JPS60254786A - High density printing wiring method - Google Patents

High density printing wiring method

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JPS60254786A
JPS60254786A JP59111945A JP11194584A JPS60254786A JP S60254786 A JPS60254786 A JP S60254786A JP 59111945 A JP59111945 A JP 59111945A JP 11194584 A JP11194584 A JP 11194584A JP S60254786 A JPS60254786 A JP S60254786A
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JP
Japan
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wiring
conductor width
wires
processing
lattice
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JP59111945A
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JPH0518149B2 (en
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勝 平岡
新井 信男
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Toshiba Corp
Toshiba Computer Engineering Corp
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Toshiba Corp
Toshiba Computer Engineering Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は、印刷配線基板のツクターンレイアウト装置
に用いられる高密度印刷配線方法に、関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a high-density printed wiring method used in a printed wiring board layout device.

〔発明の技術的背景とその問題点〕[Technical background of the invention and its problems]

近年、印刷配線板の高密度化に対する要求が高まってい
る。そこで、印刷配線の高密度化を図るために、次の2
つの方法が考えられているO■ 信号線の導体幅を細く
することによシ、1格子間(例えば0.1インチ)に配
設可能な最大信号線数を増やす。
In recent years, there has been an increasing demand for higher density printed wiring boards. Therefore, in order to increase the density of printed wiring, the following two
Two methods have been considered: 1. Increase the maximum number of signal lines that can be arranged in one grid interval (for example, 0.1 inch) by narrowing the conductor width of the signal lines.

■ ランダムスルーホールのランド径ヲ小すくすること
によシ、1格子間に配設可能な最大信号線数を増やす。
■ By reducing the land diameter of random through holes, the maximum number of signal lines that can be arranged between one grid is increased.

しかし、このような方法を適用して作られる印刷配線板
には、高度な製造技術が要求されるランド径の小さなラ
ンダムスルーホールや導体幅の細い信号線(以下配線パ
ターンと称す)が極めて多数存在し、クリアランスも厳
しいものに設定されている丸め、印刷配線の高密度化は
図れるものの製造歩留シの低下を招く欠点があづた。こ
のため、上記■、■の方法を採用したD A (Des
ign Automation ) 7′oグラムによ
る自動配線では、配線処理のステップに続く不要スルー
ホール削除処理のステップによシ、配線時にランダム配
置されたランダムスルーホールを、配線ノ々ターンの経
路改善によって極力削減することが考慮されている。し
かしながら、このようにしても、ランド径の小さなラン
ダムスルーホールは多数存在する。
However, printed wiring boards made using this method have an extremely large number of random through holes with small land diameters and signal lines with narrow conductor widths (hereinafter referred to as wiring patterns) that require advanced manufacturing technology. However, although it is possible to increase the density of printed wiring, it has the disadvantage of lowering manufacturing yield. For this reason, D A (Des
ign Automation) In automatic wiring using 7'o-gram, the step of removing unnecessary through holes that follows the step of wiring processing minimizes the number of random through holes randomly placed during wiring by improving the route of each turn. is being considered. However, even with this method, there are many random through holes with small land diameters.

そこで、特願昭58−201309号、特願昭58−’
138842号に示されるような高密度印刷配線方法に
よ)、自動配線処理に続く不要スルーホールの削除処理
、ランドの大径化処理等によシ、配線時にランダム配置
されたランダムスルーホールを、配線パターシの線路改
善によって極力削減することや、M1図に示すようなグ
リッドオフセット(配線時KU点線で示す幅をもって処
理され、実線で示す幅までのオフセット値がデータベー
スに記憶される。製造資料(例えば作画テープ)の作成
時には、オフセット値が加味されて実線の径路に配線パ
ターンが設置される)、・更には第2図に示すようなベ
ンディング(配線時には点線幅で処理され、後処理で実
線のように径路変更される)によシ、クリアランスを改
善することが考慮されている。
Therefore, Japanese Patent Application No. 58-201309, Japanese Patent Application No. 58-'
138842), automatic wiring processing followed by unnecessary through hole deletion processing, land diameter enlargement processing, etc., random through holes randomly placed during wiring, The grid offset shown in figure M1 is to be reduced as much as possible by improving the line pattern of the wiring pattern (when wiring, KU is processed with the width shown by the dotted line, and the offset value up to the width shown by the solid line is stored in the database.Manufacturing data ( For example, when creating a drawing tape (drawing tape), the offset value is taken into account and the wiring pattern is placed along the solid line path), and even bending as shown in Figure 2 (dotted line width is processed during wiring, and solid line width is processed in post-processing). (as in the case of rerouting), consideration is given to improving clearance.

