JPH0442760B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0442760B2
JPH0442760B2 JP58179878A JP17987883A JPH0442760B2 JP H0442760 B2 JPH0442760 B2 JP H0442760B2 JP 58179878 A JP58179878 A JP 58179878A JP 17987883 A JP17987883 A JP 17987883A JP H0442760 B2 JPH0442760 B2 JP H0442760B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inverter
input end
trigger signal
pulse width
whose
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP58179878A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS6070592A (en
Inventor
Atsushi Oritani
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP58179878A priority Critical patent/JPS6070592A/en
Publication of JPS6070592A publication Critical patent/JPS6070592A/en
Publication of JPH0442760B2 publication Critical patent/JPH0442760B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 発明の技術分野 本発明は、外部から供給される書込信号をメモ
リ内部で伸長する機能を有したメモリの書込信号
発生回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Technical Field of the Invention The present invention relates to a write signal generation circuit for a memory having a function of decompressing a write signal supplied from the outside within the memory.

従来技術と問題点 メモリが高速化されると必然的に書込みサイク
ルも速くする必要があり、そのためにはメモリの
最小書込み幅(時間)twを小さくしなければなら
ない。しかしながら単純に書込み系のスピードを
速くするには限界があり、ある程度以上に速くす
ることは難しい面を持つている。メモリに情報を
書込むにはアドレスが定まつた従つてメモリセル
が選択された状態でWEと称される書込信号
(Write Enable)を外部から供給するが、このパ
ルス幅を狭くしすぎると書込み不能になる。
Prior Art and Problems As the speed of memory increases, it is necessary to increase the speed of the write cycle, and for this purpose, the minimum write width (time) t w of the memory must be reduced. However, there is a limit to simply increasing the speed of the writing system, and it is difficult to increase the speed beyond a certain level. To write information to memory, a write signal (Write Enable) called WE is supplied from the outside with the address fixed and the memory cell selected. However, if this pulse width is made too narrow, Writing becomes impossible.

発明の目的 本発明は、外部から与えられる書込信号のパル
ス幅が狭いときは、それを一定値まで伸長
(stretching)することにより上記の問題を解決
しようとするものである。
OBJECTS OF THE INVENTION The present invention attempts to solve the above problem by stretching the pulse width of an externally applied write signal to a certain value when the pulse width is narrow.

発明の構成 本発明は、入力端に外部からの書込信号に対応
するトリガ信号を受ける第1のインバータ及び、
第2のインバータが直列接続され、該第2のイン
バータの出力端と該第1のインバータの入力端と
が帰還路により接続され、該トリガ信号により所
定状態にされるラツチ手段と、入力端が、該第1
のインバータの入力端に接続され、出力端が、低
電位側電源に接続されたスイツチング素子を介し
て該第2のインバータの入力端に接続され、該第
1のインバータの入力端に入来する該トリガ信号
を所定時間遅延して該スイツチング素子を制御
し、該ラツチ手段を前記所定状態と異なる状態に
する遅延型のインバータとを有し、前記所定時間
以上のパルス幅を有する内部書込信号を該第2の
インバータの出力端より出力することを特徴とす
るが、以下図示の実施例を参照しながらこれを詳
細に説明する。
Configuration of the Invention The present invention includes a first inverter that receives a trigger signal corresponding to an external write signal at its input end;
A second inverter is connected in series, an output end of the second inverter and an input end of the first inverter are connected by a feedback path, and a latch means is brought into a predetermined state by the trigger signal, and the input end is connected to the second inverter in series. , the first
is connected to the input end of the second inverter, the output end is connected to the input end of the second inverter via a switching element connected to the low potential side power supply, and the output end is connected to the input end of the first inverter. an internal write signal having a pulse width equal to or longer than the predetermined time; and a delay-type inverter that controls the switching element by delaying the trigger signal for a predetermined time and puts the latching means in a state different from the predetermined state. is output from the output end of the second inverter, which will be described in detail below with reference to the illustrated embodiment.

