JPS6035231A - 物質内部の温度分布測定方法 - Google Patents
物質内部の温度分布測定方法Info
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- JPS6035231A JPS6035231A JP14350183A JP14350183A JPS6035231A JP S6035231 A JPS6035231 A JP S6035231A JP 14350183 A JP14350183 A JP 14350183A JP 14350183 A JP14350183 A JP 14350183A JP S6035231 A JPS6035231 A JP S6035231A
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- Japan
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- temperature
- measured
- ultrasonic
- probe
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K1/00—Details of thermometers not specially adapted for particular types of thermometer
- G01K1/02—Means for indicating or recording specially adapted for thermometers
- G01K1/026—Means for indicating or recording specially adapted for thermometers arrangements for monitoring a plurality of temperatures, e.g. by multiplexing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K11/00—Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00
- G01K11/22—Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using measurement of acoustic effects
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、超音波を利用して物質内部の温度分布を測定
する方法に関する。
する方法に関する。
近時工業生産物の品質に対する要求はますますきびしく
なっており、鉄鋼業においても鋼材の調質に対する要求
は日々にきびしくなっている。例えば厚板材の品質を管
理するためには圧延時の材料温度を４００℃〜８００℃
の間において±１０℃程度の誤差範囲で制御する等の要
求が発生している。ところで温度を計る手段としては輻
射熱を応用したものがあり、これは物質の表面温度を知
る上で実に有効な方法であるが、物質内部の温度を知る
には無力である。物質の内部温度を知る手段には例えば
白金、白金ロジウム熱電対を物質内にうめ込む方法があ
る。しかしながらこの方法はオンラインでの計測方法と
して用いることができず、現状ではオンラインにおいて
物質内部の温度分布を知る手段はないに等しいのが実状
である。
なっており、鉄鋼業においても鋼材の調質に対する要求
は日々にきびしくなっている。例えば厚板材の品質を管
理するためには圧延時の材料温度を４００℃〜８００℃
の間において±１０℃程度の誤差範囲で制御する等の要
求が発生している。ところで温度を計る手段としては輻
射熱を応用したものがあり、これは物質の表面温度を知
る上で実に有効な方法であるが、物質内部の温度を知る
には無力である。物質の内部温度を知る手段には例えば
白金、白金ロジウム熱電対を物質内にうめ込む方法があ
る。しかしながらこの方法はオンラインでの計測方法と
して用いることができず、現状ではオンラインにおいて
物質内部の温度分布を知る手段はないに等しいのが実状
である。
本発明は近時ますます要求が高まりつつある物質内部の
