JPS6063444A - 引張試験装置 - Google Patents
引張試験装置Info
- Publication number
- JPS6063444A JPS6063444A JP17149183A JP17149183A JPS6063444A JP S6063444 A JPS6063444 A JP S6063444A JP 17149183 A JP17149183 A JP 17149183A JP 17149183 A JP17149183 A JP 17149183A JP S6063444 A JPS6063444 A JP S6063444A
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- Japan
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- chuck
- displacement
- motor
- ramp
- hall
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- Pending
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/02—Details
- G01N3/06—Special adaptations of indicating or recording means
- G01N3/066—Special adaptations of indicating or recording means with electrical indicating or recording means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/16—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. by resistance strain gauge
- G01B7/24—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. by resistance strain gauge using change in magnetic properties
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N2203/02—Details not specific for a particular testing method
- G01N2203/06—Indicating or recording means; Sensing means
- G01N2203/0617—Electrical or magnetic indicating, recording or sensing means
- G01N2203/0635—Electrical or magnetic indicating, recording or sensing means using magnetic properties
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈発明の技術分野〉
本発明は、被検体（例えば毛髪）の引張特性を試験する
ための引張試験装置に関するものである。
ための引張試験装置に関するものである。
〈従来技術〉
従来より毛髪を引張ることによって、毛髪の強さ、伸び
を測定できる引張試験装置がある。これは−千巻の両端
を七り、ぞｈ−筑１因守亘に筺２固守具とに固定し、第
１固定具と第２固定具との間で該毛髪を引張ると、該毛
髪が伸びると共に、第１固定具が第２固定具の方へ引張
られることになるので、この動きを止めるようにバネを
介すると該バネには負荷がかかり該負荷に応じた変位を
生じる。そして該変位に応じて等間隔で設けた複数マー
クを動かし、固定した光学センサで移動したマーク数を
カウントすることにより該変位の大きさをめるものであ
る。これは、該変位が敷部と小さいので、感度よく変位
を検出しようとずればマークの間隔を非常に細かくする
必要があり、その結果高い加工精度が要求され、製造コ
ストが高くなっていた。
