JPS61127638U - - Google Patents

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JPS61127638U
JPS61127638U JP1076685U JP1076685U JPS61127638U JP S61127638 U JPS61127638 U JP S61127638U JP 1076685 U JP1076685 U JP 1076685U JP 1076685 U JP1076685 U JP 1076685U JP S61127638 U JPS61127638 U JP S61127638U
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JP
Japan
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stage
probe
optical fiber
cooling medium
protective tube
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JP1076685U
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  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例を示す断面図。第2
図は第1図のA―A部分の水平断面を示す図。 1はウエーハ、2はウエーハステージ、3は微
動Zステージ、4はX・Yステージ、5は金属探
針、6は光学像モニタ用光フアイバの受光部、7
は保護管、701は開口部、8は固定部、9は保
護ガラス、10は乾燥窒素ガス流入口、11はプ
ローブヘツド、12はプローブ板、1201はプ
ローブ板アーム、13は粗動Zステージ、14は
液体窒素、15は冷却室、16は穴を示す。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 被測定素子が形成されたウエハを載せるウエハ
    ステージが垂直方向に微動自在なZステージに固
    定され、この微動Zステージと、前記ウエハステ
    ージを水平方向に移動自在なX・Yステージと、
    探針と光学像モニタ用光フアイバとが設置された
    プローブ板と、が固定された粗動Zステージおよ
    び冷却媒体を満たすべき冷却室とを備え、前記粗
    動Zステージの移動によつて前記ウエハステージ
    と探針と光フアイバの受光部を前記冷却媒体に浸
    漬する構造を有する素子特性評価装置であつて、
    前記光フアイバの受光部が中空の保護管でおおわ
    れ保護管の先端部に透明な観測用の窓が設けられ
    保護管先端と後端の間でしかも冷却媒体に漬され
    る線より上に乾燥ガス流入口が設けられ、さらに
    保護管後端部が開放され排気口となつていること
    を特徴とする素子特性評価装置。
JP1076685U 1985-01-29 1985-01-29 Pending JPS61127638U (ja)

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JP1076685U JPS61127638U (ja) 1985-01-29 1985-01-29

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JP1076685U JPS61127638U (ja) 1985-01-29 1985-01-29

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JPS61127638U true JPS61127638U (ja) 1986-08-11

Family

ID=30492253

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1076685U Pending JPS61127638U (ja) 1985-01-29 1985-01-29

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JP (1) JPS61127638U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010107443A (ja) * 2008-10-31 2010-05-13 Sumitomo Electric Device Innovations Inc デバイス試験装置およびデバイス試験方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010107443A (ja) * 2008-10-31 2010-05-13 Sumitomo Electric Device Innovations Inc デバイス試験装置およびデバイス試験方法

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