JPS6070592A - Writing circuit of memory - Google Patents
Writing circuit of memoryInfo
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- JPS6070592A JPS6070592A JP58179878A JP17987883A JPS6070592A JP S6070592 A JPS6070592 A JP S6070592A JP 58179878 A JP58179878 A JP 58179878A JP 17987883 A JP17987883 A JP 17987883A JP S6070592 A JPS6070592 A JP S6070592A
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は、外部から供給される書込信号をメモリ内部で
伸長する機能を有した書込回路に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Technical Field of the Invention The present invention relates to a write circuit having a function of decompressing a write signal supplied from the outside within a memory.
従来技術と問題点
メモリが高速化されると必然的に書込みサイクルも速く
する必要があり、そのためにはメモリの最小書込み幅(
時間)twを小さくしなければならない。しかしながら
単純に書込み系のスピードを速くするには限界があり、
ある程度以上に速くすることは難しい面を持っている。Prior Art and Problems As memory speeds increase, it is necessary to speed up the write cycle, and to do so, the minimum write width (
time) tw must be made small. However, there is a limit to simply increasing the writing speed.
It is difficult to increase the speed beyond a certain point.
メモリに情報を書込むにはアドレスが定まった従ってメ
モリセルが選択された状態でWEと称される書込信号(
Wr−4te Enable)を外部から供給するが、
このパルス幅を狭くしすぎると書込み不能になる。To write information to a memory, a write signal called WE (WE) is sent when the address is determined and the memory cell is selected.
Wr-4te Enable) is supplied externally,
If this pulse width is made too narrow, writing becomes impossible.
発明の目的
本発明は、外部から与えられる書込信号のパルス幅が狭
いときは、それを一定値まで伸長(s tre tc−
bing)することにより上記の問題を解決しようとす
るものである。Purpose of the Invention The present invention provides a method for stretching the pulse width of a write signal applied from the outside to a certain value when the pulse width is narrow.
bing) to solve the above problem.
発明の構成
本発明は、外部からの書込信号で駆動される入力段のト
ランジスタと、該トランジスタで制御される、インバー
タ2個を直列に接続しかつ帰還を施してなるフリップフ
ロップおよび遅延型インバータと、該直列接続点とグラ
ンドとの間に接続され遅延型インバータの出力でオンオ
フされるトランジスタとを備え、前記入力段のトランジ
スタの出力に得られる電位変化を内部書込信号とするこ
とを特徴とするが、以下図示の実施例を参照しながらこ
れを詳細に説明する。Structure of the Invention The present invention provides a flip-flop and a delay type inverter which are formed by connecting an input-stage transistor driven by an external write signal and two inverters controlled by the transistor in series and performing feedback. and a transistor connected between the series connection point and ground and turned on and off by the output of the delay type inverter, and a potential change obtained at the output of the transistor in the input stage is used as an internal write signal. However, this will be explained in detail below with reference to the illustrated embodiment.
発明の実施例
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図で、It、
I2ばフリップフロップ(ランチ)FFを構成する通當
のインパーク、DIは遅延型のインバータである。Ql
は、外部から供給されるWE等の書込信号VINで駆動
される入力段のMOSトランジスタで、そのドレイン(
ノードA + )の電位変化が内部書込信号となる。ト
ランジスタQ1の負荷の1つはフリップフロップFFで
、これはノードA1の電位変化に迅速に対応する(ラッ
チする)。これに対し、他の負荷である遅延型インバー
タDIは、ノードA1のH,L変化に対応するり、 H
反転出力をノードA2に生じるのに所定の遅延時間td
を要する。この遅延時間tdは、入力VINの幅twが
短かい場合にそれを内部的にtdまで伸長する役目を果
す。Embodiment of the Invention FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the invention.
I2 is a normal impark that constitutes a flip-flop (launch) FF, and DI is a delay type inverter. Ql
is an input stage MOS transistor driven by a write signal VIN such as WE supplied from the outside, and its drain (
The potential change at node A + ) becomes an internal write signal. One of the loads of transistor Q1 is flip-flop FF, which quickly responds (latches) to potential changes at node A1. On the other hand, the delay type inverter DI, which is another load, responds to H and L changes of node A1, and
A predetermined delay time td is required to generate an inverted output at node A2.
It takes. This delay time td serves to internally extend the width tw of the input VIN to td when it is short.
