JPS604834A - 温度測定装置 - Google Patents
温度測定装置Info
- Publication number
- JPS604834A JPS604834A JP11394183A JP11394183A JPS604834A JP S604834 A JPS604834 A JP S604834A JP 11394183 A JP11394183 A JP 11394183A JP 11394183 A JP11394183 A JP 11394183A JP S604834 A JPS604834 A JP S604834A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- time constant
- constant circuit
- temperature
- reference time
- data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/16—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
- G01K7/22—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor
- G01K7/24—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は、デジタル電子時計等の電子機器や冷蔵庫等の
冷熱機器等に付加的に設けられる温度測定装置に関する
。
冷熱機器等に付加的に設けられる温度測定装置に関する
。
(ロ) 従来技術
従来、温度を測定して、その結果をデジタルで表示する
ような温度測定装置では、温度の変化によって、抵抗値
、電流あるいは重圧が変化する温度検出素子が用いられ
、温度検出素子のアナログ出力をA−D変換器によって
デジタル値に変換し、そのデジタル値に基いて温度を表
示するものであった。この様な装置のA、−D変換器は
、ラダー型抵抗回路やオペアンプを用いた積分型A−D
変換回路等が用いられるが、いずれの場合にも構成素子
数が多く、また、抵抗値等の誤差の少ないものを使用し
なければならないため、高価格化の原因となっていた。
ような温度測定装置では、温度の変化によって、抵抗値
、電流あるいは重圧が変化する温度検出素子が用いられ
、温度検出素子のアナログ出力をA−D変換器によって
デジタル値に変換し、そのデジタル値に基いて温度を表
示するものであった。この様な装置のA、−D変換器は
、ラダー型抵抗回路やオペアンプを用いた積分型A−D
変換回路等が用いられるが、いずれの場合にも構成素子
数が多く、また、抵抗値等の誤差の少ないものを使用し
なければならないため、高価格化の原因となっていた。
(ハ)発明の目的
本発明は、上述した点に鑑みて為されたものであり、従
来のA−D変換装置を使用することなく、簡単な温度検
出回路を用いることにより構成素子数の少ない温度測定
装置を提供することを目的とする。
来のA−D変換装置を使用することなく、簡単な温度検
出回路を用いることにより構成素子数の少ない温度測定
装置を提供することを目的とする。
に)発明の構成
本発明は、第1のスイッチ手段及び温度検出素子が含ま
れる時定数回路と一1第2のスイッチ手段が含まれ温度
測定の基準となる時定数を構成する基準時定数回路とを
少なくとも備えると共に、第1のスイッチ手段及び第2
のスイッチ手段を制御し、時定数回路及び基準時定数回
路の動作を制御する制御手段と、時定数回路と基準時定
数回路の出力が所定レベルとなったことを検出するレベ
ル検出手段と、レベル検出手段によって制御され、時定
数回路と基準時定数回路の各々の動作開始から所定レベ
ルの出力となるまでの時間データを得チー77;ブ妻甚
某Vて温度を算出する演算手段とから構成される。
れる時定数回路と一1第2のスイッチ手段が含まれ温度
測定の基準となる時定数を構成する基準時定数回路とを
少なくとも備えると共に、第1のスイッチ手段及び第2
のスイッチ手段を制御し、時定数回路及び基準時定数回
路の動作を制御する制御手段と、時定数回路と基準時定
数回路の出力が所定レベルとなったことを検出するレベ
ル検出手段と、レベル検出手段によって制御され、時定
数回路と基準時定数回路の各々の動作開始から所定レベ
ルの出力となるまでの時間データを得チー77;ブ妻甚
某Vて温度を算出する演算手段とから構成される。
(ホ) 実施例
第1図は本発明の実施例を示すブロック図である。時定
数回路は第1のスイッチであるPNP型トランジスタ(
1)と、温度検出素子であるサーミスタ(2)と、コン
デンサ(3)との直列接続から成り、サー ミスタ(2
)とコンデンサ(3)とで形成される時定数は、温度変
