JPS6056239B2 - 線材の連続メツキ方法 - Google Patents
線材の連続メツキ方法Info
- Publication number
- JPS6056239B2 JPS6056239B2 JP12184179A JP12184179A JPS6056239B2 JP S6056239 B2 JPS6056239 B2 JP S6056239B2 JP 12184179 A JP12184179 A JP 12184179A JP 12184179 A JP12184179 A JP 12184179A JP S6056239 B2 JPS6056239 B2 JP S6056239B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plating
- tank
- wire
- plated
- conductor roll
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Electroplating Methods And Accessories (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、線材を走行させて、これに高品質のメッキを
能率よく、連続的に行なうように改良したメッキ方法に
関するものである。
能率よく、連続的に行なうように改良したメッキ方法に
関するものである。
一般に線材の連続メッキには、メッキ液が循環する複数
のメッキ槽を直列に配置し、各槽間にコンダクタ−ロー
ルを設け、走行する被メッキ線材を、該ロールでガイド
して順次メッキ槽内を通過せしめ、メッキ槽内に設けた
アノードとコンダクタ−ロール間に電圧を印加するメッ
キ方法が広く用いられている。
のメッキ槽を直列に配置し、各槽間にコンダクタ−ロー
ルを設け、走行する被メッキ線材を、該ロールでガイド
して順次メッキ槽内を通過せしめ、メッキ槽内に設けた
アノードとコンダクタ−ロール間に電圧を印加するメッ
キ方法が広く用いられている。
しかるにこの方法で厚メッキや高速メッキを行なう場合
には多数のメッキ槽が必要となり、設備やスペースの面
で不経済となるばかりか、メッキ品質の管理や作業性の
面で問題がある。このため設備をコンパクトにした、次
のような方法が提案されている。
には多数のメッキ槽が必要となり、設備やスペースの面
で不経済となるばかりか、メッキ品質の管理や作業性の
面で問題がある。このため設備をコンパクトにした、次
のような方法が提案されている。
(1)被メッキ線材を螺旋状に成形し、これを水平回転
軸で搬送して、旋回進行する被メッキ線材の円弧の下半
分をメッキ液に浸漬して連続メッキする方法。
軸で搬送して、旋回進行する被メッキ線材の円弧の下半
分をメッキ液に浸漬して連続メッキする方法。
・(2)被メッキ線出入用のスリットを両端に有し、メ
ッキ液が循環するメッキ槽の、該スリットと相対して槽
外に、表面周方向に多数の線材ガイド用凹溝を有する直
立円筒状コンダクタ−ロールを設け、被メッキ材を該ロ
ールによりスリットを通してメッキ槽内を上下多段に走
行通過させて連続メッキする方法。
ッキ液が循環するメッキ槽の、該スリットと相対して槽
外に、表面周方向に多数の線材ガイド用凹溝を有する直
立円筒状コンダクタ−ロールを設け、被メッキ材を該ロ
ールによりスリットを通してメッキ槽内を上下多段に走
行通過させて連続メッキする方法。
(3)被メッキ線材出入用のスリットを両端に有し、メ
ッキ液が循環するメッキ槽を1段または上下2段に配置
し、スリットと相対して槽外に、表面周方向に多数の線
材ガイド用凹溝を有する水平円筒状コンダクタ−ロール
を設け、被メッキ線材を該ロールによりスリットを通し
てメッキ槽内を水平に1層または2層の線列として走行
通過させて連続メッキする方法。
ッキ液が循環するメッキ槽を1段または上下2段に配置
し、スリットと相対して槽外に、表面周方向に多数の線
材ガイド用凹溝を有する水平円筒状コンダクタ−ロール
を設け、被メッキ線材を該ロールによりスリットを通し
てメッキ槽内を水平に1層または2層の線列として走行
通過させて連続メッキする方法。
しかしながら前記(1)の方法は被メッキ線材を螺旋状
に成形してメッキするところから剛性のある太線のみに
限られる。
に成形してメッキするところから剛性のある太線のみに
限られる。
また(2)の方法は被メッキ線材が、直立に設けたコン
ダクタ−ロールでメッキ槽内を上下多段に走行通過する
ため、厚メッキや高速メッキのように数1回のターンを
必要とする場合には、メッキ槽のメッキ液ヘッドが高く
