JPS58111741A - 粒度分布測定装置 - Google Patents

粒度分布測定装置

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JPS58111741A
JPS58111741A JP21470781A JP21470781A JPS58111741A JP S58111741 A JPS58111741 A JP S58111741A JP 21470781 A JP21470781 A JP 21470781A JP 21470781 A JP21470781 A JP 21470781A JP S58111741 A JPS58111741 A JP S58111741A
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particles
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Kazu Takeuchi
竹内 和
Kazuhiro Hayashida
林田 和弘
Shozo Yano
省三 矢野
Shohei Ishida
石田 昇平
Tetsuo Nishimura
哲夫 西村
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Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/04Investigating sedimentation of particle suspensions
    • G01N15/042Investigating sedimentation of particle suspensions by centrifuging and investigating centrifugates

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は媒溶液中に均一に分散させた供試粒子を遠心力
下で沈降させ、ある沈降距離のところで粒子濃度を検出
し、粒子径に関する沈降速度の相違を利用して供試粒子
の粒度分布を求める装置に関する。
一般に、媒溶液中に粒子を均一に分散させてこれに遠心
力を付与すると粒子は遠心力方向に沈降し、その沈降速
度Vは回転中心から粒子の存在点までの距離をk、回転
角速度をω1粒子密度をρP。
媒溶液密度をρ1+8子径をDP、媒溶液粘度をηと(
2) すると、 で表わされる。この式から明らか々ように粒子径Dpが
大きい程粒子は速く沈降する。様々な粒子からなる供試
試料を媒溶液中に均一に分散させて遠心力場にて沈降さ
せると各粒子は(1)式に従って粒子径に応じた速度に
より沈降し、ある一定の沈降距離のところでこの媒溶液
中の濃度を時系列的に測定して、その各測定点に対応す
る時間軸上の時間t1すなわち遠心力付与開始時から各
測定時までの時間【を測定し、(1)式を変形して距離
Rで積分して得られる R1°回転中心と媒溶液面との距離 R2:回転中心と舖1定位置との距離 によって各測定点に対応する時゛門軸上の時間tを粒子
径Dpに換算することによって、濃度測定位置を沈降し
終えたと考えられる各粒子径とそれに対応する媒溶液I
#度が求められたことに々ね1これらによって粒子i分
布を算出することができる。
上述の方法による粒度分布測定は、従来の粒度分布測定
装置に取り入れられ広く利用されている。
しかるに遠心力場に於いては、上述した如く粒子は遠心
力の働く方向に沈降する為、第1図に示す如く粒子が回
転中心から遠ざかるに従って回転接線方向と半径方向の
粒子間距離が拡大し、媒溶液単位体積当りの粒子数す々
わち濃度は減少して検出される。
以上のことをよりわかりやすく説明する為に、ある一種
類の粒子のみから々る供試試料を考えると、重力場に於
いては第2図に示す如く、最初媒浴液中の粒子は均一々
状態に撹拌されているので、濃度測定位置に存在してい
る粒子が沈降しても同時にその上部から濃度測定位置に
粒子が補給されてその位置に於ける濃度は変化せず、媒
溶液の液面すなわち最上部に存在していたが粒子が濃度
側定位I!全沈降通過して始めて# rJL変化が検出
される。遠心力場に於いては、第3図に示す如く上述の
粒子間距離拡大によって徐々に濃度が低下して検出され
る。以上のことは多種類の粒度の粒子からなる試料につ
いても同様であり、遠心力場に於いては、濃度変化はあ
る粒度2を持つ粒子が濃度測定位置を沈降通過し終えた
ことによるものと拡大によるものとを含み、従ってこれ
によって粒度分布を算出することは拡散による誤差を含
んでいる。
本発明はと記に鑑み在されたものであって、遠心力場に
於ける粒子拡散による誤差を自動的に補正してより正し
い粒度分布を求め得る粒度分布測定装置の提供を目的と
する。
以下、本発明実施例を図面に基づいて説明する。
第4図は本発明実施例の構成を示すブロック図である。
装置は、媒溶液中に均一に攪拌され懸濁液の状態にされ
た試料を密封する沈降容器1と、これを装着する回転円
盤2、その回転円盤2を回転駆動する遠心器モータ3、
回転中心から一定の距離に設けられ回転中の懸濁液のび
4度を光透過法により検出する光源4とその光をスリッ
ト6を介して受光する受光素子5および回転中の沈降容
器1がその光源4と受光素子5に対して所定の位置にき
たときのみ受光索子5の出力を抽出する測定位置検出装
