集視角の組全体を通じて予想誤差を有する
ことになシ、そして一般に参照テーブルは各通路につい
て作ル出すことができる。この種の表の数は問題の困難
さと、成る選択可能な通路から他のものへの視角に関す
る計算された座標シフト中の差異によって左右されるこ
とになる。
較正
各角度θについてyオフセット値を作υ出す好ましい方
法は、各視角における゛視野内に配置された出所からの
ポイント・スプレッド関数(pointspread
function ) P 8 Fの収集を必要とする
。
法は、各視角における゛視野内に配置された出所からの
ポイント・スプレッド関数(pointspread
function ) P 8 Fの収集を必要とする
。
換言すれば、各視角θにおける単一点乃至インパルスに
対する装置の応答を必要とする。一般に成る装置のPS
Fまたはインパルス応答関数はポイントインパルスを知
ることに応答して装置により生成される有限の幅を有す
る得られたビームである。偶発的に、PSFの組の図心
は検出装置座標のシフト情報をもたらす。(Xl r
yt) (X21 F2)・・・(xl r yi)−
(xnl )’n )が角度θ1.θ2.・・・θ1.
・・・θnVcおける図心であると仮定すれば、y1組
平均値(7)および各角度における平均値からのyi偏
位を計算することによってX方向における軸のシフトは
次のように得られる。
対する装置の応答を必要とする。一般に成る装置のPS
Fまたはインパルス応答関数はポイントインパルスを知
ることに応答して装置により生成される有限の幅を有す
る得られたビームである。偶発的に、PSFの組の図心
は検出装置座標のシフト情報をもたらす。(Xl r
yt) (X21 F2)・・・(xl r yi)−
(xnl )’n )が角度θ1.θ2.・・・θ1.
・・・θnVcおける図心であると仮定すれば、y1組
平均値(7)および各角度における平均値からのyi偏
位を計算することによってX方向における軸のシフトは
次のように得られる。
Δ)’1=Y−3’i
上の計算は全ての角度PSF図心がYにおいて、y1+
Δ7i = 7i + Y−yl = Yのように配置
されることを保証する。
Δ7i = 7i + Y−yl = Yのように配置
されることを保証する。
トラバース、すなわち各角度におけるX方向のシフトも
また、各角度(θ1.θ2.・・・θn)における点出
所図心データ(point 5ource centr
aid data)(xt、x2.・・・xn)から、
平行ビームイメージングに関して角度による期待出所位
置変動が全く支持構造体の屈曲を伴わないクヌソイドで
あるという事実に基づいて得ることができる。もし点出
所が回転軸から離れて配置されれば、屈曲のみられない
場合の各角度における回転軸からの距離は式:%式% (但し、Sおよびすはトラバース面内の回転軸を中心と
する所定直交座標において測定される距離である)Kよ
シ与えられる。輪郭から測定される収集された図心の距
離を仮定すれば、中間点はxiである。次にXオフセッ
トはそれらの偏位ΔXiにより得られる。
また、各角度(θ1.θ2.・・・θn)における点出
所図心データ(point 5ource centr
aid data)(xt、x2.・・・xn)から、
平行ビームイメージングに関して角度による期待出所位
置変動が全く支持構造体の屈曲を伴わないクヌソイドで
あるという事実に基づいて得ることができる。もし点出
所が回転軸から離れて配置されれば、屈曲のみられない
場合の各角度における回転軸からの距離は式:%式% (但し、Sおよびすはトラバース面内の回転軸を中心と
する所定直交座標において測定される距離である)Kよ
シ与えられる。輪郭から測定される収集された図心の距
離を仮定すれば、中間点はxiである。次にXオフセッ
トはそれらの偏位ΔXiにより得られる。
Δx1=(S°coaθi + u ’ sin’i
) −X’1(但し、SおよびUは式: %式% で与えられるx!(の組のフーリエ級数における第1調
和成分をとることにより得られる)。
) −X’1(但し、SおよびUは式: %式% で与えられるx!(の組のフーリエ級数における第1調
和成分をとることにより得られる)。
もし、S v uが真の値から僅かな誤差を有していれ
ば、平行光線再構成に対する、その単なる効果は相当す
る誤差量にょるS、u方向におけるイメージシフトであ
る。
ば、平行光線再構成に対する、その単なる効果は相当す
る誤差量にょるS、u方向におけるイメージシフトであ
る。
上記の好ましい実施態様の説明は各シンチレーションの
ロケーションを修正するための、事象ととの基準による
純粋にディジタル的なアプローチを示している。選択的
には角度19においては収集される全ての事象を、たと
えば上記の較正技法によF)xおよび1両方向における
その角度θについて計算される図心シフトの量によって
シフトさせることができる。
ロケーションを修正するための、事象ととの基準による
純粋にディジタル的なアプローチを示している。選択的
には角度19においては収集される全ての事象を、たと
えば上記の較正技法によF)xおよび1両方向における
その角度θについて計算される図心シフトの量によって
シフトさせることができる。
第1図は、回転半径の調整をもたらす可動釣合せC字形
アームにより支持される回転可能カメラヘッドを特徴と
している先行技術によるECT装置を示す図式的斜視図
、第2図は円形フレーム内に傾斜可能に装着された一対
の細長フレーム部材により支持され、その場合前記フレ
ーム部材の傾斜の度合いがカメラヘッドおよび回転軸間
の半径方向距離を規制する回転可能カメラヘッドにより
特徴づけられている、他の先行技術によるECT装置を
示す図式的斜視図、第3図は想像線において、第1図の
検出装置ヘッドの平坦フェースの理想的円筒形通路を示
し、また3個所の角ロケーションにおける前記検出装置
ヘッドのフェースのロケーションについてのXおよび1
両方向の偏位を示す図式的幾何学図、第4図は第3図に
示したような偽の通路に関する検出装置ヘッドのロケー
シヨンにおける偏位により導入された、一致を欠いて例
示される1組の平坦イメージを示す図式的説明図、第5
図は11にするデータの投影を示す第4図に類似する説
明図、第6図は本発明による修正方法を示す図式的フロ
ーチャート、そして第7図は第6図に概略示した目1&
ル定めフェーズ中に作成された参照テーブルを示す図で
ある。 30・・・C字形支持部材、50・・・シンチレーショ
