JPS61126475A - 電子部品の特性測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上夏且且分昼 この発明は複数の電子部品の各々に一括して測子を接触
させて特性測定を行う装置で、１詳しく１） くは１度に測定される複数の電子部品の配列ピッチが複
数種顕在って、この複数種類に対応した測子配列ピッチ
の複数の測子群を有し、測定される電子部品の配列ピッ
チに応じた測子群の１群の１測子を選択使用して特性測
定を行う装置に関する。

従来夏伎五 コンデンサなどの部品本体から２本のリード線を同一方
向に導出したラジアル形電子部品はその複呻個の各リー
ド線先端部を長尺なテープ部材に固半、シて整列させた
テーピング部品を用いて製造や特性測定、保管、運搬等
されるのが一般的である。このテーピング部品における
電子部品の特性測定はテーピングされた複数の電子部品
のリード線に判子を接触させて通電することにより、哲
われる赤、テーピング部品における電子部品の配列ピッ
チは電子部品の種類、用途などにより様々であり、この
ような電子部品配列ピッチの異なる複数種類のテーピン
グ部品に対応させた電子部品特性測定装置として、従来
は複数種類のテーピング部品の電子部品配列ピッチに対
応した測子配列ピッチの複数の測子群を用意し、これを
切換えて選択使用するようにしたものを使用していた。

例えば第１２図と第１３図にテーピング部品（１）の−
例を示すと、これに複数のラジアル形電子部品（２）、
（２）、・−における各２本のリード線（３）、　（３
）、・−・−１（４）、　（４）、−・の先端部をテー
プ部材（５）に定ピッチＡで固定したものである。テー
プ部材（５）は例えば１枚の紙テープ（６）と１枚の金
属テープ（７）から成り、電子部品（２）、（２）、・
−の一方のリード線（３）、（３）、・−・の先端部が
定ピッチＡで紙テープ（６）の表より裏側にかしめられ
、他方のリード線（４）、（４）、・−の先端部が金属
テープ（７）に定ピッチＡで溶接される。このようなテ
ーピング部品（１）における電子部品特性測定は金属テ
ープ（７）に共通の測子を当て、紙テープ（６）の表側
の各リード線（３）、（３）、・−の個々に測子を当て
ることで行われ、これを実施する従来装置を第７図乃至
第１０図を参照して以下説明する。

第７図及び第８図において、（８）はテーピング部品（
１）をその紙テープ（６）を上に寝かして複数個を定ピ
ッチで並列に支持して直交方向に間欠送りする搬送体で
、テーピング部品（１）は１つずつが特性測定ボジシッ
ンＰに送り込まれる。この搬送体（８）は電子部品配列
ピッチの異なる複数種類のテーピング部品、例えば第１
２図のピッチＡなるテーピング部品（１）の他に、第１
４図及び第１５図に示す電子部品配列ピッチがＢ及びＣ
（但しＡ＞Ｂ＞Ｃ）なるテーピング部品（１°）、（１
”　）の計３種類を必要に応じ間欠送りする。尚、３種
類のテーピング部品（１）、（１°）、（１１）は全長
が同一で、各々の電子部品数をｎｌ　、ｎＢ　、ｎＢと
するとｎｌ　＜ｒ３２　＜ｎＢとなる関係にあるものと
して説明を続行する。

また（９）は特性測定ポジションＰの上方に上下動及び
左右間欠動可能に配置された測定板、（１０）、（１０
）は測定板（９）をテーピング部品搬送方向に摺動可能
に支持する２本平行な支持棒、（１１）は支持棒（１０
）、（１０）の両端を固定する昇降台である。この昇降
台（１１）′は図示しないがカム駆動などによる上下駆
動機構にて定ストローク上下動して測定板（９）を上下
動させ、また昇降台（１１）には測定板（９）を支持棒
（１０）、（１０）に沿って左右動させる駆動機構（図
示せず）が取付けられる。

