JPS60232956A

JPS60232956A - 平版印刷機上のインキ−水バランスの監視方法

Info

Publication number: JPS60232956A
Application number: JP59264362A
Authority: JP
Inventors: デビツト　ゼルマノビツク; スタンレイ　ジエイ、キシユナー
Original assignee: Kollmorgen Technologies Corp
Current assignee: Kollmorgen Technologies Corp
Priority date: 1983-12-13
Filing date: 1984-12-13
Publication date: 1985-11-19

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】産業上の利用分野商業印刷の分野で広く用いられているプロセスである。

印刷、主として４色印刷の品質は、インキ、紙および印
刷機械の品質の向上によって着実に改良されて来た。印
刷機の機械的設計の改良に加えて、印刷操作の種々の局
面を監視し、調節する自動的手段が印刷品質の改良に寄
与して来た。

オフセット平版印刷は、親油性の印刷プレートの画像領
域に、一連のローラーを通じてインキを移動させること
を含む。これらの画像領域から、インキはブランケット
と呼ばれるゴムシリンダーに移され、ついでブランケッ
トは紙または他の躯体ヘインキを付ける。インキの他に
主として水から成る親水性のインキだめ溶液が印刷プレ
ートの非画像領域に、一連のローラーを通じて付けられ
る。インキだめ溶液は、イン界面活性剤、ならびに他の
可能な成分を含む。

インキだめ溶液はしばしば単に「水」と記載される。

上の記載から、インキだめ溶液と水は混じり合わないと
か、またはその混合は好ましくないとさえ想像されるべ
きではない１．事実、実際上の経験は、適切な印刷には
、若干のインキだめ溶液がインキ中に乳化されることを
要求することを示す。インキ中のインキだめ溶液が少な
すぎると、インキは非画像領域に拡がることが出来る。

これはプレートの「キャッチアップ」（ｃａｔｃｈ−ｕ
ｐ　）　と呼ばれる。さらに、水が少なすぎると、イン
キの粘りつき（ｔａｃｋ　）　が増え、「ピッキング」
（ｐｉｃｋｉ口ｇ）、すなわち印刷されたページの表面
の一部のめくれ（ｒｅｍｏｖａｌ　）を来たす。すなわ
ち、適切な「インキ−水バランス」が必要である。

水中へのインキの乳化は、インキでおおわれたインキ着
はローラー（ｉｎｋ　ｆａＩｔｒｍ　ｒｏｌｌｅｒ　）
とインキローラーとの接触の前に非画像領域中にインキ
だめ溶液でおおわれた平版プレートとの間のニップ（ｎ
ｉ［）　）中の超高圧によって行な−われる。グールグ
レン（Ｄａｈｌｇｒｅｎ　）　加湿システムでは、イン
キだめ溶液はインキ着はローラーへ直接付けられる。そ
れ以上の乳化は着はローラー−配分ローラーのニップで
行なわれる。

インキ中へのインキだめ溶液の乳化の度合は、インキだ
め溶液自体、特定のインキ、印刷ローラー速度、ローラ
ー数、ローラー間圧力、室温、湿度および多くの他の変
数の函数である。またインキと接触している全インキだ
め溶液と、インキ中に実際に乳化されたインキだめ溶液
とを区別する必要がある。インキの表面に位置付けられ
たインキだめ溶液は、乳化された溶液がするようには、
インキの粘弾性を変化させない。

印刷機が稼動するに従って、上述の変数の多くは変化し
て、インキと水の相互作用を変化させるであろう。

従来技術インキだめ溶液およびそのインキとの相互作用を監視す
る自動的機械的方法が、適切なインキ−水バランスの重
要性に照らして望ましい。

インキ−水バランスを監視する、これまでの試みには、
Ｄ　、　Ｌ　、　Ｓｏｕｔｈａｍの（米国特許第３，４
９９．３８３号）およびＰ、Ｒ、Ｋａｎｔｏｒ　の（米
国特許第３，４１２，６７７号）電気伝導測定によるイ
ンキだめ溶液水準の測定、または、Ｄ、Ｋ。

