JPS6084694A - 光学形測定装置 - Google Patents

光学形測定装置

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Publication number
JPS6084694A
JPS6084694A JP19322783A JP19322783A JPS6084694A JP S6084694 A JPS6084694 A JP S6084694A JP 19322783 A JP19322783 A JP 19322783A JP 19322783 A JP19322783 A JP 19322783A JP S6084694 A JPS6084694 A JP S6084694A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical
signal
measurement
optical modulator
modulator
Prior art date
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Pending
Application number
JP19322783A
Other languages
English (en)
Inventor
根本 寿克
内田 博隆
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Hokushin Electric Corp
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Publication date
Application filed by Yokogawa Hokushin Electric Corp filed Critical Yokogawa Hokushin Electric Corp
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Publication of JPS6084694A publication Critical patent/JPS6084694A/ja
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  • Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、光学形測定装置に関するものであり、詳しく
は、高い入力抵抗及び低い人力容量を有し、信号伝送路
の長さによる測定信号の周波数上限値が高く、測定対象
と測定装置とを電気的に絶縁でき、測定対象の電圧基準
点を測定点fOに任意に設定できる測定装置に関するも
のである。
例えば、ロジックアナライザでは、抵抗、コンデンサ、
インダクタンスなどの受動回路素子と、FET、I−ラ
ンジスタ、演算増幅器などの能動回路素子及びツイスト
ペアクープルを組み合わせて電圧信号を取り込むプロー
ブを構成し、測定対象である論理回路素子の論理動作を
解析することが行われている。
しかし、このような従来の構成によれば、測定対象と測
定装置とを電気的に絶縁できないために、コモンモード
ノイズの影響を受けたり、jt=通イフィンピーダンス
生することからケーブルの良さが制限されてしまうなど
の欠点がある。また、クープルの特性インピーダンスに
より測定信号の周波数上限値が制限されることから高速
信号を扱うことは困難であり、高速信号を扱うためには
ケーブルのインピーダンス特性を管理しな(プればなら
ない。
本発明は、このような点に着目したものであって、その
目的は、高い入力抵抗及び低い人力容量を有し、信号伝
送路の長さによる測定信号の周波数上限(0が高く、測
定対象と測定装置とを電気的に絶縁でき、測定対象の電
圧M単点を測定点毎に任意に設定できる光学形測定装置
を提供することにある。
このような目的を達成する本発明は、測定対象の電気信
号を取り込む測定端子と、この測定端子により取り込ま
れた電気信号の振幅に応じて強度変調された光信号を送
り出す光変調器と、この光変調器に加える光信号の光源
及び光変調器から送り出される光信号を電気信号に変換
する光電変換器を有する信号処理部と、これら光変調器
とイt@処理部との間で光信号を伝送する光ファイバと
で構成されたことを特徴とする。
以下、図面を用いて詳細に説明する。
第1図は本発明の概略構成を示ず回路図であり、第2図
はその具体例を示す回路図であって第1図と同等部分に
は同一符号を付【)−Cいる。これら図面において、’
I Oは測定対象20の電気信号S1を取り込む測定端
子、30は測定端子10により取り込まれた電気信号S
tの振幅に応じて強度変調された光信号S3を送り出す
光変調器、40は光変調器30に加える光信号S2の光
源41及び光変調器30から送り出される光信号S3を
電気信号S4に変換する光電変換器42を有する信号処
理部、50.60はこれら光変調器30と信号処理部4
0との間で光信号S 2.S3を伝送づ−る光ファイバ
である。
光変調器30としては、例えば第2図に示づJ:つな分
岐干渉形光導波路体を用いる。これは、電気光学効果を
右するニオブ酸リチウム(Li Nb03)のような基
板31にチタン(T1)のような金属不純物を熱拡al
lることにより基板31よりも高い屈折率を有する光導
波路32が線状に形成されたものである。先導波路32
としては、7字形の分岐部a、互いに平行な位相推移部
す及び7字形の結合部Cが連続的に一体化されている。
そして、位相推移部すを挾むようにして第1の電極33
及び第2の電極34が設けられている。これら電極33
.34は光導波路32を通過する光信号S2を強度変調
づるために光導波路32に電界を加えるためのものであ
り、測定端子10を介し−C測定対象20の電気信号S
1が加えられるつ光導波路32の7字形の分岐部aの端
部には信号処理部40の光源41からの光信号S2を伝
送するlcめの光ファイバ50が接続され、先導波路3
2の7字形の結合部Cの端部には強度変調された光信号
S3を信号処理部40の光電変換器42に伝送するため
の光ファイバ60が接続されている。
光源41としては例えば定電流源43の出力により駆動
されるレーザダイオードを用い、充電変換器42として
は例えばフ第1〜ダイオードを用い、光ファイバ50.
60としては例えば偏波面保存形のものを用いる。
このように構成された装置の動作について説明づる。
光導波路32の7字形の分岐部aの端部に信号処理部4
0の光源41からの光信号S2が加えらねると、光信号
82は分岐部aで2分割され−(位相棺移部すに伝送さ
れる。位相推移部すでは2分割された光信号S2の間に
電極33.34及び測定端子10を介して加えられる測
定対象20の電気信号S1の振幅の大きさに応じた位相
差がりえられる。これら位相差を有覆る光信号S3は結
合部Cで再び結合される。これにより、光導波路32の
7字形の結合部Cの端部から強度変調された光信号S3
が送り出されることになる。ここで、位相推移部すに電
気的なバイアスやパターンによる光路差などによりλ/
4のバイアス位相を与えておいて強度変調された光信号
S3を信号処理部40の光電変換器42に加えることに
より、信号処理部40の光電変換器42から測定対象2
0の電気信号S、の振幅の大きさに応じた電気イハ号S
4を得ることができる。ここで、測定ヌ・1象20の電
気信号S1の振幅の大きさをV、光導波路32の7字形
の分岐部aの端部に加えられる信号処理部40の光源4
1からの光信号S2の人きさを1〕o1光信号S2の大
きさをOからPo/’2にづるのに必要な電圧をVπと
J−ると、強度変調された光信号S3の大きさPは、 P=Po (1−F+in π−V/2・Vyr)、/
2となる。
このように構成することにより、測定対象20の電気信
号SIが加えられる電極33.34間はニオブ酸リチウ
ム(Li Nb 03 )のような絶縁物で絶縁される
ことになり、入力抵抗は100MΩJメ十の高いものと
なり、入力容量は3pF以下の低いものとなる。従って
、従来の装置に比べて信号伝送路の長さによる測定信号
の周波数上限値を十分高くすることができ、相対的に信
号伝送路を長くJることができる。また、測定対象10
が接続される光変調器30と信号処理部40とは光ファ
イバ50.60で接続されているので、測定り・j象1
0と信号処理部40とを電気的に絶縁でき、測定対象1
0の複数の測定点を1台の測定装置で測定するのにあた
って電圧基準点を各測定点毎に任意に設定ジーることが
できる。
なJ5、上記実施例では、1波長の光信号系統の例を説
明したが、光変調器として複数の波長に対応するように
複数の分岐干渉形光導波路が形成されたものを用い、光
源として複数の波長の光信号を発生するように構成され
たものを用い、光電変換器を各波長に対応するように設
4Jることにより、複数波長の光信号による複数系統の
測定を行うこともできる。この場合、光ファイバを複数
波長の光信号で共用することができ、伝送路の本数を減
らすことができる。
また、光変調器は分岐干渉形光導波路形に限るものでは
なく、電気信号の振幅に応じて強度変調された光信号が
得られるものであればよい。 −また、測定装置はロジ
ックアナライザに限るものではなく、各種の測定装置に
適用できることはいうまでもない。
以上説明したように、本発明によれは、高い入力抵抗及
び低い入力容量を有し、信号伝送路の長さによる測定信
号の周波数上限値が高く、測定対象と測定装置とを電気
的に絶縁でき、測定対象の電圧基準点を測定点毎に任意
に設定できる光学形測定装置が実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の概略構成を承り回路図であり、第2図
はその具体例を示1回路図である。 10・・・測定端子、20・・・測定対象、30・・・
光変調器、31・・・基板、32・・・光導波路、33
.34電極、40・・・信号処理部、41・・・光源、
42・・・充電変換器、50.60・・・光ファイバ。 第1図 第2図 L J

