JPS6067844A - ガラス繊維またはガラス繊維加工製品中の導電性物質検出方法および装置 - Google Patents
ガラス繊維またはガラス繊維加工製品中の導電性物質検出方法および装置Info
- Publication number
- JPS6067844A JPS6067844A JP17575083A JP17575083A JPS6067844A JP S6067844 A JPS6067844 A JP S6067844A JP 17575083 A JP17575083 A JP 17575083A JP 17575083 A JP17575083 A JP 17575083A JP S6067844 A JPS6067844 A JP S6067844A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- glass fiber
- irradiation chamber
- conductive substance
- frequency irradiation
- detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V3/00—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation
- G01V3/02—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with propagation of electric current
Landscapes
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Geology (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Geophysics (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ガラス繊維またはガラス繊維加工製品中の極
めて微小な導電性物質を検出する方法およびその方法に
用いる装置に関するものである。
めて微小な導電性物質を検出する方法およびその方法に
用いる装置に関するものである。
ガラス繊維中には、その原料或いは製造工程に於て異物
が混入する場合がある。この異物には種種のものがある
が、例えば金、銀及び鉄等の金属、硫化ニッケルおよび
硫化鉄等の金属化合物並びに白金−ロジウム、ジュラル
ミンおよび砲金等のきわめて微小な導電性物質があり、
これらの物質はガラス繊維加工製品を絶縁材料として使
用するとき絶縁性を失う原因となる。ガラス繊維加工製
品の絶縁材料としての利用分野であるプリント配線板に
は、ガラス繊維加工製品が電気絶縁材並びに補強材とし
て使用されるが、近年プリント・配線板は高密度化、高
品質化の傾向にあり、従来問題とならなかったガラス繊
維中に存在する極めて微小な導電性物質による絶縁性低
下が問題となっている。従ってガラス繊維中の極めて微
小な導電性物質の検出方法およびその装置の開発が大き
な課題となっている。
が混入する場合がある。この異物には種種のものがある
が、例えば金、銀及び鉄等の金属、硫化ニッケルおよび
硫化鉄等の金属化合物並びに白金−ロジウム、ジュラル
ミンおよび砲金等のきわめて微小な導電性物質があり、
これらの物質はガラス繊維加工製品を絶縁材料として使
用するとき絶縁性を失う原因となる。ガラス繊維加工製
品の絶縁材料としての利用分野であるプリント配線板に
は、ガラス繊維加工製品が電気絶縁材並びに補強材とし
て使用されるが、近年プリント・配線板は高密度化、高
品質化の傾向にあり、従来問題とならなかったガラス繊
維中に存在する極めて微小な導電性物質による絶縁性低
下が問題となっている。従ってガラス繊維中の極めて微
小な導電性物質の検出方法およびその装置の開発が大き
な課題となっている。
導電性物質の検出方法に関する従来技術としては、特開
昭４９−６１２１７に板ガラス中の微小な導電性異物に
関し板ガラス中の異物を誘電加熱しその温度上昇を検知
する方法が開示されているがガラス繊維中の極めて微小
な導電性物質の検出については精度的に採用出来ない。
昭４９−６１２１７に板ガラス中の微小な導電性異物に
