JPS6078472A - 発語訓練装置 - Google Patents
発語訓練装置Info
- Publication number
- JPS6078472A JPS6078472A JP58185984A JP18598483A JPS6078472A JP S6078472 A JPS6078472 A JP S6078472A JP 58185984 A JP58185984 A JP 58185984A JP 18598483 A JP18598483 A JP 18598483A JP S6078472 A JPS6078472 A JP S6078472A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tongue
- tongue position
- display
- pattern
- speech
- Prior art date
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- Granted
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- Electrically Operated Instructional Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は発語にイ゛ｒなう発ｎｔ１特徴信号を抽出し、
表示装置に上記特「改信号を視覚化表示して発語訓練を
行う発語訓練装置に関するものである。
表示装置に上記特「改信号を視覚化表示して発語訓練を
行う発語訓練装置に関するものである。
従来例の構成と台の問題点
表示装置に発Ｊｊ）の！１０゛徴信号を視覚化して発語
訓練を行う発語訓練装置においては、同一画面上に５無
音の特徴信号群の中から、任意の組合ぜにより、相互の
発語器管の作用が診断、解析され、訓練士の効果が大き
いからである。
訓練を行う発語訓練装置においては、同一画面上に５無
音の特徴信号群の中から、任意の組合ぜにより、相互の
発語器管の作用が診断、解析され、訓練士の効果が大き
いからである。
上あごと舌の接触状態を測定する電気的パラトゲラフは
その測定原理や訓練パラメータとして使用した場合の効
果の大きさは周知の通りである。
その測定原理や訓練パラメータとして使用した場合の効
果の大きさは周知の通りである。
しかしながら、電気的パラトゲラフはその測定原理上、
すなわち、多数の電極点の接触パターンを検出するとい
う意味で、入力ならびに表示の面で他の特徴信号とＪ、
ｊなる処理が必要となる。
すなわち、多数の電極点の接触パターンを検出するとい
う意味で、入力ならびに表示の面で他の特徴信号とＪ、
ｊなる処理が必要となる。
従来の電気的パラトゲラフの表示方法の一例を第１図の
表示画面例と共に説明する。
表示画面例と共に説明する。
第１図において、１は、舌位置の接触パターン（以下、
舌パターンと略す）を示すもので、ここでは６３点の電
極構成のものを一例としており、接触状態の電極を黒丸
、非接触状態の電極を白丸として表示する。このような
舌パターンは第１図の画面上部に表示されている他の特
徴信号の入力、表示に同期して所定のサンプリング周期
毎に逐時、入力、書換えがなされる。ここで例えば、′
アタマがイタイ”と発声した場合、舌パターンの状態は
第２図のように変化する。第２図において、上部の波形
はピッチを表わし、下部の波形は、舌位置１フレームの
各サンプル毎の接触電極数の集計をとってグラフ化した
例である。第１図の表示画面において舌パターンはパタ
ーン上に表示する必要があり、１フレームのみしか表示
されないため、舌パターンの変化と他の特徴信号の波形
表示との対応が取りにくいという問題点を有している。
舌パターンと略す）を示すもので、ここでは６３点の電
極構成のものを一例としており、接触状態の電極を黒丸
、非接触状態の電極を白丸として表示する。このような
舌パターンは第１図の画面上部に表示されている他の特
徴信号の入力、表示に同期して所定のサンプリング周期
毎に逐時、入力、書換えがなされる。ここで例えば、′
アタマがイタイ”と発声した場合、舌パターンの状態は
第２図のように変化する。第２図において、上部の波形
はピッチを表わし、下部の波形は、舌位置１フレームの
各サンプル毎の接触電極数の集計をとってグラフ化した
例である。第１図の表示画面において舌パターンはパタ
ーン上に表示する必要があり、１フレームのみしか表示
されないため、舌パターンの変化と他の特徴信号の波形
表示との対応が取りにくいという問題点を有している。
発明の目的
本発明は上記従来の問題点を解消するもので、舌ハター
ンの特徴的パターンである閉鎖、せばめ開放の判別手段
を設けて１発語における構音面の特徴情報である爲パタ
