JPS6030171A - Hybrid integrated circuit device - Google Patents

Hybrid integrated circuit device

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Publication number
JPS6030171A
JPS6030171A JP58138477A JP13847783A JPS6030171A JP S6030171 A JPS6030171 A JP S6030171A JP 58138477 A JP58138477 A JP 58138477A JP 13847783 A JP13847783 A JP 13847783A JP S6030171 A JPS6030171 A JP S6030171A
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JP
Japan
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integrated circuit
package
eprom
substrate
ultraviolet rays
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Application number
JP58138477A
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Japanese (ja)
Inventor
Seiichi Kageyama
影山 精一
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS6030171A publication Critical patent/JPS6030171A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
    • H01L27/10Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a repetitive configuration
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/14Structural association of two or more printed circuits
    • H05K1/144Stacked arrangements of planar printed circuit boards
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/18Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
    • H05K1/181Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with surface mounted components

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Abstract

PURPOSE:To enable to use a package formed in a small type, to meet standarized requirements, and to be used for an ultraviolet rays erasable programmable read-only memory (UV-EPROM) by a method wherein the ultraviolet rays transmitting window of the package of the UV-EPROM is enabled to be covered with a printed substrate equipped with other integrated circuit elements. CONSTITUTION:A UV-EPROM is mounted on a leadless chip carrier 14 together with a decoder, an inverter and a gate circuit, the carrier is equipped on a printed substrate 13, a CMOS static RAM is mounted on a flat package 16, the package is equipped on a printed substrate 15, and the substrate 13 and the substrate 15 are connected electrically to a flexible printed-substrate 17. Data are written to the memory elements of the UV-EPROM, the substrate 15 is folded back on the substrate 13, and the ultraviolet rays transmitting window of the package of the UV-EPROM is covered with the flat package 16 to shield ultraviolet rays. The pin function and pin width of lead terminals 18 are made to size specified by the JEDEC to enable to use an IC and a PROM writer for a wide use.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] 本発明は、紫外線消去型リード・オンリー・メモリ(以
下UV−EPROMと略記する)に他の集積回路素子を
電気的に接続し−IA化して構成される混成集積回路装
置に関りる。
[Detailed Description of the Invention] [Technical Field of the Invention] The present invention relates to an ultraviolet erasable read-only memory (hereinafter abbreviated as UV-EPROM) that is electrically connected to other integrated circuit elements and converted into an IA. It relates to a hybrid integrated circuit device constructed.

[発明の技術的背景] U v −E P ROMは、外部から集積回路チップ
に紫外線を照射することによりメモリセルに記憶されて
いる情報を消去Jることがでさ、再び新たな情報を記憶
さぜることができるように構成されている。
[Technical Background of the Invention] Uv-E PROM is capable of erasing information stored in memory cells by irradiating the integrated circuit chip with ultraviolet rays from the outside, and then storing new information again. It is configured so that it can be stirred.

第1図は、<−(7)J: ウ’j U V E P 
ROM 1 ヲ示すもので、このU V −E P I
’< OM 1では集積回路チップ2を収容したパッケ
ージ3の上面には紫外線透過窓4が設けられて、この透
過窓4を介しく、パッケージ3内部の集積回路デツプ2
に紫外if 5を照射し冑るようになっCる。紫外線透
過窓41J石英ガラスやサファイア板、または透明アル
ミナ等から作られており、當時はこの紫外線透過窓4に
紫外線遮光シール(図示せず)が貼着されてメモリセル
に配憶された情報を保護づるにうにされている。そして
この情報の門人は、紫外線遮光シールを剥がし“C紫外
線透過窓1から強い紫外線を照射することにより行なわ
れる。
Figure 1 shows <-(7)J: U'j U V E P
It shows ROM 1, and this UV-EP I
'< OM In 1, an ultraviolet transmitting window 4 is provided on the upper surface of the package 3 housing the integrated circuit chip 2, and the integrated circuit deep 2 inside the package 3 is transmitted through the transmitting window 4.
It becomes cold when irradiated with ultraviolet IF 5. The ultraviolet light transmitting window 41J is made of quartz glass, sapphire plate, transparent alumina, etc. At times, an ultraviolet light shielding sticker (not shown) is pasted on the ultraviolet light transmitting window 4 so that the information stored in the memory cells can be transmitted. It is protected. The master of this information then peels off the ultraviolet ray shielding seal and irradiates strong ultraviolet rays from the "C ultraviolet transmitting window 1."

