JPS6041820A - Semiconductor integrated logical circuit device - Google Patents

Semiconductor integrated logical circuit device

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Publication number
JPS6041820A
JPS6041820A JP58150775A JP15077583A JPS6041820A JP S6041820 A JPS6041820 A JP S6041820A JP 58150775 A JP58150775 A JP 58150775A JP 15077583 A JP15077583 A JP 15077583A JP S6041820 A JPS6041820 A JP S6041820A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
logic
state
steady
circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP58150775A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideharu Ozaki
尾崎 英晴
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP58150775A priority Critical patent/JPS6041820A/en
Publication of JPS6041820A publication Critical patent/JPS6041820A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To set a specific internal logical circuit to a desired state by using a steady-state logical output of an integrated logical circuit device as a clock to convert an input signal from an output terminal into a latched state setting internal signal. CONSTITUTION:When a state setting external signal phi is inputted to an output terminal 4, a logical output B holds, e.g., ''0'' logical output independently of a steady-state logical output A, an output K of a latch circuit D-FF9 has temporarily a 0 output different from the state that the semiconductor integrated logical circuit device 1 performs the steady-state operation and is converted into a different state setting internal signal. Thus, an FF frequency divider 7 is reset simultaneously from the frequency dividing operation and set to the initial state.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は特定する内部論理回路を希望の状態に設定し得
る試験俵能を備えだ半導体集積論理回路装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a semiconductor integrated logic circuit device having a test function capable of setting a specified internal logic circuit to a desired state.

半導体集積論理回路装置が論理動作を正確に行っている
か否かを確認しようとする場合は、入力端子に順次異な
る信号を入力させ、これに対応して現われるべき出力信
号を期待値とする方法が通常行われる。しかし、対象と
する論理回路装置が順序回路等を含むものであると、入
力端子への試験信号力だけでは、これら順序回路の論理
状態を希望する状態に設定することができない場合が多
い。従来、この問題は特定の試i;i>端子を別途新た
に設けることによって解決されて来た。しかしながら、
最近の如く半導体集積回路技術が高年Wt化および微小
化の傾向を益々強めて来ると、設は得る外部出力ピン数
は構造上限界に近づいて来ているので、僅か一木の付加
端子と言えども増設する余裕がなく、極めて困難な状況
にある。特に論理回路装置では、時に数百本にも及ぶ外
部出力ピンを備える場合もあるので、問題はよシ深刻で
あり、試験端子を特別に設けることなく、上記論理回路
の状態設定が容易になし得ることが強く望まれている。
If you want to check whether a semiconductor integrated logic circuit device is performing logic operations correctly, there is a method that sequentially inputs different signals to the input terminals and uses the corresponding output signal as the expected value. Usually done. However, if the target logic circuit device includes sequential circuits or the like, it is often impossible to set the logic state of these sequential circuits to a desired state simply by applying a test signal to the input terminal. Conventionally, this problem has been solved by providing a separate new terminal for a specific test i; i>. however,
As semiconductor integrated circuit technology has recently become increasingly advanced in terms of aging and miniaturization, the number of external output pins that can be obtained by equipment is approaching its structural limit. However, there is no room for expansion, and we are in an extremely difficult situation. In particular, logic circuit devices sometimes have hundreds of external output pins, so the problem is very serious, and the state of the logic circuit can be easily set without providing special test terminals. It is strongly desired to obtain it.

本発明の目的は、上記の要請に鑑み、出力端子が特定内
部論理回路の状態設定端子機能を兼備する半導体論理回
路装置を提供することである。
SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above requirements, an object of the present invention is to provide a semiconductor logic circuit device in which an output terminal also functions as a state setting terminal for a specific internal logic circuit.

本発明の半導体集積論理回路装置は、内部論理回路の定
電論理出力バッファを介して出力する出力端子と、前記
出力バッファの出力側論理出力を、前記定常論理出力を
クロックとして常時ラッチする回路手2段を含んで構成
され、前記出力端子に入力される特定内部論理回路の状
態設定外部信号を、nil記出力出力バッファ出力側論
理出力理出力変化に応答して定常時とは論理出力を異に
するラッチ出力の内部信号の変換する状態設定内部信号
発生回路手段とを備えて構成される。
The semiconductor integrated logic circuit device of the present invention has a circuit mechanism that constantly latches an output terminal outputting through a constant current logic output buffer of an internal logic circuit and an output side logic output of the output buffer using the constant logic output as a clock. The output buffer is configured to include two stages, and outputs a state setting external signal of a specific internal logic circuit input to the output terminal to make the logic output different from the normal state in response to a change in output side logic output. and state setting internal signal generation circuit means for converting the internal signal of the latch output.

