JPS61120926A - 赤外線検出素子アレイ - Google Patents

赤外線検出素子アレイ

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Publication number
JPS61120926A
JPS61120926A JP24293584A JP24293584A JPS61120926A JP S61120926 A JPS61120926 A JP S61120926A JP 24293584 A JP24293584 A JP 24293584A JP 24293584 A JP24293584 A JP 24293584A JP S61120926 A JPS61120926 A JP S61120926A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
infrared
substrate
detection element
absorption layer
infrared detection
Prior art date
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Pending
Application number
JP24293584A
Other languages
English (en)
Inventor
Kunio Nakamura
中村 邦雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP24293584A priority Critical patent/JPS61120926A/ja
Publication of JPS61120926A publication Critical patent/JPS61120926A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14643Photodiode arrays; MOS imagers
    • H01L27/14649Infrared imagers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2803Investigating the spectrum using photoelectric array detector

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、赤外線分光計測を行うもので、瞬時に計測す
ることを必要とする宇宙科学観測、或は簡便性を要する
工程管理での熱管理、或はガス分析器等に利用すること
ができる赤外線検出素子アレイに関するものである。
従来の技術 従来、赤外線分光計測においては、一般的に分光器と1
個の赤外線検出素子の組合わせで、時間順次で波長を走
査して分光特性を計測している。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記方式では或波長範囲のデータ取得に数
分程度の時間が掛かるので1時々刻々状況の変化する系
の観察には使用することができない。又分光器は一般的
に回折格子等を用いているがいずれの方式でも分光器が
重く1寸法が大きなものになる。
この問題点を解決すべく、赤外フィルタ、特に多層膜干
渉フィルタを用いる例が多いが、この場合、赤外線検出
素子の寸法、赤外集光系の設計等から挿々の制約が生じ
、素子数は1oi1i程度が限度であり、その程度にな
ると、最早寸法が分光器を用いた場合より大きくなる等
の問題が生じる。
そこで、本発明は、瞬時に赤外線分光計測を行うことが
でき、又小型化及び軽量化を図ることができ、叉堅牢で
:耐振性を向丘させることができ。
更4(光学的に明るい集光系を設計し坊い赤外線検出素
子アレイを丑供しようとするものである。
間dφ、を解決するための手段 り記問題点を解決する本発明の技(+1#的な手段は、
赤外、腺検出素子と、この赤外線検出素子の両面に配置
された赤外線吸収層及び信号取出電極と、上記赤外線検
出素子が赤外線吸収層側で支持され、腹数個の開口部を
有する基板と、この基板の開口部内で、上記赤外dA吸
収層上に配置された多層干渉蒸着膜とを備えたものであ
る。
乍用 本発明は上記構成により、各プレイ位置の分光特性が異
なるので1時々刻々状況の変化する系でaっでも、瞬時
に赤外線分光計測を行うことができる。
実施例 以下1本発明の実施例を図面に基いて詳細に説明する。
第1図乃至第3図に示すように赤外線検出素子10両面
に赤外線吸収層2及び信号取出し電極3が配置されてい
る。この赤外線検出素子1はその赤外線吸収層2が基板
4に接着されて支持きれている。この基板4には復数個
の開口部5が形成され、各開口部5に対応した位置に赤
外線吸収層2及び信号取出し電極3が配置され、赤外線
吸収層2及び各信号取出し電極3にはそれぞれアース取
出線6と信号取出リード線7が接続されている。赤外線
吸収層2上には、基板4の開口部S内において多層干渉
蒸着膜6が配置されている。
而してアレイ位置を端から1〜nとすると、その赤外線
分光特性は第4図に示すように順次少しずつ異なるよう
に設定する。
このような構成によ5.n個の赤外線検出素子は各々第
4図で示すような分光機能を有する赤外線検出器アレイ
としての機能分有することになる。
従って時々刻々状況が変化する系でちっても瞬時に赤外
線分光計測を行うことができる。
本発明の一具体例として、基板4は10flX1頭の寸
法で、100μmの厚さのステンレス板にyへ よ 、 口部5は200μな×2ooμmの寸法で、ピ
ッチを300μmにして32個形成した。
赤外線検出素子1は厚さ30μmのチタン酸塩セラミッ
ク集電素子によシ形成し、この棋電累子の一側全面に赤
外線吸収層2としてシート抵抗約300〜200Ω/詞
のニクロム玉着、摸を蒸着した。この赤外線吸収層2で
あるニクロム蒸着膜はアース電極を兼用させ、アース取
出線7を接続した。信号取出電極3としてアルミ法着膜
