JPS6064267A - カレント・コンパレ−タ - Google Patents
カレント・コンパレ−タInfo
- Publication number
- JPS6064267A JPS6064267A JP17357383A JP17357383A JPS6064267A JP S6064267 A JPS6064267 A JP S6064267A JP 17357383 A JP17357383 A JP 17357383A JP 17357383 A JP17357383 A JP 17357383A JP S6064267 A JPS6064267 A JP S6064267A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coil
- inductance
- magnetic flux
- current
- 5quid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、スクイラド（５ＱＵＩＤ）磁束計を用いた極
低温度で動作するカレント・コンパレータに関するもの
である。
低温度で動作するカレント・コンパレータに関するもの
である。
第１図は、従来のこの種のカレント・コンパレータの一
例を示す構成ブロック図で、ここでは、抵抗比を測定す
るものについて示す。図において、１は直流電源、２は
直流電源１に接続され、回路に流れる電流を変化させる
可変抵抗、３，４は被測定用抵抗で、例えばそれぞれの
抵抗値がＲ，Ｎ−Ｒであって、１：Ｎの比を有している
ものとする。
例を示す構成ブロック図で、ここでは、抵抗比を測定す
るものについて示す。図において、１は直流電源、２は
直流電源１に接続され、回路に流れる電流を変化させる
可変抵抗、３，４は被測定用抵抗で、例えばそれぞれの
抵抗値がＲ，Ｎ−Ｒであって、１：Ｎの比を有している
ものとする。
５は超伝導体の完全反磁性を利用したトランスで、例え
ばＮ：１の巻数比を持った第１．第２の入力コイル５１
．５２と、この入力コイルから発生する磁束の差を検出
するピックアップコイル６とを有している。入力コイル
５１．５２は、それぞれ被測定抵抗４，３に直列に接続
され、可変抵抗２を介して直流電源に接続されている。
ばＮ：１の巻数比を持った第１．第２の入力コイル５１
．５２と、この入力コイルから発生する磁束の差を検出
するピックアップコイル６とを有している。入力コイル
５１．５２は、それぞれ被測定抵抗４，３に直列に接続
され、可変抵抗２を介して直流電源に接続されている。
７けピックアップコイル６で検出した磁束を、５ＱＵＩ
Ｄリング８に伝達するインプットコイルで、ピックアッ
プコイル６とは超伝導の閉ループを形成している。９は
５ＱＵＩＤ ！Ｉング８に結合し、ｒｆ磁界を供給する
とともに５ＱＵＩＤ信号を得るタンク回路、１０けｒ４
発振器、 ｒ（増幅器、ロックインアンプ。
Ｄリング８に伝達するインプットコイルで、ピックアッ
プコイル６とは超伝導の閉ループを形成している。９は
５ＱＵＩＤ ！Ｉング８に結合し、ｒｆ磁界を供給する
とともに５ＱＵＩＤ信号を得るタンク回路、１０けｒ４
発振器、 ｒ（増幅器、ロックインアンプ。
精分器からなる信号処理回路を総括的に示したもので、
その出力端ＯＵＴから５ＱＵＩＤ信号を出力する。
その出力端ＯＵＴから５ＱＵＩＤ信号を出力する。
破線で囲んだ部分ＣＬは、例えば液体ヘリウムが入った
クライオスタットを示し、この中はヘリウム温度（４，
２Ｋ）に維持されている。
クライオスタットを示し、この中はヘリウム温度（４，
２Ｋ）に維持されている。
この様に構成した従来装置において、可変抵抗２を変化
させ、回路に流れる電流を変化させると、抵抗３，４に
は、例えばＮ：１の比で電流が流れるが、トランス５に
おいて入力コイルｓ１．５２１１ｃよりて生ずる磁束変
化は同じで、ピックアップコイル６とインプットコイル
７とで形成された超伝導ループ内の磁束変化は零となり
、従って信号処理口ｊ１！！１０からの５ＱＵＩＤ出力
の変化も零である。
させ、回路に流れる電流を変化させると、抵抗３，４に
は、例えばＮ：１の比で電流が流れるが、トランス５に
おいて入力コイルｓ１．５２１１ｃよりて生ずる磁束変
化は同じで、ピックアップコイル６とインプットコイル
７とで形成された超伝導ループ内の磁束変化は零となり
、従って信号処理口ｊ１！！１０からの５ＱＵＩＤ出力
の変化も零である。
これに対して、被測定抵抗３．４の抵抗値の比が、例え
ば１：Ｎからずれている場合、両者に流れる電流比もＮ
：１からずれたものとなり、この電流差によってトラン
ス５に磁束変化が起シ、この磁束変化がピックアップコ
イル６によって検出され、５ＱＵＩＤリング８に加わり
、５ＱＵＩＤ出力が変化する。従って、電流のずれ分を
検出することによって、抵抗６，４の抵抗比をめること
ができる。
ば１：Ｎからずれている場合、両者に流れる電流比もＮ
：１からずれたものとなり、この電流差によってトラン
ス５に磁束変化が起シ、この磁束変化がピックアップコ
イル６によって検出され、５ＱＵＩＤリング８に加わり
、５ＱＵＩＤ出力が変化する。従って、電流のずれ分を
検出することによって、抵抗６，４の抵抗比をめること
ができる。
ところで、５ＱＵＩＤ出力は、５ＱＵＩＤリング８内を
貫く磁束が変化することによって変化するので、従来装
置においては、回路に流す電流を可変抵抗２によって変
化させ、それによって抵抗５，４に流れる電流偏差を変
化させ、磁束変化に変換するようにしている。このため
に１被測定抵抗３，４に流れる電流が変化することとな