を測定できる引張試験装置がある。これは−千巻の両端
を七り、ぞｈ−筑１因守亘に筺２固守具とに固定し、第
１固定具と第２固定具との間で該毛髪を引張ると、該毛
髪が伸びると共に、第１固定具が第２固定具の方へ引張
られることになるので、この動きを止めるようにバネを
介すると該バネには負荷がかかり該負荷に応じた変位を
生じる。そして該変位に応じて等間隔で設けた複数マー
クを動かし、固定した光学センサで移動したマーク数を
カウントすることにより該変位の大きさをめるものであ
る。これは、該変位が敷部と小さいので、感度よく変位
を検出しようとずればマークの間隔を非常に細かくする
必要があり、その結果高い加工精度が要求され、製造コ
ストが高くなっていた。
〈発明の目的〉
本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、本発明はば
ねの変位を磁電変換素子と磁石との間隔の変化としてと
らえ、磁電変換素子の出力を検出し該出力を演算処理し
て強さをめるようにしたものである。
ねの変位を磁電変換素子と磁石との間隔の変化としてと
らえ、磁電変換素子の出力を検出し該出力を演算処理し
て強さをめるようにしたものである。
〈発明の実施例〉
以下、本発明の実施例について９、荷重を変位に変換す
る手段としてばねを用いたものについて図を参照しなが
ら説明する。なお、磁電変換素子は、磁気量を電気量に
変換するもので、ホール素子や、磁気抵抗素子等がある
。ここでは、μル■ｃ＠界をシリコンのホール素子で検
知するという意味でホール素子であるが、ＩＣ回路で出
力増幅されたものをいう。）を用いて説明する。
る手段としてばねを用いたものについて図を参照しなが
ら説明する。なお、磁電変換素子は、磁気量を電気量に
変換するもので、ホール素子や、磁気抵抗素子等がある
。ここでは、μル■ｃ＠界をシリコンのホール素子で検
知するという意味でホール素子であるが、ＩＣ回路で出
力増幅されたものをいう。）を用いて説明する。
第１図は本発明の引張試験装置の概要を示す平面図、第
２図は第１図の正面図である。
２図は第１図の正面図である。
ｌは機枠、２．３はそれぞれチャック台座４及び５との
間で被検体を固定するチャック、６はチャック台座５に
固定されネジ棒７に沿って動くナツト、８はネジ棒と共
に回転するようになしたウオームホイール、９はモータ
ーｌＯに直結しかつウオームホイール８とかみあってい
るウオームである。従って、モーターＩＯをＯＮすると
、ネジ棒７は回転する。１２はネジ棒と共に回転するよ
うになした回転円板で】】のホトインタラプタと共にロ
ータリーエンコーダーを形成している。第４図にこの関
係を要部拡大斜視図で示した。図中、４０はスリットで
ある。ロータリーエンコーダーは公知の技術であるが、
ホトインタラプタ１１を回転円板１２のスリット４０が
通過するごとにＨ信号を出すようになっている。
間で被検体を固定するチャック、６はチャック台座５に
固定されネジ棒７に沿って動くナツト、８はネジ棒と共
に回転するようになしたウオームホイール、９はモータ
ーｌＯに直結しかつウオームホイール８とかみあってい
るウオームである。従って、モーターＩＯをＯＮすると
、ネジ棒７は回転する。１２はネジ棒と共に回転するよ
うになした回転円板で】】のホトインタラプタと共にロ
ータリーエンコーダーを形成している。第４図にこの関
係を要部拡大斜視図で示した。図中、４０はスリットで
ある。ロータリーエンコーダーは公知の技術であるが、
ホトインタラプタ１１を回転円板１２のスリット４０が
通過するごとにＨ信号を出すようになっている。
１３はモーター１０、ホトインタラプタ１１を機枠ｌに
固定するだめのアングル、１４．１５はネジ棒７の軸受
である。１６はチャンク台座４に固定され第３図の如く
、上下の軸受３６，３７で保持され、チャック台座４を
水平に可動に保持するだめの支軸である。図中、３５．
３８は軸受３６，３７を機枠１に固定するだめのアング
ルである。（第３図は第２図の支軸１６と他の構成部品
との関係について要部を示したものである。） １７は荷重を変位に変換するばねで、調節ねじ１８に固
定されており、無荷重時ソレノイド１９に固定されたア
ングル２８に変位なく当るように調節ねじ１８で調節し
ている。