インバータDIの出力A2は、フリップフロップFFの
ループの一部、本例ではインバータ11の出力からイン
バータ■2の入力へ至る経路(ノードA3)と地気間に
接続されたMo5t〜ランジスタQ6を次のように制御
する。即ちノードA2がL(ロー)レベルである間はト
ランジスタQ6をオフにしてノードA3のH(ハイ)レ
ベルを妨害しない。このことによりtdの間はインバー
タ■2の出力、従ってノードA1はLに保たれる。The output A2 of the inverter DI is a part of the loop of the flip-flop FF, in this example, the path from the output of the inverter 11 to the input of the inverter 2 (node A3) and the ground is connected to the Mo5t to transistor Q6. Control like this. That is, while the node A2 is at the L (low) level, the transistor Q6 is turned off so as not to interfere with the H (high) level at the node A3. As a result, the output of the inverter 2, and therefore the node A1, is kept at L during td.
入力vruは第3図または第4図に示すように期間tw
の間11レヘルとなるパルスであるから、ノードA1は
少なくとも該twの期間はLレベルとなる。これは1−
ランジスタQ1のオンによる。第3図の例ばtwが狭い
ので、これを伸長する例である。この例のようにVIN
がtwO後にLに変化するとノードAIもHに変化しよ
うとするが、このときのノードA+の電位はトランジス
タQ1がオフになっているのでインバータI2の出力で
支配され、このインバータI2の出力はその人力A3が
HであることによってLに保たれているので、遅延時間
tdが経過するまでは該Lレベルを保つ。The input vru has a period tw as shown in FIG. 3 or 4.
Since the pulse is 11 levels during the tw period, the node A1 is at the L level at least during the tw period. This is 1-
Due to turning on of transistor Q1. For example, tw in FIG. 3 is narrow, so this is an example of expanding it. As in this example VIN
When changes to L after twO, node AI also tries to change to H, but since transistor Q1 is off, the potential of node A+ at this time is dominated by the output of inverter I2, and the output of inverter I2 is Since the human power A3 is kept at the L level because it is at the H level, the L level is maintained until the delay time td elapses.
遅延時間tdが経過するとノードA2が充分Hになって
トランジスタQ8をオンにし、ノードA3をLにするの
でインバータ■2の出力従ってノードA+のレベルはH
になる。こうしてtw<tdのケースではノードA1に
得られる内部書込信号の幅twsはtdまで伸長される
ことになる。第4図のようにtw>tdであると、Vr
N=、HでA1はり、A3はH、インバータI2の出力
はLとなり、A+=Lが保持される。またA+=Lで遅
延時間td後にノードA2のレベルは充分Hになり、ト
ランジスタQ6がオンになってノードA3をLにし、そ
の結果インバータ12の出力、従ってノードA1がLか
らHに変化しようとするが、VINによってtwO間は
トランジスタQ1がオンしているので、ノードA1はt
wの期間は強制的にLに保たれる。従って、この場合は
tws=tw (>td)即ち出力パルス幅は入力パル
ス幅と同じとなる。When the delay time td elapses, the node A2 becomes high enough to turn on the transistor Q8, and the node A3 becomes low, so the output of the inverter 2 and therefore the level of the node A+ becomes high.
become. In this way, in the case of tw<td, the width tws of the internal write signal obtained at node A1 is extended to td. If tw>td as shown in Fig. 4, Vr
When N=H, A1 becomes high, A3 becomes H, and the output of inverter I2 becomes L, so that A+=L is maintained. Also, when A+=L, the level of node A2 becomes high enough after the delay time td, transistor Q6 turns on and node A3 becomes low, and as a result, the output of inverter 12, and therefore node A1, changes from low to high. However, since transistor Q1 is on during twO due to VIN, node A1 is at t
The period w is forcibly kept at L. Therefore, in this case, tws=tw (>td), that is, the output pulse width is the same as the input pulse width.
第2図はC−MOSによる第1図の具体例で、Q2.Q
a、QlはpサヤネルMosトランジスタ、他はnチャ
ネルMO3)ランジスタである。FIG. 2 is a specific example of FIG. 1 using C-MOS, and Q2. Q
a, Ql are p-channel Mos transistors, and the others are n-channel MO3) transistors.
(・ランジスタQ2.Q3は遅延型インバータDIを構
成する。このインバータD1の動作を遅らせるにはトラ
ンジスタQ2のgmを小さくするが、ノードA2に容量
を付加すればよく、その遅延時間td(ノードA2の傾
斜)でttvsの伸長時間を設定できる。トランジスタ
Q4.Q5はインバータ11を、またトランジスタQ?
、Q[lはインバータ■2を構成する。これらのインバ
ータI+。(The transistors Q2 and Q3 constitute a delay type inverter DI. To delay the operation of this inverter D1, the gm of the transistor Q2 is made small, but it is sufficient to add a capacitor to the node A2, and the delay time td (node A2 The extension time of ttvs can be set by the slope of .Transistors Q4 and Q5 connect the inverter 11 and the transistor Q?
, Q[l constitute inverter 2. These inverters I+.