しかしながら、このような処理を行なっても導体幅の細
い配線パターンは多数存在し、製造歩留シの実質的な低
下は避けられなかった。
However, even with such processing, many wiring patterns with narrow conductor widths still exist, and a substantial drop in manufacturing yield is unavoidable.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

との発明は上記事情に鑑みてなされたものでその目的は
、製造歩留シを犠牲にすることなく印刷配線の高密度化
が図れる高密度印刷配線方法を提供することにある。
The invention was made in view of the above circumstances, and its purpose is to provide a high-density printed wiring method that can increase the density of printed wiring without sacrificing manufacturing yield.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明は予め設定された細線幅の許容配線密度(ビン間
本数)をもって配線パターンを施した後に、その各配線
パターンが許容配線本数よシも少ない場合に、そのノや
ターンの線幅を太線化処理して、許される範囲内で、配
線パターンを太くシ、高密度印刷配線基板の製造歩留シ
を良好にしたものである。
In the present invention, after applying a wiring pattern with a preset allowable wiring density (number of wires between bins) with a thin line width, if each wiring pattern is smaller than the allowable number of wires, the line width of the hole or turn is changed to a thick line. The wiring pattern is made thicker within the permissible range by chemical processing, and the manufacturing yield of high-density printed wiring boards is improved.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、#g3図乃至第9図を参照して本発明の一実施例
を説明する。第3図は本発明の一実施例に係る計算機シ
ステム(自動配線処理装置)の構成を示すフロ、り図で
ある。図中、30はシステムの中心をなすCPUで、主
メモリ31に格納されている自動配線プログラム32に
従い、外部記憶装置33に格納されている設計ファイル
(データベース)34を用いて印刷配線基板の自動配線
処理を行なう。35は外部記憶装置33などの入出力装
置とCPU 30 (主メモリ31)との間のデータ入
出力制御を行なう入出力制御装置である。
Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. #g3 to FIG. 9. FIG. 3 is a flow diagram showing the configuration of a computer system (automatic wiring processing device) according to an embodiment of the present invention. In the figure, 30 is a CPU that forms the center of the system, and according to an automatic wiring program 32 stored in a main memory 31, a printed wiring board is automatically manufactured using a design file (database) 34 stored in an external storage device 33. Perform wiring processing. Reference numeral 35 denotes an input/output control device that performs data input/output control between input/output devices such as the external storage device 33 and the CPU 30 (main memory 31).