測定板（９）には三列平行に複数の測子（１２）、（１
２）、・−が上下面を貫通τて植設きれ、図面左端列の
第１測子群（１３Ｍ）の測子（１２）、（１２）　、・
−・は定ピッチＡでｎ１個が並び、中央列の第２測子群
（１３ｂ）の測子（１２）、（１２）、・・・・・は定
ピッチＢでｎ２個が並び、右端列の第３測子群（１３ｃ
）の測子（１２）、（１２）　、・・−・は定ピッチＣ
でｎ８個が並ぶ、各測子（１２）、　□（１２＞　、−
・はピン状のもので、例えば第９図に示すように大径の
下端部と上端部間に金属パイプ（１４）、（１４）　、
・−・とステリング（１５）、（１５）、−が嵌着され
、金属パイプ（１４）、（１４）　、−−−−一が絶縁
性測定板（９）に貫通固定され、各測子（１２）、（１
２）　、−・−はスプリング（１５）、（１５）　、−
のバネ力にて測定板（９）の下面より一定の突出長で弾
性をもって突出する。第１〜第３測子群（１３ａ）〜（
１３Ｃ）の各測子（１セ）□、（１２）　、・−・は群
毎に計３つの第１〜第３コネクタ（１６ａ）〜（１６ｃ
）に電気配線されＪ各コネクタ（ｌｅａ）〜（１６ｃ）
はいずれか１つが外部の特性一定器（１７）の１つのコ
ネクタ（１８）に選択的に差し込まれる。

上記特性測定装置は３種のテーピング部品（１）Ｊ（１
°）、（１°”）に対して次のように使用される。　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　、い
まピッチＡのテーピング部品（１）が特性測定ポジショ
ンＰに順次に搬入されるものとすると、測定板（９）は
第１測子群（１３ａ）が特性測定ボジシッンＰに位置す
るよう移動調整され、第１測子群（１３ａ）の第１コネ
クタ（１６ａ）が特性測定器（１７）′のコネクタ（１
８）に差し込まれる。この状態で１つのテーピング部品
（１）が特性測定ポジションＰに搬入されると、測定板
（９）のユニットが定ストローク下降して第１測子群（
１３ａ）の各測子（１２）、（１２）　、・−・−の下
端が第１０図に示すようにテーピング部品（１）の紙テ
ープ（６）上にあるリード線（３）、（３）、・−にス
プリング（１５）、（１５）　、・−・−のバネ力でも
って弾性接触する。一方特性測定ポジシッンＰにおける
テーピング部品（１）の金属テープ（７）には特性測定
器（１７）に配線された共通電極（１９）が接触し、こ
れによりテーピング部品（１）の各電子部品（２）、（
２）、・−・↓よそのリード線（３）、（４）、−が特
性測定器（１７）に配線された状態となつて、各々の特
性測定が開始される。特性測定が完了すると測定板（９
）のユニットが元の位置まで上昇して測子（１２）、（
１２）　、・−がり一ド線（３）、（３）、・−・より
離れる。特性測定ポジションＰには次のピッチＡのテー
ピング部品（１）が搬入されて上記動作が繰り返される
。

次にピッチへのテーピング部品（１）に代わってピッチ
Ｂのテーピング部品（１゛）が特性測定ポジションＰに
送り込まれる場合は、先ず測定板（９）を第２測子群（
１３ｂ　）が特性測定ポジションＰにくるよう位置変更
をし、また特性測定器（１７）のコネクタ（１８）から
第１コネクタ（ｌｅａ）を引き抜いて代わりに第２コネ
クタ（１６ｂ）を差し込む作業を行う。後はピッチＢの
テーピング部品（１゛）が特性測定ポジションＰに搬入
される毎に測定板（９）のユニットを１何下降・上昇動
させてテーピング部品（１゛）の各電子部品（２°）、
（２’）　、−の特性測定を行う。

ピッチＣのテーピング部品（１１）が特性測定ポジショ
ンＰに送られる場合は、測定板（９）を第３測子群（１
３Ｃ）が特性測定ポジションＰにくるよう位置移動させ
、特性測定器（１７）のコネクタ（１８）に第３コネク
タ（１６ｃ）を差し替える。

（′シよ゛と　る ところで、上記特性測定装置は特性測定を受けるテーピ
ング部品（１）、（１′）、（１°′）が代わる毎に第
１〜第３コネクタ（ｌｅａ）〜（１６ｃ）を特性測定器
（１７）に差し換える必要があって、この差し替えを人
手でもって行っていた。そのため、装置の省力化、全自
動化が難しくて、またコネクタ差し替えに時間を要して
この間全装置の運転を停止させねばならなくて装置の稼
働率が悪かった。