り、抵抗の定常状態における測定が困難で、高精度の抵
抗測定あるいは電流測定を行なうことはできなかった。
貫く磁束が変化することによって変化するので、従来装
置においては、回路に流す電流を可変抵抗２によって変
化させ、それによって抵抗５，４に流れる電流偏差を変
化させ、磁束変化に変換するようにしている。このため
に１被測定抵抗３，４に流れる電流が変化することとな
り、抵抗の定常状態における測定が困難で、高精度の抵
抗測定あるいは電流測定を行なうことはできなかった。
本発明は、回路に供給する電流を一定に維持した状態で
の測定を可能とし、高精度の抵抗あるいは電流の測定を
行なうことのできるカレント・コンパレータを実現しよ
うとするものである。
の測定を可能とし、高精度の抵抗あるいは電流の測定を
行なうことのできるカレント・コンパレータを実現しよ
うとするものである。
本発明に係る装置は、ピックアップコイルのインダクタ
ンス又は、インプットコイルと並列に接続した可変イン
ダクタンスコイルのインダクタンスを連続的に変化させ
るようにした点及び測定回路に使用する電源として直流
定電流源を用いるようにした点に特徴がある。
ンス又は、インプットコイルと並列に接続した可変イン
ダクタンスコイルのインダクタンスを連続的に変化させ
るようにした点及び測定回路に使用する電源として直流
定電流源を用いるようにした点に特徴がある。
施
〔実態例の説明〕
第２図は本発明に係る装置の一例を示す構成ブロック図
である。第２図において、第１図従来装置と異なる点は
、被測定抵抗３．４に定電流を供給する定電流源２０を
接続した点及び、インプットコイル７と並列に超伝導線
からなる可変インダクタンス用コイル７１を接続した点
である。可変インダクタンスコイル７１（Ｃは、そのイ
ンダクタンスを可変にするための超伝導体７２が設けて
あり、超伝導体７２を矢印ａ、ｂに示すように上下動さ
せることＫよって、コイル７１のインダクタンスが変化
するようになっている。
である。第２図において、第１図従来装置と異なる点は
、被測定抵抗３．４に定電流を供給する定電流源２０を
接続した点及び、インプットコイル７と並列に超伝導線
からなる可変インダクタンス用コイル７１を接続した点
である。可変インダクタンスコイル７１（Ｃは、そのイ
ンダクタンスを可変にするための超伝導体７２が設けて
あり、超伝導体７２を矢印ａ、ｂに示すように上下動さ
せることＫよって、コイル７１のインダクタンスが変化
するようになっている。
この装置において、ピックアップコイル６で検出される
磁束は、５ＱＵＩＤ ’）ング８に加えられる。
磁束は、５ＱＵＩＤ ’）ング８に加えられる。
ここで、ピックアップコイル６、インプットコイル７及
び可変インダクタンスコイル７１の各コイルは、超伝導
ループを構成しているので、この超伝導ループ内の磁束
は一定に保たれ、このことから（１）式が成立する。
び可変インダクタンスコイル７１の各コイルは、超伝導
ループを構成しているので、この超伝導ループ内の磁束
は一定に保たれ、このことから（１）式が成立する。
Ｎ・Φ、−（Ｌｐ＋Ｌｏ） Ｉ＝０ ・・・・・・・・
・・・・・・・・（＋）ただし、ΦＸ：ビックアップコ
イル６を貫通する磁束 Ｎ：ピックアップコイル６の巻数 り、：ビックアッブコイル６の自己イ ンダクタンス し。＝インプットコイル７のインダク タンスＬ１と、可変インダクタンス コイル７１のインダクタンスＬｖの合 成自己インダクタンスで、（２）式の 関係がある。
・・・・・・・・（＋）ただし、ΦＸ：ビックアップコ
イル６を貫通する磁束 Ｎ：ピックアップコイル６の巻数 り、：ビックアッブコイル６の自己イ ンダクタンス し。＝インプットコイル７のインダク タンスＬ１と、可変インダクタンス コイル７１のインダクタンスＬｖの合 成自己インダクタンスで、（２）式の 関係がある。
Ｉ：超伝導ループ内を流れる電流
従って、５ＱＵＩＤリング８とインプットコイル７の相
互インダクタンスをＭとすると、５ＱＵＩＤリング８を
貫通する磁束Φ８は（５）式で与えられる。
互インダクタンスをＭとすると、５ＱＵＩＤリング８を
貫通する磁束Φ８は（５）式で与えられる。
（１）式、（２）式より（３）式は（４）式で表わされ
る。
る。
（４）式から明らかなように、可変インダクタンスコイ
ル７１のインダクタンスＬｖが変化すると、５ＱＵＩＤ
’）フグ８内を貫く磁束ψ３が変化するもので、ピッ
クアップコイル６から発生する磁束が一定であっても、
この磁束に比例した５ＱＵＩＤ信号を出力端ＯＵＴから
得ることができる。
ル７１のインダクタンスＬｖが変化すると、５ＱＵＩＤ
’）フグ８内を貫く磁束ψ３が変化するもので、ピッ
クアップコイル６から発生する磁束が一定であっても、
この磁束に比例した５ＱＵＩＤ信号を出力端ＯＵＴから
得ることができる。
第３図は本発明に係る装置の他の例を示す要部の構成ブ
ロック図である。この実施例装Ｗｔ、け、超伝導体７２
を可変インダクタンスコイル７１内Ｋ 出り入れするた
めの駆動装置７５を設けるとともに、タンク回路９から
の信号をアンプ１１を介してロックインアンプ１２に加
え、このロックインアンプ１２において、駆動装置３の
交流電源７４の交流信号を参照信号として、５ＱＵＩＤ
信号を位相同期検波するようＫしたものである。
ロック図である。この実施例装Ｗｔ、け、超伝導体７２
を可変インダクタンスコイル７１内Ｋ 出り入れするた
めの駆動装置７５を設けるとともに、タンク回路９から
の信号をアンプ１１を介してロックインアンプ１２に加
え、このロックインアンプ１２において、駆動装置３の
