JPS6024678A - 画像読取装置 - Google Patents
画像読取装置Info
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- JPS6024678A JPS6024678A JP58133888A JP13388883A JPS6024678A JP S6024678 A JPS6024678 A JP S6024678A JP 58133888 A JP58133888 A JP 58133888A JP 13388883 A JP13388883 A JP 13388883A JP S6024678 A JPS6024678 A JP S6024678A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(a)発明の技術分野
本発明は文字を含む図形認識装置に係り、特に画像読取
り時に発生する画像歪みを予じめ設定した補正値にて修
正出力する画像読取装置に関する。
り時に発生する画像歪みを予じめ設定した補正値にて修
正出力する画像読取装置に関する。
(b) 従来技術と問題点
従来例を図に沿って説明する。
第1図は画像読取装置の原稿と読取り位置との関係を示
す説明し1である。図において1は原稿であって、図示
しない紙送り機j:+’tによって搬送基準線YY’に
If+って矢印P方向に移動する。x−x’は理想的な
画像読取線を示し、搬送基準y>Hy−y’とは正確に
直交する位1j:、l、関係にある。図示しない4j’
i像素子例えばCC1−5センサの読取り線はx−x’
となるように取付けられるが、実際にはCCDセンサの
片側をX′の位置に合わせてもXの位置では図示するよ
うに、若干の取付は位置の誤差及びレンズ、ミラー等光
学系の取付は誤差を含む機械的な誤差d、を伴なうもの
である。
す説明し1である。図において1は原稿であって、図示
しない紙送り機j:+’tによって搬送基準線YY’に
If+って矢印P方向に移動する。x−x’は理想的な
画像読取線を示し、搬送基準y>Hy−y’とは正確に
直交する位1j:、l、関係にある。図示しない4j’
i像素子例えばCC1−5センサの読取り線はx−x’
となるように取付けられるが、実際にはCCDセンサの
片側をX′の位置に合わせてもXの位置では図示するよ
うに、若干の取付は位置の誤差及びレンズ、ミラー等光
学系の取付は誤差を含む機械的な誤差d、を伴なうもの
である。
第2図はこのようなCCDセンサで読取られた画像メモ
リ上の図形の読取位ii’:ffi誤差による歪みを示
す図である。図において2は画像メモリ、3は画像メモ
リ上に読取られた(ざ1形であって1.υC取位1ij
c誤差dの値が大きい程読取りデータを一旦格納する画
像メモリ3には傾斜歪みの大きくなる画像として記憶さ
れる。
リ上の図形の読取位ii’:ffi誤差による歪みを示
す図である。図において2は画像メモリ、3は画像メモ
リ上に読取られた(ざ1形であって1.υC取位1ij
c誤差dの値が大きい程読取りデータを一旦格納する画
像メモリ3には傾斜歪みの大きくなる画像として記憶さ
れる。
光学文字読取装置などでは若干の傾斜歪であれば文字認
識論理により認識し1文字データの出力が可能であるが
、読取位置誤差dが大きくなると文字認識不能となる。
識論理により認識し1文字データの出力が可能であるが
、読取位置誤差dが大きくなると文字認識不能となる。
一方、画像読取装置の場合は若干の傾斜歪みの場合でも
そのまま出力されるため後処理において不都合となる欠
点がある。
そのまま出力されるため後処理において不都合となる欠
点がある。
(c) 発明の目的
本発明は上記従来の欠点に鑑みNjil像読取りデータ
を画像メモリに格納する前に傾斜歪みを修正す−ること
のできる画像読取装置の提供を目的と下る。。
を画像メモリに格納する前に傾斜歪みを修正す−ること
のできる画像読取装置の提供を目的と下る。。
(d) 発明の構成
そしてこの目的は、本発明によれば原稿上の画像を光学
的に読取る構成において、匪(散光を受光する撮像素子
と該撮像素子の出力を一時格納するバッファメモリと、
該撮像集子の読取位置誤差に対応する補正値を格納する
。iL!憶域と、該記憶域の補正値に基づく読出し用ア
ドレス信号を作成して前記バッファメモリの内容を補正
出力する補正回路とからj(’7成されたことを特徴と
する画像読収装[61を提供することにより達成される
。
的に読取る構成において、匪(散光を受光する撮像素子
と該撮像素子の出力を一時格納するバッファメモリと、
該撮像集子の読取位置誤差に対応する補正値を格納する
。iL!憶域と、該記憶域の補正値に基づく読出し用ア
ドレス信号を作成して前記バッファメモリの内容を補正
出力する補正回路とからj(’7成されたことを特徴と
する画像読収装[61を提供することにより達成される
。
(e) 発明の実施例
以下本発明の実施例を図面に沿って説明する。
同一符号を付してその重複説明を省略する。
第3図は本発明による画像読取装置の概念図を示す。図
において、4は光学レンズであって原稿が発生する画像
光を撮像カナ例えばCCl)セン4ノ5に入射せしめる
。CCDセンサ5は受光した画像光を走査及び光電変換
してバッファメモリ6に一時格納する。7は記憶域であ
って予め測定したC C,1)センサ及び光学系の機械
的な取付誤差dに対応する補正用のデジタル値をlして
いる。8は補正回路であって記憶域7に設定した補正値
に基ツきバッファメモリ6に一時t3 (J’Jしたl
’l i’lデータの読出し用アドレス信号を作り、つ
まり1シ1斜歪みを有する画像データを補正し画像メモ