発明の実施例 第1図は本発明の一実施例を示すブロツク図
で、I1,I2はフリツプフロツプ(ラツチ)FFを構
成する通常のインバータ、DIの遅延型のインバ
ータである。Q1は、外部から供給されるWE等の
書込信号VINで駆動される入力段のMOSトランジ
スタで、そのドレイン(ノードA1)の電位変化
が内部書込信号となる。トランジスタQ1の負荷
の1つはフリツプフロツプFFで、これはノード
A1の電位変化に迅速に対応する(ラツチする)。
これに対し、他の負荷である遅延型インバータ
DIは、ノードA1のH,L変化に対応するL,H
反転出力をノードA2に生じるのに所定の遅延時
間tdを要する。この遅延時間tdは、入力VINの幅
twが短かい場合にそれを内部的にtdまで伸長する
役目を果たす。
Embodiment of the Invention FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, in which I 1 and I 2 are normal inverters and DI delay type inverters constituting a flip-flop (latch) FF. Q 1 is an input stage MOS transistor driven by a write signal V IN such as WE supplied from the outside, and a potential change at its drain (node A 1 ) becomes an internal write signal. One of the loads on transistor Q1 is flip-flop FF, which is connected to node
Quickly respond (latches) to potential changes in A1 .
In contrast, other loads such as delayed inverters
DI is L, H corresponding to H, L change of node A1
A predetermined delay time td is required to produce an inverted output at node A2 . This delay time td is the width of the input V IN
If t w is short, it serves to internally extend it to td.

インバータDIの出力A2は、フリツプフロツプ
FFのループの一部、本例ではインバータI1の出
力からインバータI2の入力へ至る経路(ノード
A3)と地気間に接続されたMOSトランジスタQ6
を次のように制御する。即ちノードA2がL(ロ
ー)レベルである間はトランジスタQ6をオフに
してノードA3のH(ハイ)レベルを妨害しない。
このことによりtdの間はインバータI2の出力、従
つて、ノードA1はLに保たれる。入力VINは第3
図または第4図に示すように期間twの間Hレベル
となるパルスであるから、ノードA1は少なくと
も該twの期間はLレベルとなる。これはトランジ
スタQ1のオンによる。第3図の例はtwが狭いの
で、これを伸長する列である。この例のように
VINがtwの後にLに変化するとノードA1もHに変
化しようとするが、このときのノードA1の電位
はトランジスタQ1がオフになつているのでイン
バータI2の出力で支配され、このインバータI2
出力はその入力A3がHであることによつてLに
保たれているので、遅延時間tdが経過するまでは
該Lレベルを保つ。遅延時間tdが経過するとノー
ドA2が充分HになつてトランジスタQ6をオンに
し、ノードA3をLにするのでインバータI2の出力
従つてノードA1のレベルはHになる。こうして
tw<tdのケースではノードA1に得られる内部書
込信号の幅t wsはtdまで伸長されることにな
る。第4図のようにtw>tdであると、VIN=Hで
A1はL,A3はH、インバータI2の出力はLとな
り、A1=Lが保持される。またA1=Lで遅延時
間td後にノードA2のレベルは充分Hになり、ト
ランジスタQ6がオンになつてノードA3をLにし、
その結果インバータI2の出力、従つてノードA1
LからHに変化しようとするが、VINによつてtw
の間はトランジスタQ1がオンしているので、ノ
ードA1はtwの期間は強制的にLに保たれる。従
つて、この場合はt ws=tw(>td)即ち出力パ
ルス幅は入力パルス幅と同じとなる。
The output A2 of the inverter DI is a flip-flop
Part of the FF loop, in this example, the path (node) from the output of inverter I 1 to the input of inverter I 2
MOS transistor Q6 connected between A3 ) and ground air
is controlled as follows. That is, while the node A2 is at the L (low) level, the transistor Q6 is turned off so as not to interfere with the H (high) level at the node A3 .
This keeps the output of inverter I 2 and therefore node A 1 at L during td. Input V IN is the third
As shown in the figure or FIG. 4, since the pulse is at the H level during the period tw , the node A1 is at the L level at least during the period tw . This is due to transistor Q1 being turned on. In the example of FIG. 3, t w is narrow, so this is a column that extends it. like this example
When V IN changes to L after tw , node A 1 also tries to change to H, but the potential of node A 1 at this time is dominated by the output of inverter I 2 because transistor Q 1 is turned off. Since the output of this inverter I2 is kept at L level because its input A3 is at H level, it remains at the L level until the delay time td elapses. When the delay time td elapses, the node A2 becomes high enough to turn on the transistor Q6 , and the node A3 becomes low, so that the output of the inverter I2 and hence the level of the node A1 becomes high. thus
In the case of t w <td, the width t ws of the internal write signal obtained at node A 1 is extended to td. As shown in Figure 4, when t w > td, V IN =H.
A 1 is L, A 3 is H, and the output of inverter I 2 is L, so that A 1 =L is maintained. Also, when A 1 = L, the level of node A 2 becomes sufficiently H after a delay time td, transistor Q 6 turns on, and node A 3 becomes L.
As a result, the output of the inverter I2 , and hence the node A1, tries to change from L to H, but due to V IN , t w
Since the transistor Q 1 is on during the period t w , the node A 1 is forcibly kept at L during the period t w . Therefore, in this case, t ws = t w (>td), that is, the output pulse width is the same as the input pulse width.