交流電源７４の交流信号を参照信号として、５ＱＵＩＤ
信号を位相同期検波するようＫしたものである。
超伝導体７２は１、駆動装置７３によって可変インダク
タンスコイル７１内を交流信号の周期で上下動する。こ
れによって、アンプ１１からの５ＱＵＩＤ 信号も同じ
周期で変化する。ロックインアンプ１２け、この５ＱＵ
ＩＤ信号を交流信号で位相同期検波し、出力端ＯＵＴ
Ｋピックアップコイル（図示せず）で検出した磁束に対
応する５ＱＵＩＤ信号を出力する。
タンスコイル７１内を交流信号の周期で上下動する。こ
れによって、アンプ１１からの５ＱＵＩＤ 信号も同じ
周期で変化する。ロックインアンプ１２け、この５ＱＵ
ＩＤ信号を交流信号で位相同期検波し、出力端ＯＵＴ
Ｋピックアップコイル（図示せず）で検出した磁束に対
応する５ＱＵＩＤ信号を出力する。
従って、この実施例によれば、出力（８号のいを向上さ
せることができ、高精度の測定が行なえる。
せることができ、高精度の測定が行なえる。
なお、上記の説明では、インプットコイル７と並列にコ
イル７１を接続し、このコイルのインダクタンスを可変
圧するようＫしたものであるが、これに代えてピックア
ップコイル６自身の自己インを ダクタ／ス２連続的に可変にするようにしてもよい。
イル７１を接続し、このコイルのインダクタンスを可変
圧するようＫしたものであるが、これに代えてピックア
ップコイル６自身の自己インを ダクタ／ス２連続的に可変にするようにしてもよい。
以上説明したように１本発明に係る装置によれげ、測定
回路罠使用する電源として直流定電流源を使用すること
が可能で、測定回路に流す電流を変化させることによっ
て生ずる例えばジーール熱の変化等圧伴う問題や、電源
の不安定から生ずる測定誤差を除去することができる。
回路罠使用する電源として直流定電流源を使用すること
が可能で、測定回路に流す電流を変化させることによっ
て生ずる例えばジーール熱の変化等圧伴う問題や、電源
の不安定から生ずる測定誤差を除去することができる。
従って、高精度の抵抗あるいけ電流測定を行なうことが
できる。
できる。
第１図は従来装置の一例を示す構成ブロック図、第２図
は本発明に係る装置の一例を示す構成ブロック図、第３
図は本発明の他の例を示す要部の構成ブロック図である
。 ２０・・・直流定電流源、５，４・・・抵抗、５・・・
トランス、５１．５２・・・入力コイル、６川ピツクア
ツプコイル、７・・・インプットコイル、７１・・・可
変インダクタンスコイル、７２・・・超伝導体、８・・
・５ＱＵＩＤリング、９・・・タンク回路。
は本発明に係る装置の一例を示す構成ブロック図、第３
図は本発明の他の例を示す要部の構成ブロック図である
。 ２０・・・直流定電流源、５，４・・・抵抗、５・・・
トランス、５１．５２・・・入力コイル、６川ピツクア
ツプコイル、７・・・インプットコイル、７１・・・可
変インダクタンスコイル、７２・・・超伝導体、８・・
・５ＱＵＩＤリング、９・・・タンク回路。
Claims (1)
- （１） 直流定電流源、この直流定電流源にそれぞれ抵
抗を介して接続され比較すべき電流が流れる第１．第２
の入力コイルとこの第１．第２の入力コイルによって生
ずる磁束の差を検出するピックアンプコイルとを有し超
伝導状態に維持されるトランス、前記ピックアップコイ
ルに接続されこのコイルとともに超伝導ループを形成す
るインプットコイル、このインプットコイルに生ずる磁
束が印加する５ＱＵＩＤリング、この５ＱＵＩＩ）リン
グに結合しここから５ＱＵＩＤ信号を得る回路手段、前
記ピックアップコイルの自己インダクタンス又は、前記
インプットコイルと並列に接続したコイルのインダクタ
ンスを連続的に変化させる手段とを具備したカレントコ
ンパレータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17357383A JPS6064267A (ja) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | カレント・コンパレ−タ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17357383A JPS6064267A (ja) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | カレント・コンパレ−タ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6064267A true JPS6064267A (ja) | 1985-04-12 |
| JPH0534629B2 JPH0534629B2 (ja) | 1993-05-24 |
Family
ID=15963061
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17357383A Granted JPS6064267A (ja) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | カレント・コンパレ−タ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6064267A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20190089362A (ko) * | 2018-01-22 | 2019-07-31 | 주식회사 코엠테크 | 프로브 핀 검사 방법 |
-
1983