リ2に出力する構成になっている。。
において、4は光学レンズであって原稿が発生する画像
光を撮像カナ例えばCCl)セン4ノ5に入射せしめる
。CCDセンサ5は受光した画像光を走査及び光電変換
してバッファメモリ6に一時格納する。7は記憶域であ
って予め測定したC C,1)センサ及び光学系の機械
的な取付誤差dに対応する補正用のデジタル値をlして
いる。8は補正回路であって記憶域7に設定した補正値
に基ツきバッファメモリ6に一時t3 (J’Jしたl
’l i’lデータの読出し用アドレス信号を作り、つ
まり1シ1斜歪みを有する画像データを補正し画像メモ
リ2に出力する構成になっている。。
第4図は補正回路8で作るバッファメモリ6の読出し用
アドレス信号の説明図であって、”+’;2図に示すよ
うな傾斜歪みの画像データを原(r% ]のにうに修正
して読出すためには取付誤差dを利用して続出アドレス
社を誤差分だけ傾斜するように指定すればよいことがわ
かる。例えばCCDセンサの読取素子数が2048ビツ
トで取付誤差dが4ビツト相当であるならば2042−
512ビツト毎に1ビツトを次行にシフトすればよい。
アドレス信号の説明図であって、”+’;2図に示すよ
うな傾斜歪みの画像データを原(r% ]のにうに修正
して読出すためには取付誤差dを利用して続出アドレス
社を誤差分だけ傾斜するように指定すればよいことがわ
かる。例えばCCDセンサの読取素子数が2048ビツ
トで取付誤差dが4ビツト相当であるならば2042−
512ビツト毎に1ビツトを次行にシフトすればよい。
従ってバッファメモリ6の領域はXアドレスについては
CCDセンサの読取素子に対応するビット数、Yアドレ
スについては上記機械的誤差のビット換算値の傾線列を
図示のように格納し得る程度でよい。
CCDセンサの読取素子に対応するビット数、Yアドレ
スについては上記機械的誤差のビット換算値の傾線列を
図示のように格納し得る程度でよい。
第5図はこのような読出し用アドレスを作るための補正
回路の詳細を示す7゛ロツクで9および10は第1およ
び第2のYアドレスシフトカウンタを示す。第1のYア
ドレスシフトカウンタ9は図の場合で説明するとXアド
レス用クロック入力がnビット例えば2048ビツト毎
にリセットされ、補正値のデジタル値、本例の場合51
2を設定値として格納する記憶域を有し、クロックが5
12ビツト毎に1パルス出力するカウンタ47’7成で
ある。このlパルスがYアドレスシフトパルスとなって
次の第2のYアドレスカウンタ1()に入力される。第
2のYアドレスカウンタlOは第4図に示す例えば[0
1J〜r08JのYアドレスをシフトパルス入力毎に順
次出力し、図示しない制御系にてYアドレス「01」に
始まるXアドレス用クロ、り人力が2048ビツト終り
Yアドレスr01Jに相当するメモリ内容の読出しが終
了するとYアドレス[01Jの領域にはYアドレス「0
8」の次の画像データがCC,Dセンサ5で読取られて
入力される。
回路の詳細を示す7゛ロツクで9および10は第1およ
び第2のYアドレスシフトカウンタを示す。第1のYア
ドレスシフトカウンタ9は図の場合で説明するとXアド
レス用クロック入力がnビット例えば2048ビツト毎
にリセットされ、補正値のデジタル値、本例の場合51
2を設定値として格納する記憶域を有し、クロックが5
12ビツト毎に1パルス出力するカウンタ47’7成で
ある。このlパルスがYアドレスシフトパルスとなって
次の第2のYアドレスカウンタ1()に入力される。第
2のYアドレスカウンタlOは第4図に示す例えば[0
1J〜r08JのYアドレスをシフトパルス入力毎に順
次出力し、図示しない制御系にてYアドレス「01」に
始まるXアドレス用クロ、り人力が2048ビツト終り
Yアドレスr01Jに相当するメモリ内容の読出しが終
了するとYアドレス[01Jの領域にはYアドレス「0
8」の次の画像データがCC,Dセンサ5で読取られて
入力される。
以下同様にしてYアドレスr(lt、Jから「08」の
内容は反覆更新される。又Yアドレスro6’J。
内容は反覆更新される。又Yアドレスro6’J。
ro 7J 、ro 8Jの各最初からの読出し経路が
それぞれYアドレスro8Jの図示するE/、 F/。
それぞれYアドレスro8Jの図示するE/、 F/。
G′に達したときには次のアドレス位置がYアドレス「
Ol」のE、 F、 Gにそれぞれリンクされるように
指定する機能を41している。以上のようにして得た読
出し用アドレス15号A、にてバッファメモリ6の画像
データ3を読出し画像メモリ2に通常手段で転送格納す
ることにより第(5図に示すような修正画像3′を画像
メモリ2に格納することができる。
Ol」のE、 F、 Gにそれぞれリンクされるように
指定する機能を41している。以上のようにして得た読
出し用アドレス15号A、にてバッファメモリ6の画像
データ3を読出し画像メモリ2に通常手段で転送格納す
ることにより第(5図に示すような修正画像3′を画像
メモリ2に格納することができる。
+f) 発明の効果
以上詳細に説明したように本発明の画像読取装置によれ
ば、装置内部にて発生する画像の6を取り歪みを修正し
て出力することができるため、正確な画像を得ることが
できる。
ば、装置内部にて発生する画像の6を取り歪みを修正し
て出力することができるため、正確な画像を得ることが
できる。
4、 図面の181羊な説明
第1図と@2図は従来方式による原稿と読取り画像歪の
説明図、第3図は本発明による画像読取装置の概念図、
第4図はバッファメモリ読出し用アドレス(N号の補正
例を説明するための図、第5図は第31i!Jにおける
補正回路の詳細を示すブロック図、第6図は画1&メモ