ン検出装置、52・・・よう化ナトリウム結晶。 特許出願人 テクニケア・コーポレイション第4図
アームにより支持される回転可能カメラヘッドを特徴と
している先行技術によるECT装置を示す図式的斜視図
、第2図は円形フレーム内に傾斜可能に装着された一対
の細長フレーム部材により支持され、その場合前記フレ
ーム部材の傾斜の度合いがカメラヘッドおよび回転軸間
の半径方向距離を規制する回転可能カメラヘッドにより
特徴づけられている、他の先行技術によるECT装置を
示す図式的斜視図、第3図は想像線において、第1図の
検出装置ヘッドの平坦フェースの理想的円筒形通路を示
し、また3個所の角ロケーションにおける前記検出装置
ヘッドのフェースのロケーションについてのXおよび1
両方向の偏位を示す図式的幾何学図、第4図は第3図に
示したような偽の通路に関する検出装置ヘッドのロケー
シヨンにおける偏位により導入された、一致を欠いて例
示される1組の平坦イメージを示す図式的説明図、第5
図は11にするデータの投影を示す第4図に類似する説
明図、第6図は本発明による修正方法を示す図式的フロ
ーチャート、そして第7図は第6図に概略示した目1&
ル定めフェーズ中に作成された参照テーブルを示す図で
ある。 30・・・C字形支持部材、50・・・シンチレーショ
ン検出装置、52・・・よう化ナトリウム結晶。 特許出願人 テクニケア・コーポレイション第4図
Claims (5)
- (1)平坦フエースを含む検出装置ヘツドを有する回転
シンチレーシヨンカメラ装置であつて、前記フエースの
ロケーシヨンが前記フエースの表示枠内のxおよびy座
標により規制可能であり、そのヘツドは長軸の周りの所
定の通路において回転可能であり、所定の通路に関して
そのヘツドの回転通路における固有の偏位から誤差が生
ずるものによつて放射計算断層撮影中に得られる検出さ
れたシンチレーシヨン事象のロケーシヨンにおける予想
可能な誤差を修正する方法であつて、 a)選択された視角に関し前記平坦フエースのxおよび
y方向における固有の偏位を測定することにより装置を
較正し、一対のxおよびyシフト値が夫々の問題とする
視角について計算されるまで、この測定を複数個の視角
について反復する工程と、 b)前記の視角の夫々についてxおよびyシフト値をメ
モリー内に記憶させる工程と、 c)前記検出装置ヘツドが前記長軸の周りに回転される
とき放射データが収集されるが、各データは単一のシン
チレーシヨン事象を表わしている工程と、 d)与えられた視角において検出された各事象のロケー
シヨンを、前記視角に関するメモリー内に記憶されたx
およびyシフト値によつてxおよびy座標中の検出位置
を改めることにより修正する工程 とを備えた方法。 - (2)yシフト値を測定する較正工程が、夫に問題とす
る視角における装置の点応答関数を収集する工程を含む
特許請求の範囲第1項記載の方法。 - (3)修正工程が事象ずつの基準でリアルタイムに行わ
れる特許請求の範囲第1項記載の方法。 - (4)修正工程がカメラ内で行われる特許請求の範囲第
1項記載の方法。 - (5)検出装置ヘツドの回転に関する所定の通路は予め
選定された半径を有する円であり、また較正工程が異な
つた半径を有する各円について1回づつ複数回反復され
る特許請求の範囲第1項記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/621,418 US4582995A (en) | 1984-06-18 | 1984-06-18 | Spatial registration correction for rotational gamma cameras |
US621418 | 1990-12-03 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6113170A true JPS6113170A (ja) | 1986-01-21 |
JPH0679066B2 JPH0679066B2 (ja) | 1994-10-05 |
Family
ID=24490104
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60130093A Expired - Lifetime JPH0679066B2 (ja) | 1984-06-18 | 1985-06-17 | シンチレーシヨンカメラの誤差修正方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4582995A (ja) |
JP (1) | JPH0679066B2 (ja) |
DE (1) | DE3521293C2 (ja) |
NL (1) | NL8501700A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007205980A (ja) * | 2006-02-03 | 2007-08-16 | Shimadzu Corp | 核医学診断装置 |
JP2007212295A (ja) * | 2006-02-09 | 2007-08-23 | Shimadzu Corp | 核医学診断装置 |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2653443B2 (ja) * | 1987-09-18 | 1997-09-17 | 株式会社東芝 | ガンマカメラ感度補正装置 |
EP0438555A4 (en) * | 1989-06-30 | 1993-01-27 | H. Charles Kaplan | Transmission/emission registered image (teri) computed tomography scanners |
US5173608A (en) * | 1990-02-23 | 1992-12-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method for correcting positional shift of gamma camera apparatus and positional shift correcting apparatus thereof |
US5289008A (en) * | 1992-06-10 | 1994-02-22 | Duke University | Method and apparatus for enhanced single photon computed tomography |
