JPS6086803A - Trimming device - Google Patents

Trimming device

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JPS6086803A
JPS6086803A JP58194283A JP19428383A JPS6086803A JP S6086803 A JPS6086803 A JP S6086803A JP 58194283 A JP58194283 A JP 58194283A JP 19428383 A JP19428383 A JP 19428383A JP S6086803 A JPS6086803 A JP S6086803A
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JP
Japan
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trimming
trimmed
image
pattern
imaging system
Prior art date
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Pending
Application number
JP58194283A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
有賀 誠
村上 隆成
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Publication of JPS6086803A publication Critical patent/JPS6086803A/en
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  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野] 本発明は厚膜、薄膜抵抗体などの微細な素子をトリミン
グする装置に係シ、特にトリミングする対象物のパター
ンの検査を行りて良否判別し、かつトリミング時の状態
を視覚認識して歩留同上を図るために好適なトリミング
装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Application of the Invention] The present invention relates to an apparatus for trimming fine elements such as thick film and thin film resistors, and in particular, to inspecting the pattern of the object to be trimmed to determine whether it is good or bad. The present invention also relates to a trimming device suitable for visually recognizing the state during trimming to improve yield.

〔発明の背景〕[Background of the invention]

現在、例えばレーザトリミング装置では、トリミング時
の位置決め、そしてトリミング動作。
Currently, for example, laser trimming equipment requires positioning during trimming and trimming operation.

部品の共給及び送出、とほとんどが自動化されている。Much of the co-supply and delivery of parts is automated.

しかし、トリミング装置に供給される対象物は、作業者
の目視による外観検査による良否判定を事前に行って、
選別されたものを供給して込た。また、トリミング時の
状態およびトリミング後の検査も、作業者の目視による
外観検査によル良否判定を行す選別していた。
However, the objects to be supplied to the trimming device are judged in advance by visual inspection by the operator.
The selected materials were supplied. In addition, the condition during trimming and the inspection after trimming were also sorted by visually inspecting the appearance of the trimming to determine whether it was good or bad.

そのため、検査工程におけるスルーブツトを上げるには
、作業者を多数確保しなければならなり0そして、それ
に伴なり作業者の個人差により検査基準にバラツキが生
じるなどの欠点とレーザトリミング装置に異常が生じ、
トリミング不良が多発しても検査が行なわれるまではト
リミング動作を続けることになり、歩留まシを低下させ
るなどの欠点があった。
Therefore, in order to increase the throughput in the inspection process, it is necessary to secure a large number of workers.And, as a result, there are disadvantages such as variations in inspection standards due to individual differences among workers, and abnormalities in the laser trimming equipment. ,
Even if trimming defects occur frequently, the trimming operation continues until inspection is performed, which has the disadvantage of lowering yield.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明の目的は、従来の欠点をなくし、供給された部品
のパターンの外観チェックをセンサと画像処理を用−て
良否判別し、そして選別された部品のレーザ) IJミ
ング時の検査も自動的に行ない、かつ、レーザトリミン
グ後のトリミング状態もセンサと画像処理によって自動
検査して部品の良否判別する機能を備えたトリミング装
置を提供するにある。
The purpose of the present invention is to eliminate the drawbacks of the conventional method, to check the external appearance of the pattern of supplied parts using a sensor and image processing to determine whether they are good or bad, and to automatically inspect the selected parts using a laser (IJ). It is an object of the present invention to provide a trimming device having a function of automatically inspecting the trimming state after laser trimming using a sensor and image processing to determine the quality of parts.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