なり、支リフトからメッキ液が激しく噴出するようにな
る。このためメッキ液の噴出を抑制する緊密なバッキン
グが必要となるが、長期間安定した緊密度を有するバッ
キングが得られないばかりか、バッキングとの摩擦接触
により新鮮活性なメッキ面に汚染や外傷を与える欠点が
あつた。(3)の方法は被メッキ線材をメッキ槽内で水
平に1層または2層の線列として走行通過させるため、
上記(2)の方法におけるメッキ液ヘッドが高くなるこ
とはないが、被メッキ線材に付着して持出されたメッキ
液成分がコンダクタ−ロール表面に晶出し、これが電気
接触の不安定、スパーク発生等の原因となり、特に厚メ
ッキや高速メッキのように高濃度のメッキ液を加温して
操業する場合には重大な障害となる。このようなメッキ
液成分の晶出を防止するためにコンダクタ−ロールの表
面に清水をかける方法が最近提案されている。
ダクタ−ロールでメッキ槽内を上下多段に走行通過する
ため、厚メッキや高速メッキのように数1回のターンを
必要とする場合には、メッキ槽のメッキ液ヘッドが高く
なり、支リフトからメッキ液が激しく噴出するようにな
る。このためメッキ液の噴出を抑制する緊密なバッキン
グが必要となるが、長期間安定した緊密度を有するバッ
キングが得られないばかりか、バッキングとの摩擦接触
により新鮮活性なメッキ面に汚染や外傷を与える欠点が
あつた。(3)の方法は被メッキ線材をメッキ槽内で水
平に1層または2層の線列として走行通過させるため、
上記(2)の方法におけるメッキ液ヘッドが高くなるこ
とはないが、被メッキ線材に付着して持出されたメッキ
液成分がコンダクタ−ロール表面に晶出し、これが電気
接触の不安定、スパーク発生等の原因となり、特に厚メ
ッキや高速メッキのように高濃度のメッキ液を加温して
操業する場合には重大な障害となる。このようなメッキ
液成分の晶出を防止するためにコンダクタ−ロールの表
面に清水をかける方法が最近提案されている。
しかしながらコンダクタ−ロールに清水をかけることは
メッキ液成分を含む多量の廃水を生じることになり、有
価成分の口.スと共に廃水処理に多大のコストを要する
。しかもメッキ表面に特に新鮮活性であるため、清水中
の溶存酸素により酸化し、メッキ層間の剥離や膨れの原
因となる。本発明は、かかる点に鑑み種々研究を行なつ
た−結果、上記従来の問題点を解消し、高品質で且つ能
率の優れた線材の連続メッキ方法を開発したものである
。
メッキ液成分を含む多量の廃水を生じることになり、有
価成分の口.スと共に廃水処理に多大のコストを要する
。しかもメッキ表面に特に新鮮活性であるため、清水中
の溶存酸素により酸化し、メッキ層間の剥離や膨れの原
因となる。本発明は、かかる点に鑑み種々研究を行なつ
た−結果、上記従来の問題点を解消し、高品質で且つ能
率の優れた線材の連続メッキ方法を開発したものである
。
即ち、本発明方法は被メッキ線出入用のスリットを両端
に有し、メッキ液が循環するメッキ槽の該スリットと相
対して槽外に、表面周方向に被メッキ線材ガイド用凹溝
を少なくとも1条以上形成した水平円筒状コンダクタ−
ロールを回転自在に設け、スリットから流出するメッキ
液を槽外に設けた受皿により捕集してメッキ槽に環流せ
しめ、被メッキ線材を前記ロールでガイドしてスリット
を通し、メッキ槽内を少なくとも1回以上走行通過せし
め、槽内に設けたアノードと前記コンダク”ターロール
間に電圧を印加する線材の連続メッキ方法において、前
記コンダクタ−ロールの下方に、メッキ槽の受皿と隔離
して受槽を配置し、この受槽に入れられたメッキ液に、
該コンダクタ−ロールの少なくとも下部を浸漬させて、
コンダクタ−ロールの表面をメッキ液で濡れた状態に保
持することを特徴とするものである。
に有し、メッキ液が循環するメッキ槽の該スリットと相
対して槽外に、表面周方向に被メッキ線材ガイド用凹溝
を少なくとも1条以上形成した水平円筒状コンダクタ−
ロールを回転自在に設け、スリットから流出するメッキ
液を槽外に設けた受皿により捕集してメッキ槽に環流せ
しめ、被メッキ線材を前記ロールでガイドしてスリット
を通し、メッキ槽内を少なくとも1回以上走行通過せし
め、槽内に設けたアノードと前記コンダク”ターロール
間に電圧を印加する線材の連続メッキ方法において、前
記コンダクタ−ロールの下方に、メッキ槽の受皿と隔離
して受槽を配置し、この受槽に入れられたメッキ液に、
該コンダクタ−ロールの少なくとも下部を浸漬させて、
コンダクタ−ロールの表面をメッキ液で濡れた状態に保
持することを特徴とするものである。
以下、本発明を図面に基づいて詳細に説明する。
