JPS6055245A - 粒度分布測定装置 - Google Patents

粒度分布測定装置

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JPS6055245A
JPS6055245A JP16392983A JP16392983A JPS6055245A JP S6055245 A JPS6055245 A JP S6055245A JP 16392983 A JP16392983 A JP 16392983A JP 16392983 A JP16392983 A JP 16392983A JP S6055245 A JPS6055245 A JP S6055245A
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particle
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particle size
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竹内 和
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林田 和弘
Shohei Ishida
石田 昇平
Shozo Yano
省三 矢野
Tetsuo Nishimura
哲夫 西村
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Shimazu Seisakusho KK
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/04Investigating sedimentation of particle suspensions
    • G01N15/042Investigating sedimentation of particle suspensions by centrifuging and investigating centrifugates

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は媒溶液中に均一に分散させた供試粒子を遠心力
下で上昇させ、ある上昇距離のところで粒子濃度を検出
し、粒子径に関する上昇速度の相違を利用して供試粒子
の粒度分布をめる装置に関する。
一般に、媒溶液中に媒溶液より密度の小さい粒子を均一
に分散させてこれに遠心力を付与すると粒子は遠心力方
向と反対方向に上昇し、その上昇速度Vは回転中心から
粒子の存在点までの距離をR3回転角速度をω1粒子密
度をPp、媒溶液密度を/′工2粒子径をDp、媒溶液
粘度をηとすると、 18η で表わされる。この式から明らかなように粒子径I)p
が大きい程粒子は速く上昇する。様々な粒子からなる供
試試料を媒溶液中に均一に分散させて遠心力場にて上昇
させると各粒子は(11式に従って粒子径に応じた速度
により上昇し、ある一定の浮上距離のところでこの媒溶
液中の濃度を時系列的に測定して、その各測定点に対応
する時間軸上の時間t、すなわち遠心力付与開始時から
各測定時までの時間tを測定し、fi1式を変形して距
l1ltRで積分して得られる t = (1,05η/N’ (?b −Pp> ) 
・log (R1/R2) ・I/Dp2−(2)ただ
しN;単位時間(1秒)当り回転数R1;回転中心と媒
溶液容器底面との距離R2i回転中心と測定位置との距
離 によって各測定点に対応する時間軸上の時間tを粒子径
])pに換算することによって、濃度測定位置を上昇し
終えたと考えられる各粒子径とそれに対応する媒溶液濃
度がめられたことになり、これらによって粒度分布を算
出することができる。
上述の方法による粒度分布測定は、従来の沈降式粒度分
布測定装置では測定できなかった媒溶液より密度の小さ
い粒子の測定に応用されるものである。遠心力場に於い
ては、上述した如く粒子は遠7Gl力の働く方向と反対
方向に上昇するため、第1図に示す如く粒子が回転中心
に近づくに従って回転接線方向と半径方向の粒子間距離
が縮小し、媒溶液単位体積当りの粒子数すなわち濃度は
増大して検出される。
以上のことをよりわかりやすく説明する為に、ある一種
類の粒子のみからなる供試試料を考えると、重力場に於
いては第2図に示す如く、最初媒溶液中の粒子は均一な
状態に撹拌されているので、濃度測定位置に存在してい
る粒子が上昇しても同時にその下部から濃度測定位置に
粒子が補給されてその位置に於ける濃度は変化せず、媒
溶液容器の底面すなわち最下部に存在していたが粒子が
濃度測定位置を上昇通過して始めて濃度変化が検出され
る。遠心力場に於いては、第3図に示す如く上述の粒子
間距離縮小−よって徐々に濃度が増大、その後減少して
検出される。以上のことは多種類の粒度の粒子からなる
試料についても同様であり、遠心力場に於いては、濃度
変化はある粒度を持つ粒子が濃度測定位置を上昇通過し
終えたことによるものと粒子間距離縮小によるものとを