第4図は上記第3図の装置で実現される本発明の一実施
例による自動配線処理の手順を示すフローチャートであ
る。第4図に於いて、Slは大まかな配線を行なうステ
、プ、S2は配線パターン層変更によって不要スA・−
ホールを削除するステップ、Sad、配線ノ4ターンの
径路変更によってランダムスルーホールのランド径を大
きくするステ、7°S4は厳しいクリアランスをできる
だけ改善する事を考慮して細かな配線を行なうステ、ゾ
、S6はS4で細かな径路が決った配線ノザターンを取
シ出すステップ、S6は全ての配線ノ母ターンに対して
処理したかを調べるステ、ノ、S7はS5で取シ出した
配線パターン周辺の配線情報(禁止帯、ピン、スルーホ
ールの位置と大きさ、周辺に走りている配線)9ターン
の位置と太さ)を取シ出すステップ、S8は導体幅を太
くする事ができるか調べるステップ、89は配線パター
ンの導体幅を太くするステ、fである。
FIG. 4 is a flowchart showing the procedure of automatic wiring processing according to an embodiment of the present invention realized by the apparatus shown in FIG. 3 above. In Fig. 4, SL is a stage where rough wiring is performed, and S2 is an unnecessary stage A-- due to a change in the wiring pattern layer.
A step to delete holes, Sad, a step to increase the land diameter of a random through hole by changing the wiring route with four turns, a step to 7°S4, a step to perform fine wiring in consideration of improving tight clearances as much as possible, , S6 is the step of extracting the wiring top turn for which the detailed route was determined in S4, S6 is the step of checking whether all the wiring mother turns have been processed, S7 is the step of extracting the wiring pattern surrounding the wiring pattern extracted in S5 The step of extracting wiring information (positions and sizes of forbidden bands, pins, through holes, surrounding wiring, position and thickness of 9 turns), S8 is to check whether the conductor width can be made thicker. Step 89 is step f for increasing the conductor width of the wiring pattern.

第5図乃至第9図はそれぞれ上記実施例の配線処理動作
を説明するためのもので、第5図は、印刷配線基板上で
の配線単位となる基本格子、及び2種類の準格子を示す
図、第6図、及び第8図はそれぞれ導体幅の変更対象と
なる大まかな自動配線処理時の配線t!パターン示す図
、第7図、及び第9図はそれぞれ上記第6図、及び第8
図の・臂ターンに対して上記第4図に示す太線化のパタ
ーン処理を施したノfターン例を示す図である。図中、
51,62,72,83゜93はピン、ランダムスルー
ホールを設定できる(配線径路として使用できる)基本
格子、52.63.73,134.95は基本格子を8
等分した準格子で配線径路として使用できる。
5 to 9 are for explaining the wiring processing operation of the above embodiment, respectively, and FIG. 5 shows a basic lattice and two types of quasi-lattices, which are wiring units on a printed wiring board. Figures 6, 8, and 8 respectively show the wiring t! during rough automatic wiring processing where the conductor width is subject to change. The diagrams showing the patterns, Figures 7 and 9, are the same as Figures 6 and 8 above, respectively.
5 is a diagram showing an example of a no-f turn in which the thick line pattern processing shown in FIG. 4 is applied to the arm turn shown in the figure. FIG. In the figure,
51, 62, 72, 83゜93 is a basic lattice in which pins and random through holes can be set (can be used as a wiring route), 52.63.73, 134.95 is a basic lattice in 8
It can be used as a wiring route with a quasi-grid divided into equal parts.

53.94は基本格子を5等分した準格子で配線径路と
して使用できる。61,71,81゜91はビンまたは
、ピンと同じランド径のランダムヌn・−ホール、82
.92はランド径ヲ大きくできなかったランド径の小さ
いランダムスルーホール、64.85.91は配線時に
使用した導体幅の細い配線パターン、74.96は第4
図の70−チャートで示されたステップによ)、導体幅
を太くした(太線化処理された)配線ノ臂ターンである
53.94 is a quasi-lattice obtained by dividing the basic lattice into five equal parts and can be used as a wiring route. 61, 71, 81゜91 is a random hole with the same land diameter as the bottle or pin, 82
.. 92 is a random through hole with a small land diameter that could not be made larger, 64.85.91 is a wiring pattern with a narrow conductor width used during wiring, and 74.96 is the 4th one.
70 in the figure (according to the step shown in the chart), the conductor width is increased (thickened line processing is performed) to turn the arm of the wiring.

配線基板上は第5図のように、基本格子5ノ、及び2種
類の準格子52.53で表わすことができる。
As shown in FIG. 5, the wiring board can be represented by a basic lattice 5 and two types of quasi-lattices 52 and 53.

これら各格子51,52.53のうち、第4図に示すス
テップsJ#s4の配線時には基本格子51.準格子5
2を配線径路として使用する。又、ピン及ヒランダムス
ルーホール6ノ。
Among these lattices 51, 52, 53, the basic lattice 51. quasi-lattice 5
2 is used as the wiring path. In addition, there are 6 pin and random through holes.