関し板ガラス中の異物を誘電加熱しその温度上昇を検知
する方法が開示されているがガラス繊維中の極めて微小
な導電性物質の検出については精度的に採用出来ない。
また導電性物質の検知装置に関する従来技術としては金
属探知機が良く知られている。この装置はあらかじめコ
イルにより高周波磁界を作り、この磁界中に被検物をお
いて導電性物質が存在した時におこる磁界の乱れにより
生ずる受信コイルの誘起電圧を利用して導電性物質を検
知するものであるが、直径１００ｐ程度の金属球検出が
限界であるためガラス繊維織物中の１本のガラス繊維（
直径約１０μｍ程度）の中に含まれる極めて微小な導電
性物質（約１μｍ程度）は検出出来ない。
属探知機が良く知られている。この装置はあらかじめコ
イルにより高周波磁界を作り、この磁界中に被検物をお
いて導電性物質が存在した時におこる磁界の乱れにより
生ずる受信コイルの誘起電圧を利用して導電性物質を検
知するものであるが、直径１００ｐ程度の金属球検出が
限界であるためガラス繊維織物中の１本のガラス繊維（
直径約１０μｍ程度）の中に含まれる極めて微小な導電
性物質（約１μｍ程度）は検出出来ない。
本発明は以上のような従来技術では精度良く測定出来な
い極めて微小な導電性物質の検出を行うことのできる方
法および装置を提供することを目的とし、被検ガラス繊
維又は被検ガラス繊維加工製品を高周波照射室内に置き
、導電性物質を含む該ガラス繊維又はガラス繊維加工製
品部分から発生される光を検知することを特徴とする。
い極めて微小な導電性物質の検出を行うことのできる方
法および装置を提供することを目的とし、被検ガラス繊
維又は被検ガラス繊維加工製品を高周波照射室内に置き
、導電性物質を含む該ガラス繊維又はガラス繊維加工製
品部分から発生される光を検知することを特徴とする。
以下図面を参照して実施例を説明する。なお同一部分は
同一符号であられす。
同一符号であられす。
第１図に示す高周波発振器１は通常の高周波発振器が使
用出来、周波数数Ｍｎ２乃至数千ＭＨ２であって出力数
百Ｗ乃至数１０ ＫＷのものが好ましいが、１０ ＭＨ
ｚ以上で使用する場合には「工業用、科学用及び医事用
周波数（略称ＩＳＭバンド）」で決められた周波数をも
つ高周波が使用される。高周波照射室２は高周波発振器
１にて発生した高周波を被検物に照射する空間を構成す
る。照射室の形式は箱形オープン形式、導波管形式など
、どのような形式でもよく被検物を照射室内に置くこと
ができ、その被検物に高周波を照射出来さえすればよい
。第１図の高周波照射室２は箱形オーブン形式を示し、
第４図（ａ）のそれは導波管形式を示している。第１図
に於ける被検物６は送り出しロール（図示せず）よシ送
り出され、高周波照射室２の壁にあけられたスリット５
（左側）から高周波照射室２に入り、高周波の照射を受
けてスリット５（右側）から照射室の外に出て巻取シロ
ール（図示せず）に巻取られている。前記スリット５を
設けることによυ被検物６を高周波照射室２に導くこと
ができ、そのスリット５の大きさは被検物６を高周波照
射室２に導入出来る大きさであればよいが、高周波漏洩
防止を考慮すると周波数が２４５ Ｑ Ｍｎ２の場合そ
のスリット５の幅は２５龍以下が好ましい。本発明を適
用する被検物は、ガラス繊維又はガラス繊維加工製品で
、ガラス繊維としてはモノフィラメント、ストランド及
びロービング等をあげることができ、ガラス繊維加工製
品としては、ガラス繊維織物、ガラス繊維編物、ガラス
繊維不織布、ガラス繊維紙およびガラス繊維マット等を
あげることが出来る。
用出来、周波数数Ｍｎ２乃至数千ＭＨ２であって出力数
百Ｗ乃至数１０ ＫＷのものが好ましいが、１０ ＭＨ
ｚ以上で使用する場合には「工業用、科学用及び医事用
周波数（略称ＩＳＭバンド）」で決められた周波数をも
つ高周波が使用される。高周波照射室２は高周波発振器
１にて発生した高周波を被検物に照射する空間を構成す
る。照射室の形式は箱形オープン形式、導波管形式など
、どのような形式でもよく被検物を照射室内に置くこと
ができ、その被検物に高周波を照射出来さえすればよい
。第１図の高周波照射室２は箱形オーブン形式を示し、
第４図（ａ）のそれは導波管形式を示している。第１図
に於ける被検物６は送り出しロール（図示せず）よシ送