ところで、UV−EPROMにおいては、消去用の紫外
線光線やPROMライタとの関係でジエディック(jo
int electron device engin
eeringcouncil : J E D E C
)で指定した形以外のパッケージは使用しM < 、実
際はとんど用いられていない。しかし電子機器を小型化
する必要上、素子を小型のリードレスチップキャリアに
実装したり、あるいはペアチップを直接実装したいとい
う要求があり、U V −E I) ROMも混成集積
回路装置に実装して用いたいという要望が強かった。
By the way, in UV-EPROM, there is a geodic (jo
int electron device engine
earing council: JEDEC
) Packages other than those specified by M < are rarely used in reality. However, due to the need to miniaturize electronic devices, there is a demand for mounting elements on small leadless chip carriers or directly mounting paired chips, and UV-E I) ROM is also being mounted on hybrid integrated circuit devices. There was a strong desire to use it.

[背景技術の問題点] しかるに、UV−EPROMを混成集積回路装置に実装
し−C用いる場合には、U V −E P ROMのメ
モリセルに記10されている情報を古換える必要がある
時のために、u v −E p +< OMのパッケー
ジの紫外線透過窓を混成集積回路ルム貿の表面に出して
おかなければならず、この紫外線透過窓に紫外線透過窓
のシールを貼着しでおかな()れはならない。また、U
 V −E P ROMを)11成集積回路に収めるこ
とがデ1しく、UV−EPROMのメモリ素子へのけ1
込み消去に市I坂のI−’ ROMレイク・11)消去
器を用いることができないという欠点があっlこ 。
[Problems with the Background Art] However, when a UV-EPROM is mounted on a hybrid integrated circuit device and used in a hybrid integrated circuit device, it is sometimes necessary to update the information written in the memory cells of the UV-EPROM. Therefore, the UV-transparent window of the package with uv −E p + Okan() must not be. Also, U
It is desirable to fit the V-EPROM into an 11-element integrated circuit, and the size of the memory element of the UV-EPROM is small.
There is a drawback that the I-' ROM Lake 11) eraser cannot be used to erase the data.

さらにU V −E P ROMど他の集積回路素子と
を一体化した場合、平面的にスペースが大きくなってし
まい、小型化し難いという欠点すあっ7j 0[発明の
目的] 本発゛明はかかる従来の小情に対処してなされたもので
、U’ V −E P ROMと他の集積回路素子を混
成化して紫外線遮光シールを用いることなくJト[〕E
Cで規格化されたパッケージを用いることができ、しか
もコンパクトで応用範囲の広い沢成集INi回路装置を
提供することを目的とηる。
Furthermore, if it is integrated with other integrated circuit elements such as UV-E PROM, it takes up a large space in terms of plane, making it difficult to downsize. This was done in response to the conventional constraints, and by hybridizing U'V-E PROM and other integrated circuit elements, it was possible to create a
The purpose of the present invention is to provide a Sawanari INi circuit device that can use a package standardized in C, is compact, and has a wide range of applications.