ーンと他の発語特徴信号を表示画面の同一時１１旧１１
］１上に対応させて表示し、発語器管の相互の関連を容
易に診断、解析できる発語訓練装置を提供することを目
的とする。
ンの特徴的パターンである閉鎖、せばめ開放の判別手段
を設けて１発語における構音面の特徴情報である爲パタ
ーンと他の発語特徴信号を表示画面の同一時１１旧１１
］１上に対応させて表示し、発語器管の相互の関連を容
易に診断、解析できる発語訓練装置を提供することを目
的とする。
発明の構成
本発明は、発話者の音声の特徴信号を抽出する音声特徴
抽出回路と、占と上あごの接触状態を測定する舌位置測
定回路と、前記舌位置測定回路の出力信号より、舌パタ
ーンの閉鎖、ぜばめ、開放状態の判別を行う１ｒｉ位置
判別手段と、前記音声特徴抽出回路、および前記舌位置
判別手段のそれぞれの出力信号を入力とし、前記音声特
徴抽出回路め出力信号の表示画面」二における表示位置
に対し、枦記占位置判別手段の閉鎖、せばめ、開放の舌
パ１ターンの判別結果を同一時間軸上に表示制御手段を
備えた発語訓練装置であって、舌位置の特徴的パターン
である閉鎖、せばめ、開放状態を他の音声特徴信号と同
時画面上に対比表示させることにより、発語訓練におけ
る舌位置動作の診断、解析を容易に行おうとするも、の
である。
抽出回路と、占と上あごの接触状態を測定する舌位置測
定回路と、前記舌位置測定回路の出力信号より、舌パタ
ーンの閉鎖、ぜばめ、開放状態の判別を行う１ｒｉ位置
判別手段と、前記音声特徴抽出回路、および前記舌位置
判別手段のそれぞれの出力信号を入力とし、前記音声特
徴抽出回路め出力信号の表示画面」二における表示位置
に対し、枦記占位置判別手段の閉鎖、せばめ、開放の舌
パ１ターンの判別結果を同一時間軸上に表示制御手段を
備えた発語訓練装置であって、舌位置の特徴的パターン
である閉鎖、せばめ、開放状態を他の音声特徴信号と同
時画面上に対比表示させることにより、発語訓練におけ
る舌位置動作の診断、解析を容易に行おうとするも、の
である。
実施例の説明
第３図は本発明の一実施例における発語訓練装置のブロ
ック図に示すものである。第３図において、２はマイク
ロホン２ａ、声帯振動センサ２ｂ。
ック図に示すものである。第３図において、２はマイク
ロホン２ａ、声帯振動センサ２ｂ。
鼻振動センサ２ａ、呼気流セ／す２ｄ等のセンサ信号か
ら、ピッチ、音声インテンシテイ、のど振動エンベロー
フ、ハナ振動エンベロープ、呼気流等の発語訓練に必要
な音声の特徴信号を抽出する特徴抽出回路である。３は
発話者の口蓋に装着され、多数の電極で構成されて発話
者の上あごと舌の接触状態を検出する舌位置センサに対
する舌位置測定回路、４は舌位置測定回路３の出力信号
より、舌パターンの閉鎖、せばめ、開放状態を判別する
舌位置判別手段、６は音声特徴抽出回路２、舌位置判別
手段４の各々の出力信号を入力とし、表示装置６の表示
画面上に前記特徴信号の表示制御を行う表示制御手段で
ある。
ら、ピッチ、音声インテンシテイ、のど振動エンベロー
フ、ハナ振動エンベロープ、呼気流等の発語訓練に必要
な音声の特徴信号を抽出する特徴抽出回路である。３は
発話者の口蓋に装着され、多数の電極で構成されて発話
者の上あごと舌の接触状態を検出する舌位置センサに対
する舌位置測定回路、４は舌位置測定回路３の出力信号
より、舌パターンの閉鎖、せばめ、開放状態を判別する
舌位置判別手段、６は音声特徴抽出回路２、舌位置判別
手段４の各々の出力信号を入力とし、表示装置６の表示
画面上に前記特徴信号の表示制御を行う表示制御手段で
ある。
第４図は本発明の表示画面構成の一例を示すもので、７
は音声特徴抽出回路２の出力である特徴信号の１つの波
形表示部であり、８は本発明の舌位置判別手段４の出力
である舌パターンの閉鎖、ぜばめ、開放の状態表示を行
う線分表示部である。
は音声特徴抽出回路２の出力である特徴信号の１つの波
形表示部であり、８は本発明の舌位置判別手段４の出力
である舌パターンの閉鎖、ぜばめ、開放の状態表示を行
う線分表示部である。
以上のように構成された本実施例の発語訓練装置につい
て以下その動作を説明する。
て以下その動作を説明する。
舌位置の接触パターンは第５図のような分類分けができ
る。すなわ゛し。
る。すなわ゛し。
（イ）舌が上あごから完全に離れた状態の開放であって
、母音（ａ） 、 （、）よりなるもの←）占の両側面
を−にあごに接触させた状態のぜばめであって、ＩｆＪ
酊１）（ｅ）ならびに子音ｒｓ） 、 ［ｓｊ 〕、〔
ｈｊ］よりなるもの ｆ） 舌と上あごを閉鎖させた状態の閉鎖であって子音
（ｔ〕、 （ａ） 、 （ｎ〕ｔ （ｒ） 、 ｃｋコ
〕よりなるもの。
、母音（ａ） 、 （、）よりなるもの←）占の両側面
を−にあごに接触させた状態のぜばめであって、ＩｆＪ