り出され、高周波照射室２の壁にあけられたスリット５
（左側）から高周波照射室２に入り、高周波の照射を受
けてスリット５（右側）から照射室の外に出て巻取シロ
ール（図示せず）に巻取られている。前記スリット５を
設けることによυ被検物６を高周波照射室２に導くこと
ができ、そのスリット５の大きさは被検物６を高周波照
射室２に導入出来る大きさであればよいが、高周波漏洩
防止を考慮すると周波数が２４５ Ｑ Ｍｎ２の場合そ
のスリット５の幅は２５龍以下が好ましい。本発明を適
用する被検物は、ガラス繊維又はガラス繊維加工製品で
、ガラス繊維としてはモノフィラメント、ストランド及
びロービング等をあげることができ、ガラス繊維加工製
品としては、ガラス繊維織物、ガラス繊維編物、ガラス
繊維不織布、ガラス繊維紙およびガラス繊維マット等を
あげることが出来る。
導電性物質を含んだ被検物６が高周波照射室２内に置か
れた時世をともなったスパーク様の光が発生する。発生
した光は光を感知することが出来る検出器３にて検出す
る。検出器としては発生する光を感知出来るものであれ
ばどのようなものでもよい。例えば検出器として光電子
増倍管、フォトトランジスタ及びフォトダイオード等を
あげることができる。検出器３にて光を感知した時に発
生する信号は製造工程に於ける作動装置４（警報ブザー
、マーキング装置、及び運転停止装置等）の入力信号と
して利用する。検出器の設置位置としては、発生する光
を感知出来る位置であればどこでもよい。第１図の場合
検出器３は高周波照射室２を画成する側壁に５個設置さ
れている。第２図は第１図の検出置設置部付近の断面図
を示したもので検出器３が高周波による影響を受けない
ようにするため高周波照射室２の壁に直径１：ｌ（ｍｍ
）、奥行ｌ（ｍｍ）の円筒状凹所７を設け、円筒状凹所
７の底に検出器３としてフォトダイオードを１個設置し
たものである。フォトダイオードについてさらに外乱の
影響を防止するためフォトタイオードの周シを磁気シー
ルド材例えばパーマロイ（ＮｉＦθ合金）で囲うことも
できる。検出器３（フォトダイオード）にて感知された
信号は絶縁板９および容器８を貫通してリード線１０に
て外部の増幅回路１１に取りだされる。第３図は検出器
３を高周波照射室２の凹所７の底に設置する点は第２図
と同様であるが、検出器３よ多出力される信号を増幅す
る増幅回路１１を絶縁板９を間にして検出器３０近くに
設置してリード−線１０を短くすることおよび増幅回路
１１よりの出力を警報、マーキング又は装置停止等の動
作を行う作動装置４に光フアイバーグラス１２で伝送し
て信号伝送中での電気的磁気的障害を防止するようＫし
たものである。
れた時世をともなったスパーク様の光が発生する。発生
した光は光を感知することが出来る検出器３にて検出す
る。検出器としては発生する光を感知出来るものであれ
ばどのようなものでもよい。例えば検出器として光電子
増倍管、フォトトランジスタ及びフォトダイオード等を
あげることができる。検出器３にて光を感知した時に発
生する信号は製造工程に於ける作動装置４（警報ブザー
、マーキング装置、及び運転停止装置等）の入力信号と
して利用する。検出器の設置位置としては、発生する光
を感知出来る位置であればどこでもよい。第１図の場合
検出器３は高周波照射室２を画成する側壁に５個設置さ
れている。第２図は第１図の検出置設置部付近の断面図
を示したもので検出器３が高周波による影響を受けない
ようにするため高周波照射室２の壁に直径１：ｌ（ｍｍ
）、奥行ｌ（ｍｍ）の円筒状凹所７を設け、円筒状凹所
７の底に検出器３としてフォトダイオードを１個設置し
たものである。フォトダイオードについてさらに外乱の
影響を防止するためフォトタイオードの周シを磁気シー
ルド材例えばパーマロイ（ＮｉＦθ合金）で囲うことも
できる。検出器３（フォトダイオード）にて感知された
信号は絶縁板９および容器８を貫通してリード線１０に
て外部の増幅回路１１に取りだされる。第３図は検出器
３を高周波照射室２の凹所７の底に設置する点は第２図
と同様であるが、検出器３よ多出力される信号を増幅す
る増幅回路１１を絶縁板９を間にして検出器３０近くに
設置してリード−線１０を短くすることおよび増幅回路
１１よりの出力を警報、マーキング又は装置停止等の動