[発明の概要] すなわち本発明は、パッケージに紫外線透過窓を備えた
紫外線消去型リード・オンリー・メ七りに他の集積回路
素子を電気的に接続し一体化しくなる混成集積回路装置
においC1前記票外1!+l消去型リード・オンリー・
メモリと他の集積回路素子とをそれぞれ別のプリント基
板上に装着し、前記紫外線消去型リード・オンリー・メ
ヒリを装着したプリント基板と他の集積回路素子を装着
したプリント基板とをフレキシブルプリント基板c′電
気的に接続し、前記他の集積回路素子を装着したプリン
ト基板で前記紫外線消去型リート・オンリー・メモリの
パッケージの前記紫外線透過窓を覆い1qるようにしで
なることを特徴とする混成集積回路装置である。
[Summary of the Invention] That is, the present invention provides a hybrid integrated circuit device in which other integrated circuit elements are electrically connected to and integrated with an ultraviolet-erasable read-only device having an ultraviolet-transmitting window in the package. 1 out of the above votes! +l Erase type read only
The memory and other integrated circuit elements are mounted on separate printed circuit boards, and the printed circuit board on which the ultraviolet-erasable read-only memory is mounted and the printed circuit board on which other integrated circuit elements are mounted are combined into a flexible printed circuit board c. 'Hybrid integration characterized in that the printed circuit board electrically connected and mounted with the other integrated circuit element covers the ultraviolet transmitting window of the package of the ultraviolet erasable read-only memory so as to cover 1q. It is a circuit device.

[発明の実施例] 以下本発明の詳細を図面に7Jζリ−一実施例についで
説明づる。
[Embodiments of the Invention] The details of the present invention will be explained below with reference to the drawings and an embodiment of the invention.

第2図は本発明になる混成集積回路装置の一実施例に用
いられる回路例を示ずブL1ツク図であり、第3図a3
よび第4図は第2図の回路例を実装した本発明になる混
成集積回路装置の一実施例を示す側面図Cある。
FIG. 2 is a block diagram without showing an example of a circuit used in an embodiment of the hybrid integrated circuit device according to the present invention, and FIG.
4 is a side view C showing an embodiment of a hybrid integrated circuit device according to the present invention in which the circuit example of FIG. 2 is implemented.

第2図ないし第4図にa3いて、符号6〜8は64にビ
ンh CM OSスタディツクRA IVIを表わし、
このCMOSスタティックRAM6〜8はフラットパッ
ケージ16に実装され−Cいる。また初号9は64にピ
ッhUV−EPROMであり、コ(7) UV−EPR
OM9は他の回路素子りなゎらデコーダ10、インバー
タ11、ゲート回路12とどしにリードレスチップキャ
リi’ 14に実装されている。前記CMOSスタティ
ックRA M 67−8およびU V −E P RO
M 9の各データ入力端子A o ”□AI2は、デー
タ信号線AC接続されている。2I。
In FIGS. 2 to 4, a3, numerals 6 to 8 represent the bin h CM OS study RA IVI in 64,
The CMOS static RAMs 6 to 8 are mounted on a flat package 16. In addition, the first issue 9 was a 64-bit UV-EPROM, and a (7) UV-EPR
The OM9 is mounted on the leadless chip carrier i' 14 along with other circuit elements such as a decoder 10, an inverter 11, and a gate circuit 12. The CMOS static RAM 67-8 and UV-E PRO
Each data input terminal A o "□AI2 of M9 is connected to the data signal line AC.2I.

た、CMOSスタティックRA M 6〜8の各チップ
イネーブル信号入力端子CE+は、それぞれデコーダ1
0の出ノJ端子YO”−Y2に接続されCいる。また前
記CMOSスタディツクRA M (3〜8のチップイ
ネーブル信号入)j端子CE2は、共通にチップイネー
ブル信号線CE2に接続されCいる。ざらにCMOSス
タディツク1マAM6〜8の各リードライト信号入力端
子R/Wは、ハ通にリードライ1へ信号線1</Wに接
続され−Cいる。またC !vl OSスタティックR
A M 6〜8およびUV−E P ROM 9の入ツ
ノ信号端子I / O+ 〜I / O。
In addition, each chip enable signal input terminal CE+ of CMOS static RAM 6 to 8 is connected to the decoder 1.
0 is connected to the output J terminal YO"-Y2. Also, the CMOS study RAM (3 to 8 chip enable signal input) j terminal CE2 is commonly connected to the chip enable signal line CE2. Roughly speaking, each read/write signal input terminal R/W of the CMOS study 1 memory AM6-8 is connected to the signal line 1</W> to the read/write 1.
Input horn signal terminals I/O+ to I/O of AM 6-8 and UV-EP ROM 9.