第1図は本発明メッキ方法に用いる装置の1例を示す側
断面図、第2図は同平面図であり、給液および給電系統
は省略してある。
断面図、第2図は同平面図であり、給液および給電系統
は省略してある。
図においてaは被メッキ線材1はメッキ液2が循環する
メッキ槽、3は該メッキ槽1の両端に夫々形成した複数
個のスリット、4は該スリット3と相対して、メッキ槽
1の両側に回転自在に設けた水平円筒状コンダクタ−ロ
ール、5は該コンダクタ−ロール4の表面周方向に形成
した被メッキ線材ガイド用凹溝を夫々示す。更に前記メ
ッキ槽1の両端槽外には受皿6が設けられ、スリット3
から流出するメッキ液2を捕集し、図示していない貯液
槽を介して、または直接にメッキ槽1に環流するように
なつている。また前記コンダクタ−ロール4の下方には
、前記受皿6と隔離して受槽7を配置し、この受槽7に
入れられたメッキ液2に該コンダクタ−ロール4の少な
くとも下部が浸漬するようになつている。この受槽7内
に供給するメッキ液2は、メッキ槽1内のメッキ液2と
同一のもので良いが、電気的に導通しないように、液抵
抗を利用して、電流バスである配管を充分に長くとるこ
とが必要である。又図示していないが、被メッキ線材a
の出入する部分にはスリットを設け且つ受皿を設けるこ
とはメッキ槽1の場合と同様である。また前記コンダク
タ−ロール4の表面周方向に形成した被メッキ線材ガイ
ド用凹溝5の深さは、第4図に示すように被メッキ線材
aの直径の114以上とし、且つその底面を同直径の0
.55〜1@の曲率半径からなる凹曲面に形成されてい
る。なお図において8はメッキ槽1内に設けられたアノ
ード、9は被メッキ線材aの供給用スプール、10は同
巻取用スプール、11は脱脂酸洗等の前処理槽、12は
水洗乾燥等の後処理槽を示す。次に上記構造の装置を用
いて被メッキ線材aをメッキする方法について説明する
。
メッキ槽、3は該メッキ槽1の両端に夫々形成した複数
個のスリット、4は該スリット3と相対して、メッキ槽
1の両側に回転自在に設けた水平円筒状コンダクタ−ロ
ール、5は該コンダクタ−ロール4の表面周方向に形成
した被メッキ線材ガイド用凹溝を夫々示す。更に前記メ
ッキ槽1の両端槽外には受皿6が設けられ、スリット3
から流出するメッキ液2を捕集し、図示していない貯液
槽を介して、または直接にメッキ槽1に環流するように
なつている。また前記コンダクタ−ロール4の下方には
、前記受皿6と隔離して受槽7を配置し、この受槽7に
入れられたメッキ液2に該コンダクタ−ロール4の少な
くとも下部が浸漬するようになつている。この受槽7内
に供給するメッキ液2は、メッキ槽1内のメッキ液2と
同一のもので良いが、電気的に導通しないように、液抵
抗を利用して、電流バスである配管を充分に長くとるこ
とが必要である。又図示していないが、被メッキ線材a
の出入する部分にはスリットを設け且つ受皿を設けるこ
とはメッキ槽1の場合と同様である。また前記コンダク
タ−ロール4の表面周方向に形成した被メッキ線材ガイ
ド用凹溝5の深さは、第4図に示すように被メッキ線材
aの直径の114以上とし、且つその底面を同直径の0
.55〜1@の曲率半径からなる凹曲面に形成されてい
る。なお図において8はメッキ槽1内に設けられたアノ
ード、9は被メッキ線材aの供給用スプール、10は同
巻取用スプール、11は脱脂酸洗等の前処理槽、12は
水洗乾燥等の後処理槽を示す。次に上記構造の装置を用
いて被メッキ線材aをメッキする方法について説明する
。
供給用スプール9から繰出された被メッキ線材aは、脱
脂、酸洗等の処理槽11を経て、一方のコンダクタ−ロ
ール4のガイド用凹溝5によりガイドされて、スリット
3からメッキ槽1に入る。
脂、酸洗等の処理槽11を経て、一方のコンダクタ−ロ
ール4のガイド用凹溝5によりガイドされて、スリット
3からメッキ槽1に入る。
次いで被メッキ線材aは、メッキ槽1の他方のスリット
3から出て、コンダクタ−ロール4のガイド用凹溝5に
ガイドされて反転し、メッキ槽1内を上下2層の線列と
して複数回、回転走行せしめ、メッキ槽1内に設けたア
ノード8とコンダクタ−ロール4間に電圧を印加して走
行する被メッキ線材aに連続的にメッキを行なつた後、
後処理槽12を経て水洗、乾燥を行ない、しかる後、巻
取用スプール10に連続的に巻取られるものである。な
お被メッキ線材aの走行にあたつては、被メッキ線材a
の速度とコンダクタ−ロール4の回転速度とを同調させ
る必要があり、これが同調しないときは両者間にスリッ
プを生じて被メッキ線材aのメッキ面が変形して、メッ
キ析出を不連続とし、はなはだしい時にはメッキ面に外
