JPS6035227A - 赤外輻射温度計 - Google Patents

赤外輻射温度計

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Publication number
JPS6035227A
JPS6035227A JP14405383A JP14405383A JPS6035227A JP S6035227 A JPS6035227 A JP S6035227A JP 14405383 A JP14405383 A JP 14405383A JP 14405383 A JP14405383 A JP 14405383A JP S6035227 A JPS6035227 A JP S6035227A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
piezoelectric substrate
radiation thermometer
thickness
less
substrate
Prior art date
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Pending
Application number
JP14405383A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenzo Ochi
謙三 黄地
Ritsuo Inaba
律夫 稲葉
Masao Kasahara
笠原 征夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP14405383A priority Critical patent/JPS6035227A/ja
Publication of JPS6035227A publication Critical patent/JPS6035227A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/38Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using extension or expansion of solids or fluids
    • G01J5/44Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using extension or expansion of solids or fluids using change of resonant frequency, e.g. of piezoelectric crystals

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、赤外輻射湿度計に関するものであり、特に高
信頼度、高性能な温度計の構造に関するものである。
従来例の構成とその問題点 赤外輻射温度計は最近ますます高信頼化、高性能化され
る傾向にあり、そのため、上記温度計用素子及びその開
発に対する要望が高まりつつある。
仁の種の温度計として、弾性表面波遅延線素子を用いた
発振器からなるものがよく知られている。
以下図面を用いて従来の温度計を説明する。第1図に上
記温度計に用いられる素毛斜視図を、第2図に発振器の
ブロック図を示す。第1図において、(1)(2)は弾
性表面波を送受信するための交差指型電極を示す。(3
)は圧電性基板、(4)は圧電性基板(3)上の赤外受
光部を示す。(5)は圧電性基板(3)を熱絶縁するた
めの支持台を示す。第2図において、(1)〜(4)は
第1図と同じである。(6)は増幅器、(7)は出力コ
ンデンサ、(8)は出力端子を示す。
次に、動作原理を簡単に説明する。第2図において、交
差指型電!M(2)より送信された弾性表面波は圧電性
基板(3)上を伝搬し、交差指型電極(1)により受信
され、増幅器(6)により増幅され、電極(2)にフィ
ードバックされて発振する9発振周波数はコンデンサ(
7)を介して出力端子(8)から計測される。
仁の際、発振周波数は交差指型電極(1) (2)によ
り送受信される弾性表面波の特性と該電極(1) (2
)間を伝搬する弾性表面波の伝搬時間とにより決まる。
このような状態で、赤外受光部(4)に赤外光が入射す
ると、圧電性基板(3)の温度がわずか上昇し、弾性表
面波の伝搬時間が基板(3)の特性に依存して変化し、
発振周波数が変化する。従って、発振周波数を検知する
ことにより、温度計として動作することになる。この際
、圧電性基板(3)の温度上昇は約(し’1ooo)℃
程度であり、発振周波数を約170H,に設定した場合
、上記周波数の変化は数100Hz程度である。なお、
上記の値は、圧電性基板(3)にLiNb0n結晶板を
用いた場合の例である。
上記例に挙げたように、仁の種の基板として、圧電特性
が良く、かっ伝搬時間の温度特性の良好な材料であるL
 i N b Osが知られている。また、基板の板厚
は、薄ければ薄い程良いと考えられてぃ々の問題、例え
ば残留歪み、さらには弾性表面波に対する基板裏面など
の影響が発生し、実用上非常に大きな問題であった。
より具体的には、上記基板の板厚を薄くしていくと、基
板が曲がるなどのため弾性表面波素子の挿入損失が増大
したり、中心周波数が大きく変動するなどの問題があっ
た。そのため高信頼度、高性能な赤外輻射温度計用素子
を実現することができなかった。
発明の目的 本発明者等は、赤外輻射温度計用素子を詳細に検討した
結果、基板裏面の表面粗さが残留歪み、残留応力に大い
に関係していることを見い出し、その結果、より高信頼
度、高性能な赤外輻射温度計用素子を実現できることを
見つけた。
そこで、本発明は上記の点を満足する高信頼性、高性能
の赤外輻射温度計用素子の適切な構造を提供することを
目的とするものである。
発明の構成 上記目的を達成するために、本発明は、圧電性基板と、
上記圧電性基板上に形成された一対の交差指型電極と、
上記圧電性基板に熱輻射受光面を備えた弾性表面波素子
を用いた発振器からなる赤外輻射温度計において、上記
圧電性基板の板厚が80μm以上60μm以下で、かつ
上記圧電性基板の裏面の表面粗さRP−Pが0.2μm
以下であるようにしたもので、より高信頼度、高性能な
赤外輻射温度計を実現することができたものである。