化によるサーミスタ(2)の抵抗値変化によって変化す
る。この時定数回路は、トランジスタ(1)が導通状態
になったとき動作し、電源Vnnかもトランジスタ(1
)、サーミスタ(2)を介してコンデンサ(3)に充電
電流が流れることにより、コンデンサ(3)の端子電圧
■。がそのときの温度で決定される時定数に基いて上昇
する。
数回路は第1のスイッチであるPNP型トランジスタ(
1)と、温度検出素子であるサーミスタ(2)と、コン
デンサ(3)との直列接続から成り、サー ミスタ(2
)とコンデンサ(3)とで形成される時定数は、温度変
化によるサーミスタ(2)の抵抗値変化によって変化す
る。この時定数回路は、トランジスタ(1)が導通状態
になったとき動作し、電源Vnnかもトランジスタ(1
)、サーミスタ(2)を介してコンデンサ(3)に充電
電流が流れることにより、コンデンサ(3)の端子電圧
■。がそのときの温度で決定される時定数に基いて上昇
する。
一方、基準時定数回路は、第2のスイッチであるPNP
型トランジスタ(4)と、抵抗(5)及びコンデンサ(
3)との直列接続から成り、抵抗(5)を固定的に、し
かも、温度変化に対して抵抗値の変化しないものとする
ことにより、時定数が固定される。この基準時定数回路
は、トランジスタ(4)が導通状態と1、Cつだとき動
作し、トランジスタ(4)、抵抗(5)を介して電源■
ゎゎから充電電流がコンデンサ(3)に流れることによ
り、コンデンサ(3)の端子電圧■。が固定された時定
数に基いて上昇する。
型トランジスタ(4)と、抵抗(5)及びコンデンサ(
3)との直列接続から成り、抵抗(5)を固定的に、し
かも、温度変化に対して抵抗値の変化しないものとする
ことにより、時定数が固定される。この基準時定数回路
は、トランジスタ(4)が導通状態と1、Cつだとき動
作し、トランジスタ(4)、抵抗(5)を介して電源■
ゎゎから充電電流がコンデンサ(3)に流れることによ
り、コンデンサ(3)の端子電圧■。が固定された時定
数に基いて上昇する。
コンデンサ(3)には第3のスイッチとなるNPN型ト
ランジスタ(6)が並列に接続され、時定数回路及び基
準時定数回路が動作する前に、トランジスタ(6)を導
通状態としてコンデンサ(3)に蓄積された電荷を放電
させ初期状態に設定する。
ランジスタ(6)が並列に接続され、時定数回路及び基
準時定数回路が動作する前に、トランジスタ(6)を導
通状態としてコンデンサ(3)に蓄積された電荷を放電
させ初期状態に設定する。
制御手段(7)は、抵抗(81(9)(10)を介l−
てトランジスタ(])(41(Glの導通及び遮断を制
御するものであり、通常は、トランジスタ(1)(4)
を遮断し、トランジスタ(6)を導通状態にしておくが
、定期的あるいは必要に応じて、温度の測定を指示する
測定指示信号Taが到来したときには、トランジスタ(
(’、)を遮断しまた後、トランジスタ(]、Jを導通
させて時定数回路を!トリ作させ、時定数回路の出力が
データとして入力された後に、トランジスタ(6)を導
通及び遮断し □てコンデンサ(3)を放電させ、更に
トランジスタ(4)を導通して基準時定数回路を動作さ
せろものであ 1ろ。
てトランジスタ(])(41(Glの導通及び遮断を制
御するものであり、通常は、トランジスタ(1)(4)
を遮断し、トランジスタ(6)を導通状態にしておくが
、定期的あるいは必要に応じて、温度の測定を指示する
測定指示信号Taが到来したときには、トランジスタ(
(’、)を遮断しまた後、トランジスタ(]、Jを導通
させて時定数回路を!トリ作させ、時定数回路の出力が
データとして入力された後に、トランジスタ(6)を導
通及び遮断し □てコンデンサ(3)を放電させ、更に
トランジスタ(4)を導通して基準時定数回路を動作さ
せろものであ 1ろ。
レベル検出手段(I])は、時定数回路及び基準時定数
回路の出力電圧、即ち、コンデンサ(3)の端子電圧V
。が所定レベル、例えばVD+、/2となったことを検
出するものであり、その検出出力によって計数手段O2
が制御される。計数手段(121は、トランジスタ(1
)あるいはトランジスタ(4)が導通したときに所定の
パルスの計数を開始し、端子電圧■。が所定レベル、例
えば■tlD/2となったときにレベル検出手段(11
)の検出出力で、その計数を停止するものである。
回路の出力電圧、即ち、コンデンサ(3)の端子電圧V
。が所定レベル、例えばVD+、/2となったことを検
出するものであり、その検出出力によって計数手段O2
が制御される。計数手段(121は、トランジスタ(1
)あるいはトランジスタ(4)が導通したときに所定の
パルスの計数を開始し、端子電圧■。が所定レベル、例
えば■tlD/2となったときにレベル検出手段(11
)の検出出力で、その計数を停止するものである。