本発明によれば、特定の出力端子から入力した状態設定
外部信号は、集積論理回路装置の定常論理出力をクロッ
クとしてラッチされた状態設定内部信号に変換されるの
で、これを用いて特定する内部論理回路を希望する状態
に設定することができる。従って、従来の如き状態設定
のだめの付加端子を不用とするので、半導体集積論理回
路の高集積化および微小化に犬きノ゛「効果をあげるこ
とができる。
According to the present invention, a state setting external signal inputted from a specific output terminal is converted into a latched state setting internal signal using the steady logic output of the integrated logic circuit device as a clock. The logic circuit can be set to a desired state. Therefore, since the conventional additional terminal for setting the state is not required, it is possible to achieve a tremendous effect in increasing the degree of integration and miniaturization of semiconductor integrated logic circuits.

以下図面を参照して本発明を詳#llI K、説明する
The present invention will be explained in detail below with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例の回路構成図で、状態設定す
べきl侍定内(St(論理回路がフリップ・フロップ分
周回路の場合を示す。本実施例の半導体集1i’?論理
回路装置1は、入力端子2からの入力信号で、定常論理
出力八を出力バッファ3を介して出力端子4に出力する
内部論理回路5と、内部クロノクイ8号6で1/2〜1
/16の各分周波を出力する特定内部論理回路のフリッ
プ・フロップ分周回路7と、定常論理出力Aをクロック
入力として用い、出力バッファ3の出力1t’l 論理
出力Bを常時ラッチして、”1゛′または0′°のラッ
チ出力Kを出力する状態設定内部信号発生回路8とを含
む、この状態設定内部信号発生回路8は、データ端子り
に入力する論理出力Bを、クロック入力Cに入力する定
常論理入力Aで常時ラッチし、ラッチ出力Kを出力端子
Qから出力する通常のD−タイプ・フリップ・フロップ
9(以下D−FFという)で容易に構成できる。この際
、本実施例のようにデータ端子りに入カバソファ10を
挿入してもよい。このようにすると、論理出力Bは一層
の遅延が与えられ、ラッチ動作は一層確実となる。
FIG. 1 is a circuit configuration diagram of an embodiment of the present invention, in which the state to be set is shown in the case where the logic circuit is a flip-flop frequency divider circuit. The logic circuit device 1 includes an internal logic circuit 5 which outputs a steady logic output 8 to an output terminal 4 via an output buffer 3 in response to an input signal from an input terminal 2, and an internal chronograph 8 6 that outputs a steady logic output of 1/2 to 1.
Using the flip-flop frequency divider circuit 7 of the specific internal logic circuit which outputs each frequency division wave of /16 and the steady logic output A as clock input, the output 1t'l logic output B of the output buffer 3 is always latched, This state setting internal signal generating circuit 8 includes a state setting internal signal generating circuit 8 that outputs a latch output K of "1" or 0'°. It can be easily configured with an ordinary D-type flip-flop 9 (hereinafter referred to as D-FF) that always latches with a steady logic input A input to the input terminal and outputs a latch output K from an output terminal Q. As in the example, the input buffer sofa 10 may be inserted at the data terminal.In this way, the logic output B is given a further delay, and the latching operation becomes more reliable.

半導体集積論理回路装置1が定常の論理動作を行い、出
力バッファ3を介して出力端子4に定常論理出力AV出
力しているとき、出カッくノファ3の出力側に現われる
論理出力Bの信号内容は、言うまでもなく定常論理出力
Aそのものに等しい、ただし、出カバソファ3を介した
だけ定常論理出力Aよシ位相は遅れている3、ここで出
力端子4を図の点線で示すように地気におとし、一時強
制的にLレベルでクランプする状態設定外部信号φを入
力せしめると、との論理信号Bの信号内容11大きく変
わり、定常論理入力人の有無とは全く無関係に、クラン
プされている間、このLレベルを保持したものとなる。
When the semiconductor integrated logic circuit device 1 performs a steady logic operation and outputs a steady logic output AV to the output terminal 4 via the output buffer 3, the signal content of the logic output B appearing on the output side of the output circuit 3 Needless to say, is equal to the steady logic output A itself, but the phase is delayed from the steady logic output A by the output buffer 3. Here, the output terminal 4 is connected to the ground as shown by the dotted line in the figure. When the state setting external signal φ is temporarily input to forcefully clamp it at L level, the signal content 11 of logic signal B changes greatly, and the state is clamped completely regardless of the presence or absence of the steady logic input. , this L level is maintained.

