JPS60247641A - 第4級アミンの回収方法 - Google Patents

第4級アミンの回収方法

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Publication number
JPS60247641A
JPS60247641A JP59103862A JP10386284A JPS60247641A JP S60247641 A JPS60247641 A JP S60247641A JP 59103862 A JP59103862 A JP 59103862A JP 10386284 A JP10386284 A JP 10386284A JP S60247641 A JPS60247641 A JP S60247641A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
waste water
quaternary ammonium
concentrating
concentrate
wastewater
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59103862A
Other languages
English (en)
Inventor
Komao Saitou
斎藤 駒男
Jun Kimura
純 木村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP59103862A priority Critical patent/JPS60247641A/ja
Publication of JPS60247641A publication Critical patent/JPS60247641A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/26Processing photosensitive materials; Apparatus therefor
    • G03F7/30Imagewise removal using liquid means
    • G03F7/3092Recovery of material; Waste processing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Electrolytic Production Of Non-Metals, Compounds, Apparatuses Therefor (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は現像液として例えば、テトラメチルアンモニウ
ムハイドロオキサイド(以下(1)/IAHJと称する
)を使用する半導体製造における現像工程等から排出さ
れる第4級アミンの回収方法に関する。
〔従来技術とその問題点〕
半導体製造における現像工程では光分解形ホトレジスト
としてキノンジアジドとフェノールノボラック樹脂の混
合もしくは縮合物、光合成形ホトレジストとしては環化
ゴム系もしくはポリケイ酸系を主成分とするもの等非常
に多種多様なものが使用されている。又、現像液として
は苛性ソーダ及びTMA)(を主成分としたもの等のア
ルカリ及び塩酸、硫酸等の酸もしくは有機溶剤等が使用
されているが、近年パターン微細化にともなってTMA
Hの使用頻度が増大している。
ところで、上記の工程に使用された廃水については従来
これを中和、又は生物処理後放流するかあるいは燃焼処
理し、排水中に含まれるアルカリ等の有価物は廃棄され
ていた。しかし、TMAHを含有する排水の場合にTM
ARは生物分解が不可能といわれているため生物処理の
有効性そのものがはなはだ疑問である。
一方、燃焼処理に関してもNOx、SOX等の有害排ガ
スの発生を伴なう等、処理そのものに種々の問題が残さ
れている。
〔発明の目的〕
本発明は半導体製造における現像工程等から排出される
レジストと第4級アミンとを含む排゛水から第4級アン
そニウムアルカリを回収する事を目的とするものである
〔発明の構成〕
本発明は第4級アンモニウムイオンを含有する排水を濃
縮して得られる濃縮水を電気分解し、濃縮水中の第4級
アンモニウムイオンを第4級アンそニウムアルカリとし
て回収することを特徴とする第4級アミンの回収方法で
ある。
〔発明の作用・原理〕
第1図は本発明方法に用いる装置の基本的な構成を示す
。すなわち、排水lcLを濃縮する濃縮装置2と、該濃
縮装置2の濃縮水1Gを電気分解し、該濃縮水IC中の
第4級アンモニウム塩を第4級アンモニウムアルカリと
して回収する電気分解装置3とにより構成されているも
のである。
本発明はまず、排水1αを濃縮装置2によって濃縮し、
排水中の塩濃度を上昇させる。濃縮装置2としては逆浸
透法が適当である。塩濃度を上昇させる目的は、通常排
水中の塩濃度は0.011以上0.1チ以下のように低
いため、電気分解装置3における原液ICの塩濃度を電
気分解操作に適合する濃度排水中に含まれるレジスト材
料は、塩と同様に濃縮水IC側に分離される。なお、1