ＭｉｋａｌおよびＡ、Ａ、Ｐｒｅｓ　ｔ　ｉ　の（米国
特許第３，８２２．６４３）、補助ローラーを使用した
ローラーニップ中の水層についてのインピーダンス測定
が含まれる。Ｗ、Ｅ、Ｄａｕｔｅｒｍａｎによる類似の
試み（米国特許第３，７３０，０８６　）は、補助ロー
ラーと同心キャパシタープレートの間のインキだめ溶液
の層の電気容量を測定する。これらの方法は印刷機の改
造を要し、インキだめ溶液の量だけを測定し、表面の溶
液と乳化された溶液を区別しない。Ｊ、Ａｌｂｒｅｃｈ
ｌ　、Ｗ、ＲｅｂｎｅｒおよびＷｅｓｔｆａｌｅｎ　Ｎ
ｏ、１５２３　Ｗｅｓｔｄｅｕｔｓｈｅｒ　Ｖｅｒｌａ
ｇ、Ｃｏ−Ｃｏ−１ｏ、ｌ　９６６　）の述べた印刷プ
レート上のｔｔｅｉｌｕｎｇ　３２０２　／　３２０３
　、　Ｍｕｌｉｃｈ　ｌ　９７２　）の述べた印刷プレ
ート上の水の赤外線吸収測定の使用、は、前者ではイン
キだめ溶液の量だけを測定し、後者では水の量だけを測
定するのに用いられる。どちらの方法も、表面と乳化さ
れた両方の溶液を測定はしない。どちらの方法も、プレ
ート毎に変わる非画像領域の位置に適応するために光源
と検知器の位置の変更を要する。躯体としてのプレート
による反射率測定は、プレート上の薄い酸化物層から来
る干渉パターンに悩まされ、グレートが古くなるに従っ
て変化し得る。干渉フリンジはまた、プレート上の溶液
１　の層の薄さく通常く５ミクロメートル）によっても
生ずる。さらに、水の中の水酸基による吸光ピークの位
置と強度は、インキだめ溶液添加ｒｔ　、　Ｉ　ＧＴ　
Ｌｅｉｐｚｉｇ　、ｌ　９６４　）は、オフラインで水
の量を重量法で測定し、表面水と乳化された水を区別し
ない方法を述べている。水の量ａｐｈｉｃ　Ａｒｔｓ　
ｉｎ　Ｆｉｎｌａｎｄ　２　（１９７３）　２　、　ｐ
ｐ　１−１２）の溶液量測定のために放射性トレーサー
で溶液をドーピングする方法はいずれも、水または溶液
の含量だけを測定し、表面水と乳化された水を区別せず
、どちらもオフライン法である。補助ローラーを用いて
インキおよび水の赤外線測定を行なうり、　Ｐｙｌｉｏ
ｔｉｓの試みおよび添加された溶液の函数としてのイン
キの銹電恒数の変化を測定するＭ、　Ｈｅ１ｇ１　の方
法（Ｆｏｇｒ−ａＭ目ｔｅｉｌｕｎｇｅｎ　１４　（１
９６５）　４７．　ｐｐ　３−９　）は印刷機の改造を
要し、表面水と乳化された溶液を区別しない。インキロ
ーラーに粘着計を装着し、インキの粘着性を測定するＧ
、Ｗ、Ｊｏｒｇ−ｅｌＳｅｎの試み（米国特許第３，１
９１，５２８号）は計器とローラーの接触を要し、当然
、粘着性しか測定しない。

発明の目的印刷機上のインキ着はローラーから１つまたはそれ以上
の角度で反射された光を測定することによって、表面の
インキだめ溶液の量および乳化された溶液の量について
の情報を得ることが出来ることがわかった。さらに、乳
化されたけローラーの領域によって異ることがわかった
。

それ故、印刷グレートの画像領域および非画像領域に相
当するインキ着はローラーの領域における乳化されたお
よび表面のインキだめ溶液の測定は、加湿ンヌテムを調
節して、適切なインキ−水バランスを保つのに使われ得
る。測定はオンラインで行なわれ、接触なしであるので
、印刷機の改造を要せず、相互作用する媒体のいずれに
よっても有意に吸収されないように光の波長が選択され
るので、この方法は広範囲のインキだめ溶液、インキお
よび躯体に１改変なしに適用出来る。この方法はまた、
印刷に使用される以外の、油中水および水中油工マルジ
ョンヲ含むエマルジョンの測定にも通用出来る。

