JPS605087A - Electroconductive paste composition - Google Patents

Electroconductive paste composition

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JPS605087A
JPS605087A JP11205983A JP11205983A JPS605087A JP S605087 A JPS605087 A JP S605087A JP 11205983 A JP11205983 A JP 11205983A JP 11205983 A JP11205983 A JP 11205983A JP S605087 A JPS605087 A JP S605087A
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JP
Japan
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paste composition
conductive paste
powder
composition according
particles
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Application number
JP11205983A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
昭 佐々木
金男 森
山元 康男
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TDK Corp
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TDK Corp
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Publication date
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Publication of JPS605087A publication Critical patent/JPS605087A/en
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、主として、チップ状磁器コンデンサ等のセラ
ミック電子部品の端部電極形成用として使用される導電
性ペースト組成物に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates primarily to a conductive paste composition used for forming end electrodes of ceramic electronic components such as chip-shaped porcelain capacitors.

従来技術 積層型または内部電極構造型のチップ状磁器コンデンサ
において、外部との接続部分となる端部電極を形成する
場合、従来は、Ag粉末に対して10〜30%のPd粉
末を含有させた導電性ペースト組成物を使用し、Ag−
Pdの焼付は電極として構成するのが一般的であった。
Conventional technology In a chip-shaped ceramic capacitor of a laminated type or an internal electrode structure type, when forming an end electrode that is a connection part with the outside, conventionally, 10 to 30% of Pd powder was contained in Ag powder. Using a conductive paste composition, Ag-
It was common for Pd to be baked into an electrode.

Ag粉末に対してPd粉末を含有させるのは、Pdを主
成分とする内部電極との相性を向上させることと、半田
付は時の半田耐熱性を向上させ、電極半田喰われ現象を
防止するためである。
The reason why Pd powder is contained in Ag powder is to improve compatibility with internal electrodes whose main component is Pd, and to improve solder heat resistance during soldering and prevent the phenomenon of electrode solder eating. It's for a reason.

従来技術の欠点 ところが、Ag−Pd合金における半田耐熱性は、一般
にPd含有量によって大きく左右されるため、半田耐熱
性を高める程にPdの使用量が多くなり、端部電極形成
コストが非常に高価になってしまう欠点があった。しか
も、上述のような手法を用いても、半田耐熱性は不充分
なものであって、Ag−Pd電極層の表面にXl−3n
等の金属層をメッキし、これによって半田耐熱性を向上
させる等の方法を取らなければならなかった。何れにし
ても、従来は、端部電極の半田耐熱性を向上させるに当
って、高価なPdを多量に添加したり、或はメッキ処理
を施す必要があったため、製品コスト高になる欠点は避
けられなかった。
The disadvantage of the conventional technology is that the soldering heat resistance of Ag-Pd alloys is generally greatly influenced by the Pd content, so the higher the soldering heat resistance, the more Pd is used, and the cost of forming the end electrodes becomes extremely high. It had the disadvantage of being expensive. Moreover, even if the above-mentioned method is used, the soldering heat resistance is insufficient, and the surface of the Ag-Pd electrode layer has Xl-3n.
It was necessary to take a method such as plating a metal layer such as the like to improve solder heat resistance. In any case, conventionally, in order to improve the soldering heat resistance of the end electrodes, it was necessary to add a large amount of expensive Pd or to perform plating treatment, which resulted in high product costs. It was inevitable.

更にメッキ法については、確かに、半田耐熱性は向上す
るが、メッキ下地となっているAg−Pd合金の端部電
極が、ポーラスな電極構造となるため、メッキ工程にお
いて、ボアの内部に電解液たるメッキ液が侵入し、コン
デンサとしての重要特性たるQ及びIR特性等を劣化さ
せてしまうという難点があった。
Furthermore, regarding the plating method, it is true that the solder heat resistance is improved, but because the end electrode of the Ag-Pd alloy that is the plating base has a porous electrode structure, electrolysis is applied inside the bore during the plating process. There was a problem in that the dripping plating solution entered the capacitor and deteriorated the Q and IR characteristics, which are important characteristics for a capacitor.