作を行う作動装置４に光フアイバーグラス１２で伝送し
て信号伝送中での電気的磁気的障害を防止するようＫし
たものである。
電源１３は増幅回路１１用のもので通常電池を使用する
。
。
本発明者は、第１図の装置を用いて次の（イ）乃至（ト
）の条件で実験を行った。
）の条件で実験を行った。
（イ） 導電性物質−−−−−−一直径９μｍの１本の
ガラスフィラメントの芯に連続的に直径６μｍの銀を有
する銀−ガラス複合ガラスフィラメント中の銀。
ガラスフィラメントの芯に連続的に直径６μｍの銀を有
する銀−ガラス複合ガラスフィラメント中の銀。
（ロ） 被検物−一−−−−−−上記銀−ガラス複合ガ
ラスフィラメントを２ ｍｍに切断し、ガラス繊維織物
（９μｍＸ ４．００本で構成されているストランドを
タテ×ヨコ−４４本／インチ×６４本／インチ打込みの
織物）中に織物の長さ方向に約１７７１の間隔で１００
個ガラス繊維織物中に脱落しないよう混入したもの。
ラスフィラメントを２ ｍｍに切断し、ガラス繊維織物
（９μｍＸ ４．００本で構成されているストランドを
タテ×ヨコ−４４本／インチ×６４本／インチ打込みの
織物）中に織物の長さ方向に約１７７１の間隔で１００
個ガラス繊維織物中に脱落しないよう混入したもの。
ｅつ 高周波発振器−−−−−−−一周波数２４５０
ＭＨｚ ｚ出力電力６００ Ｗ。
ＭＨｚ ｚ出力電力６００ Ｗ。
に） 高周波照射室形状−一−−−−−−高さ２００ｍ
ｍ、幅ろ”＞Ｏｍｍ、奥行２００ｍｍの箱形 （ホ） スリットの形状−一一−−幅２０朋、長さ２７
０朋の長方形 （へ） 検出器−−−−一・−フォトダイオード（浜松
ホトニクス製、５１７２６−０２） （ト） 高周波照射室通過速度−・−８０ｍ ／分高周
波照射室２内で発生した光を検出器３にて感知しその時
発生した信号にて圧市、ゾず−を作動させ、圧電ブザー
の鳴った回数を測定した所１００回であった。
ｍ、幅ろ”＞Ｏｍｍ、奥行２００ｍｍの箱形 （ホ） スリットの形状−一一−−幅２０朋、長さ２７
０朋の長方形 （へ） 検出器−−−−一・−フォトダイオード（浜松
ホトニクス製、５１７２６−０２） （ト） 高周波照射室通過速度−・−８０ｍ ／分高周
波照射室２内で発生した光を検出器３にて感知しその時
発生した信号にて圧市、ゾず−を作動させ、圧電ブザー
の鳴った回数を測定した所１００回であった。
また導電性物質を銀から硫化ニッケルまたは銅に変えて
他は上記実験と同じ条件で実験を行った結果、圧電ゾず
−の鳴った回数はそれぞれ１００回であった。
他は上記実験と同じ条件で実験を行った結果、圧電ゾず
−の鳴った回数はそれぞれ１００回であった。
さらに被検物をガラス繊維織物からがラスストランド（
９８ｍＸ４００本、Ｊ工Ｓ規格ＥＯＧ７５−１／１０１
ｚ）に変えること、スリット形状を１’Ｄｍｍの円形に
変えること、及び高周波照射室２内の通過速度を１５０
ｍ／分に変えること以外は上記実験と同じ条件で実験を
行い圧電ブザーの鳴った回数を測定した所１００回であ
った。
９８ｍＸ４００本、Ｊ工Ｓ規格ＥＯＧ７５−１／１０１
ｚ）に変えること、スリット形状を１’Ｄｍｍの円形に
変えること、及び高周波照射室２内の通過速度を１５０
ｍ／分に変えること以外は上記実験と同じ条件で実験を
行い圧電ブザーの鳴った回数を測定した所１００回であ
った。
第♂−岐は本発明の他の実施例を示すもので高周波発振
器１はマグネトロン使用のマイクロ波発振器を使用して
いる。高周波照射室２は導波管形式で、矩形導波管を多
段に折り曲げ高周波照射室２とし、その幅広の面即ちＥ
面の中央部に被検物６を置くようスロット５の位置を決
め、高周波照射室２０幅の狭いＥ面には検出器３が添設
されている。マイクロ波帯の高周波発振器１を用い、こ
の電力を導波管にて伝送し高周波照射室２とする場合、
高周波照射室２内の電界の最大値と伝送電力との関係は
式（１） のように示されるため、高周波照射室２内の最大電界値
はマイクロ波伝送電力を変えることで任意通過位置に存
在するため効率的である。
器１はマグネトロン使用のマイクロ波発振器を使用して
いる。高周波照射室２は導波管形式で、矩形導波管を多
段に折り曲げ高周波照射室２とし、その幅広の面即ちＥ
面の中央部に被検物６を置くようスロット５の位置を決
め、高周波照射室２０幅の狭いＥ面には検出器３が添設