また上記問題の解決策として、第１１図に示すように第
１〜第３測子群（１３ａ）　〜（１３ｃ）の各測子（１
２）、（１２）　、・−・を端から１番目のもの同士、
２番目のもの同士と順次に電気的に並列接続して特性測
定器（１７）のコネクタ（１８）に配線することが考え
られる。このようにすれば上述のコネクタ差し替えの手
間が省けて自動化が可能となる。しかし、例えば第１測
子群（１３ａ）の測子（１２）、（１２）、・−・でテ
ーピング部品（１）の電子部品特性測定を行う場合に、
使用していない第２、第３測子群（１３ｂ）、（１３Ｃ
）の各測子（１２）、（１２）　、・−・・が中空に浮
いた状態となって、特性測定内容によっては浮いた測子
（１２）、（１２）　、−・−による漂遊容量、リーク
電流等の影響で測定精度の低下、悪くすると測定不能を
引き起こすことがあった。

゛　るための 本発明は上記従来問題点に鑑みてなされたもので、この
問題点を解決する本発明の技術的手段は夫々に複数の測
子を有して各群における測子配列ピッチが異なる複数の
測子群、及び各測子群毎に一群が対応し夫々に各測子群
の測子に電機的接続された複数の端子を各群共に定ピッ
チ、で有する複数の端子群とを固定配置した測定板と、
測定板に対し相対移動して前記端子群の１群の各端子に
選択的に適宜電機的接触する複数の接触子と、各接触子
に電気配線された電子部品特性測定器とを具備した構成
にすることである。

作朋 上記本発明の構成にすることにより、コネク夕差し替え
の手間が省けて完全自動化が達成され、而も測定板の各
測子群の測子が独立しているので測子群間の影響が無く
て精度良い特性測定が実行される。

実見口 例えば上記第１〜第３テーピング部品（１）、（１’）
、（１”　）の電子部品特性測定装置に本発明を適用し
、その一実施例を第１図乃至第６図を参照して以下説明
する。

第１図及び第２図において、（２０）は水平な固定台、
（２１）、（２１）　、−・は固定台（２０）上に垂設
された計４本のガイド支柱、（２２）　バカイド支柱（
２１）、（２１）　、−に４隅が上下に摺動自在に嵌着
された枠状昇降台、（２３）は昇降台（２２）を支持し
て上下動させるカム駆動方式等の上下駆動機構で、昇降
台（２２）と固定台（２０）の間の定位置にテーピング
部品搬送体（２４）が設置される。この搬送体（２４）
は３種のテーピング部品（１）、（１°）、（１”　）
のいずれかを特性測定ポジションＰに順次に送り込む。

（２５）、（２５）は昇降台（２２）の両側下部に両端
が固定された水平な支持棒、（２６）は支持棒（２５）
、（２５）に両側部が摺動自在に支持された水平な測定
板、（２７）は測定板（２６）の一端部上に突設された
ナツト、（２８）はナラ）　（２７）に短語された送り
ネジ棒で、両端部が昇降台（２２）に回転可能に枢着さ
れる。（２９）は昇降台（２２）の一端部上に固定され
たモータ、（３０）はモータ（２９）の回転力を送りネ
ジ棒（２８）に伝達するギヤユニットで、モータ（２９
）による送りネジ棒（２８）の正逆回転にてナツト（２
７）を介し測定板（２６）が支持棒（２５）、（２５）
に沿って往復移動する。（３１）は昇降台（２２）の中
央部上に固定した支持枠、（３２）は支持枠（３１）上
に固定したシリンダ、（３３）は支持枠（３１）内に配
置されてシリンダ（３２）にて上下動されるピン支持体
、（３４）、（３４）、−はピン支持体（３３）に上下
に貫通してバネ材（図示せず）を介し弾性をもって植設
された一連に並ぶ複数のピン状接触子、（３５）は各接
触子（３４）、（３４）　、−に配線されたコネクタで
、外部の従来と同様の特性測定器（１７°）に接続され
る。