本発明の目的 本発明は上述する従来の欠点を除去し、半田耐熱性に優
れ、しかもメッキ液の侵入による特性劣化等を招くこと
のないメッキ下地用Ag−Pd合金端部電極を、安価に
形成し得る導電性ペースト組成物を提供することを目的
とする。
Purpose of the Invention The present invention eliminates the above-mentioned conventional drawbacks, and provides an inexpensive Ag-Pd alloy end electrode for use as a plating base, which has excellent solder heat resistance and does not cause characteristic deterioration due to penetration of plating solution. It is an object of the present invention to provide a conductive paste composition that can be formed.

本発明の構成 上記目的を達成するため、本発明に係る導電性ペースト
組成物は、Ag微粉末と、Agりんぺん状粉末と、Pd
以外の物質で成る粒子を核としてその表面にPdをコー
ティングしたPdコーティング粉末と、有機質ビヒクル
とを含有することを特徴とする。
Structure of the present invention In order to achieve the above object, a conductive paste composition according to the present invention comprises Ag fine powder, Ag scaly powder, Pd
It is characterized by containing a Pd coating powder whose surface is coated with Pd using particles made of other substances as cores, and an organic vehicle.

即ち、本発明に係る導電性ペースト組成物は、第1図に
示すように、パラジウム(Pd)以外の物質で成る粒子
lを核とし、この核となる粒子lの表面なPdコーティ
ング層2でコーティングしたPdコーティング粉末と、
Ag微粉末と、Agりんぺん状粉末と、Pd粉末とを、
ガラスフリットと共に有機質ビヒクル中に分散させたも
のである。前記Ag成分に対するPdコーティング粉末
の添加量は、0.5重量%乃至30重量%の範囲が適当
である。添加量0.5重量%以下では添加効果が得られ
ず、30重量%以上では実用」二要求される導電度を確
保できなくなるからである。
That is, as shown in FIG. 1, the conductive paste composition according to the present invention has particles l made of a substance other than palladium (Pd) as cores, and a Pd coating layer 2 on the surface of the core particles l. coated Pd coating powder,
Ag fine powder, Ag phosphorous powder, and Pd powder,
It is dispersed in an organic vehicle together with a glass frit. The amount of Pd coating powder added to the Ag component is suitably in the range of 0.5% by weight to 30% by weight. This is because if the amount added is less than 0.5% by weight, the addition effect cannot be obtained, and if it is more than 30% by weight, the conductivity required for practical use cannot be ensured.

前記核となる粒子1は、磁器コンデンサとなる誘電体磁
器と同一の組成のもの、例えば磁器コンデンサとして一
般に用いられているBaTi0+、 TiO2、Alz
Oa 、 Zr0z、5ifi等の金属酸化物、還元再
酸化型の半導体磁器コンデンサを得る場合には半金属酸
化物である原子価制御型の半導体セラミックによって構
成するのが一般的であるが、この他にも、Ni、Cr、
 Co、 AI、Fe、 Pb、 Sn、等の卑金属も
しくは半金属またはこれらの合金、或いはカーボン、導
電性セラミック、窒化物もしくはホウ化物等によって構
成することも可能である。この場合、前記核となる粒子
lは、粒径がlILm以下、理想的には0.5〜0.8
 JLm程度に分級することが望ましい。
The core particles 1 have the same composition as the dielectric ceramic used as the magnetic capacitor, for example, BaTi0+, TiO2, Alz, which are commonly used in magnetic capacitors.
When obtaining a reduction-reoxidation type semiconductor ceramic capacitor made of metal oxides such as Oa, Zr0z, 5ifi, etc., it is common to construct it with a valence-controlled semiconductor ceramic that is a semimetal oxide. Also, Ni, Cr,
It is also possible to use base metals or semimetals such as Co, AI, Fe, Pb, and Sn, or alloys thereof, carbon, conductive ceramics, nitrides, borides, and the like. In this case, the particle l serving as the core has a particle size of lILm or less, ideally 0.5 to 0.8
It is desirable to classify to about JLm.