をニクロムT着漠の反対百、即ち赤外入射面の反対面に
基板4の開口部Sのピッチに合わせて基若し、各アルミ
f着漠に1本ずつリード線8を接続した。赤外線吸収層
2であるニクロム値青摸の上に多層干渉蒸着膜8として
硫化亜鉛とテlレル化沿の蒸着膜を交互に多層蒸着した
。この蒸着膜は多層干渉により分光透過特性を有してい
る。この分光特性は、多層基着模構成を過当に選択する
ことによりかなりの自由度で設計できる。本例では、中
、し波長9.6μm、半値巾0.05μmとした。
池の具体例として、上記具体例における多層干渉蒸着膜
8を第5図に示すようなp;空#着により形成した。図
において、11は蒸発源で、改化百鉛はタングステンヒ
ータを硫化亜鉛粉末の入った。
るつぼ内に設置して加IA蒸発させ、チル〜化鉛はタン
タルボートヒータにより加熱蒸発させる。1は被蒸着面
である赤外線吸収層2を下向きにして設置した赤外線検
出素子でちる。この赤外線検出素子1は蒸発源11の前
方への距離Eが300mzの位置より側方への距離dが
10onの位置に。
即ち蒸発源11に対し斜め前方に配置した。而して赤外
線吸収層2上に硫化亜鉛とテlレル化鉛を多層蒸着し、
この多層基着膜の膜厚をアレイ位置てよシ異ならせ、3
2個のアレイ位置のフィ°ルタ特性を9.45μmから
9.768mまで0.01μmピッチで変化させた。当
、半値巾を0.01μmとし。
分解能0.01μmを達成した。
このような赤外線検出素子アレイを用いることにより瞬
時に赤外分光観測が可能となった。又一般の分光器を用
いる分散型に比較して化学的明るさが優れ、例えばFナ
ンバーで評価すれば、一般の分光器のF15.6に対し
1本発明によればF/1.○ を達成することができ、
明るさにおいて30倍の改善を実現することができた。
発明の効果 以上の説明より明らかなように本発明によれば、赤外線
検出素子の両面に赤外線吸収層及び信号取出電極を配置
し、この赤外線検出素子を赤外線吸収層側で複数個の開
口部を有する基板に支持させ、この基板の開口部内で赤
外線吸収層上に多層干渉蒸着膜を配置している。従って
各アレイ位置で分光機能を有するので、時々刻々状況が
変化する系であっても瞬時に赤外線分光計測を行うこと
ができる。また小型化及び軽量化を図ることができ。
しかも基板に支持させているので、堅牢で、附振性を向
上させることができる。更に光学的明るさに優れている
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第3図は、本発明の赤外線検出素子アレイの
一実施例を示し、第1図は同要部断面図、第2図及び第
3図はそれぞれ第1図の■−n線及び■−m線に沿う断
面図、第4図は本発明の赤外線検出素子アレイの分光特
注の一例を示す図、第5図は本発明における多層干渉蒸
着膜を形成するための一例である真空蒸看法の説明図で
ちる。 1 ・・・・赤外ffA検出素子、2・・・赤外線吸収
層。 3・・・信号取出電極、4 ・基板、5・・・・開口部
、6・・・・・アース取呂腺、了・・・・・信号収出リ
ード線、8・・・・・多層干渉蒸着膜、11・・・・・
・蒸発源。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名萬 
l 図 第2図      第3図 賞 4 図 第5図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)赤外線検出素子と、この赤外線検出素子の両面に
    配置された赤外線吸収層及び信号取出電極と、上記赤外
    線検出素子が赤外線吸収層側で支持され、複数個の開口
    部を有する基板と、この基板の開口部内で、上記赤外線
    吸収層上に配置された多層干渉蒸着膜とを備えたことを
    特徴とする赤外線検出素子アレイ。
  2. (2)多層干渉蒸着膜の膜厚がアレイ位置によって異な
    る特許請求の範囲第1項記載の赤外線検出素子アレイ。
JP24293584A 1984-11-16 1984-11-16 赤外線検出素子アレイ Pending JPS61120926A (ja)

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JP24293584A JPS61120926A (ja) 1984-11-16 1984-11-16 赤外線検出素子アレイ

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JP24293584A JPS61120926A (ja) 1984-11-16 1984-11-16 赤外線検出素子アレイ

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JPS61120926A true JPS61120926A (ja) 1986-06-09

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ID=17096403

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JP24293584A Pending JPS61120926A (ja) 1984-11-16 1984-11-16 赤外線検出素子アレイ

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010507083A (ja) * 2006-10-20 2010-03-04 アナログ・デバイシズ・インコーポレーテッド 基準感知素子を備えるセンサ

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010507083A (ja) * 2006-10-20 2010-03-04 アナログ・デバイシズ・インコーポレーテッド 基準感知素子を備えるセンサ

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