この際、状態設定外部信号φは、出力端子4から出力バ
ッファ3の出力側1に入力されるので、論理回路5の動
作を乱すことばない。まだ状態設定外部信号φの入力手
段f文、出ノJ端子4を一時強制的に負電位としてもよ
レル、場合によっては短時M高電位としてもよし)が、
何れにしても出力端子4に入力した状態設定外部信号φ
は定常状態にある論理出力i3の信号内容な゛変えるよ
う作用する。従って、この状態設定外部9号φは、状態
設定内部信号発生回路80ラッチ(λ乏右[″。
At this time, since the state setting external signal φ is input from the output terminal 4 to the output side 1 of the output buffer 3, the operation of the logic circuit 5 is not disturbed. However, the input means for the state setting external signal φ may be temporarily forced to a negative potential for the output J terminal 4, or may be temporarily set to a high potential for a short period of time.
In any case, the state setting external signal φ input to output terminal 4
acts to change the signal content of logic output i3 in the steady state. Therefore, this state setting external No. 9 φ is the state setting internal signal generating circuit 80 latch (λ low right [″).

によづ)て定常状態にある場合としま異部る一うッチv
3力にの状態設定外部9号に変換される。
According to
Converts to state setting external No. 9 to 3 forces.

第2図および第3図は、上記状態設定内部信号発生回路
の動作説明図である。
FIGS. 2 and 3 are explanatory diagrams of the operation of the state setting internal signal generation circuit.

第2図は半導体集積論理回路装置1が、定常σ、)論理
動作を行っているときの動作説明図で、内部す論理回路
5からの定″Aダ論理出力A)j +)−F、 F 9
1/Jクロツク端子Cに入力され、ノζノファ3の出ブ
ノ狽1]論理出力Biiデーク端子りに入る。既に明ら
75hlcしたように、論理出力Bは定常論理出力JA
と巨]じ信号内容を持つ位相遅れの信号である。従って
・この論理出力Bは定常論理入力への立下〃すi”+で
ラッチされ、常に一定の例えば] ” 9)論理IJj
プJを持つラッチ出力Kが、状態設定内部信号として出
力端子Qから出力される。
FIG. 2 is an explanatory diagram of the operation when the semiconductor integrated logic circuit device 1 performs a steady σ,) logic operation, in which constant ``A'' logic outputs from the internal logic circuit 5 A)j +)-F, F9
It is input to the 1/J clock terminal C and is input to the logic output Bii clock terminal of the output circuit 3. As already explained in 75hlc, logic output B is the steady logic output JA
It is a phase-delayed signal that has the same signal content as the giant. Therefore, this logic output B is latched at the falling edge to the steady logic input (for example, always constant) 9) Logic IJj
The latch output K having the output voltage J is outputted from the output terminal Q as a state setting internal signal.

また第3図は出力端子4に状態設定外部信号φが入力さ
れたときの動作説明図を示す。この場合の論理出力Bの
信号内容は、状態設定外部信号φが入力されている時間
、定常論理出力への有無とは関係なく、例えば0“′の
論理出力を保持するので、同じく定常論理入力Aの立下
がシ縁でラッチされたランチ出力には、半導体集積論理
回路装置1が定常動作を行っていた掘合とは虹なり、一
時的に”0“の論理出力を持つようになる。すなわち、
出力端子4に入力された状態設定外部信号φは、このラ
ッチ機能によって前記定′に!F!!1作にある場合と
は異/よる状態設定ljE Li1(信号に変換され、
同じく出力端子Qから+1を力てれる。
Further, FIG. 3 shows an explanatory diagram of the operation when the state setting external signal φ is input to the output terminal 4. In this case, the signal content of the logic output B maintains a logic output of, for example, 0'', regardless of the presence or absence of the steady logic output while the state setting external signal φ is input, so it is the same as the steady logic input. The launch output, where the fall of A is latched at the edge, is different from the normal operation of the semiconductor integrated logic circuit device 1, and temporarily has a logic output of "0". .That is,
The state setting external signal φ input to the output terminal 4 is kept at the constant value by this latch function! F! ! State setting ljE Li1 (converted to signal,
Similarly, +1 can be output from the output terminal Q.