上記した目的を達成するために本発明は、回路部品を供
給するローダ一部にセンサ(TVカメラ等)を設置して
おき、そのセンサからの電気信号をデジタル変換してデ
ジ画像処理装置装置に取り込み、取り込んだ画像パター
ンと、あらかじめ画像処理装置に入力しである正常パタ
ーンとを比較することにより配線パターンの欠陥部、あ
るしは、異常部を検出して良否判定を行ない、そして、
この良否判定信号により、良品のみをトリミングステー
ションに送シ込みトリミング動作を行なう。そしてこの
トリミング動作中、抵抗体のトリミング位置が正しb位
置をトリミングしているかどうか、TVカメラと画像処
理装置によってトリミング位置を検出し。
In order to achieve the above-mentioned object, the present invention installs a sensor (such as a TV camera) in a part of a loader that supplies circuit components, converts the electric signal from the sensor into digital, and sends it to a digital image processing device. By comparing the captured image pattern with a normal pattern that has been input into the image processing device in advance, defects or abnormalities in the wiring pattern are detected and a quality judgment is made.
Based on this quality determination signal, only non-defective products are sent to the trimming station and trimming operation is performed. During this trimming operation, the trimming position is detected by a TV camera and an image processing device to determine whether the trimming position of the resistor is correct and trimming the b position.

トリミングの最適位置を制御する。この時のトリミング
位置の検出は、抵抗体がレーザでトリミングされている
とき、その部分が明るく発光し、それが周シの明るさよ
シも極めて明るいことを利用し、位置検出を行う。そし
て、トリミング処理が終了した回路部品は、トリミング
動作中の電気的測定、画像処理によるトリミング位置の
良否判定結果にもどしき、良品、不良品を選別してアン
ローディングする。
Control the optimal position for trimming. The trimming position at this time is detected by utilizing the fact that when the resistor is being trimmed with a laser, that part emits bright light, which is extremely bright compared to the surrounding area. Then, the circuit components for which the trimming process has been completed are returned to the results of determining whether the trimming position is good or bad based on electrical measurements and image processing during the trimming operation, and are unloaded after selecting good products and defective products.

このようにして、トリミング前の部品の回路パターンの
欠陥検査、そしてトリミング時の最適トリミング位置の
制御、そしてトリミング後の欠陥検査を自動的に行なう
ようになしたことを特徴とする。
In this way, the present invention is characterized in that defect inspection of the circuit pattern of the component before trimming, control of the optimum trimming position during trimming, and defect inspection after trimming are automatically performed.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、本発明の一実施例を第1図、第2図。 An embodiment of the present invention is shown in FIGS. 1 and 2 below.

第3図よシ説明する。第1図に示すように、ローダ2に
ローディングされた例えば厚膜回路部品1aは、機械的
に位置決めする機構(図示せず)によシ、TVカメラ4
に対してあらかじめ定められた位置関係となるように位
置決めされる。
This will be explained using Figure 3. As shown in FIG. 1, for example, a thick film circuit component 1a loaded onto a loader 2 is moved by a mechanical positioning mechanism (not shown) to a TV camera 4.
It is positioned so that it has a predetermined positional relationship with respect to.

そして、位置決めされた回路部品1αの回路パターンを
TVカメラ4によって、第2図(イ)に示すような映像
17として画像処理装置12に取シ込む。
Then, the circuit pattern of the positioned circuit component 1α is captured by the TV camera 4 into the image processing device 12 as an image 17 as shown in FIG. 2(A).

取ル込まれた映像17#l;t、第2図ψ)K示す画像
処理装置12内の2値化回路19によって、あらかじめ
適当なレベルに定められた2値化しきい値レベルによシ
2値化され、2値化映像信号18(第2図(イ)参照)
を得る。そして、この2値化映像信号18は、パターン
の欠陥3oを検出するための比較回路21に送る。この
欠陥検出は、あらかじめ対象品の種類によシ定められる
第2図(ロ)に示す標準パターン(欠陥のな込基準パタ
ーン)31を、標準パターン用メモリ2oに入力してお
き、TVカメラ4の信号と同期してメモリ2oをアクセ
スできるように、TVカメラ4の同期信号に同期させた
メモリ読出し信号23で標準パターン内容を読み出し、
標準パターンのデジタル映倫信号33を比較回路21に
出力する。
The captured video 17#l;t, ψ)K in FIG. Valued and binarized video signal 18 (see Fig. 2 (a))
get. This binary video signal 18 is then sent to a comparison circuit 21 for detecting pattern defects 3o. This defect detection is carried out by inputting a standard pattern (defective standard pattern) 31 shown in FIG. The contents of the standard pattern are read out using a memory read signal 23 synchronized with the synchronization signal of the TV camera 4 so that the memory 2o can be accessed in synchronization with the signal of the TV camera 4.
A standard pattern digital video signal 33 is output to the comparison circuit 21.

