JPS61118623A - 赤外線検出素子アレイ - Google Patents

赤外線検出素子アレイ

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Publication number
JPS61118623A
JPS61118623A JP23984384A JP23984384A JPS61118623A JP S61118623 A JPS61118623 A JP S61118623A JP 23984384 A JP23984384 A JP 23984384A JP 23984384 A JP23984384 A JP 23984384A JP S61118623 A JPS61118623 A JP S61118623A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
infrared
detection element
substrate
infrared detection
array
Prior art date
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Pending
Application number
JP23984384A
Other languages
English (en)
Inventor
Kunio Nakamura
中村 邦雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP23984384A priority Critical patent/JPS61118623A/ja
Publication of JPS61118623A publication Critical patent/JPS61118623A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2803Investigating the spectrum using photoelectric array detector

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 2 ベージ 本発明は、赤外線分光計測を行うもので、瞬時に計測す
ることを必要とする宇宙科学観測、或は、簡便性を要す
る工場での工程管理、或はガス分析器等に利用すること
ができる赤外線検出素子アレイに関するものである。
従来の技術 従来、赤外線分光計測においては、一般的に分光器と1
個の赤外線検出素子の組合せで、時間順次で波長を走査
し、分光特性を計測している。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記方式では、或波長範囲のデータ取得に
数分程度の時間が掛かるので、時々刻々状況が変化する
系の観測には使用することができない0又分光器は一般
的に回折格子等を用いているが、いずれの方式でも分光
器が重く、寸法が太き々ものになる。
この問題点を解決すべく赤外フィルタ、特に多層膜干渉
フィルタを用いる例が多いが、この場合、赤外線検出素
子の寸法、赤外集光系の設計等から種々の制約が生じ、
素子数は10個程度が限度で3”’−′ あり、その程度になると最早寸法が分光器を用いた場合
より大きくなる等の問題が生じる。
そこで本発明は、瞬時に赤外線分光計測を行うことがで
き、又小型化及び軽量化を図ることができ、又堅牢で耐
振性を向上させることができ、更に光学的に明るい集光
系を設計し易い赤外線検出素子アレイを提供しようとす
るものである。
問題点を解決するだめの手段 上記問題点を解決するための本発明の技術的な手段は、
赤外線検出素子と、この赤外線検出素子の両面に配置さ
れた赤外線吸収層及び信号取出電極と、上記赤外線検出
素子が赤外線吸収層側で支持され、複数個の開口部を有
する基板と、この基板における赤外線検出素子とは反対
側に配置された赤外フィルタとを備え、この赤外フィル
タはアレイ位置で順次赤外分光特性が異なるように構成
したものである。
作  用 本発明は上記構成により、各アレイ位置の分光特性が順
次異なるので、時々刻々状況の変化する系であっても、
瞬時に赤外線分光計測を行うことができる。
実施例 以下、本発明の実施例を図面に基いて詳細に説明する。
第1図乃至第3図は本発明の第1実施例を示すものであ
る。赤外線検出素子1の両面に赤外線吸収層2及び信号
取出電極3が対応して配置されている。前記赤外線検出
素子1は赤外線吸収層2側で基板4に支持され、この基
板4には赤外線吸収層2及び信号取出電極3の対応位置
で複数個の開口部6が形成されている。
基板4における赤外線検出素子1とは反対側の面には赤
外フィルタ6が接着により配置されている。
基板4には各開口部6を外部に開放する空気孔(図示省
略)が形成されている。赤外吸収層2は下地に金蒸着が
施されてアース電極に兼用され、基板4と信号取出電極
3にはそれぞれアース信号取出線7と信号取出リード線
8がそれぞれ接続され     ゛ている。而して各開
口部6に対応する赤外フィルタ6のアレイ位置を端から
■〜■とすると、その6ページ 赤外線分光特性は第4図に示すように順次少しずつ異な
るように設定する。このような構成にょシ、n個の赤外
線検出素子は各々第4図で示すような分光機能を有する
赤外線検出器アレイとしての機能を有することになる。
従って時々刻々状況が変化する系であっても瞬時に赤外
線分光計測を行うことができる。
その−例として基板4は10mm X 1 mmの寸法
で、100 prn の厚さのステンレス板により形成
し、開口部5は200μmX200μmの寸法で、ピッ
チを300pmにして32個形成した。赤外線検出素子
1は厚さ30 p mのチタン酸鉛セラミック焦電素子
により形成し、この焦電素子の一側全面に下地として金
蒸着を施してアース電極も兼用させ、その上に赤外吸収
層2としてシート抵抗約300〜200 Q / cJ
のニクロム蒸着膜を蒸着した。信号取出電極3としてア
ルミ蒸着膜を焦電素子におけるニクロム蒸着膜の反対面
、即ち赤外入射面の反対面に基板4の開口部5ピツチに
対応させて蒸着し、各アルミ蒸着膜に1本づつリード線
6 ベージ 8を接続した。また基板4にアース信号取出線7を接続
した。基板4における赤外線検出素子1の接着面とは反
対側の面に赤外フィルタ6として多層膜干渉フィルタを
接着し、基板4には各開口部6を外部に開放する空気孔
を形成した。前記多層膜干渉フィルタは厚さ0.5mの
ゲルマニウム製の基板の両面に硫化亜鉛とテルル化鉛の
蒸着膜を交互に多層に蒸着している。この赤外フィルタ
6は多層干渉により分光透過特性を有しており、この基
本的な分光特性は、アレイの中央位置16で、中心波長
9.6μm、半値巾0.05μmとし、蒸着の際に蒸発
源に対するゲルマニウム基板の設置角度及び距離の差を
適宜選択することにより蒸着膜の厚さをアレイの位置に
より異なるように制御し、分光特性を第4図に示すよう
に設定する。その−例として1の位置は中心波長8.8
6μmで、0.06μmずつ中心波長が長波長側ヘシフ
トするような特性にする。これは32の位置までその波
長変化が保たれているので、32の位置の中心波長は1
0.4μmである。
7ベー/ このよう々構成により1度に0.o6μm間隔で8.8
5μmから10.4μmの分光特性を計測することがで
きる。
次に本発明の第2実施例を第5図乃至第7図に基いて説
明する。本実施例にあっては、開口部5を赤外吸収層2
側より赤外フィルタ6側に至るに従い次第に狭くなるよ
うに形成し、赤外吸収層2は、開口部6の外方の狭い部
分と略同−の寸法とし、開口部5の側壁での反射による
視野外感度を向上させたものであり、その他の構成は前
記第1実施例と同様である。本実施例における基板4は
シリコン等半導体単結晶板により形成し、異方性化学食
刻により前記形状の開口部5を形成する。
異方性化学食刻は、一般的に実施されている方法をとっ
た。即ち、化学的食刻液としてエチレンジアミンとピロ
カテコールの混合液又はヒドラジン水浴液を用いた。
次に本発明の第3実施例を第8図乃至第1o図に基いて
説明する。本実施例にあっては各アレイ位置間で赤外線
検出素子1に切り溝9を入れ、熱拡散によるクロストー
クを減するようにしたものであり、その他の構成は前記
第1実施例又は第2実施例と同様である。
このような赤外線検出素子アレイを用いることにより瞬
時に赤外分光観測が可能となった。
又使い易い簡便型で、フーリエ式分光光度のようにレー
ザを用いる繁雑さがなくなった。又一般の分光器を用い
る分散型に比較して、光学的明るさが優れている。
発明の効果 以上の説明より明らかなように本発明によれば、赤外線
検出素子の両面に赤外線吸収層及び信号取出電極を配置
し、赤外線検出素子を赤外吸収層側で複数個の開口部を
有する基板に支持させ、この基板における赤外線検出素
子とは反対側に赤外フィルタを配置している。従って各
アレイ位置で分光機能を有するので、時々刻々状況が変
化する系であっても瞬時に赤外線分光計測を行うことが
できる。また小型化及び軽量化を図ることができ、しか
も基板に支持させているので、堅牢で、耐振9ペーノ 性を向上させることができる。更に光学的明るさに優れ
ている。
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第3図は本発明の赤外線検出素子アレイの第
1実施例を示し、第1図は同要部断面図、第2図及び第
3図はそれぞれ第1図の■−■線及びl1l−1線に沿
う断面図、第4図は本発明の赤外線検出素子アレイの分
光特性の一例を示す図、第5図乃至第7図は本発明の第
2実施例を示し、第6図は同要部断面図、第6図及び第
7図はそれぞれ第5図の■−■線及び■−■線に沿う断
面図、第8図乃至第10図は本発明の第3実施例を示し
、第8図は同要部断面図、第9図及び第10図はそれぞ
れ第6図のIX−D(線及びX−X線に沿う断面図であ
る。 1・・・・・・赤外線検出素子、2・・・・・・赤外吸
収層、3・・・・・・信号取出電極、4・・・・−・基
板、6・・・・・・開口部、6・・・・・・赤外フィル
タ、7・・・・・・アース信号取出線、8・・・・・・
信号取出リード線。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 11か1名−
ド城 城        城