温度分布をオンラインで連続的に知る手段を提供するも
のであって、その骨子は被測温体の厚さ方向に任意の斜
角度をもって超音波を発振し、該超音波の受信信号より
、超音波が到達したピーク位置と受信に要した伝播時間
をめるとともに、さらに該被測温体の厚みと表面温度を
測定し、これらの情報と内部温度が均一の場合の超音波
到達位置情報とから該被測温体内部の温度分布を演算す
ることを特徴とする物質内部の温度測定方法にある。以
下図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
温度分布をオンラインで連続的に知る手段を提供するも
のであって、その骨子は被測温体の厚さ方向に任意の斜
角度をもって超音波を発振し、該超音波の受信信号より
、超音波が到達したピーク位置と受信に要した伝播時間
をめるとともに、さらに該被測温体の厚みと表面温度を
測定し、これらの情報と内部温度が均一の場合の超音波
到達位置情報とから該被測温体内部の温度分布を演算す
ることを特徴とする物質内部の温度測定方法にある。以
下図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第１図は超音波による温度測定法の一例を示す図であり
、１は被測温体、２は探触子である。３は超音波測定器
（ＵＳＴ）の信号処理部であり、４はＵＳＴの表示部を
示している。５は温度演算回路であり、６は演算に必要
な定数の設定部である。７はγ線源であり、８はγ線の
検出部、９は被測温体１の厚み測定部である。物質中の
音速Ｖは ｖ＝Ａ （１＋ｃｒｔ） ｍ／ｓｅｃ ・・・・・・■
で表わされる。ここでＡは０℃における物質中の音速で
あり、またαは材質によって決まる係数であり、ｔは°
Ｃで表わした温度である。ある温度における被測温体１
の上面に２のごとく探触子を設置し音波を発射すれば、
表示部４に示すごとく音波発射からバンクエコー受信ま
での時間を測定することができる。この測定した伝播時
間をＳとする。一方、被測温体１の厚さは、γ線源７、
γ線検出部８及び厚み演算部９よりなるいわゆるγ線厚
み針にて知ることができ、この測定値をβとする。上記
の測定結果より以下の式が成立する。
、１は被測温体、２は探触子である。３は超音波測定器
（ＵＳＴ）の信号処理部であり、４はＵＳＴの表示部を
示している。５は温度演算回路であり、６は演算に必要
な定数の設定部である。７はγ線源であり、８はγ線の
検出部、９は被測温体１の厚み測定部である。物質中の
音速Ｖは ｖ＝Ａ （１＋ｃｒｔ） ｍ／ｓｅｃ ・・・・・・■
で表わされる。ここでＡは０℃における物質中の音速で
あり、またαは材質によって決まる係数であり、ｔは°
Ｃで表わした温度である。ある温度における被測温体１
の上面に２のごとく探触子を設置し音波を発射すれば、
表示部４に示すごとく音波発射からバンクエコー受信ま
での時間を測定することができる。この測定した伝播時
間をＳとする。一方、被測温体１の厚さは、γ線源７、
γ線検出部８及び厚み演算部９よりなるいわゆるγ線厚
み針にて知ることができ、この測定値をβとする。上記
の測定結果より以下の式が成立する。
Ａ（１＋αｔ）ＸＳ＝２Ａ
即ち被測温体１の内部温度（内部の平均温度）ｔは既知
数Ａ、α及び測定値１．Ｓで表わされ、計算により知る
ことができる。温度演算回路５は上記０式を演算する回
路であり、設定部６は既知数Ａおよびαを設定する回路
である。しかしながらこの装置での測定結果は被測温体
内部の平均温度であって、温度勾配や温度分布はわから
ない。
数Ａ、α及び測定値１．Ｓで表わされ、計算により知る
ことができる。温度演算回路５は上記０式を演算する回
路であり、設定部６は既知数Ａおよびαを設定する回路
である。しかしながらこの装置での測定結果は被測温体
内部の平均温度であって、温度勾配や温度分布はわから
ない。
次に被測温体に温度勾配がついている場合の測定方法の
一例を第２図について説明する。この第２図で第１図と
同じ部分には同じ符号が付してあり、第１図と同じ符号
１〜９の部分で演算した結果は被測温体１内部の平均的
温度を示している。
一例を第２図について説明する。この第２図で第１図と
同じ部分には同じ符号が付してあり、第１図と同じ符号
１〜９の部分で演算した結果は被測温体１内部の平均的
温度を示している。