比較回路21では、TVカメラ4からの2値化映像信号
1Bと、メモIJ20からの標準デジタル映像信号33
とを比較讐る。そして比較の結果不一致した部分を欠陥
検出信号22として出力する。
In the comparison circuit 21, the binarized video signal 1B from the TV camera 4 and the standard digital video signal 33 from the memo IJ 20 are input.
Compare and hate. Then, the portion that does not match as a result of the comparison is outputted as a defect detection signal 22.

このようにすることによって、第2図(ハ)の標準パタ
ーン31と%第2図軒)の欠陥30のある入力映像17
を重ね合せて検出すると同等のことが得られ、第2図に
)に示す欠陥検出パターン32を得、回路パターンの欠
陥等を検出することができる。
By doing this, the input image 17 with the standard pattern 31 in FIG. 2(c) and the defect 30 in
The same result can be obtained by superimposing and detecting the above, and a defect detection pattern 32 shown in FIG. 2) is obtained, and defects in circuit patterns can be detected.

上記の説明は、厚膜回路部品の一部のパターンについて
のものであるが、厚膜回路部品の全パターンをメモリ2
0に入力しておき、入力画像と、メモリ画像のタイミン
グ制御をすれば、全パターンについての自動検査が可能
とナル。
The above explanation is about a part of the pattern of the thick film circuit component, but all patterns of the thick film circuit component are stored in the memory 2.
By inputting 0 and controlling the timing of the input image and memory image, automatic inspection of all patterns is possible.

そして、パターン検査され、厚膜回路部品1aに欠陥が
あるものは、厚膜回路部品を位置決めする位置決め機構
(図示せず)が解除されて、プッシャー3で不良品スト
ッカ(図示せず)の方へ搬送される。また、厚膜回路部
品1αに欠陥がfxいものは、チャッキングアーム5に
より、レーザトリミ、ングステーションに送り込むため
の位置決め機構付の搬送テーブル6にセットされる。
After pattern inspection, if the thick film circuit component 1a has a defect, the positioning mechanism (not shown) for positioning the thick film circuit component is released and the pusher 3 moves it to a defective product stocker (not shown). transported to. Furthermore, the thick film circuit components 1α having fx defects are set by the chucking arm 5 on a transport table 6 equipped with a positioning mechanism for transporting them to a laser trimming station.

このとき、チャッキングアーム5は4、同時に、トリミ
ングステージ日ンでトリミングとトリミングされた後の
検査が行なわれた厚膜回路部品1dを位置決め機構付搬
テーブル6から取シ出し、次のステージ冒ンに送るため
の送り出し機構16に供給する。この送り出し機構16
には、トリミング後の良否判定検査信号によシ、良品と
不良品を選別する機構を付けて自動選別させることはも
ちろん可能である。
At this time, the chucking arm 5 simultaneously takes out the thick film circuit component 1d, which has been trimmed and inspected after trimming at the trimming stage 1, from the transport table 6 with a positioning mechanism, and moves it to the next stage. It is supplied to a delivery mechanism 16 for delivery to a container. This sending mechanism 16
Of course, it is possible to automatically select a good product from a defective product by adding a mechanism to separate the good products from the defective products based on the pass/fail judgment test signal after trimming.

以上のようにしてトリミングステージ璽ンに供給された
厚膜回路部品1Cは、あらかじめ定められた設計データ
に基づいて、計算機15の指令でXYテーブル用制御装
置7を起動させてXYテーブル8を制御し、第3図(4
に示すパターン画像24のような位置に位置決めする。
The thick film circuit component 1C supplied to the trimming stage in the above manner controls the XY table 8 by starting the XY table control device 7 with a command from the computer 15 based on predetermined design data. Figure 3 (4
The pattern image 24 shown in FIG.