そして、上述のようにして所定の粒径に分級された粒子
lの表面に前記Pdコーティング層2をコーティングす
ることにより、Pdコーティング粉末を得る。核となる
粒子lに対するPdのコーティング方法としては、金属
無電解法、溶液還元法または気相蒸着法等が適当である
Then, the Pd coating layer 2 is coated on the surface of the particles 1 classified into a predetermined particle size as described above, thereby obtaining a Pd coating powder. As a method for coating the core particles 1 with Pd, a metal electroless method, a solution reduction method, a vapor phase deposition method, etc. are suitable.

前記Ag微粉末及びPd粉末の粒径は、0.i p、m
乃至0.3 μm以内であることが望ましい。ががる粒
径のAg微粉末及びPd粉末を使用すると、有機質ビヒ
クルに対する分散性が良好になるからである。
The particle size of the Ag fine powder and Pd powder is 0. i p,m
It is desirable that the thickness is within a range of 0.3 μm to 0.3 μm. This is because the use of Ag fine powder and Pd powder with a loose particle size improves the dispersibility in the organic vehicle.

また、前記Agりんぺん状粉末の粒径は1 gm乃至4
JLIm以内であることが望ましい。
Further, the particle size of the Ag scaly powder is 1 gm to 4 gm.
It is desirable that it be within JLIm.

更に前記有機質ビヒクルとしては、ロジンを主成分と1
、これと溶剤とを混合したラッカ状のものが適当である
。ロジンを主成分とする有機質ビ、ヒクルは、Ag微粉
末、Agりんぺん状粉末及びPdコーティング粉末の分
散性を一層向上させ、ボアのないち密な電極を形成する
のに優れた作用があるからである。
Furthermore, the organic vehicle may include rosin as a main component and 1
, a lacquer-like mixture of this and a solvent is suitable. The organic vehicle containing rosin as a main component has an excellent effect in further improving the dispersibility of Ag fine powder, Ag scaly powder, and Pd coating powder, and forming a dense electrode without bores. It is.

上述のような組成に成る本発明に係る導電性ペースト組
成物は、従来の導電性ペースト組成物と同様に、ディプ
法、ロールコータ法または筆塗り等の手段によって磁器
等に塗布し焼付けることにより、端部電極を形成する。
The conductive paste composition according to the present invention having the above-mentioned composition can be applied to porcelain or the like by a dip method, a roll coater method, or a brush painting method and baked, in the same way as conventional conductive paste compositions. An end electrode is formed.

この場合、本発明に係る導電性ペースト組成物は、誘電
体等で構成された核となる粒子1の表面に、Pdコーテ
ィング層2をコーティングしたPdコーティング粉末を
含有するから、電極焼付は処理によって形成されたAg
−Pd合金と、半田との相互拡散が、核となる粒子1に
よって阻止され、半田耐熱性が向上し、半田喰われ現象
が防止される。しかも、Pd等の高価な金属粒子の使用
量を極端に減少させることができるから、大幅なコヌト
ダウンを図りつつ、半田耐熱性の優れた端部電極を形成
することができる。
In this case, since the conductive paste composition according to the present invention contains Pd coating powder in which the Pd coating layer 2 is coated on the surface of the core particle 1 made of a dielectric material etc., electrode baking can be prevented by the treatment. Formed Ag
- Mutual diffusion between the Pd alloy and the solder is inhibited by the core particles 1, improving solder heat resistance and preventing solder eating. Furthermore, since the amount of expensive metal particles such as Pd used can be extremely reduced, it is possible to form an end electrode with excellent soldering heat resistance while significantly reducing the number of connections.