#7とから成る濃度検出装置、受光素子5の出力を増巾
する増巾器8およびそのアナログ酸をデジタル量に変換
するA−D変換器9、試料に遠心力付与してからの時間
を計測するタイマ10、計測プログラムや遠心力付与後
の時間tと沈降粒子径DPに係る上述の関数式(2)お
よび後述する遠心力場に於ける粒子拡散による誤差を補
正する為の補正式を記憶するプログラム配憶製画11、
計測プログラムの実行や上記関数式および上記補正式の
演算を行う演算制御装置12、およびそれに付属する入
出力ポート13,14、あらかじめ投入される1ft1
1定条件と上記関数式(2)および補正式によね算出さ
れた値を逐次記憶するデータ記憶装置15、測定粂件や
測定開始命令等を演算制御装置12に入力するだめのキ
ーボード16、演算制御装置12によって算出されだ補
IE後の64度に基つく粒度分布等を表示する表示器1
7およびプリンタ18等から成っている。
以上の様に構成された本発明実施例の作用を以下に説明
すると、粒度分布を測定しようとする試料を媒溶液中に
均一に分散する様攪拌して沈降容器I K封入して回転
円盤2に装着する。キーボード16によって測定開始命
令を演算制(財)装置12に入力すると、あらかじめプ
ログラム記憶装置11に配憶させである計測プログラム
に従って入出力ボート14を経て遠心器モータ6を回転
させる為の信号が出て遠心器モータ3は回転し沈降容器
1内の粒子は回転外側に沈降し始める。その沈降速度V
は上述の式(1)K従い、大きな粒子程遠く沈降する。
これを第4図に示す如く回転中心から一定の距離のとこ
ろで光源4および受光素子5によって光透過法によりそ
の鏝度を測定するとその時間−σ位置相関にて表わされ
る沈降過程曲線は第5図に示す如くなる。すなわち沈降
の初期では速度の速い大きな粒子が0!4図の光1iB
より回転中心から外側に行って光稼ISの位置には存在
しなくなり、時間が経過するに従い順次小さ々粒子も光
@13よりも外側に沈降する為濃度は次第に低下するも
のである。プログラム記憶装置11にあらかじめ上述の
関数式(2)を記憶させておき、測定に先立ってキーボ
ード16によって測定粂件η、N、ρ2.ρlR,,R
,をデータ記憶装N15に記憶させる。回転している沈
降容器1を通過する光源4からの光線Bを受光する受光
素子5からの出力信号をあらかじめプログラム記憶装置
11に記憶させである計?1411プログラムに従い一
定時間毎に増巾器8、A−り変換器9、入出力ポート1
6を介して演算制御装置12に取り入れ、これを琢時デ
ータ記憶装置15に記憶し、同時にタイマ10で計測さ
れる上記信号取り入れrC対応する遠心力付与開始後の
時間【を上記プログラム記憶装置#1t11に記憶され
た関数式(2)によって演算制御装置12にて粒子径I
)Pに換ηしてこれをデータ記憶装置15に記憶すると
、データ配憶裂開□゛15には濃度検出位置を通過し終
えたと考えられる粒子径とそれに対応する試料の濃IW
信号が記憶されていることにカリ、計測プログラムに従
って測定終了後演算制御装置12にて粒子径と粒子量と
の関係すなわち粒度分布を算出することができる。しか
しながら、上述した如く遠心力場に於いては、試料の濃
度信号には、粒子の沈降方向に係る粒子間距離拡大にと
もなう粒子拡散による誤差が存在しているので、これを
以下に示す如く補正する。プログラム記憶装置11に、
上記の誤差を補正する下記の式を記憶させておく。Co
を試料粒子の粒子径の無限に小さいところすなわちDp
=Oのときのオーバサイズ濃度、C,、C,・・・C−
を遠心力場に於ける拡散を補正した後のオーバーサイズ
濃度r、、r、・・・r、nを検出装置から与えられた
拡散を補正する前の吸光度に係る値、添字1・・・2n
を粒子区間を表わす数字す力わち数字が小さいと粒子径
が小さいことを表わす数字、kを回転中心から懸濁液の
液面までの距離と回転中心から濃度検出位置との距離に
よって決まる定数とすると、 上述の如く粒子径とそれに対応する濃度信号を測定が終
了する捷である時間間隔毎にデータ記憶装置15に取り
入れ記憶させ、このときの濃度信号は光臨4と受光素子
5とによる光透過法によって得られる信号を増巾器8お
よびA−D変換器にて所定の電気信号に変換された上記
の補正式のrl・・・r、nに当る。測定の終了はその
濃度信号があらかじめ計測プログラムに設定された一定
値以下[々つだ時点として演算制御装置12にて判断さ
れ、IWii度信号の取り入れ間隔は同じく計測プログ
ラムに設定された極く短い時間間隔とする。演算制御装
置12vCよる上記補正式を用いた粒子拡散に起因する
濃度検出誤差の補正のし方は、上記の測定終了時点にお
けるオーバーサイズ濃度すなわち上記補正式のCOをC
0−1とする。々ぜならば、粒子径の無限に小さいとこ
ろすなわちDp=Qよシ試料の全粒子が大きいと考えら
れる為である。そして上記濃度信号取り入れ間隔、毎の
遠心力付与開始時よシのタイマ10による時間を上述の
関数式(2)により粒子径に換算してDPI・・・・・
・D p t nとし、と(1・1) れに対応する時間の濃度検出装置からのデータ記憶装置
15に記憶された濃度信号r1・・・・・・r、nを計
測プログラムに従い上記補正式に順次代入して演算副詞
)装置12にて計算してデータ記憶装置15に逝次紀憶
しておく。このCiが遠心力場に於ける粒子の拡散を補
正したDp iよりも大きな粒子の濃度すなわちオーバ
ーサイズ濃度である。このデータ記憶装置15のC1・