測定板（２６）は絶縁板で、第６図に示すように三列平
行に複数のピン状測子（３６）、（３６）、−を植設し
てなる第１〜第３測子群（３７ａ）、（３７ｂ）、（３
７Ｃ）と、各測子群（３７ａ）〜（３７ｃ　）に等間隔
で並列に複数のピン状端子（３８）、（３Ｂ）　、・−
・を植設した第１−〜第３端子群（３９ａ）、（３９ｂ
　）、（３９Ｃ）と、各測子（３６）、（３６）　、・
−・と各端子（３８）、（３８）、・−・の対応する２
つずつを電気的接続する導電ランド（４０）、（４０）
　、・−を有する。第１測子群（３７ａ　）の各測子（
３６）、（３６）　、・−・は定ピッチＡでｎ１個が並
び、第２測子群（３７ｂ　）の各測子（３６）、（３６
）　、−は定ピッチＢｉ’ｎ２個で並び、第３測子群（
３７Ｃ）の各測子（３６）、（３６）　、・−は定ピッ
チＣでｎ８個が並ぶ、各測子（３６）、（３６）　、−
・−・は測定板（２６）を貫通して下方にスプリング（
４１）　、（４１）　、・−・のバネ力にて弾性をもっ
て一定の突出長で突出するもので、その構造は第９図の
従来構造と同様でよい、第１〜第３測子群（３７ａ）〜
（３７ｃ　）に対応する第１〜第３端子群（３９ａ）〜
（３９Ｃ）の各端子数はｎ１個、ｎ２個、ｎ３個で、第
１〜第３端子群（３９ａ）〜（３９ｃ　）における端子
（３８）、（３Ｂ）　、・−・の配列ピッチは同一で例
えば第３図測子群（３７ｃ　）の測子配列ピッチＣに統
一される。この各端子（３８）、（３Ｂ）　、−は測定
板（２６）上に一定の突出長で一体に突設される。また
上述導電ランド（４０）、（４０）　、−は測定板（２
６）の上下面にプリントされたもので、各々の両端部が
測子（３６）、（３Ｂ）　、−と端子（３８）、（３Ｂ
）　、−・に半田接続される。但し、測子（３６）、（
３６）　、−・は軸方向可動に導電ランド（４０）、（
４０）　、−−−−−に接続される。

測定板（２６）は第１〜第３測子群（３７ａ）〜（３７
Ｃ）のいずれか１つが特性測定ボジシッンＰの上方定位
置にくるようモータ（２９）にて間欠送りされる。特性
測定ボジシッンＰから少しく１４） 横の上方に接触子（３４）、（３４）　、−が配置され
る。各接触子（３４）、（３４）　、−の配列ピッチは
端子配列ピッチＣと同一であり、その数は端子数最多の
第１端子群（３９ｃ　）の端子数ｎ３以上に設定される
。この接触子（３４）、（３４）、−の下端面は、円錐
凹面で、定ストローク下降することにより特性測定ポジ
ションＰ近傍に位置決めされた第１〜第３端子群（３９
ａ）〜（３９ｃ）のいずれか１群の端子（３８）、（３
８）、−・−の上端部を嵌めて電気的接触する。

次に上記実施例による特性測定動作を説明する。

例えばピッチＡのテーピング部品（１）が特性測定ポジ
ションＰに送られる場合、昇降台（２２）とピン支持体
（３３）が上限位置にある第１図の状態で、先ずモータ
（２９）を作動させて測定板（２６）を第３図に示すよ
うに図面右方に移動させて第１測子群（３７ａ）を特性
測定ポジションＰに位置決めして停止させる。次にシリ
ンダ（３２）にピン支持体（３３）を定ストローク押し
下げて、第４図に示すように各接触子（３４）、（３４
）、・・−の下端面を第１端子群（３９ａ）の各端子（
３８）、（３８）　、−・〜・上に弾性的に押し付は接
触させる。この状態で第１測子群（３７ａ）は導電ラン
ド（４０）、（４０）　、−１第１端子群（３９ａ）、
接触子（３４）、（３４）　、−コネクタ（３５）を介
して特性測定器（１７°）に配線される。

この第４図の状態で特性測定ポジションＰに１つのテー
ピング部品（１）が搬入されると、第５図に示すように
昇降台（２２）のユニットを上下駆動機構（２３）にて
定ストローク下降させる。すると第１測子群（３７ａ）
の各測子（３６）、（３６）、・・−・の下端がテーピ
ング部品（１）の各電子部品（２）、（２）、−におけ
るリード線（３）、（３）、−の先端部に弾圧接触して
特性測定が開始される。特性測定が完了すると昇降台（
２２）のユニットを元の上限位置まで上昇させて１回の
特性測定動作が完了する。