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)赤外線検出素子と、この赤外線検出素子の両面に
    配置された赤外線吸収層及び信号取出電極と、上記赤外
    線検出素子が赤外線吸収層側で支持され、複数個の開口
    部を有する基板と、この基板における赤外線検出素子と
    は反対側に配置された赤外フィルタとを備え、この赤外
    フィルタはアレイ位置で順次赤外分光特性が異なるよう
    に構成したことを特徴とする赤外線検出素子アレイ。
  2. (2)基板が食刻された半導体単結晶板で形成され、開
    口部が赤外線吸収層側より赤外フィルタ側に至るに従い
    次第に狭くなるように形成されている特許請求の範囲第
    1項記載の赤外線検出素子アレイ。
  3. (3)アレイ相互間を切溝で分離した特許請求の範囲第
    1項記載の赤外線検出素子アレイ。
JP23984384A 1984-11-14 1984-11-14 赤外線検出素子アレイ Pending JPS61118623A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07151599A (ja) * 1993-11-26 1995-06-16 Nec Corp 赤外線検知器およびその製造方法
JP2011169644A (ja) * 2010-02-16 2011-09-01 Hamamatsu Photonics Kk 光検出器

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07151599A (ja) * 1993-11-26 1995-06-16 Nec Corp 赤外線検知器およびその製造方法
JP2518141B2 (ja) * 1993-11-26 1996-07-24 日本電気株式会社 赤外線検知器およびその製造方法
JP2011169644A (ja) * 2010-02-16 2011-09-01 Hamamatsu Photonics Kk 光検出器

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