これをｔａとする。また輻射温度計１０．１１で被測温
体１の表面温度を測定し、その測定値ｔｌ。
体１の表面温度を測定し、その測定値ｔｌ。
ｔ２を温度演算回路５に入力する。第４図において横軸
に測定した温度をとり、ｔｌ、ｔａ、ｔ２（ｔ ２＞ｔ
ａ＞ｔ ＋）を図示のごとくプロットする。つぎに縦軸
方向に板厚βをとり、被測温体ｌの表面ＩＡ、裏面ＩＢ
、および平均温度ｔａに等しい温度を持つと推定される
被測温体１内の点ＩＣを図示のごとくプロットする。横
軸上のｔａを通り縦軸に平行な直線と縦軸上のＩＣを通
り横軸に平行な直線との交点との交点をＰとし、同様に
横軸上のｔｌ、ｔ２を通り縦軸に平行な直線と、縦軸上
のＬＡ、ＩＢを通り横軸に平行な直線の交点をＰＩ、Ｐ
２とするとＰ＋、Ｐ、Ｐ２でプロットされる線分は板厚
β内の温度勾配曲線で、実際の温度勾配に近似した値を
示している。しかし、点ＩＣは正確には分らず、か＼る
方法では正確な温度勾配曲線は得られない。
に測定した温度をとり、ｔｌ、ｔａ、ｔ２（ｔ ２＞ｔ
ａ＞ｔ ＋）を図示のごとくプロットする。つぎに縦軸
方向に板厚βをとり、被測温体ｌの表面ＩＡ、裏面ＩＢ
、および平均温度ｔａに等しい温度を持つと推定される
被測温体１内の点ＩＣを図示のごとくプロットする。横
軸上のｔａを通り縦軸に平行な直線と縦軸上のＩＣを通
り横軸に平行な直線との交点との交点をＰとし、同様に
横軸上のｔｌ、ｔ２を通り縦軸に平行な直線と、縦軸上
のＬＡ、ＩＢを通り横軸に平行な直線の交点をＰＩ、Ｐ
２とするとＰ＋、Ｐ、Ｐ２でプロットされる線分は板厚
β内の温度勾配曲線で、実際の温度勾配に近似した値を
示している。しかし、点ＩＣは正確には分らず、か＼る
方法では正確な温度勾配曲線は得られない。
つぎに第２図の方法を改良した本発明方法である物質内
の温度分布を知る方法を、第３図及び第５図に基づき説
明する。まず、装置構成を説明すると被測温体１の上面
に置かれた斜角探触子１０１は励振部１０２にて１〜０
．１ ｍ Ｓの周期で繰り返し励振され、被測温体１中
にある角度を持たせて超音波を周期的に発信している。
の温度分布を知る方法を、第３図及び第５図に基づき説
明する。まず、装置構成を説明すると被測温体１の上面
に置かれた斜角探触子１０１は励振部１０２にて１〜０
．１ ｍ Ｓの周期で繰り返し励振され、被測温体１中
にある角度を持たせて超音波を周期的に発信している。
アレイプローブ１０３は被測温体下面に配置された複数
個のプローブ列よりなり、マルチプローブ超音波測定器
（ＵＳＴ）１０４によりその１個または数個のプローブ
が組にされて超音波が発信される毎に一端より他端へ向
けて逐次選択される。斜角探触子１０１より発した音波
は被測温体１内を通ってその下面に達するが、その到達
位置にあるプローブが選択されるサイクルでアレイプロ
ーブ１０３より出力があり、このアレイプローブ１０３
の受信信号はマルチプローブＵＳＴ１０４に入力されて
信号処理されたのち音波入射点演算部１０５に入力され
、該演算部でマルチプローブ上の受信位置がめられ（ど
のプローブが出力を生じたかでこの受信位置は容易にま
る）、また斜角探触子１０１を励振する励振部１０２の
パルス信号からプローブ受信出力があった時点までの時
間を計測することにより被測温体１内を超音波が伝播す
るに要した時間がめられる。温度演算部１０６は、音波
入射点演算部１０５がらの位置、時間の出力情報や、図
示はしていないが厚み針及び表面温度針からの厚み情報
１１及び表面温度情報Ｉ２がら被測温体１の温度分布を
解析する・ アレイプローブは点線１０７で示すように被測温体ｌの
上面（斜角探触子１０１が置かれた面）に配置してもよ
く、この場合音波は被測温体１の底面で反射されてバッ
クエコーがアレイプローブ１０７に受信され、超音波は
２度被測温材中を通過するので経路変化が増幅され、高
感度となって、温度分布がさらに精度よく計れる。
個のプローブ列よりなり、マルチプローブ超音波測定器
（ＵＳＴ）１０４によりその１個または数個のプローブ
が組にされて超音波が発信される毎に一端より他端へ向
けて逐次選択される。斜角探触子１０１より発した音波
は被測温体１内を通ってその下面に達するが、その到達
位置にあるプローブが選択されるサイクルでアレイプロ
ーブ１０３より出力があり、このアレイプローブ１０３