されている。マイクロ波帯の高周波発振器１を用い、こ
の電力を導波管にて伝送し高周波照射室２とする場合、
高周波照射室２内の電界の最大値と伝送電力との関係は
式（１） のように示されるため、高周波照射室２内の最大電界値
はマイクロ波伝送電力を変えることで任意通過位置に存
在するため効率的である。
以上の説明で明確なごとく、本発明の方法及び装置を用
いることによシガラス繊維中に含まれる極めて微小な導
電性物質を高速で、精度良く検出することができ、絶縁
性が強く要求されるプリント配線板の絶縁補強材として
使用されるガラス繊維加工製品の導電性物質を検出して
除去することによシ無欠点の製品出荷が可能となる為そ
の工業的効果は非常に太きい。
いることによシガラス繊維中に含まれる極めて微小な導
電性物質を高速で、精度良く検出することができ、絶縁
性が強く要求されるプリント配線板の絶縁補強材として
使用されるガラス繊維加工製品の導電性物質を検出して
除去することによシ無欠点の製品出荷が可能となる為そ
の工業的効果は非常に太きい。
本発明は上記した実施例のみに限定されることなく本発
明の構成を変更しない範囲で種々の変形を実施し得る。
明の構成を変更しない範囲で種々の変形を実施し得る。
例えば高周波発振器として周波数２４５０ ＭＨｚＱも
のを使用し、かつ製造工程で使用する必要がない場合に
は、家庭用電子レンジを用いて簡単にガラス繊維中の導
電性物質の有無を把握できる。
のを使用し、かつ製造工程で使用する必要がない場合に
は、家庭用電子レンジを用いて簡単にガラス繊維中の導
電性物質の有無を把握できる。
第１図は本発明の１つの実施例の説明図、第２図は同実
施例に使用される検出器の好まし見・配置−の高周波照
射室における電界ノぐターンを示す図である。 １・・・高周波発振器 ２・・・高周波照射室 ３・・
・検出器 ４・・・作動装置 ５・・・スリット ６・
・・被検物７・・凹所、１１・・・増幅回路 １２・・
・光ファイア々−グラス 代理人 浅 村 皓 牙１図 牙２図 Ａ−３図 第４ｏ図 手続補正書 昭和５９年 ９月ユＯ日 特許庁長官殿 １、事件の表示 昭和５８年持ご′「願第１７５７５０ 号事件との関係
特許出願人 住 所 氏 名 （３９’７）日東紡績株式会社（名 称） ４、代理人 ５、補正命令の日付 昭和 年 月 口 ８、補正の内容 別紙のとおり （１、発明の名称を次の通り訂正する。 「ガラス繊維またはガラス繊維加工製品中の導電性物質
検出方法および装置ｊ （２、特許請求の範囲を別紙の通り訂正する。 （３）明細書第５頁第１６〜１４行の「照射出来さえす
ればよい。」を次の通り訂正する。 「照射出来さえすればよい。但し高周波照射室２内へ供
給する高周波のエネルギーが大きい場合には、被検物に
高周波を照射する以前に高周波照射室内で放電の起らな
いように筒周波照射至の設計を配慮する必要がある。」
（４） 同第７頁第１行の「−ことかできる。」を次の
通り訂正する。 「ことができる。但し導電性物質の種類により発生する
光の色（波長）は種々に異なるため、被検物に存在し得
る導電性物質が未知の場合には、感度波長が広く（数百
〜千数百ｎｍ ）、応答速度の速い（数十ｎ秒以下）の
検出器を選択するのが好ましい。」 「２、特許請求の範囲 （１） 被検ガラス繊維または被検ガラス繊維加工製品
を高周波照射室内に置き、該ガラス繊維またはガラス繊
維加工製品が導電性物質を含んでいるとき眼＊ ’を耳
物質が発生する光を検知することを特徴とするガラス繊
維またはガラス繊維加工製品中の導電性物質検出方法。 （２） 尚周波を照射された高周波照射室と、前記高周
波照射室を通して被検ガラス繊維または被検ガラス繊維
加工製品を移送する装置と、ｉｉＩ記高同高周波照射室
内生する光を検知する検出器とから成ることを特徴とす
るガラス繊維またはガラス繊維加工製品中の等電性物質
検出装置。 （３） 前記高周波照射室は箱形オーブン形式に構成さ
れていることを特徴とする特許請求の範囲第２項記載の
導電性物質検出装置。 （４） 前記高周波照射室は導波管形式に構成されてい
ることを特徴とする特許請求の範囲第２珈記載の導電性
物質検出装置。 （５） 前記高周波照射室を画定する壁面から凹んだ凹
所が設けられ前記検出器が前記凹所の底に設置されてい