そこで、第2図を参照して更に説明する。トランジスタ
(1)が導通して時定数回路が動作すると、端子電圧■
。はRXで示される実線の如く上昇する。
(1)が導通して時定数回路が動作すると、端子電圧■
。はRXで示される実線の如く上昇する。
そして、動作開始から端子電圧■。がVDD/2になる
までの間に計数手段G2+が計数した結果のデータは、
その時間に対応する時間データTRIとなる。この時間
データTRXは、温度によって変化し、温度が高くなる
とサーミスタ(2)の抵抗値が小さくなり、時定数も小
さくなるため、減少し、一方、温度が低くなると逆に増
大する。また、トランジスタ(4)が導通して基準時定
数回路が動作すると、その端子電圧v0はR2で示され
る実機の如く上昇し、Vnn/2になるまでに計数され
る時間データTRFが計数手段(121で得られる。時
間データLpは、温度によって変化せず常に一定である
。
までの間に計数手段G2+が計数した結果のデータは、
その時間に対応する時間データTRIとなる。この時間
データTRXは、温度によって変化し、温度が高くなる
とサーミスタ(2)の抵抗値が小さくなり、時定数も小
さくなるため、減少し、一方、温度が低くなると逆に増
大する。また、トランジスタ(4)が導通して基準時定
数回路が動作すると、その端子電圧v0はR2で示され
る実機の如く上昇し、Vnn/2になるまでに計数され
る時間データTRFが計数手段(121で得られる。時
間データLpは、温度によって変化せず常に一定である
。
上述の如くして、」数手段(121によって作成された
時間データT。及びTIIFは、演算手段03)によっ
て処理される。演算手段α3)に於いては、時間データ
T1及び’r、l、と温度の関係を表わす数式を用いて
温度を算出する方法と、データテーブルを使用する方法
とがあるが、ここではデータテーブルを使用する方法に
ついて述べる。データテーブルを用いる場合は、先ず、
時間データTRx及びT。にいデータC工をめる。一方
、記憶手段04)には、実験的にめられたデータCX
のデータテーブルか記憶されている。第3図は、記憶手
段側に記憶四 されたデータテーブルの一例であり、−5℃〜+\℃ま
でを5℃のステップで■2段階に分割し、各々の温度範
囲に入るデータCx の値の最大値と最小値と、最小値
に於ける温度とが記憶されている。
時間データT。及びTIIFは、演算手段03)によっ
て処理される。演算手段α3)に於いては、時間データ
T1及び’r、l、と温度の関係を表わす数式を用いて
温度を算出する方法と、データテーブルを使用する方法
とがあるが、ここではデータテーブルを使用する方法に
ついて述べる。データテーブルを用いる場合は、先ず、
時間データTRx及びT。にいデータC工をめる。一方
、記憶手段04)には、実験的にめられたデータCX
のデータテーブルか記憶されている。第3図は、記憶手
段側に記憶四 されたデータテーブルの一例であり、−5℃〜+\℃ま
でを5℃のステップで■2段階に分割し、各々の温度範
囲に入るデータCx の値の最大値と最小値と、最小値
に於ける温度とが記憶されている。
演算手段(13)は請求めたデータCX が、記憶手段
(1勾のデータテーブルのどの範囲に入るかを判定し、
その範囲に於いて、TCn−一10占二が一上一−TX
(7)Cgpn C5yn 演算、即ら、比例配分の演算を行い、温度データT、を
め出力する。この温度データTx は、例えば、表示装
置(図示せず)等によってデジタル表示され、測定され
た温度の表示が為される。尚、第3図に示されたデータ
テーブルに於いて、サーミスタ(2)の温度特性、即ち
、時定数の変化は非線形であるため、測定範囲を分割す
る数nを小さくしすぎると、誤差が大きくなり、また、
nを大きくすると精度は向上するが、これを記憶する容
量が増すので、許容誤差を考えて適宜設定する。
(1勾のデータテーブルのどの範囲に入るかを判定し、
その範囲に於いて、TCn−一10占二が一上一−TX
(7)Cgpn C5yn 演算、即ら、比例配分の演算を行い、温度データT、を
め出力する。この温度データTx は、例えば、表示装
置(図示せず)等によってデジタル表示され、測定され
た温度の表示が為される。尚、第3図に示されたデータ
テーブルに於いて、サーミスタ(2)の温度特性、即ち
、時定数の変化は非線形であるため、測定範囲を分割す
る数nを小さくしすぎると、誤差が大きくなり、また、
nを大きくすると精度は向上するが、これを記憶する容
量が増すので、許容誤差を考えて適宜設定する。
また、第1図に示された実施例に於いて、制御手段(7
)、レベル検出手段(1,11,計数手段(121,演
算手段03)及び記憶手段Q4)はすべて破線で示され
るマイクロコンピュータ(1奥内に設けることができろ