含み、従ってこれによって精度分布を算出することは集
中による誤差を含んでいる。
本発明は上記に鑑みなされたものであって、遠心力場に
於ける粒子集中による誤差を自動的に補正してより正し
い粒度分布をめ得る粒度分布測定装置の提供を目的とす
る。
以下、本発明実施例を図面に基づい゛ζ説明する。
第4図は本発明実施例の構成を示すブロック図である。
装置は、媒溶液中に均一に撹拌され懸濁液の状態にされ
た試料を密封する容器lと、これを装着する回転円ff
12、その回転円盤2を回転駆動する遠心器モータ3、
回転中心から一定の距離に設けられ回転中の懸濁液の濃
度を光透過法により検出する光源4とその光をスリット
6を介して受光する受光素子5および回転中の容器1が
その光源4と受光素子5に対して所定の位置にきたとき
のみ受光素子5の出力を抽出する測定位置検出装置7と
から成る濃度検出装置、受光素子5の出力を増巾する増
巾器8およびそのアナログ量をデジタル量に変換するA
−D変換器9、試料に遠心力付与してからの時間を計測
するタイマ10、計測プログラムや遠心力付与後の時間
むと粒子径Dpに係る上述の関数式(2)および後述す
る遠心力場に於ける粒子拡散による誤差を補正する為の
補正式を記憶するプログラム記憶装置11、計測プログ
ラムの実行や上記関数式および上記補正式の演算を行う
演算制御装置12、およびそれに付属する入出力ボート
13,14、あらかじめ投入される測定条件と上記関数
式(2)および補正式により算出された値を逐次記憶す
るデータ記憶装置15.測定条件や測定開始命令等を演
算制御装置12に入力するためのキーボード16、演算
制御装置12によって算出された補正後の濃度に基づ(
粒度分布等を表示する表示器17およびプリンタ18等
から成っている。
以上の様に構成された本発明実施例の作用を以下に説明
すると、粒度分布を測定しようとする試料を媒溶液中に
均一に分散する様撹拌して容器1に封入して回転円盤2
に装着する。キーボード16によって測定開始命令を演
算制御装置12に入力すると、あらかしめプログラム記
憶装置11に記憶させである計測プログラムに従って入
出カポ−1−14を経て遠心器モータ3を回転させる為
の信号が出て遠心器モータ3は回転し容器1内の粒子は
回転内側に上昇し始める。その上昇速度■は上述の式T
l)に従い、大きな粒子程遠く上昇する。これを第4図
に示す如(回転中心から一定の距離のところで光源4お
よび受光素子5によって光透過法によりその濃度を測定
するとその時間−濃度相関にて表わされる上昇過程曲線
は第5図に示す如くなる。すなわち上昇の初期では粒子
の集中が起り次に速度の速い大きな粒子が第4図の光線
Bより回転中心に向って上昇して行って光線Bの位置に
は存在しなくなり、時間が経過するに従い順次小さな粒
子も光線Bよりも内側に浮上する。このように、上述の
粒子間距離縮小のため検出濃度は一度初期状態より大き
くなりそして減少する。プログラム記憶装置11にあら
かじめ上述の関数式(2)を記憶させておき、測定に先
立ってキーボードでいる容器1を通過する光源4からの
光線Bを受光する受光素子5からの出力信号をあらかじ
めプログラム記憶装置11に記憶させである計測プログ
ラムに従い一定時間毎に増巾器8、A−D変換器9、入
出力ボート13を介して演算制御装置12に取り入れ、
これを逐次データ記憶装置15に記憶し、同時にタイマ
10で計測される上記信号数り入れに対応する遠心力付
与開始後の時間tを上記プログラム記憶装置11に記憶
された関数式(2)によって演算制御装置12にて粒子
径Dpに換算してこれをデータ記憶装置15に記憶する
と、データ記憶袋w15には濃度検出位置を通過し終え
たと考えられる粒子径とそれに対応する試料の濃度信号
が記憶されていることになり、計測プログラムに従って
測定終了後演算制御装置12にて粒子径と粒子量との関
係すなわち粒度分布を算出することができる。しかしな
がら、上述した如く遠心力場に於いては、試料の濃度信
号には、粒子の上昇方向に係る粒子間距離縮小にともな
う粒子集中による誤差が存在しているので、これを以下
に示す如く補正する。プログラム記憶装置11に、上記
の誤差を補正する下記の式を記憶させておく。
COを試料粒子の粒子径の無限に小さいところすなわち
Dp=oのときのオーバーサイズ濃度、C1゜C2−C
2nを遠心基に於ける集中を補正した後のオーバーサイ
ズ濃度、r l + ’ 2−’−” 2 nを検出装
置から与えられた集中を補正する前の吸光度に係る値、
添字1−2 nを粒子区間を表わす数字すなわち数字が
小さいと粒子径が小さいことを表わす数字、kを回転中
心から懸濁液の容器底面までの距離と回転中心から濃度
検出位置との距離によりて決まる定数とすると、 k C1”CO十 <、 −泳)、、、、−ヒ曙+コし−6
,411: B& (、+ 、、−”?<21.4) 
3(2h−lン 上述の如く粒子径とそれに対応する濃度信号を測定が終
了するまである時間間隔毎にデータ記憶装置15に取り
入れ記憶させ、このときの濃度信号は光源4と受光素子
5とによる光透過法によって得られる信号を増巾器8お