更にAgりんぺん状粉末を含有するので、分散性が向上
し、ボアのないち密な電極構造となる。このため、表面
にメッキを施した場合でも、メ・ンキ液の入り込みがな
く、特性劣化のないチ・ンプ状セラミック電子部品が得
られる。
Furthermore, since it contains Ag starchy powder, the dispersibility is improved, resulting in a dense electrode structure without bores. Therefore, even when the surface is plated, a chip-shaped ceramic electronic component can be obtained without the penetration of coating fluid and without deterioration of characteristics.

実施例 核となる粒子lとして誘電体磁器を使用し、その表面に
、Pd:磁器粒子=80:20(重量比)となるように
Pdをコーティングして、Pdコーティング粉末を得た
。Pdのコーティングに当っては、溶液還元法を使用し
た。そして、Ag:Pd=75:25(重量%)の組成
で成る従来の導電性ペースト組成物におけるPdの0.
5〜30重量%を、前記Pdコーティング粉末によって
置換し、これをガラスフリットと共に有機質ビヒクル中
に分散させて導電性ペースト組成物を調製した。このよ
うにして調製された導電性ペースト組成物を、チップ状
磁器コンデンサの両端部に付着させ、かつ焼付は処理し
て端部電極を形成した。
EXAMPLE A dielectric ceramic was used as the core particle l, and Pd was coated on the surface thereof in a ratio of Pd:porcelain particles=80:20 (weight ratio) to obtain a Pd-coated powder. A solution reduction method was used for Pd coating. In a conventional conductive paste composition having a composition of Ag:Pd=75:25 (wt%), Pd was 0.0%.
A conductive paste composition was prepared by replacing 5-30% by weight with the Pd coating powder and dispersing it in an organic vehicle together with a glass frit. The conductive paste composition thus prepared was applied to both ends of a chip-shaped ceramic capacitor and baked to form end electrodes.

第2図は上記実施例によって得られたチップ状、磁器コ
ンデサの半田耐熱性を、Ag: Pd=’75 : 2
5(重量比)の導電性ペースト組成物を使用して端部電
極を形成した従来のチップ状磁器コンデンサの半田耐熱
性と比較して示す図である。
FIG. 2 shows the soldering heat resistance of the chip-shaped porcelain capacitor obtained in the above example, Ag: Pd = '75: 2
FIG. 5 is a diagram showing a comparison of the solder heat resistance of a conventional chip-shaped ceramic capacitor whose end electrodes were formed using a conductive paste composition of 5 (weight ratio).

Ag−Pd系導電性ペースト組成物を使用した従来のも
のは、270℃の半田槽中に3秒間浸漬したところ、約
50%の電極半田喰われ率が発生(第2図に点Bとして
示す、、)シた。これに対して、本発明のものは、第2
図の曲線Aとして示すように、Pdコーティング粉末が
0.5重量%を超える範囲で、半田喰われ率が急激に減
少し、270℃の半田槽中に5秒間浸漬しても、半田喰
われ現象は殆ど確認できなかった。
When a conventional type using an Ag-Pd based conductive paste composition was immersed in a solder bath at 270°C for 3 seconds, the electrode solder was eaten away by about 50% (shown as point B in Figure 2). ,,) Shita. On the other hand, in the present invention, the second
As shown by curve A in the figure, the solder eating rate decreases rapidly when the Pd coating powder exceeds 0.5% by weight, and even if immersed in a solder bath at 270°C for 5 seconds, no solder eating occurs. The phenomenon could hardly be confirmed.

なお、本発明に係る導電性ペースト組成物の主要な用途
は、前述の如く、磁器コンデンサの端部電極を形成する
ための導電性ペースト組成物であるが、その他にも種々
の用途があることは言うまでもない。
As mentioned above, the main use of the conductive paste composition according to the present invention is as a conductive paste composition for forming the end electrode of a ceramic capacitor, but there are various other uses as well. Needless to say.