実施例の説明 以下本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。第8
図は本発明の赤外輻射温度計用素子の斜視図を示す。圧
電性基板(2)としてLiNbOx単結晶板(Y−’+
ff1)を用い、弾性表面波の伝搬方向はZ軸とした。
交差指型電極(ロ)(6)は0,16μm厚のA4蒸着
膜により形成し、7に極間距離は約8mとした。そし”
C、n! li Q、I)(2)の電極指及びスペース
は6μmとした。
素子サイズはjiL5X61111であった。板厚は基
板裏面を各種の番数の砥粒を用いて研磨し、制御した。
支持台(イ)(ト)は板厚1100pのガラス板を幅1
ffに切り出して用いた。仁の素子をTO−6パツケー
ジにマウントして用いた。(ロ)は赤外受光部である。
温度計は第2図に示した回路構成を用いた。このとき増
幅器〔第2図の(6)〕はトランジスタ1石で構成し、
安定な発振を得るために増幅度を約18dBとした。ま
た、良好ない比を得るため増幅器の電源は乾電池(1,
5V)を用いた。
jI4図に上記素子の特性を示す。第4図において、横
軸は上記素子の板厚を、縦軸は挿入損失と中心周波数を
示す。上記素子の裏面研磨の最終仕上げは砥粒$800
0 (平均粒径1.0μm)を用いてパフ仕上げした。
第5図に上記素子の裏面の表面粗さの測定結果を示す。
第6図より表面粗さRP−、i>100 A以下に充分
入っていることがわかる。また第4図より、発振器の増
幅器の増幅度が18dBであることを考慮すると、素子
板厚が40μm以上、すなわち挿入損失が10dB以下
であれば、充分安定に発振することがわかる。また、板
厚が80μm1挿入損失が12dBでもかなり安定に発
振することより が本発明者等らに、確認された。しかしながら板厚が8
0−以下になると、TO−5パツケージにマウントする
ことが出来ず、素子の特性を測定す一4cとができなか
った。
第6図、第7図に砥粒#18000 (平均粒径5,4
m)を用いてガラス板で素子裏面を研磨した結果を示す
。第7図より、素子裏面の表面粗さR1−1力;約0.
2μm程度であることがわかる。また、第6図より、素
子の板厚が50μm以上であれば非常骨こ安定に、また
40Pm以上においてもかなり安定シこ発振することが
わかる。
第8図、第9図に従来の素子の結果を示す。従来この種
の温度計用素子の裏面研磨には、研磨速度などの観点が
ら砥粒#1G00を用いてガラス板上で研磨していた。
第9図より、素子裏面の表面粗さR9−1が約1−程度
であることがわかる。また第8図より、素子板厚が60
μm以上あれば非常に安定に、また60μm以上でも発
振することがわかる。
この結果、従来は、高信頼度即ち安定に発振させるため
に、最小素子板厚を60戸と規定していた。
また、用いる弾性表面波の波長が20μmであることを
考えると、表面粗さRp−p 21 p mは充危小さ
いと考えられていた0 第10図に裏面をパフ研磨した素子を用いて構成した赤
外輻射温度計の性能を示す。横軸は素子の板厚を、縦軸
に発振周波数の赤外光入力による変化分を示す。例えば
、板厚100μmの場合、感度が61(z/degであ
ることを示している。この意味するところは、全面に黒
色ペイントを塗布した銅板を室温より80℃高い温度に
保持し、素子前面20(mのところに設置した場合、周
波数変化が180Hzであったことを示す。発振器の周
波数安定度を考慮すると、すなわち、本発明の温度計に
おいては、短期の周波数安定度が±8Hz 1度である
ことを考慮すると、素子板厚が100μm以下であれば
、実用上充分な性能を実現できることを示している。
このように、本発明の構成、すなわち上記素子の圧電性
基板の裏面の表面粗さRp−pを約0.2μm以下にす
ることにより、従来実現が不可能であった素子板厚、6
0μm以下においても安定な発振、すなわち発振周波数
174MHzにおいて短期安定度±8H2以下を実現す
ることができた。さらに、第10@より、従来の素子に
比べ、より高性能な素子が実現したことがわかる。
従来の素子においては、板厚50/1mにおいて、発振
器の短期安定度は±10H2程度であった。この意味す
るところは、仁の素子で構成した温度計の雑音レベルが
±10H2であり、感度が約9 Hz/degである。
従って、上記の感度測定配置において、温度検出精度が
2℃程度であることがわかる。しかるに本発明の構成に
よれば、短期安定度が±8H2であるから、上記例の温
度検出精度が約0.6℃程度であることがわかる。すな
わち、同じ感度であっても、上記発振器の短期安定度が
小さくなればなる程、その温度検出精度が向上すること
を意味している。
なお、本発明の実施例において、圧電性基板としてLi
NbO5単結晶板を用いたが、LITaOsなどの単結
晶板であっても良い。また、PCM、PZTなどの圧電
性磁器板であっても良い。さらに、非圧電性基板、例え
ばガラス、サファイアなどの基板上に圧電性薄膜、例え
ば酸化亜鉛などから構成されたものであっても良いもの
である。
また、弾性表面波を用いる発振器として、遅延線型素子
を例にとったが、共振器型素子であってもよい。
発明の効果 以上のように、本発明は、弾性表面波素子を用いる赤外
輻射温度計用において、素子基板の裏面の表面粗さを0
.2μm以下とすることにより、素子板厚60/1m以
下において、高信頼度、高性能の発振器を実現し、優れ
た赤外輻射温度計を実現できるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は赤外輻射温度計用弾性表面波素子の斜視図、第
2図は上記温度計を構成する発振器のブロック図、第8
図は本発明の一実施例を説明するための素子の斜視図、
第4図と第5図および第6図と第7図はそれぞれ本発明
による素子の特性曲線図および素子基板の裏面の表面粗
さを示す図、jI8図と第9図は従来の素子による特性
曲線図および素子基板の裏面の表面粗さを示す図、第1
O図は温度計の特性曲線図である。 <11) U−−・交差指型電極、(至)・−・圧電性
基板、(ロ)−・・赤外受光部 代理人 森本 義弘 第1図 第2図 第3図 第4図 0 20 # 60 δ0 /120 /20状厚伊#
L) 第う図 第す図 θ 20 40 60 gθ lθ0120祇厚(Pm
) 第7図 第3図 θ 26 40 60 80 100 /20状厚(p
vL) 第1θ図 才反 □#(μ鐵ン