以上2つの具なる論理内容を持つランチ出力には、状態
設定内部信号として、フリップ・フロップ分周回路7の
フリップ・フロップ11 、12.13および14の各
リセット端子■(にそれぞれ入力される。ここで、各7
リツプ・フロップのリセット端子RがLレベルで動作す
るものとすると“1″の論理出力が入力さえしる足常動
作時では、フリップ・フロップ分周回路7は支障なく分
周jjb作を継続することができ、0”の論理出力が入
力さJ’Lる外部からの状態設定時には、これらフリッ
プ・70ツブは一斉にリセットされる。ず7tわち7リ
ツプ・フロップ分周回路7は希望する初期状態に設定さ
れる。
The launch outputs having the above two specific logic contents are input as state setting internal signals to the reset terminals (2) of the flip-flops 11, 12, 13 and 14 of the flip-flop frequency dividing circuit 7, respectively. Here, each 7
Assuming that the reset terminal R of the flip-flop operates at L level, the flip-flop frequency divider circuit 7 continues the frequency division jjb operation without any trouble during normal operation when a logic output of "1" is input. When a logic output of 0" is input and the state is set from the outside, these flip-flops are reset all at once. Set to initial state.

以上はラッチ回路にD−F、 Fを使用し、一つの特定
内部論理回路、すなわちフリップ・フロップ分周回路の
初期状態の設定に実施しブC場合を液、明したが、その
他のラッチ回路を用い得ることはもちろんであシ、この
外あらゆる特定内部論理回路の状態設定に実施すること
も可能である。例えば内部テスト回路のテスト開始信号
とすることもでき、或いは時刻表示装置を駆動して例え
ば23時59分に設定することもでさる。これらの状態
設定は何れも試験端子を増設することなく、論理出力端
子を利用して行うことができるので、半導体集積論理回
路の構造設計上きわめて大きな効果を有するものである
The above describes the case where D-F and F are used in the latch circuit to set the initial state of one specific internal logic circuit, that is, a flip-flop frequency divider circuit, but other latch circuits can be used. It goes without saying that this method can be used, but it can also be implemented to set the state of any specific internal logic circuit. For example, it can be used as a test start signal for an internal test circuit, or it can be set to, for example, 23:59 by driving a time display device. Since all of these state settings can be performed using logic output terminals without adding test terminals, this has an extremely large effect on the structural design of semiconductor integrated logic circuits.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例の回路構成図、第2図および
ご33図は、状態設定内部1に号発生回路の動作説明図
である。 1・・・・・・半導体集積論理回路装置、2・・・・・
・入力端子、3・・・・・・出力バノ7ア、4・・・・
・・出力端子、5・・・・・・内部論理回路、6・・・
・・・内部クロック入力、7・・・・・フロップ・フロ
ップ分周回路、8・・・・・・状態設定内部信号発生回
路、9・・・・・・D−タ・fグパ7リソプ・71:’
lノブ、10・・・・・・人力バッファ、11,12゜
13.14・・・・・パフリップ・−70ツブ、A・・
・・・・定常論理出力、B・・・・・・出力バノ7アの
出力側論理出力、K・・・・・ラッチ出力。
FIG. 1 is a circuit configuration diagram of an embodiment of the present invention, and FIGS. 2 and 33 are diagrams illustrating the operation of a signal generation circuit in the state setting internal 1. 1... Semiconductor integrated logic circuit device, 2...
・Input terminal, 3... Output vane 7a, 4...
...Output terminal, 5...Internal logic circuit, 6...
...Internal clock input, 7...Flop/flop frequency divider circuit, 8...State setting internal signal generation circuit, 9...D-data/f-regulator 7 resop・71:'
l knob, 10...manual buffer, 11,12゜13.14...puff flip -70 knob, A...
...Steady logic output, B...Output side logic output of output vanor 7a, K...Latch output.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 内部論理回路の定常論理出力を出力バッファを介し出力
する出力端子と、前記出力バッファの出力側論理出力を
前記定常論理出力をクロック入力として常時ラッチする
ラッチ回路手段を含んで構成され、前記出力端子に入力
される特定内部論理回路の状態設定外部信号を、前記出
カバソファ出力側論理出力の論理出力変化にかかわらず
定常時とは論理出力を異にするラッチ出力の内部信号に
変換する状態設定内部信号発生回路手段とを備えること
を特徴とする半導体集積論理回路装置。
The output terminal includes an output terminal for outputting a steady logic output of an internal logic circuit via an output buffer, and a latch circuit means for always latching the output side logic output of the output buffer using the steady logic output as a clock input. A state setting internal circuit that converts a state setting external signal of a specific internal logic circuit inputted into an internal signal of a latch output whose logic output is different from that in a steady state regardless of a change in the logic output of the logic output on the output side of the output sofa. 1. A semiconductor integrated logic circuit device comprising: signal generation circuit means.
JP58150775A 1983-08-18 1983-08-18 Semiconductor integrated logical circuit device Pending JPS6041820A (en)

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