本発明の効果 以上述べたように、本発明に係る導電性ペースト組成物
は、Ag微粉末と、Agりんぺん状粉末と、Pd以外の
物質で成る粒子を核としてその表面にPdをコーティン
グしたPdコーティング粉末と、有機質ビヒクルとを含
有することを特徴とするから、半田耐熱性に優れ、しか
もメッキ液の侵入による特性劣化等を招くことのないメ
ッキ下地用A3−Pd合金端部電極を、安価に形成し得
る導電性ペースト組成物を提供することができる。
Effects of the present invention As described above, the conductive paste composition according to the present invention has a core made of particles made of Ag fine powder, Ag scalloped powder, and a substance other than Pd, and the surface thereof is coated with Pd. An A3-Pd alloy end electrode for use as a plating base, which is characterized by containing Pd coating powder and an organic vehicle, has excellent solder heat resistance and does not cause characteristic deterioration due to penetration of plating solution. A conductive paste composition that can be formed at low cost can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明に係る導電性ペースト組成物の構造をモ
デル化して示す断面図、第2図は本発明に係る導電性ペ
ースト組成物の半田耐熱性を従来のものと比較して示す
図である。 1−拳一核となる粒子 2・・−Pdコーティング層 へ
FIG. 1 is a cross-sectional view modeling the structure of the conductive paste composition according to the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing the soldering heat resistance of the conductive paste composition according to the present invention in comparison with a conventional one. It is. 1- Particles that form the core of a fist 2...- To the Pd coating layer

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] (1) Ag微粉末と、Agりんぺん状粉末と、Pd以
外の物質で成る粒子を核としてその表面にPdをコーテ
ィングしたPdコーティング粉末と、有機質ビヒクルと
を含有することを特徴とする導電性ペースト組成物。
(1) A conductive material characterized by containing Ag fine powder, Ag phosphorous powder, Pd coating powder whose surface is coated with Pd using particles other than Pd as cores, and an organic vehicle. Paste composition.
(2) 前記Ag成分に対する前記Pdコーティング粉
末の添加量は、0.5重量%乃至30重量%であること
を特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の導電性ペー
スト組成物。
(2) The conductive paste composition according to claim 1, wherein the amount of the Pd coating powder added to the Ag component is 0.5% to 30% by weight.
(3) 前記Pd以外の物質で構成された粒子は、金属
酸化物、半金属酸化物、窒化物またはホウ化物の少なく
とも一種で成ることを特徴とする特許請求の範囲第1項
または第2項に記載の導電性ペースト組成物。
(3) The particles made of a substance other than Pd are made of at least one of a metal oxide, a metalloid oxide, a nitride, or a boride. The conductive paste composition described in .
(4) 前記Pd以外の物質で構成された粒子は。 導電性を有することを特徴とする特許請求の範囲第1項
または第2項に記載の導電性ペースト組成物。
(4) Particles made of substances other than Pd. The conductive paste composition according to claim 1 or 2, which has conductivity.
(5) 前記Pd以外の物質で構成された粒子は、Ni
、 Cr、 Go、 A1. Fe等の卑金属もしくは
半金属またはこれらの合金の少なくとも一種以上で成る
ことを特徴とする特許請求の範囲第4項に記載の導電性
ペースト組成物。
(5) The particles made of a substance other than Pd include Ni
, Cr, Go, A1. 5. The conductive paste composition according to claim 4, comprising at least one of a base metal such as Fe, a metalloid, or an alloy thereof.
(6) 前記Pd以外の物質で構成された粒子は、カー
ボン、導電性セラミックの少なくとも一種で成ることを
特徴とする特許請求の範囲第4項に記載の導電性ペース
トM1成物。
(6) The conductive paste M1 composition according to claim 4, wherein the particles made of a substance other than Pd are made of at least one of carbon and conductive ceramic.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0686978A1 (en) * 1994-06-07 1995-12-13 STMicroelectronics S.r.l. A method for in-factory testing of flash EEPROM devices

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0686978A1 (en) * 1994-06-07 1995-12-13 STMicroelectronics S.r.l. A method for in-factory testing of flash EEPROM devices

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