71.81.82,91.92は基本格子5ノ上に位置
する。又、ビン、ランド径の大きなランダムスルーホー
ル61,71.Ijl、91は基本格子間の準格子52
を2本、準格子53を1本使用できなくする。又、ラン
ド径の小さなランダムスルーホール82.92は基本格
子間の準格子52を1本使用できなくする。
71.81.82 and 91.92 are located on the basic lattice 5. Also, random through holes 61, 71 . with large bottle and land diameters. Ijl, 91 is the quasi-lattice 52 between the fundamental lattices
and one quasi-lattice 53 are made unusable. Furthermore, the random through holes 82, 92 with small land diameters make it impossible to use one quasi-lattice 52 between the basic lattices.

配線処理は、〔大まかな配線(ステップ87)を行った
後、基本格子51、準格子52を用いた細かな配線(ス
テ、f84 )を行なう〕という条件で、先ず、ステ、
fslにて、ランド径の小さなランダムスルーホールと
、導体幅の細い配線パターンを用いた大まかな配線を行
なう。
The wiring process is performed under the condition that [after performing rough wiring (step 87), fine wiring (step, f84) using the basic grid 51 and quasi-lattice 52] is performed.
At fsl, rough wiring is performed using random through holes with small land diameters and wiring patterns with narrow conductor widths.

その後、ステラfS2にて、配線ノ4ターンの層変更に
よシネ要スルーホールを削除する。更にステップS3に
て、配線ノ9ターンの径路変更によシ2ンド径を大きく
する処理を行なった後、ステラ7’S4にて、厳しいク
リアランスを改善することを考慮した細かな配線を行な
う。このような処理を経した配線パターンに於いて、第
6図、及び第8図に示すように、配線Iリーンの導体幅
を太く(例えば実績のあるピン間2本配線で用いる太さ
)できる個所が存在する場合がある。そこでステ、グS
5にて、1つの配線t!ターンの位置情報を取シ出す。
After that, in Stella fS2, the cine-required through-hole was deleted by changing the layer of wiring with 4 turns. Further, in step S3, after a process is performed to increase the second diameter of the wire by changing the route of nine turns of the wiring, detailed wiring is performed in consideration of improving the severe clearance in Stella 7'S4. In the wiring pattern that has undergone such processing, as shown in Figures 6 and 8, the conductor width of the I-lean wiring can be increased (for example, the thickness used in the proven two-pin wiring). There may be locations. So Ste, GuS
At 5, one wiring t! Extracts turn position information.

更に、ステツノS7でこの配線パターン周辺の配線情報
を取 −シ出す、そして、これらの情報から、ステ、ゾ
S8にて、導体幅を太くできるか否か(ピン間3本で設
定した導体幅をピン間2本で設定した導体幅に変更でき
るか否か)を調べる。ステップs8で調べた結果、太線
化が可能であれば、ステ、ノS9にて導体幅を太くする
。第7図社第6図の74ターンに対し準格子52を用い
て導体幅を太くしたケース、又、第9図は第8図のノ4
ターンに対し、準格子52.53を用いて導体幅を太く
したケースをそれぞれ示している。
Furthermore, the wiring information around this wiring pattern is extracted using Stetsuno S7, and based on this information, it is possible to increase the conductor width using Stetsuno S8 (conductor width set between three pins). Check whether it is possible to change the conductor width between the two pins to the set conductor width. As a result of checking in step s8, if it is possible to make the conductor thicker, the conductor width is increased in step S9. Fig. 7 is a case in which the conductor width is increased by using a quasi-lattice 52 in contrast to the 74 turns shown in Fig. 6, and Fig. 9 is a case in which the conductor width is increased by using
Cases in which the conductor width is increased by using quasi-lattices 52 and 53 for the turns are shown.

