JPS604434B2 - 受光位置検出装置 - Google Patents

受光位置検出装置

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JPS604434B2
JPS604434B2 JP15045076A JP15045076A JPS604434B2 JP S604434 B2 JPS604434 B2 JP S604434B2 JP 15045076 A JP15045076 A JP 15045076A JP 15045076 A JP15045076 A JP 15045076A JP S604434 B2 JPS604434 B2 JP S604434B2
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JP
Japan
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light
light receiving
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position detection
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Expired
Application number
JP15045076A
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English (en)
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JPS5374455A (en
Inventor
英生 佐藤
功 山田
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Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication of JPS5374455A publication Critical patent/JPS5374455A/ja
Publication of JPS604434B2 publication Critical patent/JPS604434B2/ja
Expired legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00

Description

【発明の詳細な説明】 この発明はしーザ光や赤外光等を使用した目標物の誘導
装置に好適する受光位置検出装置の改良に関する。
従来、レーザ光や赤外光等を使用した目標物の誘導装置
においては、4象限に分割されて構成された検出器を使
用してなる受光位置検出装置が用いられていた。
すなわちこの受光位置検出装置は第1図に示すように先
ずレーザ光や赤外光等の入射光10を光学系11により
集光して検知器12上にターゲット像として結像せしめ
る。この場合、ターゲット像は信号処理を行い易くする
ために、第2図aに示すように例えば検知器12の視野
の半分のぼけ量を与える如くわざとターゲット像0をぼ
かして拡大する工夫が施こされている。そしてこのぼけ
の量を変えることにより後述する誤差信号の直線領域を
自由に選べるようになる。また検知器12はCH.〜C
H4の4象限に分割されると共に各素子間の感度のバラ
ンスが予めとられている光電変換素子であり、ターゲッ
ト像○の面積に応じて得られた電気信号を対応する前暦
増幅器131〜134に供給して、ここで所定のレベル
まで増幅せしめる。而して今、検知器12の各素子CH
,〜C比の電気信号をa〜dとし、これが各前置増幅器
131〜134で増幅された出力をA〜Dとすると、検
知器12におけるY軸方向の誤差信号は信号処理器14
1によって(A十B)−(C+D)の加減算を行うこと
により求めることができ、同機にZ軸の誤差信号は信号
処理器142によって(A十D)一(B十C)の加減算
を行うことにより求めることができる。
これを後者の例でみてみると、今第2図aにおいて検知
器12の中心にターゲット像○が存在する場合には同図
bに示すように(a+d)および(b+c)としての検
知器出力が等しくなるから、信号処理器142での(A
十D)−(B十C)は同図cに示すように誤差信号は零
となる。そしてこの場合、ターゲット像○が矢印方向す
なわちZ軸方向に移動して丁度検知器12の視野の半分
のところにきたときに誤差信号は最大(但し‘歌ナの量
を検知器視野の半分にしたとき)となる如く移動に伴な
つて増大する如く−定の関係で変化するので、誤差信号
の変化を監視することによってターゲット像○の位置す
なわち受光位置を検出することが可能となる。しかしな
がら、以上においてターゲット像○がさらに移動して検
知器12の端の方にきたときには誤差信号が上記一定の
関係と反対に低下してしまうので受光位置の正確な検出
が困難となる欠点を有していた。
また以上において入射光10のパワーレベルが変動した
場合、例えばそれが2倍になったとすると(第2図b,
cにおいて一点鎖線で示す曲線が相当)、前暦増幅器1
31〜134の各ゲインが固定なので誤差信号がそのま
ま2倍となる如く、ターゲット像そのものは移動してい
ないにもかかわらず誤差信号が変化してしまうので結果
的にターゲット像の位置すなわち受光位置の正確な検出
がさらに困難となる欠点を有していた。そこでこの発明
は以上のような点に鑑みてなされたもので、例えばター
ゲットが遠距離から近距離まで変化するときに必然的に
生じる入射光10のパワーレベルの変動による誤差信号
の変動を抑えて受光位置の検出を正確に行うために、入
射光のパワーレベルを常時検出して前層増幅器の出力信
号の和が常に一定になるように制御した後に信号処理を
行うことにより、上記従来の欠点を簡易に且つ確実に除
去し得る極めて良好な受光位置検出装置を提供すること
を目的としている。
以下図面を参照してこの発明の一実施例につき詳細に説
明する。
しかるに第3図において第1図と同様に構成される部分