。即ち、出力端子a1、R2、R3に各トランジスタ+
17(41(6)に接続された抵抗f8)(9)C0を
接続し、入力端子a4にコンデンサ(3)の端子電圧V
。を印加する。通常、マイクロコンピュータ0!5)の
入力端子等のスレッショルド電圧は電源電圧■DDの↓
/2に設定されているため、端子電圧V0を直接印加で
きる。
)、レベル検出手段(1,11,計数手段(121,演
算手段03)及び記憶手段Q4)はすべて破線で示され
るマイクロコンピュータ(1奥内に設けることができろ
。即ち、出力端子a1、R2、R3に各トランジスタ+
17(41(6)に接続された抵抗f8)(9)C0を
接続し、入力端子a4にコンデンサ(3)の端子電圧V
。を印加する。通常、マイクロコンピュータ0!5)の
入力端子等のスレッショルド電圧は電源電圧■DDの↓
/2に設定されているため、端子電圧V0を直接印加で
きる。
次に1第4図を参照して、第1図に示された実施例、特
に、マイクロコンピュータ(1■を用いた場合の動作J
順序を説明する。
に、マイクロコンピュータ(1■を用いた場合の動作J
順序を説明する。
定期的あるいは必要に応じた外部からの温度測定指令に
基いて、温度測定動作を行うプログラムが実行されると
、先ず、出方端子a3に”0”を出力してトランジスタ
(6)を遮断し、出方端子a2に0”を出力してトラン
ジスタ(1)を導通させる。
基いて、温度測定動作を行うプログラムが実行されると
、先ず、出方端子a3に”0”を出力してトランジスタ
(6)を遮断し、出方端子a2に0”を出力してトラン
ジスタ(1)を導通させる。
次いで、マイクロコンピュータ(151の内部に設ケラ
れた計数手段++21の計数動作を開始させ、入力端子
a4が1″となるまで判定を行う。入力端子a、がl″
となると計数手段(12)の計数動作を停止させ、その
計数結果TRxをマイクロコンピュータ09内部のメモ
リに記憶し、計数手段(12+をクリアする。以上の動
作で、そのときの温度に相当する時間データTRxが得
られる。そして、次に、出力端子a2に”l”を出力し
てトランジスタ(1)を遮断し、出力端子a3に”1″
を出力してトランジスタ(6)を導通させ、コンデンサ
(3)に充電された電荷を放電させる。放電に必要な時
間が経過すると出力端子a3に10”を出力してトラン
ジスタ(6)を遮断し、出方端子a、に0”を出力して
トランジスタ(4)を導通する。次いで、クリアされた
計数手段(12)の言1数動作を開始させ、入力端子a
、が1”となるまで判定を行う。入力端子a、が′l”
になると割数手段(121の計数動作を停止させ、その
計数結果TRFをメモリに記憶する。
れた計数手段++21の計数動作を開始させ、入力端子
a4が1″となるまで判定を行う。入力端子a、がl″
となると計数手段(12)の計数動作を停止させ、その
計数結果TRxをマイクロコンピュータ09内部のメモ
リに記憶し、計数手段(12+をクリアする。以上の動
作で、そのときの温度に相当する時間データTRxが得
られる。そして、次に、出力端子a2に”l”を出力し
てトランジスタ(1)を遮断し、出力端子a3に”1″
を出力してトランジスタ(6)を導通させ、コンデンサ
(3)に充電された電荷を放電させる。放電に必要な時
間が経過すると出力端子a3に10”を出力してトラン
ジスタ(6)を遮断し、出方端子a、に0”を出力して
トランジスタ(4)を導通する。次いで、クリアされた
計数手段(12)の言1数動作を開始させ、入力端子a
、が1”となるまで判定を行う。入力端子a、が′l”
になると割数手段(121の計数動作を停止させ、その
計数結果TRFをメモリに記憶する。
上述の如くして得られた時間データT。及びTRFをメ
モリから読み出しh−×1000の演゛T、I。
モリから読み出しh−×1000の演゛T、I。
算を行い、Cx をめろ。そして、記憶手段(14)に
記憶されたデータテーブルを検索し請求められたCI
が入るランクを探し、そのランクに於けるCl1Tn%
Cff、nl 及びTcnを読み出し、Tcn −−5
<G人二QじJ)の演算を行って温度Txをめる。
記憶されたデータテーブルを検索し請求められたCI
が入るランクを探し、そのランクに於けるCl1Tn%
Cff、nl 及びTcnを読み出し、Tcn −−5
<G人二QじJ)の演算を行って温度Txをめる。
C5pn C1+?。
求められた温度TX はメモリに記憶されると共に、出
力端子から出力され、表示装置等にデジタルで温度が表
示される。尚、演算は、マイクロコンピュータ(1つが
有しているALUによって為される。
力端子から出力され、表示装置等にデジタルで温度が表
示される。尚、演算は、マイクロコンピュータ(1つが
有しているALUによって為される。
(へ)発明の効果