の受信信号はマルチプローブＵＳＴ１０４に入力されて
信号処理されたのち音波入射点演算部１０５に入力され
、該演算部でマルチプローブ上の受信位置がめられ（ど
のプローブが出力を生じたかでこの受信位置は容易にま
る）、また斜角探触子１０１を励振する励振部１０２の
パルス信号からプローブ受信出力があった時点までの時
間を計測することにより被測温体１内を超音波が伝播す
るに要した時間がめられる。温度演算部１０６は、音波
入射点演算部１０５がらの位置、時間の出力情報や、図
示はしていないが厚み針及び表面温度針からの厚み情報
１１及び表面温度情報Ｉ２がら被測温体１の温度分布を
解析する・ アレイプローブは点線１０７で示すように被測温体ｌの
上面（斜角探触子１０１が置かれた面）に配置してもよ
く、この場合音波は被測温体１の底面で反射されてバッ
クエコーがアレイプローブ１０７に受信され、超音波は
２度被測温材中を通過するので経路変化が増幅され、高
感度となって、温度分布がさらに精度よく計れる。
次に第３図の測定方法即ちアレイプローブ１゜３を被測
温体１の下面に設けた場合の被測温体１内部の温度分布
を測定する原理を第５図（２１） （ｂｌに基づいて説
明する。（ａｌは基本原理を説明する図である。図示の
ように、被測温体１の内部の温度はｔｌ。
温体１の下面に設けた場合の被測温体１内部の温度分布
を測定する原理を第５図（２１） （ｂｌに基づいて説
明する。（ａｌは基本原理を説明する図である。図示の
ように、被測温体１の内部の温度はｔｌ。
ｔ２．ｔ３の３層に分れていると見做す（仮定する）。
ｔ＋＝ｔ２＝ｔ３なら音波は２１で示すごとくθの角度
で直進し、そして音波の到達点２２はアレイプローブ１
０３により知ることができるので、斜角プローブ１０１
及びアレイプローブ１０３などが不変として到達点が２
２なら逆説的に、ｔｌ＝ｔ２＝ｔａであることが分る。
で直進し、そして音波の到達点２２はアレイプローブ１
０３により知ることができるので、斜角プローブ１０１
及びアレイプローブ１０３などが不変として到達点が２
２なら逆説的に、ｔｌ＝ｔ２＝ｔａであることが分る。
そして被測温体１の厚みｌは予め図示しない厚み針で測
定しておけば、音波の発射角θは分っているから音波の
到達距離（直線２１の長さ）Ｊ＋は計算によりめること
ができ、音波の伝播時間も前述のように測定できるので
、結局第１図と同様に温度（平均温度であるが、この場
合各部均一温度としているので各部の温度そのもの）測
定することができる。
定しておけば、音波の発射角θは分っているから音波の
到達距離（直線２１の長さ）Ｊ＋は計算によりめること
ができ、音波の伝播時間も前述のように測定できるので
、結局第１図と同様に温度（平均温度であるが、この場
合各部均一温度としているので各部の温度そのもの）測
定することができる。
つぎに３層の状態がｔ＋＝ｔ３かつｔ２＜ｔｌ即ち上、
下面が中央より高温の場合音波の経路は２３のごとくな
り、またｔ ＋ ＝ ｔ ３かっｔ ２ ＞ ｔ Ｉ即
ち上下面が中央より低温の場合には音波経路は２４のご
とくなる。即ち第５図においてアレイプローブ上に到達
する音波の位置が音波の発射角θで決められる線分２１
より左側になれば上下面より中央部が低い温度分布とな
り、また右側となれば上下面より中央部が高い温度分布
となることが分る。これは被測温体の温度が低いところ
では音速が速くなり、高温になると音速が遅くなるため
である。
下面が中央より高温の場合音波の経路は２３のごとくな
り、またｔ ＋ ＝ ｔ ３かっｔ ２ ＞ ｔ Ｉ即
ち上下面が中央より低温の場合には音波経路は２４のご
とくなる。即ち第５図においてアレイプローブ上に到達
する音波の位置が音波の発射角θで決められる線分２１
より左側になれば上下面より中央部が低い温度分布とな
り、また右側となれば上下面より中央部が高い温度分布
となることが分る。これは被測温体の温度が低いところ
では音速が速くなり、高温になると音速が遅くなるため
である。
またｔｌ、ｔ２．ｔ３なる温度帯の幅を仮定する、例え
ばｔｌの各温度帯の幅はｔ３のそれに等しいとすればア
レイプローブの２５．２２間または２２．２６間の距離
は温度ｔ＋＝ｔ３とｔ２間の温度差に比例しており、該
距離から温度ｔ２をめることができる。これは温度ｔ２
の温度帯の幅と、温度による伝播方向変化角とからめて
