JPS6095550U - 導電率測定装置 - Google Patents

導電率測定装置

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JPS6095550U
JPS6095550U JP18945283U JP18945283U JPS6095550U JP S6095550 U JPS6095550 U JP S6095550U JP 18945283 U JP18945283 U JP 18945283U JP 18945283 U JP18945283 U JP 18945283U JP S6095550 U JPS6095550 U JP S6095550U
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JP
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conductivity
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岳志 紀本
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紀本電子工業株式会社
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  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例の断面図、第2図は第1図示
の回転子13付近の平面図である。 1・・・測定用セル、3,4・・・電極、13・・・回
転子、14・・・マグネチックスターラ、21・・・導
電率測定手段。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 導電率を測定すべき液体に接触する一平面内に、電気的
    に絶縁された一対の電極を臨ま、せ、前記平面上に研磨
    部材を配置し、前記研磨部材を前記平面上に摺擦移動す
    るようにしたことを特徴とする導電率測定装置。
JP18945283U 1983-12-07 1983-12-07 導電率測定装置 Granted JPS6095550U (ja)

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JP18945283U JPS6095550U (ja) 1983-12-07 1983-12-07 導電率測定装置

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JPS6095550U true JPS6095550U (ja) 1985-06-29
JPH0318932Y2 JPH0318932Y2 (ja) 1991-04-22

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JP18945283U Granted JPS6095550U (ja) 1983-12-07 1983-12-07 導電率測定装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008300535A (ja) * 2007-05-30 2008-12-11 Shibaura Mechatronics Corp レーザ装置および冷却液の電気抵抗の測定方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008300535A (ja) * 2007-05-30 2008-12-11 Shibaura Mechatronics Corp レーザ装置および冷却液の電気抵抗の測定方法

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Publication number Publication date
JPH0318932Y2 (ja) 1991-04-22

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