それ故、本発明の目的の一つは、オフセット印刷機のイ
ンキ着はローラー上に存在する加湿溶液の量を測定する
ことにある。

本発明のもう一つの目的は、印刷操作の間に印刷機上の
センサーで、インキ中の乳化されたおよび表面のインキ
だめ溶液の量を個別に測定することにちる。

本発明のもう−りの目的は、印刷プレートの画像領域お
よび非画像領域にそれぞれ相当するインキ着はローラー
の領域中における乳化されたおよび表面のインキだめ溶
液の量を測定することにある。

本発明のもう一つの目的は、補助ローラーの使用なしに
インキ中のインキだめ溶液の測定値を与えることにある
。

本発明のさらにもう一つの目的は、センサーの改変なし
に、広範囲のインキだめ溶液およびインキに適用出来る
、インキ中のインキだめ溶液の測定を与えることにある
。

本発明のさらにもう一つの目的は、平版印刷機上のイン
キ−水バランスを調節する目的のために、インキ着はロ
ーラー上のインキの中に乳化されたおよびインキ上に乗
っているインキだめ溶液の量を測定することにある。

本発明のさらにもう一つの目的は、親油性物質の中に乳
化された親水性物質の量または、親水性物質の中に乳化
された親油性物質の量の測定値を与えることにある。

発明の構成及び効果本発明の目的の一つはインキと水の相互作用を監視する
ことにあるので、印刷機の上にセンサーを適切に位置づ
けることが必要である。それ故、まず平版印刷機上の加
湿およびインキングシステムの操作を記述することが有
益である。

第１図は平版印刷機上の代表的な加湿およびインキング
システムを図示する。上に印刷プレート（２）を装着し
たプレートシリンダー（１）は、まず加湿システム（３
）と接触し、ついでインキングシステム（４）と接触す
る。プレート（２）上のインキはついでブランケット・
シリンダー（５）に移される。

つぎにブランケット（５）はインキ付けされた画像を紙
（６）に移す。圧胴（ｉｍｐｒｅｓｓｉｏｎ　ｃｙｌｉ
ｎｄｅｒ　）（７）は、印刷ニップにおける紙（６）の
支え（ｂａｃｋ−ｉｎｇ　）と・して働く。

加湿システム（３）は、加湿溶液（９）の入った、通常
器（ｐａｎ　）と呼ばれる水だめ（８）に始まる。つい
で加湿溶液（９）は水だめローラーα０）と配分ローラ
ー０Ｄに交互に接触して前後にゆれ動くダクターローラ
ー（１２１によって水だめローラーから配分ローラー（
１１１へ移される。着はローラーｕ３）は加湿溶液をプ
レート（２）に移す。第１図に図示された加湿システム
は最も普通に用いられるシステムであるが、同じ結果を
得る種々の他の配置−印刷プレート（２）の非画像領域
への加湿溶液の適用−がある。どの加湿システムにおい
ても、加湿溶液の流れを調節する手段がある。たとえば
、水だめローラー（ＩＯＪの回転速度はダクターａ２へ
の加湿溶液の流れを変化させるであろう。

インキングシステムはインキだめｃｉ力に始まる。

インキはインキだめブレード（１６）によってインキだ
めローラーＵの上に秤り込まれる。インキだめブレード
１１６）とインキだめローラー（Ｉ５）の間の物理的分
離は、インキだめブレード（１６）に沿って、印刷機の
幅方向に等間隔に配置された一連のインキキーαＢによ
って調節される。これらのインキキー（１７１は、ウェ
ブ（６）の幅方向における異った位置に、個別にインキ
の流れを調節するのに使用される。インキだめローラー
（１５）から、残りのインキング部分へのインキの流れ
は、ダクターローラー賭で調節され、ダクターローラー
はインキだめローラーｕ５１と第一の配分ローラーｕ！
ＪｌＯ間を前後にゆれ動く。この点からあと、インキは
一連のローラー群を通して配分され、その目的は適切な
厚さのインキの均一な流れを与えることにある。第１図
に図示されたように、４１固のインキ着けＯ−−）　−
（２０ａ）、（２０ｂ）、（２０Ｃ）および（２０ｄ）
がプレートに接触する。同一の機能を達成する種々の他
のインキングシステムがあることを注意すべきである。