は、共通の入力信号線I10に接続されている。are connected to a common input signal line I10.

ざらにCMOSスタティックRA M 6〜F3お、」
、びU V −E P ROM 9のアウトブッ1〜イ
ネーブル信号端子OEは、共通のアラ]・プツトイネー
ブル信号線OEに接続されている。前記デコーダ10の
各CMOSスタティックRAM6〜8J5cL:OUV
−EpRoM9選択するチップセレクト信号入力端子A
+、A2は、それぞれチップセレクr−4g号線A1、
A2に接続されている。
Roughly CMOS static RAM 6~F3
, and the output 1 to enable signal terminal OE of the UV-EP ROM 9 are connected to a common output enable signal line OE. Each CMOS static RAM 6 to 8J5cL of the decoder 10: OUV
-Chip select signal input terminal A to select EpRoM9
+, A2 are chip select r-4g line A1, respectively.
Connected to A2.

また、このデ」−夕10の動作を可能どするイネ−ゾル
信号入力端子IE N Bは、インバータ11を介して
UV−EPROM9の書込2Jを可能とづるプログラム
制御信号線PGMに接続されている。
Furthermore, the enable signal input terminal IENB that enables the operation of the data processor 10 is connected via the inverter 11 to the program control signal line PGM that enables the writing 2J of the UV-EPROM 9. There is.

このプログラム制御信号線P G Mは、グー1〜回路
12を介して前記UV−を二l) lマOIVI9のプ
]」グラム制御信号入力端子P G IVIおよびチッ
プイネーブル信号入力端子CFに接続されて−いる。さ
らに前記ゲート12の一方の入力端子には前記デコーダ
10の出ノj端子Y3が接続されている。
This program control signal line PGM is connected to the program control signal input terminal PG IVI of the program control signal input terminal PG IVI and the chip enable signal input terminal CF of the program OIVI9. I'm there. Further, one input terminal of the gate 12 is connected to the output terminal Y3 of the decoder 10.

このようにして構成された本回路例の動作を次に説明づ
る。
The operation of this example circuit constructed in this manner will be described next.

まず、各CMOSスタディツクRA M 6〜8 LJ
24、 Kバイl−RA Mを4^)成し、ケ:]−ダ
10の出力信号にについずれか1個のCMOSスタティ
ックRAMのみが動作するJζう選択される。また、U
 V −lx P ROM 9もデコーダ10の出ツノ
信iじ線をグー1〜回路12を介し゛C経由しC動作状
r〜の制御が行なわれる。デコーダ10に入力するブー
ツブセレク1〜信号線AtXA2上のヂップセレク1−
・信号により、このデコーダ10の出力端子Yo”Y3
のうち1個の出力のみがOレベルどなると、そのOレベ
ルとなった出ノj端子に接続されk CM OSスタデ
ィツクRAM6〜8またはU V −F [〕ROM9
が動作Jる。
First, each CMOS study RAM 6~8LJ
24, K by l-RAM is formed 4^), and only one CMOS static RAM is selected to operate according to the output signal of the card 10. Also, U
In the V-lx P ROM 9, the output signal i of the decoder 10 is passed through the circuit 1 to the circuit 12 to the circuit 12 to control the operation state r. Boot select 1 input to decoder 10 to dip select 1 on signal line AtXA2
・The signal causes the output terminal Yo”Y3 of this decoder 10 to
When only one of the outputs reaches the O level, it is connected to the output terminal j that has reached the O level.
is working.

しかるに、プログラム制御イム号線PGM上のプログラ
ム制御信号が0レベルで(bると、デコーダ10のイネ
ーブル信号入力端子ENBはインバータ11によりルベ
ルとなり、このイネーブル信号入力端子ENBがルベル
である間は出力YO〜Y3は、ヂツプヒレク1へ信号入
力端子A+、A2の電圧レベルに係わりなくルベルに保
たハでしまう。従ってこのデコーダ10は、この状態で
は各集積回路素子の選択作用を停止する。
However, when the program control signal on the program control line PGM is at 0 level (b), the enable signal input terminal ENB of the decoder 10 becomes a level by the inverter 11, and while this enable signal input terminal ENB is at a level, the output YO .about.Y3 is kept at a level regardless of the voltage levels of the signal input terminals A+ and A2 to the dipstick 1. Therefore, the decoder 10 stops selecting each integrated circuit element in this state.