固定するだめのアングル、１４．１５はネジ棒７の軸受
である。１６はチャンク台座４に固定され第３図の如く
、上下の軸受３６，３７で保持され、チャック台座４を
水平に可動に保持するだめの支軸である。図中、３５．
３８は軸受３６，３７を機枠１に固定するだめのアング
ルである。（第３図は第２図の支軸１６と他の構成部品
との関係について要部を示したものである。） １７は荷重を変位に変換するばねで、調節ねじ１８に固
定されており、無荷重時ソレノイド１９に固定されたア
ングル２８に変位なく当るように調節ねじ１８で調節し
ている。
、２７はアングル２８に固定された磁石で、該磁肋７と
対向するようにホールＩＣ２５が調節ねじ２６に固定さ
れている。無荷重時、ホールＩＣ２５の出力が一定値と
なるように調節ねじ２６で調節している。（ホールＩＣ
２５の出力は、磁気量によって変化するので、ホールＩ
Ｃ２５と磁石２７との間隔によって変化することになる
。）１９はソレノイドアクチェータ２１を吸引して、チ
ャック台座４とチャック２との間で被検体を固定するた
めのソレノイドで、該ソレノイド１９への通電をＯＦＦ
にすると、チャック２をゆるめる復帰ばねを内蔵してい
る。前記と同様に、２４はチャック３のソレノイド、２
３はソレノイドアクチェータである。
対向するようにホールＩＣ２５が調節ねじ２６に固定さ
れている。無荷重時、ホールＩＣ２５の出力が一定値と
なるように調節ねじ２６で調節している。（ホールＩＣ
２５の出力は、磁気量によって変化するので、ホールＩ
Ｃ２５と磁石２７との間隔によって変化することになる
。）１９はソレノイドアクチェータ２１を吸引して、チ
ャック台座４とチャック２との間で被検体を固定するた
めのソレノイドで、該ソレノイド１９への通電をＯＦＦ
にすると、チャック２をゆるめる復帰ばねを内蔵してい
る。前記と同様に、２４はチャック３のソレノイド、２
３はソレノイドアクチェータである。
−２０は手でチャック２を軽く押すとＯＮとなるチャッ
クスイッチで、これによりソレノイド１９が動作する。
クスイッチで、これによりソレノイド１９が動作する。
前記と同様に、２２はチャック３のチャックスイッチで
ある。第１固定具は２，４，１９゜２１等で、第２固定
具は３，５，２３．２４等で構成されている。３９は被
検体が切れた時アングル２８が勢い良く復帰しないよう
に抑えるダンパースプリングで一通常アングル２８）−
は接触し方いように設定している。２９はダンパースプ
リング３９を固定するアングルである。
ある。第１固定具は２，４，１９゜２１等で、第２固定
具は３，５，２３．２４等で構成されている。３９は被
検体が切れた時アングル２８が勢い良く復帰しないよう
に抑えるダンパースプリングで一通常アングル２８）−
は接触し方いように設定している。２９はダンパースプ
リング３９を固定するアングルである。
３Ｉは定位置に戻った時にモーター１０をＯＦＦするリ
ミットスイッチで、アングル３０に固定している。
ミットスイッチで、アングル３０に固定している。
３３はチャック台座５がネジ棒７の周りに回転すること
のないように抑えるガイドシャフトである０３２はガイ
ドシャフト３３の受けとリミットスイッチ３１及び３４
の当りを兼ねる部材である。
のないように抑えるガイドシャフトである０３２はガイ
ドシャフト３３の受けとリミットスイッチ３１及び３４
の当りを兼ねる部材である。
３４は無制限に引張ることを禁止するため、モーターｌ
ＯをＯＦＦするリミットスイッチでアングル３５に固定
している。
ＯをＯＦＦするリミットスイッチでアングル３５に固定
している。
第５図は本発明の引張試験装置の電子制御回路の要部ブ
ロック図で、５０は引張りを開始させるスタートスイッ
チ、５１はホールＩＣからの出力をアナログ−デジタル
変換する〜勺変換器である。
ロック図で、５０は引張りを開始させるスタートスイッ
チ、５１はホールＩＣからの出力をアナログ−デジタル
変換する〜勺変換器である。
１１．２０．２２，２５，１夏、３４は前記の通りであ
るので説明を省略する。
るので説明を省略する。
＋００はマイクロコンピュータで構成されるコントロー
ラで、コントローラ１００の基本構成と外部回路１０６
との関係は第６図に示した。
ラで、コントローラ１００の基本構成と外部回路１０６