ここで第3図(イ)の入力画像24は、トリミングすべ
き抵抗体パターンの位置及びトリミング後のトリミング
残り幅、トリミング位置を検査するために、TVカメラ
9によシ入力したときの回路パターン像である。そして
、まずトリミングする前にトリミングすべき抵抗体26
aの位置および面積を認識する。
Here, the input image 24 in FIG. 3(a) is a circuit pattern that is input to the TV camera 9 in order to inspect the position of the resistor pattern to be trimmed, the remaining trimming width after trimming, and the trimming position. It is a statue. First, before trimming, the resistor 26 to be trimmed
Recognize the position and area of a.

この抵抗体の位置認識方法は、第1図と第3図(ハ)に
示すように、厚膜回路部品1cの所定の画像をTVカメ
ラ9によって画像処理装置12の画像入力回路34に入
力し、適蟲な2値化しきい値レベルで2値化したデジタ
ル画像を画像入力回路34のメモリに記憶する。そして
、第3図に)に示すように入力した画像24から対象と
する抵抗体26aの対角線上のコーナの位置Z* (x
l +Yt )とz、 (x、 、 y、 )を入力画
面の中から、計算機15とマツチングパターン28.2
9(93図(ロ)、(0参照)によシ、位置検出する。
This resistor position recognition method involves inputting a predetermined image of the thick film circuit component 1c to the image input circuit 34 of the image processing device 12 using the TV camera 9, as shown in FIGS. 1 and 3 (c). , the digital image binarized at an appropriate binarization threshold level is stored in the memory of the image input circuit 34. Then, as shown in FIG. 3), the diagonal corner position Z* (x
l + Yt ) and z, (x, , y, ) from the input screen, calculate the matching pattern 28.2 with the calculator 15.
9 (see Figure 93 (b) and (0)) to detect the position.

この2点Z1 # Z!から面積はめることができ、さ
らに中心位置、そして抵抗体の輪郭座標も算出できる。
These two points Z1 # Z! The area can be calculated from , and the center position and contour coordinates of the resistor can also be calculated.

この位置検出方法につbては、上記説明方法にかぎらず
他の方法で検出しても良いわけである。
This position detection method b is not limited to the method described above, and other methods may be used.

このようにして、まず抵抗体の位置を検出しておき、次
に抵抗体26aのトリミング動作を行う。第1図に示す
トリミング法は、レーザ発振器10を用いて行うもので
あるが、このときのトリミング位置は、位置検出したデ
ータに基づbて位置決めする方法あるbは、あらかじめ
定めた位置情報に基づいて位置決めして行う方法どちら
でもかまわない。
In this way, the position of the resistor is first detected, and then the trimming operation of the resistor 26a is performed. The trimming method shown in FIG. 1 is performed using a laser oscillator 10, but the trimming position at this time is determined by positioning based on position detected data. Either method of positioning based on this method may be used.

そして、トリミング中の映像を入力して、この映像から
、トリミングしてしるポイントAを検出して、正しくト
リミングされているかどうかポイントAの軌跡を認識す
る。この認識した軌跡と、トリミング前に認識した位置
情報から、トリミングの位置が正常な位置か、トリミン
グ後の残り幅が規定どうりになってbるかどうか、計算
機15を用いて検出し、トリミング後の良。
Then, the video being trimmed is input, the point A to be trimmed is detected from this video, and the locus of point A is recognized to see if the trimming is done correctly. From this recognized trajectory and the position information recognized before trimming, the calculator 15 is used to detect whether the trimming position is a normal position and whether the remaining width after trimming is as specified. Later good.

不良を判定する。Determine defectiveness.