傷を起し、メッキ欠陥となる。
3から出て、コンダクタ−ロール4のガイド用凹溝5に
ガイドされて反転し、メッキ槽1内を上下2層の線列と
して複数回、回転走行せしめ、メッキ槽1内に設けたア
ノード8とコンダクタ−ロール4間に電圧を印加して走
行する被メッキ線材aに連続的にメッキを行なつた後、
後処理槽12を経て水洗、乾燥を行ない、しかる後、巻
取用スプール10に連続的に巻取られるものである。な
お被メッキ線材aの走行にあたつては、被メッキ線材a
の速度とコンダクタ−ロール4の回転速度とを同調させ
る必要があり、これが同調しないときは両者間にスリッ
プを生じて被メッキ線材aのメッキ面が変形して、メッ
キ析出を不連続とし、はなはだしい時にはメッキ面に外
傷を起し、メッキ欠陥となる。
前記コンダクタ−ロール4の下方に設けた受槽7にはメ
ッキ槽1または図示しない貯液槽からポンプ等により、
メッキ液2が供給され、このメッキ液2にコンダクタ−
ロール4の下部が浸漬するようになつている。
ッキ槽1または図示しない貯液槽からポンプ等により、
メッキ液2が供給され、このメッキ液2にコンダクタ−
ロール4の下部が浸漬するようになつている。
従つてコンダクタ−ロール4のガイド用凹溝5にガイド
された被メッキ線材aは、コンダクタ−ロール4の回転
に伴つて受槽7内のメッキ液2に浸漬し表面が洗浄、湿
潤され、表面の酸化を防止することができる。またコン
ダクタ−ロール4の表面は、常時メッキ液2により濡れ
た状態にあるのでロール表面へのメッキ液成分の晶出や
沈着物の付着を防止できると共に、万一付着してもメッ
キ液2により溶解除去されるので、多数回の繰返しメッ
キや、濃厚なメッキ液2を用いる高速、厚メッキにおい
ても晶出物によるメッキ欠陥の発生を防止して良好なメ
ッキ面が得られる。更に本発明においては、アノード8
を設けたメッキ槽1から溢出して受皿6に流入したメッ
キ液2と、受槽7内のメッキ液2とは隔離して設けられ
、電気的に絶縁されているので、被メッキ線材aがメッ
キ液2で濡れた状態にあつても、被メツ“キ線材aをア
ノード、コンダクタ−ロール4ごカソードとする電解系
が形成されず、コンダクタ−ロール4部分での通電によ
るメッキ析出を防止することができる。
された被メッキ線材aは、コンダクタ−ロール4の回転
に伴つて受槽7内のメッキ液2に浸漬し表面が洗浄、湿
潤され、表面の酸化を防止することができる。またコン
ダクタ−ロール4の表面は、常時メッキ液2により濡れ
た状態にあるのでロール表面へのメッキ液成分の晶出や
沈着物の付着を防止できると共に、万一付着してもメッ
キ液2により溶解除去されるので、多数回の繰返しメッ
キや、濃厚なメッキ液2を用いる高速、厚メッキにおい
ても晶出物によるメッキ欠陥の発生を防止して良好なメ
ッキ面が得られる。更に本発明においては、アノード8
を設けたメッキ槽1から溢出して受皿6に流入したメッ
キ液2と、受槽7内のメッキ液2とは隔離して設けられ
、電気的に絶縁されているので、被メッキ線材aがメッ
キ液2で濡れた状態にあつても、被メツ“キ線材aをア
ノード、コンダクタ−ロール4ごカソードとする電解系
が形成されず、コンダクタ−ロール4部分での通電によ
るメッキ析出を防止することができる。
また受皿6に溢出したメッキ液2を、受槽7に供給して
利用する場合には、受皿6と、受槽7とを連結する配管
を充分長くとつて液抵抗による絶縁状態が保持されてい
る。
利用する場合には、受皿6と、受槽7とを連結する配管
を充分長くとつて液抵抗による絶縁状態が保持されてい
る。
しかしながら厚メッキあるいか高速メッキのようにコン
ダクタ−ロール4から被メッキ線材aに大電流を給電す
ると、配管系を通して電流が流れ、コンダクタ−ロール
4の表面にメッキを生ずる虞れがある。特に第5図に示
すように従来のガイド用凹溝5aは、被メッキ線材aと
線接触となるため、集中抵抗あるいは接触抵抗による接
触部での電圧降下が大きくなり、これがメッキ電析に必
要な電圧値以上に達すると、コンダクタ−ロール4の表
面にメッキを生じる。この析出した金属は、被メッキ線
材aとの接触により機械的に剥離し、これが被メッキ線
材aのメッキ槽内に内包されてメッキ品質上重大な欠陥
となる。これに対し、本発明方法では、第4図に示すよ
うにガイド用凹溝5の底面を被メッキ線材aの直径の0
.55〜W倍の曲率半径からなる凹曲面とすることによ
り、コンダクタ−ロール4と前記線材aの接触を面接触
として、接触状態を改善し、更にガイド用凹溝5の深さ
を前記線材aの直径の114以上とすることにより、前
記線材aを充分に濡らす状態にメッキ液2を保持させ、
