JPS6082271U - 同軸プロ−ブコンタクト - Google Patents
同軸プロ−ブコンタクトInfo
- Publication number
- JPS6082271U JPS6082271U JP17407083U JP17407083U JPS6082271U JP S6082271 U JPS6082271 U JP S6082271U JP 17407083 U JP17407083 U JP 17407083U JP 17407083 U JP17407083 U JP 17407083U JP S6082271 U JPS6082271 U JP S6082271U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe contact
- coaxial probe
- view
- showing
- contact
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第１図は従来の高速用プローブコンタクトを示す斜視図
、第２図はこの考案による同軸プローブ・ コンタ
クトの一例を示す斜視図、第３図は第２図の縦断面図、
第４図はプローブコンタクトの一例を示す断面図、第５
図はこの考案の同軸プローブコンタクトの他の例を示す
断面図、第６図はこの考案の同軸プローブコンタクトの
更に他の例を示す斜視図、第７図は半導体試験装置の例
を示す断面図、第８図は端子ハウジング５２を示す斜視
図、第９図はテストボード５３を示す斜視図、第１０図
はガイド板５４を示す斜視図、第１１図はガイド板５４
の平面図、第１２図はガイド板５４の断面図、第１３図
は摺動体５５の斜視図である。 １１．１２ニブローブコンタクト、１７，１８：接触子
本体、２１：連結手段としての金属ブロック、２２：絶
縁物、２４：外部導体、４８：連結金具。
、第２図はこの考案による同軸プローブ・ コンタ
クトの一例を示す斜視図、第３図は第２図の縦断面図、
第４図はプローブコンタクトの一例を示す断面図、第５
図はこの考案の同軸プローブコンタクトの他の例を示す
断面図、第６図はこの考案の同軸プローブコンタクトの
更に他の例を示す斜視図、第７図は半導体試験装置の例
を示す断面図、第８図は端子ハウジング５２を示す斜視
図、第９図はテストボード５３を示す斜視図、第１０図
はガイド板５４を示す斜視図、第１１図はガイド板５４
の平面図、第１２図はガイド板５４の断面図、第１３図
は摺動体５５の斜視図である。 １１．１２ニブローブコンタクト、１７，１８：接触子
本体、２１：連結手段としての金属ブロック、２２：絶
縁物、２４：外部導体、４８：連結金具。
Claims (1)
- 筒状体の少くとも一端より出入自在に突出すると共にそ
の突出方向に偏倚されている接触子本体をもつ第１プロ
ーブコンタクトと、その第１プローブコンタクトを中心
導体として軸心位置に絶縁物を介して保持している外部
導体と、上記第１プローブコンタクトとは５゛平行に配
され、これと同様な構成の第２プローブコンタクトと、
その第２プローブコンタクトと上記外部導体とを電気的
に接続すると共に互に機械的に連結する連結手段とを具
備する同軸プローブコンタクト。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17407083U JPS6082271U (ja) | 1983-11-09 | 1983-11-09 | 同軸プロ−ブコンタクト |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17407083U JPS6082271U (ja) | 1983-11-09 | 1983-11-09 | 同軸プロ−ブコンタクト |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6082271U true JPS6082271U (ja) | 1985-06-07 |
Family
ID=30379049
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17407083U Pending JPS6082271U (ja) | 1983-11-09 | 1983-11-09 | 同軸プロ−ブコンタクト |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6082271U (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6296578U (ja) * | 1985-12-05 | 1987-06-19 | ||
| JPS62123568U (ja) * | 1986-01-29 | 1987-08-05 | ||
| JP2015102435A (ja) * | 2013-11-26 | 2015-06-04 | 株式会社村田製作所 | 検査装置 |
| WO2019013289A1 (ja) * | 2017-07-13 | 2019-01-17 | 日本発條株式会社 | プローブユニット |
| WO2019022204A1 (ja) * | 2017-07-28 | 2019-01-31 | 日本発條株式会社 | コンタクトプローブおよびプローブユニット |
| JP2020537160A (ja) * | 2017-11-07 | 2020-12-17 | リーノ インダストリアル インコーポレイテッド | 検査プローブ組立体及び検査ソケット |
| EP3759503A4 (en) * | 2018-05-25 | 2021-03-24 | Leeno Industrial Inc. | TEST DEVICE |
| JPWO2021075455A1 (ja) * | 2019-10-18 | 2021-04-22 |
-
1983
- 1983-11-09 JP JP17407083U patent/JPS6082271U/ja active Pending
Cited By (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6296578U (ja) * | 1985-12-05 | 1987-06-19 | ||
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| US11320461B2 (en) | 2017-07-13 | 2022-05-03 | Nhk Spring Co., Ltd. | Probe unit |
| WO2019013289A1 (ja) * | 2017-07-13 | 2019-01-17 | 日本発條株式会社 | プローブユニット |
| JPWO2019013289A1 (ja) * | 2017-07-13 | 2019-11-14 | 日本発條株式会社 | プローブユニット |
| WO2019022204A1 (ja) * | 2017-07-28 | 2019-01-31 | 日本発條株式会社 | コンタクトプローブおよびプローブユニット |
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| CN110945366A (zh) * | 2017-07-28 | 2020-03-31 | 日本发条株式会社 | 接触式探针及探针单元 |
| US11422156B2 (en) | 2017-07-28 | 2022-08-23 | Nhk Spring Co., Ltd. | Contact probe and probe unit |
| CN110945366B (zh) * | 2017-07-28 | 2022-08-30 | 日本发条株式会社 | 接触式探针及探针单元 |
| US11656246B2 (en) | 2017-07-28 | 2023-05-23 | Nhk Spring Co., Ltd. | Contact probe and probe unit |
| JP2020537160A (ja) * | 2017-11-07 | 2020-12-17 | リーノ インダストリアル インコーポレイテッド | 検査プローブ組立体及び検査ソケット |
| US11639945B2 (en) | 2017-11-07 | 2023-05-02 | Leeno Industrial Inc. | Test probe assembly and test socket |
| EP3759503A4 (en) * | 2018-05-25 | 2021-03-24 | Leeno Industrial Inc. | TEST DEVICE |
| US11609245B2 (en) | 2018-05-25 | 2023-03-21 | Leeno Industrial Inc. | Test device |
| JPWO2021075455A1 (ja) * | 2019-10-18 | 2021-04-22 | ||
| WO2021075455A1 (ja) * | 2019-10-18 | 2021-04-22 | 株式会社村田製作所 | 検査用コネクタ及び検査用ユニット |
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