もよいが、簡単には種々のｔ２の差に対する上記距離を
予めめておいてそれより該当するものを選択すればよい
。またもしｔｌ（＝ｔ３）とｔ２の温度を仮定すれば２
５．２２間または２２．２６間の距離は温度帯の按分比
と一定の相関を有するから、これより各温度帯の幅を決
定できる。
ばｔｌの各温度帯の幅はｔ３のそれに等しいとすればア
レイプローブの２５．２２間または２２．２６間の距離
は温度ｔ＋＝ｔ３とｔ２間の温度差に比例しており、該
距離から温度ｔ２をめることができる。これは温度ｔ２
の温度帯の幅と、温度による伝播方向変化角とからめて
もよいが、簡単には種々のｔ２の差に対する上記距離を
予めめておいてそれより該当するものを選択すればよい
。またもしｔｌ（＝ｔ３）とｔ２の温度を仮定すれば２
５．２２間または２２．２６間の距離は温度帯の按分比
と一定の相関を有するから、これより各温度帯の幅を決
定できる。
また第１図ないしは第２図に示すごとき垂直測定方法と
組合せたり音波発射角θを種々変えたり、さらには横波
、縦波を用いて情報を集めれば被測温帯内部の温度分布
情報をより正確に得ることができる。第５図（ｂＪは被
測温体内部の温度変化が連線的であった場合の音波の経
路を示している。２２′。
組合せたり音波発射角θを種々変えたり、さらには横波
、縦波を用いて情報を集めれば被測温帯内部の温度分布
情報をより正確に得ることができる。第５図（ｂＪは被
測温体内部の温度変化が連線的であった場合の音波の経
路を示している。２２′。
２５’、２６’は第５図（ａｌの超音波到達点２２゜２
５．２６に相当する。
５．２６に相当する。
第３図の説明においてはアレイプローブの使用例を示し
たがこれは単一のプローブを機械的にアレイプローブの
スキャン方向にそって移動させることによって得られる
情報を用いても同じ効果を得ることができる。この場合
の超音波到達位置の測定は、超音波の各発信毎にプロー
ブを所定長ずつ移動させて、プローブが超音波受信出力
を生じたそのときの該プローブ位置により行なう。また
例えば熱間厚板材の温度測定等のごとき高温での測温は
電磁超音波方式の探触子を用いることによって実現可能
である。また斜角探触子１０１にフォーカスプローブを
用い、受信プローブ位置で焦点を結ぶようにすれば到達
位置をより正確に知ることができるし同じ効果は送信側
にマルチプローブを用いることでも達成できる。
たがこれは単一のプローブを機械的にアレイプローブの
スキャン方向にそって移動させることによって得られる
情報を用いても同じ効果を得ることができる。この場合
の超音波到達位置の測定は、超音波の各発信毎にプロー
ブを所定長ずつ移動させて、プローブが超音波受信出力
を生じたそのときの該プローブ位置により行なう。また
例えば熱間厚板材の温度測定等のごとき高温での測温は
電磁超音波方式の探触子を用いることによって実現可能
である。また斜角探触子１０１にフォーカスプローブを
用い、受信プローブ位置で焦点を結ぶようにすれば到達
位置をより正確に知ることができるし同じ効果は送信側
にマルチプローブを用いることでも達成できる。
上述したごとく本発明は従来全く測定方法のなかった物
質内部の温度分布を外部より間接的に知る方法を提供す
るものであって、学術的、工業的に極めて有益な発明で
ある。
質内部の温度分布を外部より間接的に知る方法を提供す
るものであって、学術的、工業的に極めて有益な発明で
ある。
第１図および第２図は超音波による温度測定法を説明す
る図、第３図は本発明の実施例を示す説明図、第４図は
物質内部の温度パターンを説明する図、第５図は物質内
の音波経路を説明する図である。 １・・・被測温物体、２・・・探触子、３・・・ＵＳＴ
信号処理部、４・・・ＵＳＴ表示部、５・・・温度演算
回路、６・・・定数設定部、７・・・γ線源、８・・・
Ｔ線検出部、９・・・厚み測定部、１０．１１・・・輻
射温度針、１０１・・・斜角探触子、１０２・・・励振
部、１０７，１０３・・・アレイプローブ、１０４・・
・マルチプローブＵＳＴ、１０５・・・音波入射点演算
部、１０６・・・温度演算部。 出 願 人 新日本製鐵株式会社 代理人弁理士 青 柳 稔 第２図 一一 六 −も 第３図 第４図
る図、第３図は本発明の実施例を示す説明図、第４図は
物質内部の温度パターンを説明する図、第５図は物質内