第2図はC−MOSによる第1図の具体例で、
Q2,Q4,Q7はpサヤネルMOSトランジスタ、他
はnチヤネルMOSトランジスタである。トラン
ジスタQ2,Q3は遅延型インバータDIを構成する。
このインバータDIの動作を遅らせるにはトラン
ジスタQ2のgmを小さくするか、ノードA2に容量
を付加すればよく、その遅延時間td(ノードA2
傾斜)でt wsの伸長時間を設定できる。トラ
ンジスタQ4,Q5はインバータI1を、またトラン
ジスタQ7,Q8はインバータI2を構成する。これ
らのインバータI1,I2はフリツプフロツプ動作を
急峻にするため高速タイプにしておく。本例でノ
ードA1をHにチヤージアツプするのはトランジ
スタQ7であり、逆にノードA1をLにするのはト
ランジスタQ1またはQ8である。トランジスタQ1
はVIN=Hの期間twだけオンし、またトランジス
タQ8はA3=Hの期間tdだけオンする。そして、
これらトランジスタQ1,Q8がノードA1と地気間
に並列接続されているので、第3図の例ではt
ws=td>twとなり、また第4図の例ではt ws
=tw>tdとなる。
Figure 2 is a specific example of Figure 1 using C-MOS.
Q 2 , Q 4 , and Q 7 are p-channel MOS transistors, and the others are n-channel MOS transistors. Transistors Q 2 and Q 3 constitute a delay type inverter DI.
To delay the operation of this inverter DI, it is sufficient to reduce gm of transistor Q2 or add a capacitor to node A2 , and the extension time of tws can be set by the delay time td (slope of node A2 ). . Transistors Q 4 and Q 5 constitute inverter I 1 , and transistors Q 7 and Q 8 constitute inverter I 2 . These inverters I 1 and I 2 are of high-speed type in order to make the flip-flop operation steep. In this example, it is the transistor Q7 that charges up the node A1 to H, and conversely, it is the transistor Q1 or Q8 that charges up the node A1 to L. Transistor Q 1
is turned on for a period tw when V IN =H, and transistor Q 8 is turned on for a period td when A 3 =H. and,
Since these transistors Q 1 and Q 8 are connected in parallel between the node A 1 and the ground, in the example of FIG.
ws=td>t w , and in the example of Fig. 4, t ws
= t w > td.