との関係は第６図に示した。
＋０１はＣＰＵ、＋０２はプログラム固定データメモリ
ＲＯ？１（，１０３は一時記憶メモリＲＡＭ。
ＲＯ？１（，１０３は一時記憶メモリＲＡＭ。
１０４は１１０部（インプット／アウトプット部）、１
０５はタイマーである。
０５はタイマーである。
外部回路１０６にはモーター１０を駆動するモーター駆
動回路５２、ソレノイド１９を動作させる増幅回路５３
、ソレノイド２４を動作させる増幅回路５４、表示部５
５等が該当する。
動回路５２、ソレノイド１９を動作させる増幅回路５３
、ソレノイド２４を動作させる増幅回路５４、表示部５
５等が該当する。
５６はホトインタラプタ１１からのＨ信号の数をカウン
トするカウンターである。
トするカウンターである。
次に本発明の引張試験装置の動作の一実施例について、
第９図のフローチャートを参照しながら説明する。
第９図のフローチャートを参照しながら説明する。
まず、被検体である毛髪の一端をチャンク２とチャンク
台座４の間に置き、チャック２を押すと、チャックスイ
ッチ２０がＯＮしコントローフ １００はその人力Ｉ２
のＬを検知し、０３ をＨとし増幅回路５３を経て、
ソレノイド１９をＯＮする０次（該毛髪の他端をチャッ
ク３とチャック台座５の間に置きチャック３を押すと、
チャックスイッチ２２がＯＮＬコントローラ＋００はそ
の人力１３を検知し０４をＨとし増幅回路５４を経てソ
レノイド２４をＯＮする。このようにして該毛髪を所定
の位置に固定する。次にスタートスイッチ５゜を押すと
、コントローラ＋００はその人力１１ のＬを検知し、
カウンター５６をクリヤ、ボールＩＣ２５からの出力を
Ａ／Ｄ変換したデータの一時メモリＲＡ？１（Ｘ（以下
ＲＡＭＸ）をクリヤ、ＲＡＭ Ｘの最大値の一時メモリ
ＲＡＭＰＣ以下ＲＡＭＰ）をクリヤしモーター１０をＯ
Ｎし正転させる。（チャック３は矢印イの方向へ移動す
る。）ここで、モーターＩＯの正逆転コントロールにつ
いて説明する。スタートスイッチ５０をＯＮ、リミット
スイッチ３４をＯＦＦにすれば、コントローラ１００の
出力０１をＨ２Ｏ２をＬとし、正転する。一方、リミッ
トスイッチ３１がＯＦＦで、リミットスイッチ３４が（
ＲＡＭＸ） １ ＯＮか、後述する（（ＲＡＭ Ｐ） ＜了） の時には
モーターｌＯのＯＦＦＦＦシコントローラ＋００力０１
’Ｉｃ涛、０２をＨとし逆転する。（チャック３は、矢
印ィとは逆の方向へ移動する。）モーター１０のＯＦＦ
はりミツトスイッチ３１のＯＮか、前記のりミツ（ＲＡ
ＭＸ） １ トスイッチ３４がＯＮか” （（ＲＡＭ Ｐ） ＜■’
の時にはコントローラー００の出力０１．０２を共に
Ｌとして行なう。（リミットスイッチ３１のＯＮは■４
のＬにより検知する。） 次にホールＩＣ２５からの出力をＡ／Ｄ変換して１７０
〜７７ に入力する。コントローラ＋００は該データを
ＲＡＭ Ｘに入れ、（ＲＡＭ Ｘ） ≧（ＲＡＭ Ｐ）
を見て、ＹＥＳならば、該ＲＡＭ ＸをＲＡＭ Ｐに入
れＲＡＭＰを更新する。（ＲＡＭＰはＲＡＭ Ｘの最大
値となる。）そして、（ＲＡＭＸ）≧（ＲＡＭＰ）を見
て、ＮＯならば！ ならば、（切れ検知はＲＡＭ ＸがＲＡＭＰの１未満の
時とする。）、モーターＩＯとソレノイド１９及び２４
をＯＦＦとする。そしてチャック３の変位をホトインタ
ラプタ１１のＨ信号の数としてカウントするカウンター
５６からの入力Ｉ６０〜６７ を読み取る。次に演算処
理である。ＲＡＭ Ｐと第７図との関係から強さをめる
。又、カウンター５６からのデータ（カウンター値）と
第８図との関係から伸びをめる。そして、出力０５０〜
５７と０８０〜８２とにより、表示部５５に強さ、伸び
を表示する。
台座４の間に置き、チャック２を押すと、チャックスイ
ッチ２０がＯＮしコントローフ １００はその人力Ｉ２
のＬを検知し、０３ をＨとし増幅回路５３を経て、
ソレノイド１９をＯＮする０次（該毛髪の他端をチャッ
ク３とチャック台座５の間に置きチャック３を押すと、
チャックスイッチ２２がＯＮＬコントローラ＋００はそ
の人力１３を検知し０４をＨとし増幅回路５４を経てソ
レノイド２４をＯＮする。このようにして該毛髪を所定
の位置に固定する。次にスタートスイッチ５゜を押すと
、コントローラ＋００はその人力１１ のＬを検知し、
