JPS608463B2 - パルス状搬送波を用いた反射波の測定方法 - Google Patents

パルス状搬送波を用いた反射波の測定方法

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Publication number
JPS608463B2
JPS608463B2 JP52119174A JP11917477A JPS608463B2 JP S608463 B2 JPS608463 B2 JP S608463B2 JP 52119174 A JP52119174 A JP 52119174A JP 11917477 A JP11917477 A JP 11917477A JP S608463 B2 JPS608463 B2 JP S608463B2
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JP
Japan
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pulse
wave
circuit
transmission line
reflected
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JP52119174A
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English (en)
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JPS5452409A (en
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清吾 内藤
一徳 石川
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Hitachi Cable Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
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Publication date
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  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Waveguide Connection Structure (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
本発明はパルス状搬送波を用いて反射波を測定する方法
、特に伝搬速度の周波数特性による測定区間の変化を補
償して測定する方法に関する。 伝送路にパルス状の搬送波を入射させると、伝送路の距
離に応じて伝搬時間に差を生じ、第1図に示すように伝
送路の各部の反射量が時間的にずれた形の反射波が得ら
れる。ここで、反射波の一定時点をサンプリングすると
、入射波のパルス幅twおよび反射波のサンプリング時
点tの選び方によって伝送路の任意の区間の反射量を測
定することが可能となる。 伝送路の測定区間を1〜1十△1とすると、・:裏Vg
(t−tW)‐‐‐m△・:享VQW‐‐‐■ Vg:伝送路内での伝搬速度の関係が成立する。 ところが、搬送波の周波数を掃引して測定区間の反射量
の周波数特性を測定する場合、伝搬速度が周波数に依存
すると、上記‘1}式および
【2}式からも明らかなよ
うに測定区間が周波数によって変化し、正確な測定が困
難となる。 特に、導波管のように伝搬速度が周波数に依存する伝送
路の場合には正確な測定はできない。 本発明は以上に鑑がみてなされたもので、伝搬速度が周
波数特性を有する場合でもこれを値償することにより伝
送路の測定区間を一定に保つことができる反射波の測定
方法の提供を目的とする。第1図においてtoは入射波
が伝送路を往復する時間を表わし、し:礎‐‐肌 lo:伝送路の全長 の関係が成立する。 反射波形かららを検出するのは容易であり、またげま伝
送速度の周波数特性によって変化するので、これを基に
して伝搬速度の周波数特性を補償することが可能となる
。 即ち、入射波のパルス幅twおよびサンプリング時点t
をWこ比例して変化させ、tW=Aら,t=Bt。 A,B:1より4・なる定数 とすると、上記‘1}式、■式、‘3’式および△1は
1=(B−A)1。 △1=N。 となり、1および△1は周波数に依存しないで一定とな
る。 従って、入射波のパルス幅twおよびサンプリング時点
tをWこ比例させることにより伝搬速度の周波数特性を
補償できるようになる。 以下添付図面を参照して本発明の−実施例について説明
を行う。 第2図は系統図であり、被測定伝送路4のA端にゲート
回路2、方向性結合器3を経たパルス変調をかけた搬送
波を入射させると、入射後の大部分は伝送路4のB端に
到達し、ダミロード5において減衰するが「一部は伝送
路4で不均等に基づいて反射され、方向性結合器3のC
端に出る。 この反射波はRFアンプ6、検波器7を通過すると第1
図に示すような反射波形となる。更に反射波はビデオア
ンプ8で増幅され、サンプリング回路量0‘こおいて一
定のレベルが抽出され、レコーダー1に記録される。レ
コーダ11は信号発生器1の掃引周波数に同期している
ので、入射波のパルス幅twと反射波のサンプリング時
点tによって定まる伝送路4のある区間の反射量の周波
数特性を測定することができる。パルス発生回路9はビ
デオアンプ8で増幅された反射波形から搬送波が伝送路
4を往復する時間を検知し、これを基にゲート回路2を
ゲートするパルスおよびサンプリングパルスを発生する