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 圧電性基板と、上記圧電性基板上に形成された一
    対の交差指型電極と、上記圧電性基板に赤外受光面を備
    えた弾性表面波素子を用いた発振器からなる赤外輻射温
    度計において、上記圧電性基板の板厚が30μm以上6
    0μm以下で、かつ上記圧電性基板の裏面の表面粗さR
    2−9が0.2μm以下であることを特徴とする赤外輻
    射温度計。 2、 圧電性基板が、ニオブ酸リチウム単結晶Y−面か
    らなり、かつ弾性表面波の伝播方向が2軸方向であるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の赤外輻射温
    度計。
JP14405383A 1983-08-05 1983-08-05 赤外輻射温度計 Pending JPS6035227A (ja)

Priority Applications (1)

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JP14405383A JPS6035227A (ja) 1983-08-05 1983-08-05 赤外輻射温度計

Applications Claiming Priority (1)

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JP14405383A JPS6035227A (ja) 1983-08-05 1983-08-05 赤外輻射温度計

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6035227A true JPS6035227A (ja) 1985-02-23

Family

ID=15353214

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14405383A Pending JPS6035227A (ja) 1983-08-05 1983-08-05 赤外輻射温度計

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JP (1) JPS6035227A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5348073A (en) * 1992-04-02 1994-09-20 Hitachi Metals, Ltd. Method and apparatus for producing cast steel article
US5509458A (en) * 1993-01-19 1996-04-23 Hitachi Metals, Ltd. Vacuum casting apparatus and method using the same

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5348073A (en) * 1992-04-02 1994-09-20 Hitachi Metals, Ltd. Method and apparatus for producing cast steel article
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