- 1983-09-20 JP JP17357383A patent/JPS6064267A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20190089362A (ko) * | 2018-01-22 | 2019-07-31 | 주식회사 코엠테크 | 프로브 핀 검사 방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0534629B2 (ja) | 1993-05-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Soulen et al. | Simple instrumentation for the inductive detection of superconductivity | |
| JPS63277048A (ja) | 磁束伝達回路 | |
| Yazyi et al. | Inter-and intraplane softening of the vortex structure in Bi2. 1Sr1. 9Ca0. 9Cu2O8+ δ: a two-step transition | |
| US3829768A (en) | Superconducting gradiometer for measuring first and second derivatives of a magnetic field | |
| JPS6064267A (ja) | カレント・コンパレ−タ | |
| Ma et al. | Rogowski coil for current measurement in a cryogenic environment | |
| Banerjee et al. | AC susceptibility apparatus for use with a closed-cycle helium refrigerator | |
| Campbell et al. | Critical field measurements in superconductors using ac inductive techniques | |
| Dutta et al. | An automated setup to measure the linear and nonlinear magnetic ac-susceptibility down to 4 K with higher accuracy | |
| Elmquist et al. | Using a high-value resistor in triangle comparisons of electrical standards | |
| Slade et al. | Combination high‐sensitivity alternating current susceptometer and high‐frequency B–H looper | |
| JPH044555B2 (ja) | ||
| Bernhardt et al. | A new inductive method for measuring the critical current density in high-Tc superconducting films | |
| Gotszalk et al. | Mutual inductance bridge for the measurement of superconducting transition temperatures and magnetic susceptibility | |
| Gallop | Use of persistent supercurrents in SQUID current stabilisers and their application to a resistivity measurement on niobium | |
| Erne’ | SQUID sensors | |
| RU2075760C1 (ru) | Сверхпроводящий магнитометр | |
| JPH0353154A (ja) | 超電導体判定方法及び装置 | |
| Ishizuka et al. | A SQUID magnetometer for simultaneous measurements of spontaneous magnetization and AC susceptibility around the magnetic phase transition point | |
| JPH01217981A (ja) | 超電導量子干渉素子 | |
| US5280240A (en) | Methodology using odd harmonic components of an induced magnetic field for analyzing superconducting magnetic materials and their properties | |
| JP2004157092A (ja) | Ｓｑｕｉｄの温度制御装置および方法 | |
| JPH0342378Y2 (ja) | ||
| Blatt et al. | Techniques in Thermoelectric Measurements | |
| Dee et al. | Low-level measurements of DC voltages using a SQUID |