JPS604962U - 半導体素子試験装置 - Google Patents

半導体素子試験装置

Info

Publication number
JPS604962U
JPS604962U JP9620983U JP9620983U JPS604962U JP S604962 U JPS604962 U JP S604962U JP 9620983 U JP9620983 U JP 9620983U JP 9620983 U JP9620983 U JP 9620983U JP S604962 U JPS604962 U JP S604962U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor device
device testing
testing equipment
main body
test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9620983U
Other languages
English (en)
Inventor
宏 渡辺
Original Assignee
日本電気株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日本電気株式会社 filed Critical 日本電気株式会社
Priority to JP9620983U priority Critical patent/JPS604962U/ja
Publication of JPS604962U publication Critical patent/JPS604962U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の一実施例で、同図ａは断面図、同図す
は側面図である。第２図は本実施例の動作を説明する要
部説明図で、同図ａに圧接解除動作を、同図すに素子お
さえ動作を、同図Ｃに素子とりはずし動作をそれぞれ示
している。 １・・・・・・出力試験装置本体、２・・・・・・コネ
クター、３・・・・・・被測定素子、４・・・・・・圧
接機構、５・・・・・・素子固定機構、６・・・・・・
素子おさえ部本体、７・・・・・・圧接部本体。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 供試素子を試験装置本体に圧接する素子圧接機構と、素
    子放熱フィンの両側面から素子を固定する素子固定機構
    とを含み、素子圧接機構の圧接の解除動作と伴に素子固
    定機構が上方に動作し、素子を試験装置本体から上方向
    に取りはずすことを特徴とする半導体素子試験装置。
JP9620983U 1983-06-22 1983-06-22 半導体素子試験装置 Pending JPS604962U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9620983U JPS604962U (ja) 1983-06-22 1983-06-22 半導体素子試験装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9620983U JPS604962U (ja) 1983-06-22 1983-06-22 半導体素子試験装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS604962U true JPS604962U (ja) 1985-01-14

Family

ID=30229387

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9620983U Pending JPS604962U (ja) 1983-06-22 1983-06-22 半導体素子試験装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS604962U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018081049A (ja) * 2016-11-18 2018-05-24 三菱電機株式会社 半導体試験装置および分離方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018081049A (ja) * 2016-11-18 2018-05-24 三菱電機株式会社 半導体試験装置および分離方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS604962U (ja) 半導体素子試験装置
JPS59161081U (ja) 半導体試験装置
JPS59113745U (ja) 高温曲げ繰返し試験装置
JPS6079740U (ja) 集積回路装置用コンタクトピン
JPS59151441U (ja) 半導体試験装置
JPS58158445U (ja) 半導体素子試験用治具
JPS604963U (ja) 半導体素子の測定装置
JPS6054396U (ja) 電子機器の放熱構造
JPS6048689U (ja) 半導体装置用ソケット
JPS60153532U (ja) Ｉｃチツプへの熱電対取付け器具
JPS5955873U (ja) 半導体ｉｃ用ソケツト
JPS59146958U (ja) 半導体装置装着用治具
JPS6237992A (ja) フラツトパツクｉｃの半田付方法
JPS5892794U (ja) 印刷配線板実装電子部品の冷却具
JPS6052632U (ja) 電力用半導体素子
JPS5872849U (ja) マイクロ波集積回路基板の固定装置
JPS5994767U (ja) ハンダ「こて」の電源ｏｎ、ｏｆｆ確認装置
JPS5877478U (ja) プリント基板検査装置
JPH0459147U (ja)
JPS5844857U (ja) 半導体装置
JPS5868041U (ja) 回路パツケ−ジ
JPS5985671U (ja) 半田付装置
JPS59192838U (ja) 半導体装置
JPH0158181U (ja)
JPS6014880U (ja) ハンドリング装置