ることを特徴とする特許請求の範囲第一？２項、第）項
または第４項記載の導電性物質検出装置。 （６）前記検出器が発する光検知信号は増幅回路を経て
書味、マーキングまたは装置停止等を行う作動装置に伝
達されることを特徴とする特許請求の範囲第５項記載の
導電性物質検出装置。 （７）前記増幅回路は前記凹所の外部において前記検出
器に近接して設けられ、光フアイバーグラスを介して前
記作動装置に接続されることを特徴とする特許請求の範
囲第６項記載の導電性物質検出装置。」
施例に使用される検出器の好まし見・配置−の高周波照
射室における電界ノぐターンを示す図である。 １・・・高周波発振器 ２・・・高周波照射室 ３・・
・検出器 ４・・・作動装置 ５・・・スリット ６・
・・被検物７・・凹所、１１・・・増幅回路 １２・・
・光ファイア々−グラス 代理人 浅 村 皓 牙１図 牙２図 Ａ−３図 第４ｏ図 手続補正書 昭和５９年 ９月ユＯ日 特許庁長官殿 １、事件の表示 昭和５８年持ご′「願第１７５７５０ 号事件との関係
特許出願人 住 所 氏 名 （３９’７）日東紡績株式会社（名 称） ４、代理人 ５、補正命令の日付 昭和 年 月 口 ８、補正の内容 別紙のとおり （１、発明の名称を次の通り訂正する。 「ガラス繊維またはガラス繊維加工製品中の導電性物質
検出方法および装置ｊ （２、特許請求の範囲を別紙の通り訂正する。 （３）明細書第５頁第１６〜１４行の「照射出来さえす
ればよい。」を次の通り訂正する。 「照射出来さえすればよい。但し高周波照射室２内へ供
給する高周波のエネルギーが大きい場合には、被検物に
高周波を照射する以前に高周波照射室内で放電の起らな
いように筒周波照射至の設計を配慮する必要がある。」
（４） 同第７頁第１行の「−ことかできる。」を次の
通り訂正する。 「ことができる。但し導電性物質の種類により発生する
光の色（波長）は種々に異なるため、被検物に存在し得
る導電性物質が未知の場合には、感度波長が広く（数百
〜千数百ｎｍ ）、応答速度の速い（数十ｎ秒以下）の
検出器を選択するのが好ましい。」 「２、特許請求の範囲 （１） 被検ガラス繊維または被検ガラス繊維加工製品
を高周波照射室内に置き、該ガラス繊維またはガラス繊
維加工製品が導電性物質を含んでいるとき眼＊ ’を耳
物質が発生する光を検知することを特徴とするガラス繊
維またはガラス繊維加工製品中の導電性物質検出方法。 （２） 尚周波を照射された高周波照射室と、前記高周
波照射室を通して被検ガラス繊維または被検ガラス繊維
加工製品を移送する装置と、ｉｉＩ記高同高周波照射室
内生する光を検知する検出器とから成ることを特徴とす
るガラス繊維またはガラス繊維加工製品中の等電性物質
検出装置。 （３） 前記高周波照射室は箱形オーブン形式に構成さ
れていることを特徴とする特許請求の範囲第２項記載の
導電性物質検出装置。 （４） 前記高周波照射室は導波管形式に構成されてい
ることを特徴とする特許請求の範囲第２珈記載の導電性
物質検出装置。 （５） 前記高周波照射室を画定する壁面から凹んだ凹
所が設けられ前記検出器が前記凹所の底に設置されてい
ることを特徴とする特許請求の範囲第一？２項、第）項
または第４項記載の導電性物質検出装置。 （６）前記検出器が発する光検知信号は増幅回路を経て
書味、マーキングまたは装置停止等を行う作動装置に伝
達されることを特徴とする特許請求の範囲第５項記載の
導電性物質検出装置。 （７）前記増幅回路は前記凹所の外部において前記検出
器に近接して設けられ、光フアイバーグラスを介して前
記作動装置に接続されることを特徴とする特許請求の範
囲第６項記載の導電性物質検出装置。」
Claims (7)
- （１）被検ガラス繊維または被検ガラス繊維加工製品を
高周波照射室内に置き、該ガラス繊維またはガラス繊維
加工製品が導電性物質を含んでいるとき該導電物質が発
生する光を検知することを特徴とするガラス繊維または
ガラス繊維加工製品中の導電性物質検出方法。 - （２）高周波を照射された高周波照射室と、前記高周波
照射室を通して被検ガラス繊維または被検ガラス繊維加
工製品を移送する装置と、前記高周波照射室内で発生す
る光を検知する検出器とから成ることを特徴とするガラ
ス繊維またはガラス繊維加工製品中の導電性物質検出装