さて、プレートシリンダーが回転しているときの印刷プ
レートの表面上の点を追跡して見よう。この点はまず、
加湿剛着はローラー（ｄａ−ｍｐｅＱｅｒ　ｆｏｒｍ　
ｒｏｌｌｅｒ　）　ロ３）に接触する。それが画像点で
あるならば、それは疎水性であり、それに移される水は
わずかであるが、または全くないだろう。それが非画像
点であるならば、それは親水性であり、水の膜を受け入
れるであろう。この点は、ついでインキ着はローラー（
２Ｑ１）、（２０ｂ　）、（２０Ｃ）および（２０ｄ　
）に順番に接触する。

それが画像点であるならば、インキはそれに移される。

それが非画像点であるならば、それはインキ着け０−　
ラ−（２０ａ）、（２０ｂ　）、（２０ｃ　）および（
２０ｄ）からインキを受け入れないであろう。

しかし、それはその水膜のいくらかをインキ着はローラ
ー（２０ａ　）、（ｚｏｂ）、（２０ｃ　）および（２
Ｃｄ）に移すであろう。事実、これがインキへの水の移
動の主要な機構でおる。一度移されると、水はインキ中
に、乳化された滴、またはインキ表面上の層として存在
し得る（例えば、Ｓ、Ｋａｒ−ｔ　ｔｕｎｅｎ　および
Ｖ、　Ｌｉｎｄｑｕｉｓｔ、　「平版オフセット印刷に
おける界面現象、第１部Ｊ　ＧｒａｐｈｉｃＡｒｔｓ　
ｉｎ　Ｆｉｎｌａｎｄ　、　ＮＯ，２１９７Ｂ、ｐｌｏ
参照）。

上記の説明から明らかなように、プレート−インキ着は
ローラーのニップは、インキ−水相互作用の主要な源泉
である。それ故、インキ−水バランスはプレート（２）
の上かまたはインキ着はローラー（２Ｏａ）、（ｚｏｂ
）、（２０ｃ　）、（２０ｄ）の上で測定されなければ
ならない。プレート（２）上での測定は、多くの困難が
ある。第一に、プレー［２）の非画像領域を測定しよう
とするとき、金属プレート（２）は一般に薄い酸化物層
でおおわれ、この層は反射ビー人中の干渉パターンの出
現を来たすかもしれないことを知る必要がある。

第二に、水の薄い層も干渉を起こすがもじれない。これ
らの干渉パターンは予測出来ない形で反射ビームの強度
を変調し、これらのパターンの不在時よりデータの信頼
性を低くする。画像領域を測定するとき、それらは、イ
ンキ着け０５−（２０ａ）、（２０ｂ）、（２０ｃ　）
、（２０ｄ）と同様にインキでおおわれるが、プレート
（２）上のインキはかなりの水の表面膜を運ぶであろう
ことを注意することは重要である。すなわち、プレー）
（２）上の測定によってインキの表面上の水のフラクシ
ョンを直接測定することは不可能である。とれらの困難
に照らして、インキ着はローラー（２０ａ）、（２ｏｂ
　）、（２０ｃ　）、（２０ｄ　）上でインキ−水バラ
ンスを測定するのが好ましい。

グレート（２）に接触したすぐあとのインキ着け１：ｌ
−５−（２０ａ）、（２０ｂ　）、（２０ｃ　）、（２
０ｄ　）のいずれかの上の点の挙動を考えて見よう。従
来の加湿システムでは、第一のインキ着はローラー−（
，２０ａ）、は他のどれよりもそれに移されたより多く
の水をもっているので、プレート−インキ着はローラー
のニップのすぐあとで、このローラー上の点のインキ−
水相互作用を測定するのが好ましい。しかし、この点お
よび着はローラー（２０ｂ　）および（２０Ｃ）上の対
応する点は通常近づきにくい。それ故、第１図に示すよ
うに、最終のインキ着はローラー（２０ｄ）上の点ｒＰ
Ｊで測定、することが必要となる。

画像領域では、着はローラー（２０ａ　）、（２ｏｂ）
、（２０ｃ）、（２０ｄ　）上のインキとプレート（２
）上のインキはプレート−着はローラーのニップで出会
い、接触した層は分割を受け、ここで着はローラーから
のインキはプレートに移らされ、プレートからの小部分
は着はローラーへ移らされる。