bは濃縮装置における透過水である。
ここで、塩の濃縮を受けた排水lcを電気分解装置3に
よって電気分解処理すると、陽極側では酸が、陰極側で
はアルカリが生成し、排水中の第4級アミンを第4級ア
ンモニウムアルカリとして回収する事が出来る。
電流密度、種形状、イオン交換膜の使用等、電気分解操
作条件を適確に設定する事にょシ、効率良く、かつ高純
度の第4級アンモニウムアルカリを回収出来、工程での
再利用もしくは工業用原料としての再利用が可能となる
〔実施例〕
以下本発明の実験実施例について詳細に説明する一 本実験実施例において対象とした排水は、光分解形レジ
ストを使用する現像工程排水であり、レジスト材料とし
てはベースポリマーにフェノールノボラック樹脂、感光
剤にキノンジアジドをエステル化反応させたものを使用
し、現像液としては東京応化工業製、TMARを主成分
とする商品名NMD−3を使用した工程排水である。排
水性状はj)Hが11.4、全有機炭素が4oOql 
TMAH濃度は5.2XIO−3Nであった。当該排水
を2oool採取し実験対象排水とした。当該排水を逆
浸透濾過濃縮し、得られた濃縮水について定電圧電気分
解を実施し、TMAHの回収を試みた。逆浸透膜は東し
■製5P−110を用いて200倍濃縮を行ない原排水
2000ノから濃縮水lOノを得た。原排水、濃縮水、
透過水の性状を第1表に示す。TMAR、レジスト材料
は共に濃縮水中へ濃縮された。
第 1 表 第2図は電気分解実験装置を示すものである。
第2図中、4は電解セルであり、隔膜5及び6によりセ
ル4内を陽極室7、中間室8、陰極室9、の3室に分離
した。図中IOは陽極、■は陰極である。隔膜5,6に
は親水処理した多孔質テフロン膜を使用した。図中12
 、13 、14は各々陽極室液循環槽、中間室液循環
槽、陰極室液循環槽であシ、各々の槽内の液をポンプ1
5 、16 、17により一定流量で循環させた。液量
は全て5ノとした。中間室8には逆浸透濾過で得られf
cs度INの濃縮液を、陽極室7には0.IN硫酸を、
陰極室9には0.INTMAHを入れ、lOv定電圧電
気分解を開始し、極室の酸及びアルカリ濃度及び電流値
を測定した。
その実験結果を第3図に示す。又10時間後の各室の液
組成を第2表に示す。
第 2 表 第3図において18は電流値、Aは陽極室硫酸濃度、H
は陰極室TMAH111度、α、は硫酸に対する電流効
率、〜はTMAHに対する電流効率を各々示す。
以上の様に隔膜を用いた簡単な本実験実施例においても
TMARに関して電流効率80チ程度で0.67N、純
度94チの回収を行なう事が出来た。イオン交換膜を使
用し、電流密度及びセル形状等の諸条件を適当に設定す
る事により効果的なアルカリ及び酸の回収が期待出来る
〔発明の効果〕
以上のように本発明は半導体製造における現像工程で使
用され、従来は廃棄されていた高価、かつ毒性の高い第
4級アンモニウムアルカリを上記現像工程の排水中より
、工業用原料として再利用可能な純度で回収する事を可
能としたもので、半導体製造コストの大巾な低減化をも
たらすものである。又、濃縮操作として逆浸透法を採用
する場合には、濃縮操作の副生成物として排出される透
過水中の有機物、イオン濃度共に極めて低く、従来放流
されていた排水をも純水として回収できる
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法に用いる基本的構成を示すブロック
図、第2図は電気分解装置の構成図、第3図は電気分解
結果のグラフを示す図である。 1α・・・排水、1b−・・透過水、IC・・・濃縮水
、2・・・濃縮装置、3・・・電気分解装置 特許出願人 日本電気株式会社 第1図 b 第2園 第3図 ト ー−)(y ″

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)第4級アンモニウムイオンを含有する排水を濃縮
    して得られる濃縮水を電気分解し、濃縮水中の第4級ア
    ンモニウムイオンを第4級アンモニウムアルカリとして
    回収する事を特徴とする第4級アミンの回収方法。
JP59103862A 1984-05-23 1984-05-23 第4級アミンの回収方法 Pending JPS60247641A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5439564A (en) * 1992-11-10 1995-08-08 Tama Chemicals Co. Ltd. Method of processing organic quaternary ammonium hydroxide-containing waste liquid
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JP2012079830A (ja) * 2010-09-30 2012-04-19 Toppan Printing Co Ltd アルカリ剥離液の再生装置および方法

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