回路であって、搬送波の伝送速度に応じて入射波のパル
ス幅twおよびサンプリング時点tを変化させ、伝送路
4の測定区間を常に一定に保つものである。 パルス発生回路9の回路図を第3図に、各部の波形を第
4図に示す。 第3図において、12は全体の動作の同期をとるための
クロックパルスを発生する非安定マルチパイプレータ「
13はビデオアンプ8で増幅された反射波形から伝送
路4の往復時間を検出し、その時間をパルス幅としたパ
ルスを発生する回路「14は回路13のパルスによって
ノコギリ波を発生する回路、15はノコギリ波の最大値
をサンプリングし、その最大電圧を保持するサンプラ。 ホールド回路、16および19はサンプラ・ホールド回
路15の保持する電圧を一定比率に分割する回路、17
および201まノコギリ発生回路14からのノコギリ波
と電圧分割回路16および19の出力電圧を比較して両
者が一致した時点でトリガーパルスを出力するコンパレ
ータ、18は非安定マルチパイプレータ12の発生する
クロックパルスとコンパレータ17の発生するトリガー
パレスをもとにゲート回路2をゲートするパルスを発生
する回路、21はコンパレータ20のトリガーパレスを
もとにサンプリングパレスを発生する単安定マルチパイ
プレータである。次に第4図を参照しながらパルス発生
回路9の動作について説明する。 非安定マルチパイプレータ12からはaのようなクロッ
クパルスが発生されている。 bに示すような波形の左端の反射波イが回路13に入る
と、回路13は反射波形から入射波が伝送路4を往復す
る時間を検出してCのパルスを発生する。 Cのパルスはノコギリ発生回路14を動作させてdのパ
ルスを出力する。dのパルス波は時間に比例して電圧が
増加するので、ノコギリ波の最大電圧はCのパルス幅す
なわち伝送路4の往復時間に比例する。次に、ノコギリ
波の最大電圧はサンプラ・ホールド回路15でサンプリ
ングされeのように竜大電圧が保持される。 コンパレータ】7はeは電圧を電圧分割回路16で一定
比率に分割した電圧fと、/コギリ波dの電圧を比較し
て両者が一致した時点を検知し、ゲートパルス発生回路
181こ働きかけてgの中央パルスロを発生させる。 このゲートパルスはノコギリ波の傾斜が一定で、かつ電
圧分割回路16の分割比が一定の場合にはパルス幅がC
のパルス幅に比例する。ゲートパルスがゲート回路2を
動作させて伝送路4に入射波を送り込むと、bの中央の
反射波ハが得られ、再びこの反射波ハをもとに次のゲー
トパルスを決定するので、入射波のパルス幅は常に入射
波が伝送路4を往復する時間に比例し、伝搬速度の周波
数特性による測定区間にずれを補償することが可能とな
る。 以上はゲートパルスに関しての説明であるが、サンプリ
ングパルスを発生するための電圧分割回路19およびコ
ンパレー夕2川まそれぞれ前述した電圧分割回路16お
よびコンパレータ17と同じ機能を有するので、サンプ
リングパルスもまた伝送路4の往復時間に比例させるこ
とができ、伝搬速度の周波数特性を補償できる。 なお、本発明は反射波形をもとに次のゲートパルスを決
定していく方法であるので、最初のゲ−トパルスを決定
することはできない。 従って最初のゲートパルスは一定のパルス幅に固定して
おく必要がある。以上説明したように本発明はパルス変
調された搬送波のパルス幅およびサンプリング時点を入
射波が伝送路を往復する時間に応じて順次変化させてい
くものであるので、伝搬速度の周波数特性を補償するこ
とが可能となり、測定区間を常に一定にできるようにな
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は反射波の形状の説明図、第2図は本発明の一実
施例の系統説明図、第3図は本発明で使用されるパルス
発生回路の一実施例の説明図、第4図はパルス発生回路
の各部における波形の説明図である。 2:ゲート回路、4三伝送路、9:パルス発生回路、1
0:サンプリング回路。 オ1図 ナ2図 才3図 才4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 伝送路の入力端にパルス状の搬送波を入射し、その
    反射波形をサンプリング計測することにより伝送路の任
    意の区間の反射波を測定する方法において、入射波が伝
    送路を往復する時間を検知し、それに対応して入射波の
    パルス幅とサンプリング時点を決定することを特徴とす
    るパルス状搬送波を用いた反射波の測定方法。
JP52119174A 1977-10-04 1977-10-04 パルス状搬送波を用いた反射波の測定方法 Expired JPS608463B2 (ja)

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JPS5452409A JPS5452409A (en) 1979-04-25
JPS608463B2 true JPS608463B2 (ja) 1985-03-02

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ID=14754732

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JPS61237065A (ja) * 1985-04-13 1986-10-22 Anritsu Corp 2チヤンネル伝送反射特性解析装置

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JPS5452409A (en) 1979-04-25

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