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 測定対象の電気信号を欧り込む測定端子と、この測定端
    子により取り込まれた電気信号の振幅に応じて強度変調
    された光信号を送り出す光変調器と、この光変調器に加
    える光信号の光源及び光変調器から送り出される光信号
    を電気信号に変換する光電変換器を有する信号処理部と
    、これら光変調器と信号処理部との間で光信号を伝送す
    る光ファイバとで構成されたことを特徴とする光学形測
    定装置。
JP19322783A 1983-10-14 1983-10-14 光学形測定装置 Pending JPS6084694A (ja)

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JP19322783A JPS6084694A (ja) 1983-10-14 1983-10-14 光学形測定装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP19322783A JPS6084694A (ja) 1983-10-14 1983-10-14 光学形測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6084694A true JPS6084694A (ja) 1985-05-14

Family

ID=16304431

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JP19322783A Pending JPS6084694A (ja) 1983-10-14 1983-10-14 光学形測定装置

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JP (1) JPS6084694A (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56111417A (en) * 1980-02-06 1981-09-03 Yokogawa Hokushin Electric Corp Transducer
JPS5816398A (ja) * 1981-07-10 1983-01-31 シ−メンス・アクチエンゲゼルシヤフト センサデ−タ伝送用光回路網

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56111417A (en) * 1980-02-06 1981-09-03 Yokogawa Hokushin Electric Corp Transducer
JPS5816398A (ja) * 1981-07-10 1983-01-31 シ−メンス・アクチエンゲゼルシヤフト センサデ−タ伝送用光回路網

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