JPS6044811A - 板状物の端部角度測定方法 - Google Patents
板状物の端部角度測定方法Info
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- JPS6044811A JPS6044811A JP15157883A JP15157883A JPS6044811A JP S6044811 A JPS6044811 A JP S6044811A JP 15157883 A JP15157883 A JP 15157883A JP 15157883 A JP15157883 A JP 15157883A JP S6044811 A JPS6044811 A JP S6044811A
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- Japan
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- sensor camera
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Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 17
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011505 plaster Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は板状物の端部角度測定方法に関し、石膏が一ド
等、連続成形品の板状物の端部形状の検査に用いて有用
なものである。
等、連続成形品の板状物の端部形状の検査に用いて有用
なものである。
従来石膏が−ド等、連続成形品の板状物の端部形状、特
に端部角度の検査は、目視によシ、若しくは角度測定器
を用いて検査員が行なっている。この検査方法では検査
員が必要であシ、いきおい検査回数が限定されるという
欠点がある。
に端部角度の検査は、目視によシ、若しくは角度測定器
を用いて検査員が行なっている。この検査方法では検査
員が必要であシ、いきおい検査回数が限定されるという
欠点がある。
テレビカメラによる遠方測定も行なわれているが、これ
は正確な寸法を把握できないという欠点がある。
は正確な寸法を把握できないという欠点がある。
上述の２方法の欠点を除去するものとして、平行光線を
板状物の端部に当て、固定したイメージセンサカメラに
よシ前記端部からの反射光の幅を測定する方法も提案さ
れている。この方法は最も精度良く測定できるが、前記
イメーゾセンサカメラが固定されてしるため、板状物の
幅が変化した場合にはイメージセンサカメラから反射幅
と反射位置との２つのデータを採シ信号処理によ）反射
幅を基準換算する必要がある。
板状物の端部に当て、固定したイメージセンサカメラに
よシ前記端部からの反射光の幅を測定する方法も提案さ
れている。この方法は最も精度良く測定できるが、前記
イメーゾセンサカメラが固定されてしるため、板状物の
幅が変化した場合にはイメージセンサカメラから反射幅
と反射位置との２つのデータを採シ信号処理によ）反射
幅を基準換算する必要がある。
また、板状物の厚みが変わった場合、反射幅のみから端
部の角度をめるには厚みと反射幅との換算表を作シ人手
若しくは機械で換算する必要がある。
部の角度をめるには厚みと反射幅との換算表を作シ人手
若しくは機械で換算する必要がある。
本発明は、上記従来技術に錯み、板状物の厚みが変化し
ても板状物の端部角度を検出し得る端部角度測定方法を
提供することを目的とする。
ても板状物の端部角度を検出し得る端部角度測定方法を
提供することを目的とする。
かかる目的を達成する本発明は、板状物の表面と平行に
移動し得るようにしたイメージセンサカメラによシ板状
物の端部に投射した平行光線の反射光の幅を二つの点で
測定し、この測定値と二点間の距離を基に所定の演算を
行々うようにしたことを特徴とする。
移動し得るようにしたイメージセンサカメラによシ板状
物の端部に投射した平行光線の反射光の幅を二つの点で
測定し、この測定値と二点間の距離を基に所定の演算を
行々うようにしたことを特徴とする。
以下本発明の実施例ｆ：図面に基づき詳細に説明する。
第１図は本発明の実施例方法を実現する装置を概念的に
示す説明図である。同図に示すように、断面門形の架台
１には、測定対象物である板状物２ｔ−載置して図面と
直角方向に搬送するローラコンベア３がその両端を支承
されるとともに、イメージセンサカメラ４及び光源５が
装備さｎている。イメージセンサカメラ４はモータ６に
より回転されるネジ軸７に螺合さｎてお覗、このネジ軸
７の回転に伴々い板状物２０表面に沿いこれと平行に図
中左右方向に直線移動するようになっている。光源５は
板状物２の端面２ａに回がって平行光線８を照射する。
示す説明図である。同図に示すように、断面門形の架台
１には、測定対象物である板状物２ｔ−載置して図面と
直角方向に搬送するローラコンベア３がその両端を支承
されるとともに、イメージセンサカメラ４及び光源５が
装備さｎている。イメージセンサカメラ４はモータ６に
より回転されるネジ軸７に螺合さｎてお覗、このネジ軸
７の回転に伴々い板状物２０表面に沿いこれと平行に図
中左右方向に直線移動するようになっている。光源５は
板状物２の端面２ａに回がって平行光線８を照射する。
端面２ａで反射された平行光線８は前記イメージセンサ
カメラ４で検出される 即ち、イメージセンサカメラ４