メッキ液2を通して通電によるコンダクタ−ロール4の
表面に起るメッキ析出を防止することができる。
ダクタ−ロール4から被メッキ線材aに大電流を給電す
ると、配管系を通して電流が流れ、コンダクタ−ロール
4の表面にメッキを生ずる虞れがある。特に第5図に示
すように従来のガイド用凹溝5aは、被メッキ線材aと
線接触となるため、集中抵抗あるいは接触抵抗による接
触部での電圧降下が大きくなり、これがメッキ電析に必
要な電圧値以上に達すると、コンダクタ−ロール4の表
面にメッキを生じる。この析出した金属は、被メッキ線
材aとの接触により機械的に剥離し、これが被メッキ線
材aのメッキ槽内に内包されてメッキ品質上重大な欠陥
となる。これに対し、本発明方法では、第4図に示すよ
うにガイド用凹溝5の底面を被メッキ線材aの直径の0
.55〜W倍の曲率半径からなる凹曲面とすることによ
り、コンダクタ−ロール4と前記線材aの接触を面接触
として、接触状態を改善し、更にガイド用凹溝5の深さ
を前記線材aの直径の114以上とすることにより、前
記線材aを充分に濡らす状態にメッキ液2を保持させ、
メッキ液2を通して通電によるコンダクタ−ロール4の
表面に起るメッキ析出を防止することができる。
なお本発明においてガイド用凹溝5の形状を前述の如く
規定した理由は、凹曲面の曲率半径が被メッキ線材aの
直径の0.55f8未満の場合にはメッキ厚の変動、線
径のバラツキに対して安定した接触状態が得られず、ま
た10倍を越えると接触面積が小さくなつて集中抵抗が
過大となり、前記の如き不都合を生ずる。
規定した理由は、凹曲面の曲率半径が被メッキ線材aの
直径の0.55f8未満の場合にはメッキ厚の変動、線
径のバラツキに対して安定した接触状態が得られず、ま
た10倍を越えると接触面積が小さくなつて集中抵抗が
過大となり、前記の如き不都合を生ずる。
またガイド用凹溝5の深さが、被メッキ線材aの直径の
11株満では、前記線材aを充分に濡らす状態にスリッ
ト液2を保持することが困難となるばかりか、安定した
ガイドとしての役割を果すことができないからである。
また本発明方法では、水平円筒状コンダクタ−ロール4
を使用しているので、メッキ液ヘッドを低くすることが
でき、被メッキ線材aとスリット3との接触を避けるた
め、スリット3の幅を充分に広く採つても、実用上問題
はない。また第3図は本発明方法に用いる装置の他の例
を示す側断面図で、第1図および第2図と同一の部分は
同一の記号で示す。
11株満では、前記線材aを充分に濡らす状態にスリッ
ト液2を保持することが困難となるばかりか、安定した
ガイドとしての役割を果すことができないからである。
また本発明方法では、水平円筒状コンダクタ−ロール4
を使用しているので、メッキ液ヘッドを低くすることが
でき、被メッキ線材aとスリット3との接触を避けるた
め、スリット3の幅を充分に広く採つても、実用上問題
はない。また第3図は本発明方法に用いる装置の他の例
を示す側断面図で、第1図および第2図と同一の部分は
同一の記号で示す。
図において1a,1bはメッキ液2が循環する上下2段
に配置したメッキ槽で、このメッキ槽1a,1bの両端
側にはスリット3から溢出したメッキ液2を受ける受皿
6が設けられている。
に配置したメッキ槽で、このメッキ槽1a,1bの両端
側にはスリット3から溢出したメッキ液2を受ける受皿
6が設けられている。
更に前記スリット3,3と相対して槽外には、表面周方
向に被メッキ線材aのガイド用凹溝5が形成された水平
コンダクタ−ロール4が回転自在に設けられている。こ
れらコンダクタ−ロール4の下方には、前記メッキ槽1
a,1bの受皿6と隔離して受槽7が配置され、この受
槽7に入れられたメッキ液2に前記コンダクタ−ロール
4の下部が浸漬するようになつている。又図示していな
いが受槽7の被メッキ線材の出入口にはスリットを設け
且つ受け皿を設けることは、第1図、第2図の場合と同
様である。この装置において被メッキ線材aはコンダク
タ−ロール4のガイド用凹溝5にガイドされて、スリッ
トを通り、上下2段のメッキ槽1a,1b内を夫々1層
の線列として走行通過せしめ、各メッキ槽1a,1b内
に設けたアノード8とコンダクタ−ロール4間に電圧を
印加して走行する被メッキ線材aに連続的にメッキを行
なうもので、第1図および第2図に示す方法より、メッ
キ液ヘッドを更に低くすることができる。
向に被メッキ線材aのガイド用凹溝5が形成された水平
コンダクタ−ロール4が回転自在に設けられている。こ
れらコンダクタ−ロール4の下方には、前記メッキ槽1
a,1bの受皿6と隔離して受槽7が配置され、この受
