JPS61111172U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS61111172U JPS61111172U JP19587984U JP19587984U JPS61111172U JP S61111172 U JPS61111172 U JP S61111172U JP 19587984 U JP19587984 U JP 19587984U JP 19587984 U JP19587984 U JP 19587984U JP S61111172 U JPS61111172 U JP S61111172U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wiring
- recording head
- thermal recording
- patterns
- resolution test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims 1
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
- Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
- Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
Description
第１図は本考案に係わる感熱記録ヘツドの一実
施例の基板の平面図、第２図は第１図の解像度テ
ストパターンの拡大平面図である。 １……セラミツク基板、２……配線パターン、
３Ａ〜３Ｃ……解像度テストパターン、４Ａ〜４
Ｅ……配線部、ａ〜ｅ……間隙。
施例の基板の平面図、第２図は第１図の解像度テ
ストパターンの拡大平面図である。 １……セラミツク基板、２……配線パターン、
３Ａ〜３Ｃ……解像度テストパターン、４Ａ〜４
Ｅ……配線部、ａ〜ｅ……間隙。
Claims (1)
- セラミツク基板上にエツチング加工により配線
パターンを複数個形成してなる感熱記録ヘツドに
おいて、前記配線パターン近傍の基板上の少くと
も３個所に解像度テストパターンをそれぞれ設け
、その各個所に設けた各解像度テストパターンを
複数個の配線部により構成し、かつ相隣る配線部
間の間隙を順次に増大するように形成したことを
特徴とする感熱記録ヘツド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19587984U JPS61111172U (ja) | 1984-12-26 | 1984-12-26 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19587984U JPS61111172U (ja) | 1984-12-26 | 1984-12-26 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61111172U true JPS61111172U (ja) | 1986-07-14 |
Family
ID=30753495
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19587984U Pending JPS61111172U (ja) | 1984-12-26 | 1984-12-26 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61111172U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014187078A (ja) * | 2013-03-21 | 2014-10-02 | Dowa Holdings Co Ltd | 金属−セラミックス接合回路基板およびその製造方法並びに検査方法 |
-
1984
- 1984-12-26 JP JP19587984U patent/JPS61111172U/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014187078A (ja) * | 2013-03-21 | 2014-10-02 | Dowa Holdings Co Ltd | 金属−セラミックス接合回路基板およびその製造方法並びに検査方法 |