では端部２ａによる平行光線８の反射幅が検出される。
カメラ４で検出される 即ち、イメージセンサカメラ４
では端部２ａによる平行光線８の反射幅が検出される。
第２図は第１図の一部を抽出・拡大して示す図である。
同図に基づき本実施例方法を説明する。先ず、測定点Ａ
にて端部２ａで反射された平行光ｍ８の反射幅Ｗ１ を
イメージセンサカメラ４により測定する。次に同様の測
定を測定点ＢＫ関しても行なう。このとき測定された反
射幅をＷ、とすると、端面２ａの角度θは次式で表わさ
れる。
にて端部２ａで反射された平行光ｍ８の反射幅Ｗ１ を
イメージセンサカメラ４により測定する。次に同様の測
定を測定点ＢＫ関しても行なう。このとき測定された反
射幅をＷ、とすると、端面２ａの角度θは次式で表わさ
れる。
ｔａｎθ＝Ｈ
ｔＷ、（ＷＩ Ｗｔ ）
このとき測定点Ａは板状物２の端面２ａよシ外方の斜め
上方の一点、測定点Ｂは、板状物２の表面に対し直角で
且つ端面２ａの下端を辿る垂直線と、板状物２の表面に
対し平行で且つ測定点Ａを通る平行線との交点である１
また、上式中ｔは測定点Ａ、Ｂ間の距離、Ｈは板状物２
の下面に対する測定点Ａ、Ｈの高さであり、これらの距
離を及び高さＨは別途計測される。したがって測定値で
ある反射幅Ｗ、、Ｗ２を上式に代入して所定の演算を行
なえば角度θがまる。
上方の一点、測定点Ｂは、板状物２の表面に対し直角で
且つ端面２ａの下端を辿る垂直線と、板状物２の表面に
対し平行で且つ測定点Ａを通る平行線との交点である１
また、上式中ｔは測定点Ａ、Ｂ間の距離、Ｈは板状物２
の下面に対する測定点Ａ、Ｈの高さであり、これらの距
離を及び高さＨは別途計測される。したがって測定値で
ある反射幅Ｗ、、Ｗ２を上式に代入して所定の演算を行
なえば角度θがまる。
かかる本実施例方法は、更に具体的には次の態様で実現
される。即ち、測定点Ａにおいて反射幅ＷＩを測定した
後モータ６を駆動してネジ軸７を回転させることにより
イメージセンサ力おいても同様に反射幅Ｗ、を測定する
。その後これら反射幅Ｗ、、Ｗ、を基に角度０を演算す
る、 この演算゛はマイクロコンピュータ（図示せず）
を用いることによシ容易に行なうことができる。
される。即ち、測定点Ａにおいて反射幅ＷＩを測定した
後モータ６を駆動してネジ軸７を回転させることにより
イメージセンサ力おいても同様に反射幅Ｗ、を測定する
。その後これら反射幅Ｗ、、Ｗ、を基に角度０を演算す
る、 この演算゛はマイクロコンピュータ（図示せず）
を用いることによシ容易に行なうことができる。
ととで、玉代により角度θがまることを第３図に基づき
示しておく。なお、第３図中の符号は第１図及び第２図
に示す符号と同様の童味をもつ。同図において ユし ＝、３”ｒ上玉１ 、、、 、、、、、、 、、
、 、、、 、、、し）Ｈ−ｔｙ２＋ｔ ＊ ＋ ｙ２−Ｗとして式（１）、（２）から板状物２
の厚さｔを表示すると、 測定点Ａで測定した反射幅Ｗ−Ｗ、、測定点Ｂで測定し
た反射幅Ｗ＝Ｗ２とし、（３）式を用いとなる。
示しておく。なお、第３図中の符号は第１図及び第２図
に示す符号と同様の童味をもつ。同図において ユし ＝、３”ｒ上玉１ 、、、 、、、、、、 、、
、 、、、 、、、し）Ｈ−ｔｙ２＋ｔ ＊ ＋ ｙ２−Ｗとして式（１）、（２）から板状物２
の厚さｔを表示すると、 測定点Ａで測定した反射幅Ｗ−Ｗ、、測定点Ｂで測定し
た反射幅Ｗ＝Ｗ２とし、（３）式を用いとなる。
（４）式は板状物２の厚さｔに関係なく反射幅Ｗ１、Ｗ
、の測定によ多角度θがまることを示している。
、の測定によ多角度θがまることを示している。
以上実施例とともに具体的に説明したように本発明によ
れば板状物の厚さに関係なく一台のイメージセンサカメ
ラによシその端面の角度を測定することができる。因に
、本発明に使用するイメージセンサカメラの性能は、分
解能５１２ ｂｉｔ 、スキャン速度１ ｍ／ｓの場合
、厚さ０〜２０Ｉ＋Ｉ＋１１位の板状物で０．５度の分
解能が容易に得られた。
れば板状物の厚さに関係なく一台のイメージセンサカメ
ラによシその端面の角度を測定することができる。因に
、本発明に使用するイメージセンサカメラの性能は、分
解能５１２ ｂｉｔ 、スキャン速度１ ｍ／ｓの場合
、厚さ０〜２０Ｉ＋Ｉ＋１１位の板状物で０．５度の分
解能が容易に得られた。
第１図は本発明の実施例方法を実現する装置を概念的に
示す説明図、第２図は第１図の一部を抽出・拡大して示
す説明図、第３図は本発明の詳細な説明するための説明
図である。 図面中、 ２は板状物、 ２ａは端面、 ４はイメージ七ン゛サカメラ、 ５は光源、 ８は平行光線、 Ａ、Ｂは測定点、 Ｗ、、Ｗ２は反射幅である。 特許出願人 小野田セメント株式会社 代 理 人 弁理士 光 石 士 部（他１名） 第１図 第２ｒＩ！Ｊ 帖３区 、′
示す説明図、第２図は第１図の一部を抽出・拡大して示
す説明図、第３図は本発明の詳細な説明するための説明
図である。 図面中、 ２は板状物、 ２ａは端面、 ４はイメージ七ン゛サカメラ、 ５は光源、 ８は平行光線、 Ａ、Ｂは測定点、 Ｗ、、Ｗ２は反射幅である。 特許出願人 小野田セメント株式会社 代 理 人 弁理士 光 石 士 部（他１名） 第１図 第２ｒＩ！Ｊ 帖３区 、′
Claims (1)
- 板状物の端面に平行光線を照射し、この端面によシ反射
された反射光の反射幅をイメージセンサカメラによシ測
定して板状物の端面の角度θを測定する場合において、
板状物の端面より外方の斜め上方の測定点でイメージセ
ンサカメラによυ前記反射幅Ｗ、を測定するとともに、
イメージセンサカメラを平行移動することにより板状物