この状態ではプログラム制御信弓線PGM上のプログラ
ム制御信号がOレベルであるので、グー1−回路]2を
介してUV−EPROM9のブ1」グラム制御信号入力
端子1) G MがOレベルに保たれ、UV−EPRO
M9が書込み可能な状態となっている。
In this state, the program control signal on the program control signal line PGM is at the O level, so the program control signal input terminal 1) of the UV-EPROM 9 is set to the O level via the circuit 1-2. Saved, UV-EPRO
M9 is in a writable state.

りなわら、この状態ではデコーダ10の出力端子Yo”
Y3はルベルで、各CMOSスタティックRAM6〜8
のチップイネーブル信号入力端子CE+はいずれもルベ
ルで、各CMOSスタティックRA M 6〜8はその
動作を停止しており、一方、U V−E P ROM 
9のデツプイネーブル信条3入力端子CEおよびプ1]
グラム制御信号入力端子PGMがグー1〜回路を介して
伝達されるプログラム制御信号線PGM上のプログラム
制御信号によりOレベルに保たれるので、UV−EPR
OM9のみが円込み可能な状態となるのである。
However, in this state, the output terminal Yo'' of the decoder 10
Y3 is Lebel, each CMOS static RAM6~8
The chip enable signal input terminals CE+ are all level, and each CMOS static RAM 6 to 8 has stopped its operation, while the U V-E P ROM
9 deep enable creed 3 input terminals CE and 1]
Since the program control signal input terminal PGM is kept at the O level by the program control signal on the program control signal line PGM transmitted through the circuit
Only OM9 is in a state where rounding is possible.

従つにの状態CUV〜I三P ROM 9のメモリ素子
にPROMライタ笠によりデータの書き込みを行なうこ
とができる。
Accordingly, data can be written into the memory element of the CUV-I3P ROM 9 by the PROM writer cap.

このようにしてUV−EPROM9へのデータのgl込
みが終了し1(−4*にプログラム制御信号線PGM上
のプログラム制御信号がルベルとなると、インバータ1
1を介してデコーダ10のイネーブル信号入)〕端子E
NBがOレベルとなるのC1デコーダ10の動作が可能
となり、チップセレクト信号線A+ 、A2上のデツプ
仁しクト信号によりCMOSスタティックRA M 6
−81、たt、、t u v −E、PROM9のうら
いずれか1つの集積回路素子が選択され、その選択され
た集積回路素子のデータの読出しまたはCMOSスタテ
ィックRA M 6〜8に関してはデータのIB込みも
行なわれる。
In this way, when the data gl input into the UV-EPROM 9 is completed and the program control signal on the program control signal line PGM becomes level at 1 (-4*), the inverter 1
Enable signal input for decoder 10 via terminal E)
The operation of the C1 decoder 10 is enabled when NB becomes O level, and the CMOS static RAM 6 is activated by the depth select signal on the chip select signal lines A+ and A2.
-81, t, , tuv -E, any one integrated circuit element from PROM9 is selected, and the data is read from the selected integrated circuit element or the data is read from the CMOS static RAMs 6 to 8. IB will also be included.