上記動作が繰り返し行われて、とッチＡのテ−ピング部
品（１）の特性測定が順次に行われる。ここで特性測定
ポジションＰにピッチＡのテーピング部品（１）に代わ
って例えばピッチＢのテーピング部品（１゛）が搬入さ
れる場合を考える。この場合はテーピング部品種類変更
の信号でもって、先ずシリンダ（３２）にてピン支持体
（３３）を上昇させて接触子（３４）、（３４）、−・
を第１端子群（３９Ｂ）より離し、次にモータ（２９）
にて測定板（２６）を第２測子群（３７ｂ　）が特性測
定ポジションＰにくるよう位置移動させ、て第１図の状
態に成す□。ザ状態でシリンダ（３２）を作動させてピ
ン支持体（３３）を下降させ、接触子（３４）、（３４
）　、ニーを第２端子群（３９ｂ　）の各端子（３８）
、（３Ｂ）　、・−・に接触させる。後は昇降台（２２
）のユニットが上下動して特性測定ポジションＰに搬入
されたピッチＢのテーピング部品（１′）の各電子部品
（２゛）、（２′）、−・のり一ド線（３）、　（３）
゛、・−に台２測子群（３７ｂ　）の各測子（３８）、
（３Ｂ）　、−が適宜接触して特性測定が行われる。

またピッチＣのテーピング部品（１”　）が特性測定ポ
ジションＰに送られる場合は、上記要領で暉す定彬（２
６）を第３測子群（２７Ｃ）が特性測定ポジションＰに
くるよう移動させ、接触子（３４）　１．　、（３４）
　、−を第３測子群（３９ｃ　）の各端子（３８）、（
３Ｂ）　、−・−に接触させる。

品の特性測定動作に限らない。

血皿二立来 本発明によれば、複数が一括して特性測定さ′：れる電
子部品の蛇列ピッチが途中で変更になっても、この変更
に自動的に対応させるとかできて全自動死重（可能とな
り、装置全体の稼働率が向上するつまた電子部品の特性
測定ラインに漂遊容量やリーク電流等の原因となる余分
な電気回路成分が無いので特性測定の精度が良くなり、
信頼性に優れたものが提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図及び第２図は本発明の一実施例を示す側面図及び
Ｘ−Ｘ線に沿う断面図、第３図乃至第５図は第１図の特
性測定装置の各動作状態での側面図、第６図は第１図の
特性測定装置における測定板の部分拡大平面図である。 第７図及び第８図は従来の電子部品特性測定装置の要部
概略平面図及び側面図、第９図及び第１０図は第７図の
装置の一部の各動作状態での拡大側断面図、第１１図は
第７図の装置における測定板の測子群配線の変形例を説
明するための概略平面図、第１２図はテーピング部品の
一例を示す正面図、第１３図は第１２図中のＹ−Ｙ線に
沿う断面図、第１４図及び第１５図は夫々テーピング部
品の他の二側を示す正面図である。 （２）、（２′）、（２”　）　−電子部品、（１７’
　）−特性測定器、（２６）　−測定板、（３４）−・
−・接触子、（３６）−測子、（３７ａ）、（３７ｂ）
、（３７ｃ）−測子群、（３８）　一端子、（３９ａ）
、（３９ｂ　）、（３９ｃＬ一端子群、Ａ、ＢＳＣ，−
測子配列ピンチ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）複数の電子部品に一括して複数の測子を接触させ
   て特性測定する装置であって、夫々に複数の測子を有し
   て各群における測子配列ピッチが異なる複数の測子群、
   及び各測子群毎に一群が対応し夫々に各測子群の測子に
   電機的接続された複数の端子を各群共に定ピッチで有す
   る複数の端子群とを固定配置した測定板と、測定板に対
   し相対移動して前記端子群の１群の各端子に選択的に適
   宜電機的接触する複数の接触子と、各接触子に電気配線
   された電子部品特性測定器とを具備したことを特徴とす
   る電子部品の特性測定装置。