・・C,nを表示器17あるいはプリンタ18に出力す
ると粒度分布が得られることに々る。
上述の本発明実施例の濃度取り入れ間隔は、上述の如く
決めてもよいし、あるいは記憶g肘の少カい場合には上
記補正式を行う粒子径をあらかじめ決めておき、関数式
(2)Kよってその粒子径に相当する沈降時間を計算し
それらの沈降時間にガつた時の濃度信号のみを記憶して
おいてもよい。
捷だ、上述の実施例において濃度の検出に光を使用した
が、他、、の・電磁波を使用してもよいし、吸光度は透
過率であってもよい。また、無接触検出で々く、たとえ
ば直接サンプリングひよう量とい(12) う方法でもよい。
以上説明した様に、本発明によっては遠心力場に於ける
粒子拡散にとも力う誤差を補正して粒度分布を計算する
為、より正確な粒度分布を求めることができ、第6図に
従来装置による粒度分布測定結果と本発明実施例による
粒度分布測定結果をオーバーサイズ濃度((6)で示す
グラフを例として掲げるが、この供試粒子は4μmより
犬き々粒子が存在し々い試料であって従来装置によれば
4μm以上の粒子が見掛は上存在していたものが、本発
明実施例によると殆んど存在していないように表わされ
ているのがよくわかる。
【図面の簡単な説明】
第1図は遠心力場に於ける粒子沈降の作用説明図、第2
図及び第3図は重力場および遠心力場での懸濁液濃度の
特性図、第4図は本発明実施例の構成を示すブロック図
、第5図は沈降過程の特性曲線図、第6図は粒度分布測
定の従来装置と本発明実施例による比較を示すグラフで
ある。 1・・・・・・沈降容器   2・・・・・・回転円盤
(13) 3・・・・・・遠心器モータ   4・・・・・・光源
5・・・・・・受光素子     8・・・・・・増巾
器9・・・・・・A−D変換器  10・・・・・・タ
イマ11・・・・・・プログラム記憶装置 12・・・・・・演算制御装置 15・・・・・・データ記憶装置 16・・・・・・キーボード 特許出願人 株式会社島津製作所 代理人  弁理士  西  1)  新(14)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 媒Aり液中に均一に分散させた供給粒子を封入する沈降
    容器と;その沈降容器を取り付けて供試粒子に遠心力を
    与える為の遠心器と;供試粒子の沈降通程に於ける粒子
    C震度を検出する検出装置と;その演出匝茫所定の電気
    信号に変換する変換器と;遠心力付与開始時点からの時
    間を計測する計時手段と;粒子径に係る沈降速度を沈降
    時間に換算した関数式と、遠心力場に於ける各粒子沈降
    軌跡の粒子沈降距離に係る回転#線方向および半径方向
    粒子間距離拡大にともなう粒子拡散による上記検出装置
    の検出誤差を補正する補正式と、計測プログラムとを記
    憶するプログラム記憶装置と;上す1計側プログラムの
    実行と、上記計時手段による各経過時間から上記関数式
    を用いた谷粒子径の算出と、全粒子沈呻後−ト記商正式
    を用いて上記イ突出装装置の上記俣出ぬ差の補正全実行
    する閾算制御装(1) 一すク0 置と、あらかじめ投入される測定条件と、上記関数式を
    用いて算出された各経過時間に関する各粒子径と、上記
    検出装置による各経過時間毎の検出値と、上記補正式を
    用いて算出される補正結果とを逐次記憶するデータ記憶
    装置とを有し、上記検出装置によって得られる供給粒子
    の媒溶液内沈降過程を示す沈降曲線に含まれる遠心力場
    に於ける粒子拡散による誤差を補正してより正しい粒度
    分布を求め得る粒度分布測定装置。
JP21470781A 1981-12-25 1981-12-25 粒度分布測定装置 Granted JPS58111741A (ja)

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JPS58111741A true JPS58111741A (ja) 1983-07-02
JPH0363011B2 JPH0363011B2 (ja) 1991-09-27

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4671102A (en) * 1985-06-18 1987-06-09 Shell Oil Company Method and apparatus for determining distribution of fluids

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
ANALYTICAL CHEMISTRY=1951 *

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4671102A (en) * 1985-06-18 1987-06-09 Shell Oil Company Method and apparatus for determining distribution of fluids

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JPH0363011B2 (ja) 1991-09-27

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