このような太線化処理によシ、導体幅の細い製造歩留シ
の悪い配線パターンを極力少なくすることができる。
By such thickening process, it is possible to minimize the number of wiring patterns having narrow conductor widths and poor manufacturing yield.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上詳記したように本発明の高密度印刷配線方法によれ
ば、配線密度を低下させることなく、製造技術の難しい
細い導体幅を持った信号線をできるだけ少なくシ、製造
歩留シをよシ一層向上できる。
As detailed above, according to the high-density printed wiring method of the present invention, the number of signal lines with thin conductor widths that are difficult to manufacture can be minimized without reducing the wiring density, and the manufacturing yield can be improved. You can improve further.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はグリッドオフセット手段を説明するための図、
第2図はベンディング処理手段を説明するための図、第
3図は本発明の一実施例に於けるハードウェアの構成を
示すブロック図、第4図は上記実施例に於ける自動配線
処理手段を示すフローチャート、第5図は上記実施例に
於ける格子を説明するための図、第6図乃至第9図はそ
れぞれ上記実施例に於けるパターン処理動作を説明する
ための7やターン例を示す図である。 30・・・CPU、31・・・主メモリ、32・・・自
動配、1lilfログラム、33・・・外部記憶装置、
34・・・設計ファイル(7’−タペース)、:is・
・・入出力制御装置、51・・・基本格子、52.53
・・・準格子、64.74,85,96,97・・命配
線パターン。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 音片1図 沖2図 沖3図 1
FIG. 1 is a diagram for explaining the grid offset means,
FIG. 2 is a diagram for explaining the bending processing means, FIG. 3 is a block diagram showing the hardware configuration in an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a diagram for explaining the automatic wiring processing means in the above embodiment. FIG. 5 is a diagram for explaining the lattice in the above embodiment, and FIGS. 6 to 9 are flowcharts showing 7 and turn examples for explaining the pattern processing operation in the above embodiment, respectively. FIG. 30... CPU, 31... Main memory, 32... Automatic allocation, 1lilf program, 33... External storage device,
34...Design file (7'-tapes), :is・
...Input/output control device, 51...Basic grid, 52.53
... Quasi-lattice, 64.74, 85, 96, 97... Life wiring pattern. Applicant's representative Patent attorney Takeshi Suzu

Claims (1)

【特許請求の範囲】 印刷配線基板の自動配線処理装置に於いて、一定の格子
を単位とした、ランド付・ランドレスの各スルーホール
位置、及びピン間配線本数を含む予め設定されたノ4タ
ーンレイア9)条件の下に配線処理されたノ9ターンに
対し、配線・臂ターンの位置情報を取出し、全ての配線
ノ譬ターン処理が終了したことを確認した後、その各配
線パターンの周辺情報を各配線単位で取出し。 格子間配線本数が上記ノ’?ターンレイアウト条件で示
される許容本数よシも少ないことを確認した際に、当該
配線パターンに対して、その導体幅を上記許容本数に対
して設定された導体幅よシも太い導体幅に変更処理する
高密度印刷配線方法。
[Claims] In an automatic wiring processing device for a printed wiring board, preset number 4 including the positions of through holes with land and landless, and the number of wires between pins, in units of a certain grid. Turn Layer 9) For the 9 turns that have been routed under the conditions, extract the position information of the wires and arm turns, and after confirming that all the wire turn processing has been completed, check the surroundings of each wiring pattern. Extract information for each wiring. Is the number of inter-lattice wiring as above? When it is confirmed that the allowable number of wires indicated by the turn layout conditions is smaller, the conductor width for the wiring pattern is changed to a conductor width that is wider than the conductor width set for the above-mentioned allowable number of wires. High-density printed wiring method.
JP59111945A 1984-05-31 1984-05-31 High density printing wiring method Granted JPS60254786A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63108466A (en) * 1986-10-27 1988-05-13 Fujitsu Ltd Computer aided design system

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63108466A (en) * 1986-10-27 1988-05-13 Fujitsu Ltd Computer aided design system
JPH053035B2 (en) * 1986-10-27 1993-01-13 Fujitsu Ltd

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