置。 - （３）前記高周波照射室は箱形オープン形式に構成され
ていることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の導
電物質検出装置。 - （４）前記高周波照射室は導波管形式に構成されている
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の導電物質
検出装置。 - （５）前記高周波照射室を画定する壁面から凹んだ凹所
が設けられ前記検出器が前記凹所の底に設置されている
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項、第２項または
第６項記載の導電物質検出装置。 - （６）前叫検出器が発する光検知信号は増１１苗回路を
経て警報１、マーキングまたは装置停止等を行う作動装
置に伝達されることを特徴とする特許請求の範囲第５項
記載の導電物質検出装置。 - （７）前記増幅回路は前記凹所の外部において前記検出
器に近接して設けられ、元ファイバーグラスを介して前
記作動装置に接続されることを特徴とする特許請求の範
囲第６項記載の導電物質検出装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17575083A JPS6067844A (ja) | 1983-09-22 | 1983-09-22 | ガラス繊維またはガラス繊維加工製品中の導電性物質検出方法および装置 |
| US06/605,683 US4580132A (en) | 1983-05-04 | 1984-04-30 | Method of and apparatus for detecting electrically conductive material in glass fibers or articles made of glass fibers |
| KR1019840002429A KR870001226B1 (ko) | 1983-05-04 | 1984-05-04 | 유리섬유나 유리섬유 생성물내의 전도성 물질을 검출하기 위한 방법과 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17575083A JPS6067844A (ja) | 1983-09-22 | 1983-09-22 | ガラス繊維またはガラス繊維加工製品中の導電性物質検出方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6067844A true JPS6067844A (ja) | 1985-04-18 |
| JPS6357730B2 JPS6357730B2 (ja) | 1988-11-14 |
Family
ID=16001594
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17575083A Granted JPS6067844A (ja) | 1983-05-04 | 1983-09-22 | ガラス繊維またはガラス繊維加工製品中の導電性物質検出方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6067844A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0638340U (ja) * | 1993-09-30 | 1994-05-20 | 東光株式会社 | 複合電子部品 |
-
1983
- 1983-09-22 JP JP17575083A patent/JPS6067844A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6357730B2 (ja) | 1988-11-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP1114299B1 (en) | Microwave resonator for continuous evaluation of fibrous materials | |