I2はフリップフロップ動作を急1唆にするため高速タ
イプにしておく。本例でノードA1を11にチャージア
ップするのはトランジスタ。7であり、逆にノードA+
をLにするのはトランジスタ。1またはQBである。ト
ランジスタQlはV IN = Hの期間twだけオン
し、またトランジスタ。8はA 3 = Hの期間td
だけオンする。そして、これらトランジスタQ+、Qθ
がノードA1と地気間に並列接続されているので、第3
図の例ではttvs=td>twとなり、また第4図の
例ではt WS−tw>tdとなる。I2 is a high-speed type in order to speed up the flip-flop operation. In this example, it is the transistor that charges up the node A1 to 11. 7, and conversely node A+
The transistor makes it L. 1 or QB. The transistor Ql is turned on only during the period tw when V IN = H, and is also a transistor. 8 is the period td of A 3 = H
Only turn on. And these transistors Q+, Qθ
is connected in parallel between node A1 and the earth, so the third
In the example shown in the figure, ttvs=td>tw, and in the example shown in FIG. 4, tWS-tw>td.
発明のすJ果
以上述べたように本発明によれば、外部から与えられる
書込信号の幅を内部的に伸張することができるので、メ
モリの高速化に伴ない外部からの書込信号の幅が狭くな
っても書込み不能という事態を回避できる利点がある。Achievements of the Invention As described above, according to the present invention, the width of an externally applied write signal can be expanded internally. There is an advantage that even if the width becomes narrow, a situation where writing is not possible can be avoided.
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
その具体例を示す回路図、第3図および第4図は各部信
号波形図である。
図中、I+、r2はインバータ、DIは遅延型インバー
タ、FFばフリップフロップ、Qlは入力段のトランジ
スタ、A6はフリップフロップ反転防止用のトランジス
タである。
出願人 富士通株式会社
代理人弁理士 青 柳 稔
@1日
T
ヒヒ
第3日1
tw
A3 ’1−−−−
第2トI
INO
第4図
、tw 。
=
A3−「]−FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram showing a specific example thereof, and FIGS. 3 and 4 are signal waveform diagrams of various parts. In the figure, I+ and r2 are inverters, DI is a delay type inverter, FF is a flip-flop, Ql is an input stage transistor, and A6 is a transistor for preventing flip-flop inversion. Applicant Fujitsu Ltd. Representative Patent Attorney Minoru Aoyagi @ 1st day T Baboon 3rd day 1 tw A3 '1---- 2nd To I INO Figure 4, tw. = A3-"]-
Claims (1)
と、該トランジスタで制御される、インバータ2個を直
列に接続しかつ帰還を施してなるフリップフロップおよ
び遅延型インバータと、該直列接続点とグランドとの間
に接続され遅延型インバータの出力でオンオフされるト
ランジスタとを備え、前記入力段のトランジスタの出力
に得られる電位変化を内部書込信号とすることを特徴と
するメモリの書込回路。an input stage transistor driven by an external write signal; a flip-flop and delay type inverter formed by connecting two inverters in series and providing feedback; and the series connection point, which is controlled by the transistor. A memory write circuit, comprising a transistor connected between the ground and turned on and off by the output of the delay type inverter, and using a potential change obtained at the output of the input stage transistor as an internal write signal. .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58179878A JPS6070592A (en) | 1983-09-28 | 1983-09-28 | Writing circuit of memory |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58179878A JPS6070592A (en) | 1983-09-28 | 1983-09-28 | Writing circuit of memory |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6070592A true JPS6070592A (en) | 1985-04-22 |
JPH0442760B2 JPH0442760B2 (en) | 1992-07-14 |
Family
ID=16073476
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58179878A Granted JPS6070592A (en) | 1983-09-28 | 1983-09-28 | Writing circuit of memory |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6070592A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01273288A (en) * | 1988-04-25 | 1989-11-01 | Nec Corp | Random access memory device |
US5140199A (en) * | 1988-07-11 | 1992-08-18 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Sense amplifier driver for memory device having reduced power dissipation |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5538603A (en) * | 1978-09-04 | 1980-03-18 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Semiconductor memory device |
JPS5634186A (en) * | 1979-08-29 | 1981-04-06 | Hitachi Ltd | Bipolar memory circuit |
-
1983
- 1983-09-28 JP JP58179878A patent/JPS6070592A/en active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5538603A (en) * | 1978-09-04 | 1980-03-18 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Semiconductor memory device |
JPS5634186A (en) * | 1979-08-29 | 1981-04-06 | Hitachi Ltd | Bipolar memory circuit |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01273288A (en) * | 1988-04-25 | 1989-11-01 | Nec Corp | Random access memory device |
US5140199A (en) * | 1988-07-11 | 1992-08-18 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Sense amplifier driver for memory device having reduced power dissipation |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0442760B2 (en) | 1992-07-14 |
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