槽7に入れられたメッキ液2に前記コンダクタ−ロール
4の下部が浸漬するようになつている。又図示していな
いが受槽7の被メッキ線材の出入口にはスリットを設け
且つ受け皿を設けることは、第1図、第2図の場合と同
様である。この装置において被メッキ線材aはコンダク
タ−ロール4のガイド用凹溝5にガイドされて、スリッ
トを通り、上下2段のメッキ槽1a,1b内を夫々1層
の線列として走行通過せしめ、各メッキ槽1a,1b内
に設けたアノード8とコンダクタ−ロール4間に電圧を
印加して走行する被メッキ線材aに連続的にメッキを行
なうもので、第1図および第2図に示す方法より、メッ
キ液ヘッドを更に低くすることができる。
次に本発明の実施例について説明する。
第3図に示すメッキ方法により直径3.5T!aの鋼線
を被メッキ線材aとしてラインスピード15Tri./
Minで走行させながら、常法によりアルカリ電解説脂
、水洗、酸洗、水洗、シアン化銅ストライクメッキ、お
よび水洗からなる前処理を施した後、連続的に厚さ10
0μの銅メッキを行なつた。
を被メッキ線材aとしてラインスピード15Tri./
Minで走行させながら、常法によりアルカリ電解説脂
、水洗、酸洗、水洗、シアン化銅ストライクメッキ、お
よび水洗からなる前処理を施した後、連続的に厚さ10
0μの銅メッキを行なつた。
メッキ槽1a,1bの長さは2.5TrL,で、以下2
段に配置し、その両端に幅5mのスリット3が間隔をお
いて形成されている。またこのスリット3から溢出した
メッキ液2を受ける受皿6は幅200顛に形成され、メ
ッキ槽1a,1bと一体構成となつており、受皿6に溢
したメッキ液2は図示しない貯液槽に環流するようにな
つている。またコンダクタ−ロール4は直径350mの
ステンレス製ロールで形成され、その表面周方向に深さ
3Wgf11底面の曲率半径4wnの凹曲面を形成した
ガイド用凹溝5が、軸方向に沿つて20waピッチで5
條設けてある。相対して配置した両コンダクタ−ロール
4間には被メッキ線材aを50ターン巻付けて、上下の
メッキ槽1a,1bを交互に的回通過させた。また前記
コンダクタ−ロール4の下方には受槽7が配置され、こ
の内部に貯液槽に還流するメッキ液2が入れられ、前記
コンダクタ−ロール4の下部約50Tnが浸漬するよう
にメッキ液面が調整されている。メッキ液2には CUsO,−5H20100fI(CU/e)H2SO
45Oy/f 液温 55℃ を用い、電源のマイナス側にコンダクタ−ロール4をプ
ラス側にメッキ槽1a,1b内に配置された銅板からな
るアノード8を夫々接続し、電流密度30A/dイの高
電流を流して連続的にメッキを行なつた。
段に配置し、その両端に幅5mのスリット3が間隔をお
いて形成されている。またこのスリット3から溢出した
メッキ液2を受ける受皿6は幅200顛に形成され、メ
ッキ槽1a,1bと一体構成となつており、受皿6に溢
したメッキ液2は図示しない貯液槽に環流するようにな
つている。またコンダクタ−ロール4は直径350mの
ステンレス製ロールで形成され、その表面周方向に深さ
3Wgf11底面の曲率半径4wnの凹曲面を形成した
ガイド用凹溝5が、軸方向に沿つて20waピッチで5
條設けてある。相対して配置した両コンダクタ−ロール
4間には被メッキ線材aを50ターン巻付けて、上下の
メッキ槽1a,1bを交互に的回通過させた。また前記
コンダクタ−ロール4の下方には受槽7が配置され、こ
の内部に貯液槽に還流するメッキ液2が入れられ、前記
コンダクタ−ロール4の下部約50Tnが浸漬するよう
にメッキ液面が調整されている。メッキ液2には CUsO,−5H20100fI(CU/e)H2SO
45Oy/f 液温 55℃ を用い、電源のマイナス側にコンダクタ−ロール4をプ
ラス側にメッキ槽1a,1b内に配置された銅板からな
るアノード8を夫々接続し、電流密度30A/dイの高
電流を流して連続的にメッキを行なつた。
その結果、コンダクタ−ロール4の表面および、これに
巻付けられた鋼線は充分に濡れた状態を保ち、また該ロ
ール4の表面にはメ゛ツキ液成分である銅の晶出は全く
認められず良好な銅メッキ鋼線が得られた。
巻付けられた鋼線は充分に濡れた状態を保ち、また該ロ
ール4の表面にはメ゛ツキ液成分である銅の晶出は全く
認められず良好な銅メッキ鋼線が得られた。
なお本発明は鋼線にメッキする場合に限らず、ニッケル
、銅、アルミニウムなどの線材に、銅、スズ、ニッケル
、亜鉛、銀、金などをメッキする場合にも広く適用する
ことができる。
、銅、アルミニウムなどの線材に、銅、スズ、ニッケル
