JPS6042949U - 欠陥検査装置 - Google Patents
欠陥検査装置Info
- Publication number
- JPS6042949U JPS6042949U JP13557083U JP13557083U JPS6042949U JP S6042949 U JPS6042949 U JP S6042949U JP 13557083 U JP13557083 U JP 13557083U JP 13557083 U JP13557083 U JP 13557083U JP S6042949 U JPS6042949 U JP S6042949U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspected
- defect inspection
- scanning
- light
- inspection equipment
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第1図は従来の欠陥装置の一実施例を示す図、第2図は
欠陥検出信号の例を示す図、第3図、第4図は検査光の
入射角と信号の大きさの関係を示す説明図、第5図は本
考案による欠陥検査装置の一実施例を示す図である。 図において1はレーザ装置、2.2’ 、 2“はレー
ザ光、3は振動鏡、4はミラーa、5はミラーb16は
被検査体、7,7′は集光レンズ、8.8′は光検出器
、9は信号処理装置、10はハーフ・ミラー、11はミ
ラーCである。またα1、α2はレーザ光と被検査体の
なす角を表わしている。なお、図中同一あるいは相当部
分には同一符号を付しである。 6(7) (J) 11−4’1 一−/(距 」 [−刀 L− Cア) Cイ】、X
:・鬼 I・、−11 jt ζ J ) ta倍信号 r侶荀号
欠陥検出信号の例を示す図、第3図、第4図は検査光の
入射角と信号の大きさの関係を示す説明図、第5図は本
考案による欠陥検査装置の一実施例を示す図である。 図において1はレーザ装置、2.2’ 、 2“はレー
ザ光、3は振動鏡、4はミラーa、5はミラーb16は
被検査体、7,7′は集光レンズ、8.8′は光検出器
、9は信号処理装置、10はハーフ・ミラー、11はミ
ラーCである。またα1、α2はレーザ光と被検査体の
なす角を表わしている。なお、図中同一あるいは相当部
分には同一符号を付しである。 6(7) (J) 11−4’1 一−/(距 」 [−刀 L− Cア) Cイ】、X
:・鬼 I・、−11 jt ζ J ) ta倍信号 r侶荀号
Claims (1)
- 被検査体表面にレーザ光を照射する手段と、上記レーザ
光を上記被検査体表面上の所定の方向に走査するための
走査手段と、上記被検査体からの反射光あるいは透過光
を検出する検出手段とを備え、被検査体の欠陥を光学的
に検査する欠陥検査装置において、上記走査光を分割す
る手段と、分割された走査光を異なる角度で被検査体表
面に照射し、各々の照射光に対応した検出手段を備えた
ことを特徴とする欠陥検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13557083U JPS6042949U (ja) | 1983-09-01 | 1983-09-01 | 欠陥検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13557083U JPS6042949U (ja) | 1983-09-01 | 1983-09-01 | 欠陥検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6042949U true JPS6042949U (ja) | 1985-03-26 |
Family
ID=30305103
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13557083U Pending JPS6042949U (ja) | 1983-09-01 | 1983-09-01 | 欠陥検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6042949U (ja) |
-
1983
- 1983-09-01 JP JP13557083U patent/JPS6042949U/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS6042949U (ja) | 欠陥検査装置 | |
JPS6027347U (ja) | 線条体の外観試験装置 | |
JPS59203904A (ja) | 非接触断面寸法測定法 | |
JPS5855858A (ja) | 結晶方位測定方法 | |
JPS61228332A (ja) | 光学的欠陥検査装置 | |
JPH0611313A (ja) | 厚み測定装置 | |
JPS6310778B2 (ja) | ||
JPS5885491U (ja) | 光刻線加工装置 | |
JPS6025954U (ja) | 欠陥検査装置 | |
JPS6048104U (ja) | 光学式表面変位検出装置 | |
JPS5849333U (ja) | 欠陥検出装置 | |
JPS6041807U (ja) | 表面検査装置 | |
JPS61205059U (ja) | ||
JPS5995205U (ja) | レ−ザ−干渉計 | |
JPS58177807U (ja) | 基板の厚さ測定装置 | |
JPS5863541U (ja) | レンズ検査装置 | |
JPS5886558U (ja) | 鏡面体の傷検査装置 | |
JPS6035243U (ja) | 半導体レ−ザの非点隔差測定装置 | |
JPH03150566A (ja) | ホトマスクパターン検査装置 | |
JPS60115834A (ja) | 集積回路パターンの欠陥検査装置 | |
JPS60256054A (ja) | 超音波探傷システム | |
JPS5837509U (ja) | レンズの表面形状測定器 | |
JPS59126951A (ja) | 超音波探傷方法 | |
JPH074938A (ja) | 表面状態検査装置 | |
JPS6349283B2 (ja) |