の音波経路を説明する図である。 １・・・被測温物体、２・・・探触子、３・・・ＵＳＴ
信号処理部、４・・・ＵＳＴ表示部、５・・・温度演算
回路、６・・・定数設定部、７・・・γ線源、８・・・
Ｔ線検出部、９・・・厚み測定部、１０．１１・・・輻
射温度針、１０１・・・斜角探触子、１０２・・・励振
部、１０７，１０３・・・アレイプローブ、１０４・・
・マルチプローブＵＳＴ、１０５・・・音波入射点演算
部、１０６・・・温度演算部。 出 願 人 新日本製鐵株式会社 代理人弁理士 青 柳 稔 第２図 一一 六 −も 第３図 第４図
Claims (1)
- 被測温体の厚さ方向に任意の斜角度をもって超音波を発
振し、該超音波の受信信号より、超音波が到達したピー
ク位置と受信に要した伝播時間をめるとともに、さらに
該被測温体の厚みと表面温度を測定し、これらの情報と
内部温度が均一の場合の超音波到達位置情報とから該被
測温体内部の温度分布を演算することを特徴とする物質
内部の温度測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14350183A JPS6035231A (ja) | 1983-08-05 | 1983-08-05 | 物質内部の温度分布測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14350183A JPS6035231A (ja) | 1983-08-05 | 1983-08-05 | 物質内部の温度分布測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6035231A true JPS6035231A (ja) | 1985-02-23 |
Family
ID=15340187
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14350183A Pending JPS6035231A (ja) | 1983-08-05 | 1983-08-05 | 物質内部の温度分布測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6035231A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6236412A (ja) * | 1985-08-12 | 1987-02-17 | Mitsui Toatsu Chem Inc | 塩化ビニル樹脂の製造方法 |
| JP2001074567A (ja) * | 1999-09-06 | 2001-03-23 | Masahiro Nishikawa | 電磁超音波を用いた非接触型流体温度測定方法 |
| US7708461B2 (en) * | 2004-09-17 | 2010-05-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Temperature determination of an away-facing surface of an object |
-
1983
- 1983-08-05 JP JP14350183A patent/JPS6035231A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6236412A (ja) * | 1985-08-12 | 1987-02-17 | Mitsui Toatsu Chem Inc | 塩化ビニル樹脂の製造方法 |
| JP2001074567A (ja) * | 1999-09-06 | 2001-03-23 | Masahiro Nishikawa | 電磁超音波を用いた非接触型流体温度測定方法 |
| US7708461B2 (en) * | 2004-09-17 | 2010-05-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Temperature determination of an away-facing surface of an object |
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