、亜鉛、銀、金などをメッキする場合にも広く適用する
ことができる。
更に本発明”は、上記の如く2個または4個のコンダク
タ−ロール4を使用する場合に限らず、6個以上使用し
ても良く、またメッキライン中に2ケ所以上のメッキ装
置を配置した構造のものでも良い。以上説明した如く、
本発明に係る線材の連続メツキ方法によれば、コンダク
タ−ロールの表面にメッキ液成分の晶出やメッキ層を形
成せず、高品質のメッキを高能率で行うことができる上
、各種メツキ工業における有毒廃水を著しく減少でき、
環境保全、廃水処理の点からも有利であるなど顕著な効
果を奏するものである。
タ−ロール4を使用する場合に限らず、6個以上使用し
ても良く、またメッキライン中に2ケ所以上のメッキ装
置を配置した構造のものでも良い。以上説明した如く、
本発明に係る線材の連続メツキ方法によれば、コンダク
タ−ロールの表面にメッキ液成分の晶出やメッキ層を形
成せず、高品質のメッキを高能率で行うことができる上
、各種メツキ工業における有毒廃水を著しく減少でき、
環境保全、廃水処理の点からも有利であるなど顕著な効
果を奏するものである。
第1図は本発明メッキ方法に用いる装置の1例を示す側
断面図、第2図は同平面図、第3図は本発明メッキ方法
に用いる装置の他の例を示す側断面図、第4図は本発明
に係るコンダクタ−ロールの表面周方向に形成したガイ
ド用凹溝を拡大して示す断面図、第5図は従来のガイド
用凹溝を拡大して示す断面図である。 a・・・・・・被メッキ線材、1,1a,1b・・・・
・・メッキ槽、2・・・・・・メッキ液、3・・・・・
スリット、4・・・コンダクタ−ロール、5,5a・・
・・・・ガイド用凹溝、6・・・・・・受皿、7・・・
・・・受槽、8・・・・・アノード、9・・・・・・供
給用スプール、10・・・・・巻取用スプール、11・
・・・・・前処理槽、12・・・・・・後処理槽。
断面図、第2図は同平面図、第3図は本発明メッキ方法
に用いる装置の他の例を示す側断面図、第4図は本発明
に係るコンダクタ−ロールの表面周方向に形成したガイ
ド用凹溝を拡大して示す断面図、第5図は従来のガイド
用凹溝を拡大して示す断面図である。 a・・・・・・被メッキ線材、1,1a,1b・・・・
・・メッキ槽、2・・・・・・メッキ液、3・・・・・
スリット、4・・・コンダクタ−ロール、5,5a・・
・・・・ガイド用凹溝、6・・・・・・受皿、7・・・
・・・受槽、8・・・・・アノード、9・・・・・・供
給用スプール、10・・・・・巻取用スプール、11・
・・・・・前処理槽、12・・・・・・後処理槽。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 被メッキ線出入用のスリットを両端に有し、メッキ
液が循環するメッキ槽の該スリットと相対して槽外に表
面周方向に被メッキ線材ガイド用凹溝を少なくとも1条
以上形成した水平円筒状コンダクターロールを回転自在
に設け、スリットから流出するメッキ液を槽外に設けた
受皿により捕集してメッキ槽に環流せしめ、被メッキ線
材を前記ロールでガイドしてスリットを通し、メッキ槽
内を少なくとも1回以上走行通過せしめ、槽内に設けた
アノードと前記コンダクターロール間に電圧を印加する
線材の連続メッキ方法において、前記コンダクターロー
ルの下方に、メッキ槽の受皿と隔離して、受槽を配置し
、この受槽に入れられたメッキ液に該コンダクターロー
ルの少なくとも下部を浸漬させて、コンダクターロール
の表面をメッキ液で濡れた状態に保持することを特徴と
する線材の連続メッキ方法。 2 コンダクターロールの表面周方向に設けた被メッキ
線材ガイド用凹溝の深さを被メッキ線材の直径の1/4
以上とし、且つその底面を同直径の0.55〜10倍の
曲率半径からなる凹曲面に形成したことを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の線材の連続メッキ方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12184179A JPS6056239B2 (ja) | 1979-09-21 | 1979-09-21 | 線材の連続メツキ方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12184179A JPS6056239B2 (ja) | 1979-09-21 | 1979-09-21 | 線材の連続メツキ方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5647593A JPS5647593A (en) | 1981-04-30 |