このときのトリミングの軌跡Aの検出方法は、トリミン
グ時、レーザが抵抗体に照射するとその部分が燃焼して
強く発光するため、入力した画像の中でもトリミングし
ている部分の映像が第3図0)中の波形図の25に示す
ように、トリミングポイントZ0の部分の映像が高くな
る。このことに着目し、画像の中で最も映像レベルの高
込最明点の位置を検出することによシ簡単な方法でZ、
 (Xo、 Yo)の位置を認識する。そして、このZ
。の座標位置から軌跡Aがめられるわけである。
The method for detecting the trimming trajectory A at this time is that when the laser irradiates the resistor during trimming, that part burns and emits strong light, so the image of the trimmed part of the input image is ), the image at the trimming point Z0 becomes higher. Focusing on this, we can use a simple method to detect the position of the brightest point with the highest video level in the image.
Recognize the position of (Xo, Yo). And this Z
. Locus A can be found from the coordinate position of .

このようにして、厚膜・回・路部品1Cの全抵抗体もの
トリミング、そしてトリミング検査が終了したものは、
第1図に示すように、搬送テーブル6がチャッキングア
ーム5で取9出せる位置まで移動し、チャッキングアー
ム5で送り出し機構16に供給する。
In this way, all the resistors of the thick film/circuit/circuit parts 1C have been trimmed and the trimming inspection has been completed.
As shown in FIG. 1, the transport table 6 is moved to a position where it can be taken out by the chucking arm 5, and the chucking arm 5 supplies the material to the delivery mechanism 16.

本発明の実施によれば、厚膜回路部品のノくターン検査
、およびトリミング、トリミング時の検査が同時に行う
ことができ、目視検査による作業をなくすことができる
などの効果がある。
According to the implementation of the present invention, it is possible to simultaneously carry out the cross-turn inspection of thick film circuit components, trimming, and inspection during trimming, and there are advantages such as being able to eliminate the work of visual inspection.

またさらに、レーザトリミング時の状態検査がリアルタ
イムで判定することができるため、製品の歩留り同上な
計ることができる。
Furthermore, since the condition inspection during laser trimming can be determined in real time, the yield of the product can be measured as well.

なお第1図中、15はレーザ制御装置、11α。In FIG. 1, 15 is a laser control device, 11α.

11bは厚膜回路部品と接続される配線板、14は抵抗
測定回路である。
11b is a wiring board connected to the thick film circuit component, and 14 is a resistance measuring circuit.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、厚膜回路部品のパターン検査、抵抗体
トリミングのトリミングポイントの位置制御、トリミン
グ後の抵抗体の良否判定を非接触でかつ、自動的に行う
ことが可能であるため次のような効果がある。
According to the present invention, pattern inspection of thick film circuit components, trimming point position control for resistor trimming, and quality determination of resistors after trimming can be performed automatically and non-contact. There is a similar effect.

1、 回路パターンの欠陥検査を自動的に行うことによ
り、省人化が可能。
1. Labor can be saved by automatically inspecting circuit patterns for defects.

2、 パターン検査することにより、異常パターン、異
機種パターンの廃除が可能とがり歩留り向上が図れる。
2. By performing pattern inspection, it is possible to eliminate abnormal patterns and patterns of different types, thereby improving yield.

3 パターン検査用のTV左カメラ機種読み取pを行な
えば、多品種生産が可能となる。
3. By reading the TV left camera model for pattern inspection, it becomes possible to produce a wide variety of products.

4 レーザトリミング状態をリアルタイムで自動検をす
ることによ如歩留り向上、検査の省人化が可能。
4 By automatically inspecting the laser trimming status in real time, it is possible to improve yield and save labor for inspection.

5、 製品の信頼性向上、スルーブツトの同上が可能。5. It is possible to improve product reliability and improve throughput.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