発明の効果 以上述べたように本発明によれば、外部から供
給される書込信号のパルス幅が狭い時は内部的に
伸長し、広い時はそのままのパルス幅とするの
で、動作の早いメモリへの書込みにも動作の遅い
メモリへの書込みにも対応可能である利点があ
る。
Effects of the Invention As described above, according to the present invention, when the pulse width of the write signal supplied from the outside is narrow, it is expanded internally, and when it is wide, the pulse width remains unchanged, so that the memory can operate quickly. It has the advantage of being able to handle both writing to and slow-acting memory.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示すブロツク図、
第2図はその具体例を示す回路図、第3図および
第4図は各部信号波形図である。 図中、I1,I2はインバータ、DIは遅延型インバ
ータ、FFはフリツプフロツプ、Q1は入力段のト
ランジスタ、Q6はフリツプフロツプ反転防止用
のトランジスタである。
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention;
FIG. 2 is a circuit diagram showing a specific example thereof, and FIGS. 3 and 4 are signal waveform diagrams of each part. In the figure, I 1 and I 2 are inverters, DI is a delay inverter, FF is a flip-flop, Q 1 is an input stage transistor, and Q 6 is a transistor for preventing flip-flop inversion.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 ゲートに外部からの書込信号を受け、ソース
が低電位側電源に接続され、ドレインから該書込
信号に対応したトリガ信号が出力される入力トラ
ンジスタと、 入力端に入力トランジスタのドレインからのト
リガ信号を受ける第1のインバータと、該第1の
インバータの出力端に入力端を接続された第2の
インバータであつてその出力端が該第1のインバ
ータの入力端と帰還路により接続されているもの
とからなり、該トリガ信号により所定状態にされ
るラツチ手段と、 入力端が、前記第1のインバータの入力端に接
続され、出力端が、低電位側電源と前記第2のイ
ンバータの入力端との間に設けられたスイツチン
グ素子の入力端に接続され、前記第1のインバー
タの入力端に入来する前記トリガ信号を所定時間
遅延して該スイツチング素子を制御し、前記ラツ
チ手段を前記所定状態と異なる状態にする遅延型
のインバータとを有し、 前記トリガ信号のパルス幅が前記所定時間未満
の場合は前記所定時間のパルス幅を有する内部書
込信号を、また前記トリガ信号のパルス幅が前記
所定時間以上の場合はそのままのパルス幅を有す
る内部書込信号を、前記第2のインバータの出力
端より出力することを特徴とするメモリの書込信
号発生回路。
[Claims] 1. An input transistor whose gate receives an external write signal, whose source is connected to a low-potential power supply, and whose drain outputs a trigger signal corresponding to the write signal; a first inverter that receives a trigger signal from the drain of the input transistor; and a second inverter whose input end is connected to the output end of the first inverter, the output end of which is connected to the input end of the first inverter. and a latch means which is brought into a predetermined state by the trigger signal, and whose input end is connected to the input end of the first inverter and whose output end is connected to the low potential side power supply. and the input end of the second inverter, the trigger signal entering the input end of the first inverter is delayed for a predetermined period of time to activate the switching element. a delay-type inverter that controls the latch means to set the latch means in a state different from the predetermined state, and when the pulse width of the trigger signal is less than the predetermined time, an internal write signal having a pulse width of the predetermined time; and, when the pulse width of the trigger signal is longer than the predetermined time, an internal write signal having the same pulse width is output from the output terminal of the second inverter. generation circuit.
JP58179878A 1983-09-28 1983-09-28 Writing circuit of memory Granted JPS6070592A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58179878A JPS6070592A (en) 1983-09-28 1983-09-28 Writing circuit of memory

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58179878A JPS6070592A (en) 1983-09-28 1983-09-28 Writing circuit of memory

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6070592A JPS6070592A (en) 1985-04-22
JPH0442760B2 true JPH0442760B2 (en) 1992-07-14

Family

ID=16073476

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58179878A Granted JPS6070592A (en) 1983-09-28 1983-09-28 Writing circuit of memory

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6070592A (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01273288A (en) * 1988-04-25 1989-11-01 Nec Corp Random access memory device
KR910002033B1 (en) * 1988-07-11 1991-03-30 삼성전자 주식회사 Sense amp driving circuit for memory cell

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5538603A (en) * 1978-09-04 1980-03-18 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Semiconductor memory device
JPS5634186A (en) * 1979-08-29 1981-04-06 Hitachi Ltd Bipolar memory circuit

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5538603A (en) * 1978-09-04 1980-03-18 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Semiconductor memory device
JPS5634186A (en) * 1979-08-29 1981-04-06 Hitachi Ltd Bipolar memory circuit

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6070592A (en) 1985-04-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4074148A (en) Address buffer circuit in semiconductor memory
JP3094984B2 (en) Pulse generation circuit
JPH06259967A (en) Address transition detector for semiconductor memory device
JP3129131B2 (en) Boost circuit
US4958091A (en) CMOS voltage converter
US5537066A (en) Flip-flop type amplifier circuit
US5524096A (en) Circuit for generating a delayed standby signal in response to an external standby command
JPH0660672A (en) Sense amplifier for sram and latching circuit
JP2875199B2 (en) Address buffer to block noise
JPH06318395A (en) Output buffer circuit for integrated circuit
JP2805466B2 (en) Memory address transition detection circuit
US6037827A (en) Noise isolation circuit
US4879693A (en) Device for the self-synchronization of the output circuits of a memory using a three-state gate
JPH0442760B2 (en)
US5600599A (en) Data signal output circuit and semiconductor memory device including the same
US5394363A (en) Pulse write driver circuit
US4825410A (en) Sense amplifier control circuit
US6188616B1 (en) Semiconductor memory device having a compensating write pulse width in response to power supply voltage
JP3109986B2 (en) Signal transition detection circuit
JP3211692B2 (en) Amplifier circuit
JP2601978B2 (en) CMOS receiver circuit for converting TTL input signal level
JP3224712B2 (en) Logic &amp; level conversion circuit and semiconductor device
US5963501A (en) Dynamic clock signal generating circuit for use in synchronous dynamic random access memory devices
JP2927487B2 (en) Substrate bias generation circuit
JPH0458676B2 (en)