カウンター５６をクリヤ、ボールＩＣ２５からの出力を
Ａ／Ｄ変換したデータの一時メモリＲＡ？１（Ｘ（以下
ＲＡＭＸ）をクリヤ、ＲＡＭ Ｘの最大値の一時メモリ
ＲＡＭＰＣ以下ＲＡＭＰ）をクリヤしモーター１０をＯ
Ｎし正転させる。（チャック３は矢印イの方向へ移動す
る。）ここで、モーターＩＯの正逆転コントロールにつ
いて説明する。スタートスイッチ５０をＯＮ、リミット
スイッチ３４をＯＦＦにすれば、コントローラ１００の
出力０１をＨ２Ｏ２をＬとし、正転する。一方、リミッ
トスイッチ３１がＯＦＦで、リミットスイッチ３４が（
ＲＡＭＸ） １ ＯＮか、後述する（（ＲＡＭ Ｐ） ＜了） の時には
モーターｌＯのＯＦＦＦＦシコントローラ＋００力０１
’Ｉｃ涛、０２をＨとし逆転する。（チャック３は、矢
印ィとは逆の方向へ移動する。）モーター１０のＯＦＦ
はりミツトスイッチ３１のＯＮか、前記のりミツ（ＲＡ
ＭＸ） １ トスイッチ３４がＯＮか” （（ＲＡＭ Ｐ） ＜■’
の時にはコントローラー００の出力０１．０２を共に
Ｌとして行なう。（リミットスイッチ３１のＯＮは■４
のＬにより検知する。） 次にホールＩＣ２５からの出力をＡ／Ｄ変換して１７０
〜７７ に入力する。コントローラ＋００は該データを
ＲＡＭ Ｘに入れ、（ＲＡＭ Ｘ） ≧（ＲＡＭ Ｐ）
を見て、ＹＥＳならば、該ＲＡＭ ＸをＲＡＭ Ｐに入
れＲＡＭＰを更新する。（ＲＡＭＰはＲＡＭ Ｘの最大
値となる。）そして、（ＲＡＭＸ）≧（ＲＡＭＰ）を見
て、ＮＯならば！ ならば、（切れ検知はＲＡＭ ＸがＲＡＭＰの１未満の
時とする。）、モーターＩＯとソレノイド１９及び２４
をＯＦＦとする。そしてチャック３の変位をホトインタ
ラプタ１１のＨ信号の数としてカウントするカウンター
５６からの入力Ｉ６０〜６７ を読み取る。次に演算処
理である。ＲＡＭ Ｐと第７図との関係から強さをめる
。又、カウンター５６からのデータ（カウンター値）と
第８図との関係から伸びをめる。そして、出力０５０〜
５７と０８０〜８２とにより、表示部５５に強さ、伸び
を表示する。
（表示部５５にドツトマトリックスの液晶表示ユニット
を用いると例えば「ツヨサ８０グラム、ノビ５０チデス
。」と表示できる。） でリミットスイッチ３４がＯＮであれば表示部５５に「
エラー」を表示する０（リミノトスイ・ンチ３４のＯＮ
は、Ｉ５のＬにより検知する。）そして、モーター１０
とソレノイド＋９’、２４とをＯＦＦする。次にモータ
ーｌＯを逆転させる。これは、リミットスイッチ３Ｉの
ＯＮを検出するまで続き、リミットスイッチ８１のＯＮ
を検知してモーター１０をＯＦＦする。
を用いると例えば「ツヨサ８０グラム、ノビ５０チデス
。」と表示できる。） でリミットスイッチ３４がＯＮであれば表示部５５に「
エラー」を表示する０（リミノトスイ・ンチ３４のＯＮ
は、Ｉ５のＬにより検知する。）そして、モーター１０
とソレノイド＋９’、２４とをＯＦＦする。次にモータ
ーｌＯを逆転させる。これは、リミットスイッチ３Ｉの
ＯＮを検出するまで続き、リミットスイッチ８１のＯＮ
を検知してモーター１０をＯＦＦする。
このようにして引張試験は適宜繰り返えされる。
〈発明の効果〉
本発明の引張試験装置は上記のような構成であるため、
使用者の操作が簡単で正確な測定ができる鬼のである。
使用者の操作が簡単で正確な測定ができる鬼のである。
第１図は本発明の引張試験装置の概要を示す平面図、第
２図は第１図の正面図、第３図は第２図の支軸と他の構
成部品との関係図、第４図は第２図の回転円板とホトイ
ンタラプタの関係を示す要部拡大斜視図、第５図は本発
明の引張試験装置の電子制御回路の要部ブロック図、第
６図は第５図のコントローラの基本構成と外部回路との
関係図、第７図は被検体の強さとホールＩＣの出力の関
係図、第８図は被検体の伸びとカウンター値の関係図、
第９図は本発明の引張試験装置の動作を示すフローチャ
ートである。 図面中、２５はホールＩＣ１２７は磁石を示す。
２図は第１図の正面図、第３図は第２図の支軸と他の構
成部品との関係図、第４図は第２図の回転円板とホトイ
ンタラプタの関係を示す要部拡大斜視図、第５図は本発
明の引張試験装置の電子制御回路の要部ブロック図、第
６図は第５図のコントローラの基本構成と外部回路との
関係図、第７図は被検体の強さとホールＩＣの出力の関
