JPS6039982U - 中性子束測定装置 - Google Patents

中性子束測定装置

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JPS6039982U
JPS6039982U JP1983131973U JP13197383U JPS6039982U JP S6039982 U JPS6039982 U JP S6039982U JP 1983131973 U JP1983131973 U JP 1983131973U JP 13197383 U JP13197383 U JP 13197383U JP S6039982 U JPS6039982 U JP S6039982U
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JP
Japan
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neutron flux
circuit
calibration
monitor
neutron
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JP1983131973U
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JPH06791Y2 (ja
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本馬　隆男
遠藤　順政
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株式会社東芝
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    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
    • Y02E30/30—Nuclear fission reactors

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  • Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は中性子源領域モニタの構成図、第２図は中間領
域モニタの構成図、第３図は従来における中性子束測定
装置の構成図、第４図は従来における中性子束測定装置
に校正回路を付加した構成図、第５図は第４図に示す対
数計数率部の校正を説明するための図、第６図は第４図
に示す対数キャンベル部の具体的な構成図、第７図ａ、
　ｂ、’ｃは第４図に示す対数キャンベル部の校正を説
明するための図、第８図は本考案に係る中性子束測定装
置の一実施例を示す構成図、第９図は本装置における対
数キャンベル部の具体的な構成図、第１０図は本装置に
おける対数キャンベル部校正回路の具体的な構成図、第
１１図は本装置における対数キャンベル部の校正を説明
するための図、第１２図は本装置の校正を説明するため
の図、第１３図および第１４図は本装置の変形例を示す
構成図である。 ５１・・・対数計数率部、５２・・・ＳＲＭモード切換
部、６１・・・線形キャンベル部、６２・・・ＩＲＭモ
ード切換部、７１・・・対数キャンベル部、７１ａ・・
・帯域増幅回路、７１ｂ・・・実効値回路、７１ｃ・・
・対数変換回路、８０・・・ＷＲＭ用中性子検出器、８
１・・・プリアンプ、８２・・・ペリオド部、８３・・
・検出切換部、８４・・・トリップ部、８５・・・ＷＲ
Ｍモード切換部、８６・・・ペリオド部校正回路、９０
・・・対数計数率部校正回路、９１・・・線形キャンベ
ル部校正回路、９２・・・対数キャンベル部校正回路、
９２ａ・・・発振器、９２ｂ・・・減衰器。

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. （１）原子炉の中性子源領域における中性子束を測定す
    る中性子源領域モニタ、中間領域における中性子束を測
    定する中間領域モニタおよび中性子源領域と中間領域と
    における中性子束を測定するワイドレンジモニタの機能
    を有する中性子束測定装置において、前記中性子源領域
    モニタの校正を行なうための校正信号を出力する第１の
    校正回路と、前記中間領域モニタの校正を行なうための
    校正信号を出力する第２の校正回路と、前記ワイドレン
    ジモニタの校正を行なうための校正信号を出力する第３
    の校正回路とを具備したことを特徴とする中性子束測定
    装置。
  2. （２）第３の校正回路の校正信号は、前記ワイドレンジ
    モニタにおいて対数キャンベル測定法に基づいて演算を
    行なう対数キャンベル回路の帯域増幅回路に入力する実
    用新案登録請求の範囲第（１）項記載の中性子束測定装
    置。
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JPS6039982U true JPS6039982U (ja) 1985-03-20
JPH06791Y2 JPH06791Y2 (ja) 1994-01-05

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2000147187A (ja) * 1998-08-31 2000-05-26 Toshiba Corp 中性子束計測装置
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56122992U (ja) * 1980-02-20 1981-09-18

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JPH06791Y2 (ja) 1994-01-05

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