酊１）（ｅ）ならびに子音ｒｓ） 、 ［ｓｊ 〕、〔
ｈｊ］よりなるもの ｆ） 舌と上あごを閉鎖させた状態の閉鎖であって子音
（ｔ〕、 （ａ） 、 （ｎ〕ｔ （ｒ） 、 ｃｋコ
〕よりなるもの。
これらの分類分けは、舌位置判別手段４によって行なわ
れる。ＩＳ位置判別手段４の舌位置判別処理について第
６図の１５位置判別処理手順例によって説明する。
れる。ＩＳ位置判別手段４の舌位置判別処理について第
６図の１５位置判別処理手順例によって説明する。
１０・・・・・・舌位置判別処理の開始は表示制御手段
６のザンブリング周期毎の音声特徴抽出回路２のデータ
入力に同期して開始する。
６のザンブリング周期毎の音声特徴抽出回路２のデータ
入力に同期して開始する。
１１・・・・・・第７図に示すような舌位置全６３電極
の接触点数を算出する。
の接触点数を算出する。
１２・・・・・・舌位置の接触の有無の判定を行う。
：１３・・・・・・舌位置の接触点数がφの場合、舌位
置の開、放フラグをセットして表示制御手段５に開放を
指示する。
置の開、放フラグをセットして表示制御手段５に開放を
指示する。
１４・・・・・・舌位置の接触点数が０以外の場合、第
７図の１９に示す上位置中心軸上の電極部の接触の有無
の判定を行う。
７図の１９に示す上位置中心軸上の電極部の接触の有無
の判定を行う。
１５・・・・・・前記１４の接触判定の分岐処理を行う
。
。
１６・・・・・・舌位置中心軸上の全ての電極に接触が
ない場合、舌位置のせばめフラグをセットして表示制御
手段５にせばめを指示する。
ない場合、舌位置のせばめフラグをセットして表示制御
手段５にせばめを指示する。
１７・・・・・・舌位置中心軸上のいずれかの電極に接
触がある場合、舌位置の閉鎖フラグをセットして表示制
御手段５に閉鎖を指示する。
触がある場合、舌位置の閉鎖フラグをセットして表示制
御手段５に閉鎖を指示する。
表示制御手段５は、音声特徴抽出回路２の出力信号を波
形表示部７に表示すると共に、前記色位置判別手段４の
開放、ぜばめ、閉鎖の出力信号を前記波形表示部子に対
応して同一時間軸上の線分表示部８に表示する。線分表
示部８における開放、せばめ、閉鎖の３値情報の表示分
類については色情報、あるいは輝度情報として与えてい
る。第４図は“アタマガイタイ″と発声した時の表時例
であって、黒塗部８３に閉鎖、ケ１線部８２にせばめ空
白部８１に開放を表示している。
形表示部７に表示すると共に、前記色位置判別手段４の
開放、ぜばめ、閉鎖の出力信号を前記波形表示部子に対
応して同一時間軸上の線分表示部８に表示する。線分表
示部８における開放、せばめ、閉鎖の３値情報の表示分
類については色情報、あるいは輝度情報として与えてい
る。第４図は“アタマガイタイ″と発声した時の表時例
であって、黒塗部８３に閉鎖、ケ１線部８２にせばめ空
白部８１に開放を表示している。
以上のように本実施例によれば、舌位置の閉鎖、ぜばめ
、開放を判別し、表示１１Ｍ面上の他の特徴信号と実時
間的に同時表示することにより、発語訓線上の構音面の
ｉｔ）位置パターンと他の発声器管の相互関連を容易に
診断、解析できる。
、開放を判別し、表示１１Ｍ面上の他の特徴信号と実時
間的に同時表示することにより、発語訓線上の構音面の
ｉｔ）位置パターンと他の発声器管の相互関連を容易に
診断、解析できる。
なお、第４図の表示画面構成例において、波形表示部め
特徴信号の表示は１種類に限ったものでなく、また、従
来の表示例のように−６パターン表示を追加してもよい
。
特徴信号の表示は１種類に限ったものでなく、また、従
来の表示例のように−６パターン表示を追加してもよい
。
発明の効果
本発明の発語訓練装置は、舌位置の閉鎖、せばめ、開放
の判別手段と、前記判別手段の出力信号を音ｊｒｉ特徴
抽出回路の出力信号と同一画面上に実時間に表示する表
示ＦＩｉｌＪ １７１手段を設けることにより発語訓練
における構１゛↑面の舌位置パターンと他の発声器管の
相互関連を容易に診断、解析することができ、発語訓線
上の実用的効果は太きい０
の判別手段と、前記判別手段の出力信号を音ｊｒｉ特徴
抽出回路の出力信号と同一画面上に実時間に表示する表
示ＦＩｉｌＪ １７１手段を設けることにより発語訓練
における構１゛↑面の舌位置パターンと他の発声器管の
相互関連を容易に診断、解析することができ、発語訓線
上の実用的効果は太きい０
第１図は従来の発語訓練装置の表示パターン構成を示す
パターン図、第２図は音声特徴信号の１つであるピッチ
信号ｖＣ対応する舌位置パターン変化の遷移を示すパタ
ーン図、第３図は本発明の一実施例における発語訓練装
置のブロック図、第４図は本発明の表示パターン構成を
示すパターン図、」５図は本発明の占パターンの分類例
を示すメタ１フ図、第６図は本発明の舌位置判別処理手