JPS6056239B2 true JPS6056239B2 (ja) | 1985-12-09 |
Family
ID=14821250
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12184179A Expired JPS6056239B2 (ja) | 1979-09-21 | 1979-09-21 | 線材の連続メツキ方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6056239B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62146281U (ja) * | 1986-03-04 | 1987-09-16 |
-
1979
- 1979-09-21 JP JP12184179A patent/JPS6056239B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5647593A (en) | 1981-04-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4568431A (en) | Process for producing electroplated and/or treated metal foil | |
TWI336358B (en) | Device and method for electrolytically treating electrically insulated structures | |
US3503856A (en) | Process for controlling electrodeposition | |
US4549950A (en) | Systems for producing electroplated and/or treated metal foil | |
US3957452A (en) | Procedure for copper plating aluminium wire and product thereof | |
JPS629679B2 (ja) | ||
JPS58100695A (ja) | 電気メツキのための方法及び装置 | |
JPH03229889A (ja) | 高速電解法を用いての導電性基体の連続被覆方法とその装置 | |
US20050000826A1 (en) | Process control methods of electropolishing for metal substrate preparation in producing YBCO coated conductors | |
JPS6014840B2 (ja) | 鉄を主体とした針金の処理方法 | |
US1917657A (en) | Galvanizing process and apparatus | |
US3267017A (en) | Apparatus for producing magnetic recording materials | |
JPS6056239B2 (ja) | 線材の連続メツキ方法 | |
JP2659911B2 (ja) | 金属箔の製造方法 | |
US4532014A (en) | Laser alignment system | |
JP2659910B2 (ja) | カソード体表面への陽極酸化皮膜形成装置 | |
US4552627A (en) | Preparation for improving the adhesion properties of metal foils | |
EP0181430A1 (en) | Systems for producing electroplated and/or treated metal foil | |
US1322494A (en) | Electrolytic method | |
US3109783A (en) | Electrolytic plating | |
JP2004035985A (ja) | 金属箔の表面メッキ装置 | |
KR100958202B1 (ko) | 금속 테이프의 전해 연마를 위한 장치 및 방법 | |
JPS56298A (en) | Plating method | |
US2823180A (en) | Method and means for coating wires | |
JPH0351831B2 (ja) |