は同一番号を付して詳細な説明を省略するが、ここで前
層増幅器131′〜134′はその各出力A,B,C,
Dの和が常に一定値になるように自動利得制御回路15
によって各ゲインの制御がなされる点が第1図と異なっ
ている。
そしてこの自動利得制御回路15は前層増幅器131′
〜134′の各出力の和(A+B十C+D)をとる信号
処理器151と、この信号処理器151の出力と基準(
電圧)値とを比較して制御(AGC)電圧を発生する比
較器1 52とからなり「入射光のパワーレベルが例え
ば2倍になった場合に前贋増幅器131′〜134′の
各ゲインを自動的に1/2にする如くしていうならば入
射光のパワーレベルを常時検出して前暦増幅器の出力信
号の和が一定になるように制御することにより、第4図
に示すように誤差信号に入射光のパワーレベルの変動に
よる影響を与えないようにすることができるものである
またターゲット像が検知器の端にきたときには入射光1
0のパワーレベルが低下するようになるが、この場合に
は上記の場合と反対に自動利得制御回路15を介して前
層増幅器131′〜134′のゲインが自動的に増大す
るようになるので、第4図に示したように端にいっても
誤差信号が低下するようなことはなく、上記の場合と併
せて誤差信号の直線領域において受光位置の検出を正確
に行なうことが可能となる。なお入射光10のパワーレ
ベルに応じて前層増幅器131′〜134′のゲインを
制御しているので、入射光10のパワーレベルが非常に
4・さくなったときに雑音だけで誤動作しないようにロ
ックオン回路16の働きによって誤差信号を強制的に零
にして保持せしめている。すなわち入射光10のパワー
レベルが非常に4・さくなったときには、最早前贋増幅
器131′〜134′のゲインは最大となったままで、
信号処理器151の出力が一定値より低下するようにな
るが、この信号処理器151の出力をロックオン回路1
6を構成する比較器161で基準(電圧)値と比較せし
めると共に、その比較出力で例えばリレー等でなる切換
器162または163を切換えて信号処理器141また
は142の出力を接地レベルすることによって、雑音に
よる誤動作を防止することができるようにしたものであ
る。従って以上詳述したようにこの発明によれば、受光
位置を常に正確に検出することができるので、該受光位
置検出信号としてのYおよびZ軸の誤差信号をサーボル
ープに供給する等して有効な誘導装置の実現に寄与し得
る等の利点を備えた極めて良好なる受光位置検出装置を
提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の受光位置検出装置を示す要部の構成図、
第2図a,b,cは第1図の動作を説明する検知器状態
図、検知器出力特性曲線図および誤差信号特性曲線図、
、第3図はこの発明に係る受光位置検出装置の一実施例
を示す要部の構成図、第4図は第3図の動作を説明する
誤差信号特性曲線図である。 10・・・・・・入射光、11・・・・・・光学系、1
2・・・・・・検知器、131′〜134′……前層増
幅器、141,142・・・・・・信号処理器、15・
・・・・・自動利得制御回路、16・・・・・・ロック
オン回路。 第1図第4図 第2図 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 4象限に分割された光検知器の各素子出力を対応す
    る各前置増幅器を介して信号処理器により加減算して直
    交する2軸方向の誤差信号を生成してなる受光位置検出
    装置において、前記光検知器に入射する光のパワーレベ
    ルに応じて前記各前置増幅器の出力信号の和が常に一定
    になるように各前置増幅器のゲインを制御する手段と、
    前記光のパワーレベルが所定値以下になったとき前記誤
    差信号を零レベルに保持する手段とを付加してなること
    を特徴とする受光位置検出装置。
JP15045076A 1976-12-15 1976-12-15 受光位置検出装置 Expired JPS604434B2 (ja)

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JP15045076A JPS604434B2 (ja) 1976-12-15 1976-12-15 受光位置検出装置

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JP15045076A JPS604434B2 (ja) 1976-12-15 1976-12-15 受光位置検出装置

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Publication Number Publication Date
JPS5374455A JPS5374455A (en) 1978-07-01
JPS604434B2 true JPS604434B2 (ja) 1985-02-04

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ID=15497187

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JP15045076A Expired JPS604434B2 (ja) 1976-12-15 1976-12-15 受光位置検出装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59139520A (ja) * 1983-01-31 1984-08-10 松下電工株式会社 反射型光電スイツチ

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Publication number Publication date
JPS5374455A (en) 1978-07-01

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