よびA−D変換器にて所定の電気信号に変換された上記
の補正式のrl−・−r2nに当る。測定の終了はその
濃度信号があらかじめ計測プログラムに設定された一定
値以下になった時点として演算制御装置12にて判断さ
れ、濃度信号の取り入れ間隔は同じく計測プログラムに
設定された極く短い時間間隔とする。演算制御装置12
による上記補正式を用いた粒子集中に起因する濃度検出
誤差の補正の仕方は、上記の測定終了時点におけるオー
バーサイズ濃度すなわち上記補正式のCoをCo=1と
する。なぜならば、粒子径の無限に小さいところすなわ
ちDp=Oより試料の全粒子が大きいと考えられる為で
ある。
そして上記濃度信号数り入れ間隔毎の遠心力付与開始時
よりのタイマ10による時間を上述の関数式(2)によ
り粒子径に換算してDPI−・−Dp2 nとし、これ
に対応する時間の濃度検出装置からのデータ記憶装置1
5に記憶された濃度信号r l −’r 2 nを計測
プログラムに従い上記補正式に順次代入して演算制御装
置12にて計算してデータ記憶装置15に逐次記憶して
おく。このCiが遠心力場に於ける粒子の集中を補正し
たDpiよりも大きな粒子の濃度すなわちオーバーサイ
ズ濃度である。
このデータ記憶装置15のCl−C2nを表示器17あ
るいはプリンタ18に出力すると粒度分布が得られるこ
とになる。
上述の本発明実施例の濃度取り入れ間隔は、上述の如く
決めてもよいし、あるいは記憶容量の少ない場合には上
記補正式を行う粒子径をあらかじめ決めておき、関数式
(2)によってその粒子径に相当する沈降時間を計算し
それらの沈降時間になった時の濃度信号のみを記憶して
おいてもよい。
また、上述の実施例において濃度の検出に光を使用した
が、他の電磁波を使用してもよいし、吸光度は透過率で
あってもよい。また、無接触検出でなく、たとえば直接
サンプリング秤量という方法でもよい。
以上説明した様に、本発明によっては遠心力場に於ける
粒子集中にともなう誤差を補正して粒度分布を計算する
為、より正確な粒度分布をめることができ、第6図に従
来装置による粒度分布測定結果と本発明実施例による粒
度分布測定結果をオーバーサイズ濃度(%)で示すグラ
フを例として掲げるが、この供試粒子は15μmから0
μm付近までの粒度範囲をもつ試料であって従来装置に
よれば9μm以上の粒子が見掛は上存在していないもの
が、本発明実施例によると試料の粒度分布の通り15μ
mまでの分布がされているのがよくわかる。
【図面の簡単な説明】
第1図は遠心力場に於ける粒子上昇の作用説明図、第2
図及び第3図は重量場および遠心力場での懸濁液濃度の
特性図、第4図は本発明実施例の構成を示すブロック図
、第5図は上昇過程の特性曲線図、第6図は粒度分布測
定の従来装置と本発明実施例による比較を示すグラフで
ある。 1・・・容器 2一回転円盤 3・−遠心器モータ 4−光源 5・・−受光素子 8−増1J器 9−−−A −D変換器 10−タイマ11−プログラ
ム記憶装置 12−演算制御装置 15−データ記憶装置 16−キーボード 特許出願人 株式会社島津製作所 代理人 弁理士西1)新 第1頁の続き ■発明者西村 哲夫 京都市中京区西ノ京桑原町1番地 株式会社島津製作所
三条工場内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 媒溶液中に均一に分散された供給粒子を封入する容器と
    ;その容器を取り付けて供試粒子に遠心力を与える為の
    遠心器と;供試粒子の上昇過程に於ける粒子濃度を検出
    する検出装置と;その検出値を所定の電気信号に変換す
    る変換器と;遠心力付与開始時点からの時間を計測する
    計時手段と;粒子径に係る上昇速度を上昇時間に換算し
    た関数式と、遠心力場に於ける各粒子上昇軌跡の粒子浮
    上距離に係る回転接線方向および半径方向粒子間距離縮
    小にともなう粒子集中による上記検出装置の検出誤差を
    補正する補正式と、計測プログラムとを記憶するプログ
    ラム記憶装置と;上記計測プログラムの実行と、上記計
    時手段による各経過時間から上記関数式を用いた各粒子
    径の算出と、全粒子浮上後上記補正式を用いて上記検出
    装置の上記検出誤差の補正を実行する演算制御装置と;
    あらかしめ投入される測定条件と、上記関数式を用いて
    算出された各経過時間に関する各粒子径と、上記検出装
    置による各経過時間毎の検出値と、上記補正式を用いて
    算出される補正結果とを逐次記憶するデータ記憶装置と
    を有し、上記検出装置によって得られる供給粒子の媒溶
    液内上昇過程を示す粒子濃度変化曲線に含まれる遠心力
    場に於ける粒子集中による誤差を補正してより正しい粒
    度分布をめ得る粒度分布測定装置。
JP16392983A 1983-09-05 1983-09-05 粒度分布測定装置 Granted JPS6055245A (ja)

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