本実施例の回路は第3図および第4図に示すように、U
 V E P ROM 9 J3よびデコーダ10、イ
ンバータ11、ゲート回路12がり一トレスチツプギャ
リア14に実装され、プリント基板13上に装着される
。また、CMOSスタディツク1<AM6〜8はフラッ
トパッケージ16に実装され、プリント基板′15に装
着される。そしてこのプリント基板13とプリント基板
15(まフレキシブルプリント基板17により電気的に
接続される。なお同号18はプリン1〜基板13と外部
回路との接続を目的とするリード端子であり、リード端
子18のビン(大曲およびビンの幅はJl=DECで指
定された寸法として汎用のICソケツ1ヘヤI) RO
Mライタの使用を可7能とする。
As shown in FIGS. 3 and 4, the circuit of this embodiment has U
The V E P ROM 9 J3, decoder 10, inverter 11, and gate circuit 12 are mounted on a trench chip carrier 14 and mounted on a printed circuit board 13. Further, CMOS devices 1<AM6-8 are mounted on a flat package 16 and attached to a printed circuit board '15. The printed circuit board 13 and the printed circuit board 15 (also electrically connected by a flexible printed circuit board 17) are lead terminals 18 for the purpose of connecting the circuit board 1 to the circuit board 13 with an external circuit. RO
Enables the use of M writers.

第2図のJ:うにして各リードレスデツプキャリア14
おにひフラットパッケージ16を基板13.15に装着
した状態でUV41)ROM9のメモリ索子にデータの
書き込みを行なった後に第4図に示すように、基板15
を基板13上に折返し−C、リードレスチップキャリア
14中に実装されたUV −E P ROM 9のパッ
ケージの紫外線透過窓をフラットパッケージ16で覆い
紫外線の遮光を行なう。この際、フラン1〜パツケージ
16とリードレスデツプキャリア14とは接着剤で貼る
する。
J in Figure 2: Each leadless depth carrier 14
After writing data to the memory module of UV41) ROM9 with the flat package 16 attached to the board 13.15, as shown in FIG.
The UV-E PROM 9 is folded back onto the substrate 13, and the UV-transmitting window of the package of the UV-E PROM 9 mounted in the leadless chip carrier 14 is covered with the flat package 16 to block the UV rays. At this time, the flan 1 to the package 16 and the leadless depth carrier 14 are pasted with adhesive.

このようにしてフラン1へパッケージ16とり一ドレス
チップキャリア14を貼合IQ、Jp板13上に装着さ
れたU V −E P ROM 9の紫外線透過窓をC
MOSスタディ、ツタRAM6〜8が実装されたフラッ
トパッケージ16により覆い、封止し−C外部からの遮
光を行なうのである。この際、遮光を完全にしてかつ機
械的強度を強化Jるために、第4図の貼合けた状態で黒
色のエボ4−シ樹脂等C回路全体をバッキングしてしま
えば全体としCワンデツプの混成集積回路装「りとし−
C利用が可能になる。
In this way, the package 16 and the dress chip carrier 14 are attached to the flange 1.
It is covered with a flat package 16 in which the MOS study RAMs 6 to 8 are mounted and sealed to shield light from the outside. At this time, in order to completely block light and strengthen the mechanical strength, if the entire C circuit is backed with black Evo 4-sheet resin in the pasted state shown in Figure 4, the whole C one-depth Hybrid integrated circuit device “Ritoshi”
C can be used.

第5図は本発明になる混成M5積回路装置の他の実施例
を示づ側面図である。本実施例にJ5い−Cは、U V
 −F l)ROMを実装JるパッケージとしC、リー
ドレスデツプキャリアを用いづ゛にJトDECで規定さ
れ7j仕様のDIP19を用いた場合である。
FIG. 5 is a side view showing another embodiment of the hybrid M5 product circuit device according to the present invention. In this example, J5-C is UV
-Fl) This is a case in which a ROM is mounted in a package and a leadless deep carrier is used, and DIP19 of the 7j specification specified by JTODEC is used.

このにうにU V−1三P f< OMをJ1三[〕1
ぞ01士4薬のDIP19に実装し、このD I P 
19をICソケット21に装着する。このICソケツ[
−21はフレキシブルプリント基板22にJ、リプリン
ト基板20と電気的に接続されており、このプリント基
板20上にはCMOSスタティックRA Mを実装した
フラットパッケージ24が装着され”Cいる。
In this case, UV-13P f< OM J13[]1
Implemented in DIP19 of Zo01shi 4 drugs, this DIP
19 into the IC socket 21. This IC socket [
-21 is electrically connected to the flexible printed circuit board 22 and the reprinted circuit board 20, and a flat package 24 mounting a CMOS static RAM is mounted on this printed circuit board 20.