図面はいずれも本発明に係わり、第1図は、自動パター
ン検査およびトリミング検査を行うトリミング装置の外
観斜視図、第2図(ロ)は、ノ(ターン検査用のTV左
カメラら入力した画像状態の1例図、第2図@)は、第
1図に使用されるTV左カメラ画像処理装置の一例のブ
ロック図、第2図0は欠陥パターンの一例図、第2図ψ
)は4標準パターンの一例図、第2図(イ)は欠陥検出
ノ(ターンの1例図、第3図0)、ψ)、(C)は、レ
ーザトリミング検査の入力画像の例図、第6図(至)は
第1図に使用されるトリミング系のブロック図である。 1・・・厚膜回路部品 2・・・ローダ3・・・ブツシ
ャ 49・・・TVカメラ5・・・チャッキングアーム 6・・・搬送テーブル 7・・・XYテーブル制御装置 8・・・XYZテーブル 10・・・レーザ発振器12
・・・画像処理装置 13・・・レーザ制御装置15・
・・計算機 16・・・送り出し機構19・・・2値化
回路 2o・・・メモリ21・・・比較回路 3A・・
・画像入力回路若 1 図 茶 2 回
The drawings are all related to the present invention; FIG. 1 is an external perspective view of a trimming device that performs automatic pattern inspection and trimming inspection, and FIG. An example of the state, Fig. 2 @) is a block diagram of an example of the TV left camera image processing device used in Fig. 1, Fig. 2 0 is an example of a defect pattern, Fig. 2 ψ
) is an example of the 4 standard patterns, Figure 2 (A) is an example of defect detection (one example of a turn, Figure 3 0), ψ), (C) is an example of an input image for laser trimming inspection, FIG. 6 (to) is a block diagram of the trimming system used in FIG. 1. 1...Thick film circuit component 2...Loader 3...Button 49...TV camera 5...Chucking arm 6...Transport table 7...XY table control device 8...XYZ Table 10...Laser oscillator 12
...Image processing device 13...Laser control device 15.
...Computer 16...Sending mechanism 19...Binarization circuit 2o...Memory 21...Comparison circuit 3A...
・Image input circuit Waka 1 Zucha 2 times

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、 被トリミング部品の回路パターンの像をとらえる
ための撮像系と、該撮像系によって取り込まれた映像を
2値化して画像処理し回路パターンの欠陥を自動検査す
る手段と、自動検査した結果に基づいて前記被トリミン
グ部品の良品と不良品を分ける手段と、被トリミング部
品の良品のみをトリミングするためのトリミング手段と
、前記被トリミング部品を位置決めして移動せしめる機
構とを備えてなるトリミング装置。 2、 上記トリミング手段は、トリミングを行うための
レーザ発振器と、被トリミング素子の画像をとらえる撮
像系と、該撮像系によって取り込まれた映像から前記被
トリミング素子の位@および形状を画像処理によって自
動検出する手段と、被トリミング素子をトリミングして
しる最中あるいはトリミング終了後前記撮像系と前記画
像処理によシ被トリミング素子のトリミング軌跡を自動
検出する手段と、トリミング素子の位置および形状そし
てトリミング軌跡情報から被トリミング素子が正しくト
リミングされたかどうか良、不良を自動判定する手段と
からなる特許請求の範囲第1項記載のトリミング装置。
[Scope of Claims] 1. An imaging system for capturing an image of a circuit pattern of a component to be trimmed, and means for automatically inspecting the circuit pattern for defects by binarizing and image processing the image captured by the imaging system. , means for separating the parts to be trimmed into good and defective parts based on the results of automatic inspection, a trimming means for trimming only the non-defective parts to be trimmed, and a mechanism for positioning and moving the parts to be trimmed. Trimming equipment included. 2. The trimming means includes a laser oscillator for trimming, an imaging system that captures an image of the element to be trimmed, and an image processing system that automatically determines the position and shape of the element to be trimmed from the image captured by the imaging system. means for automatically detecting the trimming locus of the trimming element by the imaging system and the image processing during or after trimming the trimming element; the position and shape of the trimming element; 2. The trimming device according to claim 1, further comprising means for automatically determining whether the trimmed element has been properly trimmed or not, based on the trimming locus information.
JP58194283A 1983-10-19 1983-10-19 Trimming device Pending JPS6086803A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6351406U (en) * 1986-09-24 1988-04-07
JP2009194110A (en) * 2008-02-13 2009-08-27 Seishin Shoji Kk Defect detection method for chip resistor substrate, defect detection device for chip resistor substrate, and trimming device

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