JPH07218637A (ja) * | 1994-01-31 | 1995-08-18 | Shimadzu Corp | エミッションct装置 |
US5512755A (en) * | 1994-05-20 | 1996-04-30 | Summit World Trade Corp. | Gamma camera device |
US5453610A (en) * | 1994-05-20 | 1995-09-26 | Summit World Trade Corporation | Electronic gain control for photomultiplier used in gamma camera |
US5528042A (en) * | 1995-06-14 | 1996-06-18 | Siemens Medical Systems, Inc. | Retrospectively determining the center of rotation of a scintillation camera detector from SPECT data acquired during a nuclear medicine study |
US6664542B2 (en) * | 2001-12-20 | 2003-12-16 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Gamma camera error correction using multiple point sources |
US6947786B2 (en) * | 2002-02-28 | 2005-09-20 | Surgical Navigation Technologies, Inc. | Method and apparatus for perspective inversion |
US6740881B2 (en) | 2002-09-20 | 2004-05-25 | Siemens Medical Solutions Usa | Anisotropic transfer function for event location in an imaging device |
AU2003303585A1 (en) * | 2002-12-20 | 2004-07-29 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Methods and apparatus for tuning scintillation detectors |
US7531807B2 (en) * | 2006-01-19 | 2009-05-12 | Ge Medical Systems Israel, Ltd. | Methods and systems for automatic body-contouring imaging |
US9042679B2 (en) * | 2012-06-06 | 2015-05-26 | Apple Inc. | Projection-based image registration |
US20220167933A1 (en) * | 2019-03-08 | 2022-06-02 | Woorien Co., Ltd. | X-ray imaging apparatus |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4216381A (en) * | 1979-05-10 | 1980-08-05 | General Electric Company | Structure for emission tomography scintillation camera |
US4426578A (en) * | 1980-10-08 | 1984-01-17 | Technicare Corporation | Support structure for rotatable scintillation detector |
US4503331A (en) * | 1982-04-21 | 1985-03-05 | Technicare Corporation | Non-circular emission computed tomography |
US4501011A (en) * | 1982-09-22 | 1985-02-19 | General Electric Company | Angulating lateral fluoroscopic suspension |
-
1984
- 1984-06-18 US US06/621,418 patent/US4582995A/en not_active Expired - Lifetime
-
1985
- 1985-06-12 NL NL8501700A patent/NL8501700A/nl not_active Application Discontinuation
- 1985-06-13 DE DE3521293A patent/DE3521293C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1985-06-17 JP JP60130093A patent/JPH0679066B2/ja not_active Expired - Lifetime
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007205980A (ja) * | 2006-02-03 | 2007-08-16 | Shimadzu Corp | 核医学診断装置 |
JP2007212295A (ja) * | 2006-02-09 | 2007-08-23 | Shimadzu Corp | 核医学診断装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0679066B2 (ja) | 1994-10-05 |
DE3521293A1 (de) | 1985-12-19 |
DE3521293C2 (de) | 1994-02-03 |
US4582995A (en) | 1986-04-15 |
NL8501700A (nl) | 1986-01-16 |
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