#1 f”r 23はICソケット21の出力リード端
子である。
#1 f”r 23 is an output lead terminal of the IC socket 21.

コノヨうにしTUV−EPROMをD IPl 9上に
装着すればU V −E P R01V+の囚込み請人
が市販のPROMライタや消去器2にJ:り行なうこと
が可能となる。
If the TUV-EPROM is installed on the DIPl 9, the UV-EPR01V+ user can be transferred to a commercially available PROM writer or eraser 2.

そし“にの第5図の状態でu v −[1) ROMの
メモリ素子にデータを書込んだ後には、第4図と同様に
フレキシブルプリン1〜巣板22を折り曲げ−Cプリン
ト基板20をICソケット21上に覆い被け、フラン1
〜パツケージ24とD I P 1”’、9の表面を接
着剤により貼着しrUV−EPROMの紫外線透過窓を
封止する。
Then, in the state shown in FIG. 5, after writing the data into the memory element of the ROM, bend the flexible print 1 to the nest plate 22 in the same manner as shown in FIG. Cover over IC socket 21, flange 1
- The surfaces of the package 24 and the DIPs 1"' and 9 are adhered with adhesive to seal the ultraviolet light transmitting window of the rUV-EPROM.

なお第2図の回路例の他に、例えば第5図に示したフラ
ットパッケージ24中にCIvl OSスタティックR
AMおよびI10コン1〜ローラを有するワンデツプマ
イクロ]ンビュータを実装して、UV−EPROMにそ
のマイクロコンピュータのAペレーテイングシステムO
8を記憶さけると、ピギーバック型マイクロコンピュー
タと11+]様の(大曲を構成し得る。
In addition to the circuit example shown in FIG. 2, for example, a CIvl OS static R is installed in the flat package 24 shown in FIG.
A one-step microcomputer with AM and I10 controllers is installed, and the A operating system of the microcomputer is installed in the UV-EPROM.
If you avoid memorizing 8, you can compose a big song like (11+) with a piggyback microcomputer.

[発明の効果コ 以上説明したJ:うに本発明になる瀝成集相回路装置に
おいては、LI V −E F) ROMを実装したチ
ップと他の集積回路素子を実装したチップをそれぞれ別
のプリント基板上に装青しで各プリン1一基板をフレキ
シブルプリン1〜基板ぐ電気的に接続し、UV−EPR
OMのメモリ素子にデータを書込んだ後には、他の集積
回路素子を装着した基板をUV−EPROMを装着した
基板上に折返して紫外線透過窓を封止りるJ:うにした
のでU V −E l) ROMを混成集積回路装置中
に実装し−C1このUV−EPROMへの出込み消去を
市販のl) ROMライタや消去器にJ:り実行するこ
とが可能となる。
[Effects of the Invention] In the integrated phase integrated circuit device according to the present invention, the chip mounted with LIV-E F) ROM and the chip mounted with other integrated circuit elements are printed separately. Connect each pudding 1 to the board electrically with blue coating on the board,
After writing data to the memory element of the OM, the board on which other integrated circuit elements are mounted is folded back onto the board on which the UV-EPROM is mounted, and the UV-transmitting window is sealed. l) By mounting the ROM in a hybrid integrated circuit device, it becomes possible to write and erase data into and from the UV-EPROM using a commercially available l) ROM writer and eraser.