| US2457695A (en) | Ultra high frequency apparatus for inspection of sheet and other materials | |
| US2548598A (en) | Apparatus for detection of flaws by means of microwaves | |
| JPS63145951A (ja) | 糸状材料の物性量測定装置 | |
| KR870001226B1 (ko) | 유리섬유나 유리섬유 생성물내의 전도성 물질을 검출하기 위한 방법과 장치 | |
| JPH0733962B2 (ja) | 細長い材料の被覆の厚みを決定する方法 | |
| US20030141880A1 (en) | Method of detecting foreign bodies in mass streams | |
| JPH03229141A (ja) | 糸状材料内の混入導電物質検知装置 | |
| US4825158A (en) | Method of detecting conductive material contained in glass fiber by detecting changes in amplitude and frequency of an oscillator and detecting apparatus therefor | |
| US5241279A (en) | Microwave measuring apparatus for continuously and without contact measuring the thickness of a thin conducting layer of a running insulating support such as a fiber or a tape | |
| JPS6067844A (ja) | ガラス繊維またはガラス繊維加工製品中の導電性物質検出方法および装置 | |
| US20030206023A1 (en) | Method and apparatus for determining the triacetin content in filter plugs | |
| JP2010017182A (ja) | 材料量により煙草加工産業のストランドの荷重を測定する方法と装置 | |
| US20040017207A1 (en) | Device for testing the quality of rope-like materials | |
| US3585395A (en) | Control of hole size in filters by measuring the amount of radiation passing through holes and correspondingly controlling speed of filter moving through etching bath | |
| JPS59214748A (ja) | 繊維状ガラス中の導電性物質の検出方法 | |
| JPS6020138A (ja) | ガラス繊維の欠陥を検出する方法 | |
| US7262867B2 (en) | Device to determine the thickness of a conductive layer | |
| JPS63501659A (ja) | 波動エネルギにより導波管を用いて物体を検査および／又は位置決定する方法 | |
| JPS60196694A (ja) | 合成樹脂製品中の導電性物質検出方法および装置 | |
| JPS6345547A (ja) | 共振器内を通過する誘電体の内部に存在する導電性異物のマイクロ波による検出方法 | |
| SU817484A1 (ru) | Устройство сигнализации границыРАздЕлА и иНдиКАции СВОйСТВКОНТРОлиРуЕМОй СРЕды | |
| GB2149092A (en) | Paper perforation monitor | |
| JPS63284486A (ja) | ガラス繊維中の導電性物質の検出装置 | |
| JPS62259048A (ja) | ガラス繊維中の導電性物質の検出装置 |