順を外すフローチャー１・、第７図は舌位置パターンの
電極配置を示すパターン図である。 ２・・・・・・音声特徴抽出回路、３・川・・舌位置測
定回路、４・・・・・・舌位置ｆＩｊ別手段、６・・・
・・・表示制御手段。 特許出願人 工業技術院長 川 １）裕 部第１図 第 ２ ト） ＨＡＫＥＩ−ＰＩＴＣＨ え え え え 第３図 第 ４ ＠ 〔α’Ｊ、Ｌ５］ （ロク ［％］ 、 ［ｈ７］ （ノー） 〔ｔ〕〔州ｎＪ （ト〕 〔す〕 第６図 第７図１９ ↓
パターン図、第２図は音声特徴信号の１つであるピッチ
信号ｖＣ対応する舌位置パターン変化の遷移を示すパタ
ーン図、第３図は本発明の一実施例における発語訓練装
置のブロック図、第４図は本発明の表示パターン構成を
示すパターン図、」５図は本発明の占パターンの分類例
を示すメタ１フ図、第６図は本発明の舌位置判別処理手
順を外すフローチャー１・、第７図は舌位置パターンの
電極配置を示すパターン図である。 ２・・・・・・音声特徴抽出回路、３・川・・舌位置測
定回路、４・・・・・・舌位置ｆＩｊ別手段、６・・・
・・・表示制御手段。 特許出願人 工業技術院長 川 １）裕 部第１図 第 ２ ト） ＨＡＫＥＩ−ＰＩＴＣＨ え え え え 第３図 第 ４ ＠ 〔α’Ｊ、Ｌ５］ （ロク ［％］ 、 ［ｈ７］ （ノー） 〔ｔ〕〔州ｎＪ （ト〕 〔す〕 第６図 第７図１９ ↓
Claims (2)
- （１）発話者の音声の特徴信号を抽出する音声特徴抽出
手段と、舌と上あごの接触状態を測定する舌位置測定手
段と、前記舌位置測定手段の出力信号より高位置接触パ
ターンの判別を行う舌位置判別手段と、前記音声特徴抽
出手段および前記舌位置判別手段のそれぞれの出力信号
を入力止し、前記音声特徴抽出手段の出力信号の表示画
面上における表示に対し、同一時間軸」−に前記１５位
置判別手段で判別した前記高位置接触パターンを表示す
る表示制御手段とを備えたことを特徴とする発語訓練装
置。 - （２）舌１位置接触パターンが、閉鎖、せばめ、開放の
状態を示すことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
の発語訓練装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58185984A JPS6078472A (ja) | 1983-10-06 | 1983-10-06 | 発語訓練装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58185984A JPS6078472A (ja) | 1983-10-06 | 1983-10-06 | 発語訓練装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6078472A true JPS6078472A (ja) | 1985-05-04 |
| JPS635753B2 JPS635753B2 (ja) | 1988-02-04 |
Family
ID=16180322
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58185984A Granted JPS6078472A (ja) | 1983-10-06 | 1983-10-06 | 発語訓練装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6078472A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02501169A (ja) * | 1988-02-17 | 1990-04-19 | ヨースト，ペーター | 発声練習のための装置 |
| JPH07319380A (ja) * | 1994-05-20 | 1995-12-08 | Nec Corp | 発声訓練装置 |
-
1983
- 1983-10-06 JP JP58185984A patent/JPS6078472A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02501169A (ja) * | 1988-02-17 | 1990-04-19 | ヨースト，ペーター | 発声練習のための装置 |
| JPH07319380A (ja) * | 1994-05-20 | 1995-12-08 | Nec Corp | 発声訓練装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS635753B2 (ja) | 1988-02-04 |
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