上述の如く本発明によれば、簡単な付属回路を付加する
だけで、長期間での電源電圧の変化や外付容量の変化に
対して正確な温度の測定か可能となり、電子機器あるい
は冷熱機器等に温度測定装置を付加する場合の設計変更
が極めて容易に、しかも、低価格で行える利点を有する
。
だけで、長期間での電源電圧の変化や外付容量の変化に
対して正確な温度の測定か可能となり、電子機器あるい
は冷熱機器等に温度測定装置を付加する場合の設計変更
が極めて容易に、しかも、低価格で行える利点を有する
。
第1図は本発明の実施例を示すブロック図、第2図は第
1図に示された実施例の温度測定の原理を示す特性図、
第3図は温度を計算するためのデータテーブル図、第4
図は、動作を示すフロー図である。 (1)(4)・・・PNP型トランジスタ、(2)・・
・サーミスタ、 (3)・・・コンデンサ、 (5)(
8)(9)α0)・・・抵抗、(6)・・・NPN型ト
ランジスタ、 (7)・・・制御手段、01)・・・レ
ベル検出手段、 (12−・計数手段、(13+・・・
演算手段、 (14)・・・記憶手段、 (15)・・
・マイクロコンピュータ。 第1 図 ■× 第2図 一1グQ− ) 第3し!
1図に示された実施例の温度測定の原理を示す特性図、
第3図は温度を計算するためのデータテーブル図、第4
図は、動作を示すフロー図である。 (1)(4)・・・PNP型トランジスタ、(2)・・
・サーミスタ、 (3)・・・コンデンサ、 (5)(
8)(9)α0)・・・抵抗、(6)・・・NPN型ト
ランジスタ、 (7)・・・制御手段、01)・・・レ
ベル検出手段、 (12−・計数手段、(13+・・・
演算手段、 (14)・・・記憶手段、 (15)・・
・マイクロコンピュータ。 第1 図 ■× 第2図 一1グQ− ) 第3し!
Claims (1)
- 1、第1のスイッチ手段及び温度検出素子が含まれる時
定数回路と、第2のスイッチ手段が含まれ温度測定の基
準となる時定数を構成する基準時定数回路とを少なくと
も備えると共に、前記第1のスイッチ手段及び第2のス
イッチ手段を制御し、時定数回路及び基準時定数回路の
動作をシーケンシャルに制御する制御手段と、前記時定
数回路及び基準時定数回路の出力が所定レベルとなった
ことを検出するレベル検出手段と、該レベル検出手段に
よって制御され、前記時定数回路及び基準時定数回路の
動作開始から所定レベルの出力となるまでの時間データ
を得る計数手段と、前記時定数回路及び基準時定数回路
の各々に於ける時間データに基き、予め定められた手順
に従って演算処理を行い、温度を算出する演算手段とを
備えて成る温度測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11394183A JPS604834A (ja) | 1983-06-23 | 1983-06-23 | 温度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11394183A JPS604834A (ja) | 1983-06-23 | 1983-06-23 | 温度測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS604834A true JPS604834A (ja) | 1985-01-11 |
Family
ID=14625032
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11394183A Pending JPS604834A (ja) | 1983-06-23 | 1983-06-23 | 温度測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS604834A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016102921A (ja) * | 2014-11-28 | 2016-06-02 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 定着装置及び画像形成装置 |
-
1983
- 1983-06-23 JP JP11394183A patent/JPS604834A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016102921A (ja) * | 2014-11-28 | 2016-06-02 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 定着装置及び画像形成装置 |
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