の表面に対し直角で且つ端面の下端を通る垂直線と板状
物の表面に対し平行で且つ前記測定点を通る平行線との
交点である他の測定点でイメージセンサカメラによシ反
射幅Ｗ、を測定し、これらの反射幅Ｗ１ 、Ｗｔを、定
点間の距離、Ｈ＝板状物の下面に対する測定点の高さ）
に代入して角度θを算出するようにしたことを特徴とす
る板状物の端部角度測定方法０
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15157883A JPS6044811A (ja) | 1983-08-22 | 1983-08-22 | 板状物の端部角度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15157883A JPS6044811A (ja) | 1983-08-22 | 1983-08-22 | 板状物の端部角度測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6044811A true JPS6044811A (ja) | 1985-03-11 |
Family
ID=15521577
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15157883A Pending JPS6044811A (ja) | 1983-08-22 | 1983-08-22 | 板状物の端部角度測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6044811A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63179314A (ja) * | 1987-01-20 | 1988-07-23 | Asahi Optical Co Ltd | ポリゴンミラ−の反射面の倒れ誤差測定方法 |
| WO2000012963A1 (fr) * | 1998-08-28 | 2000-03-09 | Yoshino Gypsum Co., Ltd. | Procede et dispositif de detection de l'angle d'un bord |
| WO2002054392A1 (en) * | 2000-12-28 | 2002-07-11 | Showa Denko K.K. | Apparatus and method for inspecting chamfer angle of memory disc substrate and manufacturing the substrate, memory disc substrate set and method for inspecting and manufacturing the set |
| WO2017015247A1 (en) * | 2015-07-23 | 2017-01-26 | United States Gypsum Company | Apparatus and methods for producing gypsum wallboard |
-
1983
- 1983-08-22 JP JP15157883A patent/JPS6044811A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63179314A (ja) * | 1987-01-20 | 1988-07-23 | Asahi Optical Co Ltd | ポリゴンミラ−の反射面の倒れ誤差測定方法 |
| WO2000012963A1 (fr) * | 1998-08-28 | 2000-03-09 | Yoshino Gypsum Co., Ltd. | Procede et dispositif de detection de l'angle d'un bord |
| WO2002054392A1 (en) * | 2000-12-28 | 2002-07-11 | Showa Denko K.K. | Apparatus and method for inspecting chamfer angle of memory disc substrate and manufacturing the substrate, memory disc substrate set and method for inspecting and manufacturing the set |
| WO2017015247A1 (en) * | 2015-07-23 | 2017-01-26 | United States Gypsum Company | Apparatus and methods for producing gypsum wallboard |
| US9745222B2 (en) | 2015-07-23 | 2017-08-29 | United States Gypsum Company | Apparatus and methods for producing gypsum wallboard |
| AU2016297551B2 (en) * | 2015-07-23 | 2021-03-11 | United States Gypsum Company | Apparatus and methods for producing gypsum wallboard |
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