さらに紫外線遮光用のシールを別に用意υ”る必要もな
くなり、回路のデバッギング操作を行なう場合には、回
路を平面状に広げて行ない、デバッキング操作が完了し
た後には機器に組込む以前にルキシプルプリント基板を
IJr曲りUUV−EPROMど他の集積回路素子を貼
@覆ることが可能となり、回路のデ゛バッキング動作が
簡単にiうえるとともに、この)昆成果槓回路装置1り
の電子機器l\の実装時には、平面的な実装閉度を高め
られるという効果も得られる。
Furthermore, there is no longer a need to prepare a separate seal for blocking UV light, and when debugging a circuit, the circuit is spread out flat, and after the debugging operation is completed, it is necessary to use a UV shield before incorporating it into equipment. It becomes possible to bend the pull-printed circuit board and paste/cover other integrated circuit elements such as UUV-EPROM, making it easy to deback the circuit, and also to improve the performance of electronic equipment such as this) resultant circuit device. When mounting \, it is also possible to obtain the effect of increasing the degree of planar mounting closure.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は従来の混成集積回路装置を示tlA視図、第2
図は本発明による混成集積回路装置へ実装される回路例
を示1ブ1」ツク図、第3図J′3J、ひ第4図は本発
明になる混成集積回路装置の一実施例を承り側面図、第
5図は本発明になる11N成集積回路装首の他の実施例
を承り側面図である。 1.9・・・・・・UV−1三[つ[R()〜12・・
・・・・・・・・・・集積回路デツプ3・・・・・・・
・・・・・パッケージ4・・・・・・・・・・・・紫外
線透過窓5・・・・・・・・・・・・紫外線 6〜8・・・・・・CMOSスタティックRAM10・
・・・・・・・・・・・デコーダ13.15.20・・
・プリント基板 14・・・・・・・・・・・・リードレスチップキャリ
ア16・・・・・・・・・・・・フラノ1〜パツケージ
17・・・・・・・・・・・・フレキシブルプリン1−
基扱18.21・・・リード端子 19・・・・・・・・・・・・DIP 21・・・・・・・・・・・・ICソケッ1−代理人弁
理士 須 山 佐 − 第1図 赫 第2図 (ム
Fig. 1 shows a conventional hybrid integrated circuit device from a tlA perspective, and Fig. 2 shows a conventional hybrid integrated circuit device.
The figures show an example of a circuit implemented in a hybrid integrated circuit device according to the present invention. FIG. 5 is a side view of another embodiment of the 11N integrated circuit neck according to the present invention. 1.9...UV-1 three[tsu[R()~12...
......Integrated circuit depth 3...
・・・・・・Package 4・・・・・・・・・・・・Ultraviolet transmission window 5・・・・・・・・・Ultraviolet rays 6 to 8・・・・・・CMOS static RAM 10・
......Decoder 13.15.20...
・Printed circuit board 14...Leadless chip carrier 16...Flannel 1 to package 17... Flexible pudding 1-
Basic handling 18.21...Lead terminal 19...DIP 21......IC socket 1-Representative patent attorney Satoshi Suyama - Chapter Figure 1, Figure 2 (Mu)

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)パッケージに紫外線透過窓を備えた紫外線消去型
リード・オンリー・メモリに他の集積回路素子を電気的
に接続し一体化してなる混成集積回路装置において、前
記紫外線消去型リード・オンリー・メモリと他の集積回
路素子とをそれぞれ別のプリン1−基板上に装着し、前
記紫外線消去型リード・オンリー・メモリを装着したプ
リント基板と他の集積回路素子を装着したプリント基板
とをフレキシブルプリント基板で電気的に接続し、前記
他の集積回路素子を装着したプリント基板でnU記紫外
線消去型リード・オンリー・メモリのパンケージの前記
紫外線透過窓を覆い得るようにしてなることを特徴とす
る混成集積回路装置。
(1) In a hybrid integrated circuit device comprising an ultraviolet erasable read-only memory whose package has an ultraviolet transmitting window and other integrated circuit elements electrically connected and integrated, the ultraviolet erasable read-only memory and other integrated circuit elements are mounted on separate printed circuit boards, and the printed circuit board on which the ultraviolet erasable read-only memory is mounted and the printed circuit board on which the other integrated circuit elements are mounted are combined into a flexible printed circuit board. and electrically connected to each other so that the printed circuit board mounted with the other integrated circuit element can cover the ultraviolet light transmitting window of the pancage of the ultraviolet erasable read-only memory described in nU. circuit device.
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