係図、第８図は被検体の伸びとカウンター値の関係図、
第９図は本発明の引張試験装置の動作を示すフローチャ
ートである。 図面中、２５はホールＩＣ１２７は磁石を示す。
Claims (1)
- １ 被検体の一方を第１固定具に該被検体の他方を第２
固定具にそれぞれ固定し、第１固定具と第２固定具との
間で該被検体を引張る引張試験装置において、第１固定
具にかかる荷重を変位に変換する手段と、該変位を磁電
変換素子と磁石とにより電気出力に変換し、該出力を強
さに変換する手段とを具備したことを特徴とする引張試
験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17149183A JPS6063444A (ja) | 1983-09-16 | 1983-09-16 | 引張試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17149183A JPS6063444A (ja) | 1983-09-16 | 1983-09-16 | 引張試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6063444A true JPS6063444A (ja) | 1985-04-11 |
Family
ID=15924075
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17149183A Pending JPS6063444A (ja) | 1983-09-16 | 1983-09-16 | 引張試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6063444A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61174655U (ja) * | 1985-04-19 | 1986-10-30 | ||
| JPH0272953U (ja) * | 1988-11-25 | 1990-06-04 | ||
| EP1722190A1 (en) * | 2005-05-12 | 2006-11-15 | M.D. MICRO DETECTORS S.p.A. | Method for measuring the length variation of a spring, and spring with associated sensor |
| US7411386B2 (en) | 2006-07-05 | 2008-08-12 | M.D. Micro Detectors S.P.A. | Method for measuring the length variation of a spring, and spring with associated sensor |
-
1983
- 1983-09-16 JP JP17149183A patent/JPS6063444A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61174655U (ja) * | 1985-04-19 | 1986-10-30 | ||
| JPH0272953U (ja) * | 1988-11-25 | 1990-06-04 | ||
| EP1722190A1 (en) * | 2005-05-12 | 2006-11-15 | M.D. MICRO DETECTORS S.p.A. | Method for measuring the length variation of a spring, and spring with associated sensor |
| US7411386B2 (en) | 2006-07-05 | 2008-08-12 | M.D. Micro Detectors S.P.A. | Method for measuring the length variation of a spring, and spring with associated sensor |
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