リに格納された修正画像を示す図である。
説明図、第3図は本発明による画像読取装置の概念図、
第4図はバッファメモリ読出し用アドレス(N号の補正
例を説明するための図、第5図は第31i!Jにおける
補正回路の詳細を示すブロック図、第6図は画1&メモ
リに格納された修正画像を示す図である。
図にお−いて、lは原稿、2は画像メモリ、3は画像デ
ータ、3′は修正画像データ、4は光学レンズ、5はC
CDセンサ、6はバッファメモリ、7は記憶域、8は補
正回路、dは取付は誤差y ABは読出し用アドレス信
号を示す。
ータ、3′は修正画像データ、4は光学レンズ、5はC
CDセンサ、6はバッファメモリ、7は記憶域、8は補
正回路、dは取付は誤差y ABは読出し用アドレス信
号を示す。
第 1 図
第 3 図
Claims (1)
- 原稿上の画像を光学的に読取る措成において、画像光を
受光する撮像素子と、該撮(gi!素子の出力を一時格
納するバッファメモリと、該撮像素子の読取位置誤差に
対応する補正値を格納する記憶域と、該記憶域の補正値
に基づく読出し用アドレス信号を作成して前記バッファ
メモリの内容を補正出力する補正回路とから11゛・i
成されたことを特徴とする画像読取装置2.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58133888A JPS6024678A (ja) | 1983-07-21 | 1983-07-21 | 画像読取装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58133888A JPS6024678A (ja) | 1983-07-21 | 1983-07-21 | 画像読取装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6024678A true JPS6024678A (ja) | 1985-02-07 |
Family
ID=15115439
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58133888A Pending JPS6024678A (ja) | 1983-07-21 | 1983-07-21 | 画像読取装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6024678A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01110343A (ja) * | 1987-10-23 | 1989-04-27 | Hitachi Denshi Ltd | Tv内視鏡における画像のセンタリング補正装置 |
JPH0465786A (ja) * | 1990-07-05 | 1992-03-02 | Fujitsu Ltd | 図面読取装置の文字認識方法 |
US6307775B1 (en) | 1997-07-29 | 2001-10-23 | Micron Technology, Inc. | Deaprom and transistor with gallium nitride or gallium aluminum nitride gate |
US6835638B1 (en) | 1997-07-29 | 2004-12-28 | Micron Technology, Inc. | Silicon carbide gate transistor and fabrication process |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5852781A (ja) * | 1981-09-25 | 1983-03-29 | Nec Corp | 線走査装置 |
-
1983
- 1983-07-21 JP JP58133888A patent/JPS6024678A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5852781A (ja) * | 1981-09-25 | 1983-03-29 | Nec Corp | 線走査装置 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JPH0465786A (ja) * | 1990-07-05 | 1992-03-02 | Fujitsu Ltd | 図面読取装置の文字認識方法 |
US6307775B1 (en) | 1997-07-29 | 2001-10-23 | Micron Technology, Inc. | Deaprom and transistor with gallium nitride or gallium aluminum nitride gate |
US6835638B1 (en) | 1997-07-29 | 2004-12-28 | Micron Technology, Inc. | Silicon carbide gate transistor and fabrication process |
US7005344B2 (en) | 1997-07-29 | 2006-02-28 | Micron Technology, Inc. | Method of forming a device with a gallium nitride or gallium aluminum nitride gate |
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