この二”／プは、着け０−５−　（２０ａ）、（２０ｂ
　）、（２０ｃ）　、　（２０ｄ）上のインキの組成を
大幅に変える働きはしないが、インキ着はローラー上の
インキ−水エマルジョンは、ブランケット（５）に移さ
れついで印刷されるそれを代表する。このエマルジョン
はその反射性質によって光学的に識別され得る。それは
エマルジョンであるので、入射光を拡散的に散乱させる
。事実、プレートシリンダー（１）の１回転毎に１度発
光するストロボスコープ（図示せず）を使用して、プレ
ート（２）と接触したすぐあとのインキ着はローラー（
２０ａ）、（２０ｂ　）、（２０Ｃ）、（２０ｄ）　の
表面を肉眼観察すると、画像領域は外観がつや消し状（
ｍ−ａｔｔｅ　）　であることがわかる。それ故、それ
らは散乱反射光の強度を測定することによって識別され
得る。非画像領域−着はローラーニップにおいては、プ
レート（２）上の表面水はインキ着はローラー（２０ａ
　）、（２ｏｂ）、（２０Ｃ）、（２０ｄ）に移される
。ストロボスコープ照射下の肉眼観察では、光沢のある
外観を示す。この光沢は、鏡面反射光の強度を測定する
ことによって光学的に識別され得る。この光沢は、プレ
ート（２）から移された、インキ表面上に乗っている水
の滑らかな膜の結果である。

さて、インキ配分ローラー（２１１と接触した直後のイ
ンキ着はローラー（２１ａ　）上の点の挙動を考えて見
よう。そのような点は第１図に「Ｑ」で示される。配分
ローラーＱυは２つの目的のために働く。第一に、それ
らは着はローラー（２０ａ　）、（２０ｂ　）、（２０
Ｃ）、（２０ｄ　）にインキを新たに供給する。第二に
、それらは横にゆれ動いて、それによってインキを均一
に配分する。

この新しく供給されたインキは、前に適用された膜をお
おいかくシ、それによって、画像領域と非画像領域の間
の差を減少させる。さらに配分ローラーＣυの振動運動
は横に隣接した画像領域と非画像領域を混合し、さらに
画像領域と非画像領域の間の差を減少させる。それ故、
点ｒＰＪで画像領域と非画像領域を測定することによっ
て得られるより少い情報しか得られないので、この点で
の測定は好ましくない。

従来の（直接）加湿システムと間接加湿システムとの間
の主な差異は、前者では、インキだめ溶液がグレート（
２）に直接適用され、後者ではそれが第一のインキ着は
ローラー（２０ａ）に適用′　されるということである
。

第２図は平版印刷機への間接加湿システムの使用を示す
。この場合、加湿溶液だめローラー（ｄａｍｐｅｎｉｎ
ｇ　ｆｏｕｎｔａｉｎ　ｒｏｌｌｅｒ　）　（１０）は
第一のインキ着はローラー（２０ａ　）に直接接触する
。計量ローラー（ｍｅｔｅｒｉｎｇｒｏｌｌｅｒ）（ハ
）が移されろ水膜の厚さを調節する。プレート（２）に
接触した直後の第一のインキ着はローラー（ＺＯａ）の
状態は、間接加湿の場合には、水とインキの源泉である
ので非常に異っている。第一のインキ着はローラー（２
０ａ）は、今やエマフレジョンを運ぶ。画像９ｉ１に接
触したとき、エマルジョンはユニットとして（水を含ん
だ形で）プレート（２）に移される。それ故、着はロー
ラー（２０ａ）上のインキの組成は画像領域−インキ着
はローラーのニップ中では激しくは変化しない。しかし
非画像領域に接触したとき、着はローラー（２Ｏａ）は
水だけをプレート（２）に移し、エマルジョンの水分は
少くなる。これは、非画像−インキ着はローラーのニッ
プ中でプレート（２）が水を第一のインキ着はローラー
（２０ａ　）に移す従来法の加湿システムの情況と対照
的である。第一のインキ着はローラー（２０ａ）だけが
加湿されるので、それに続くインキ着はローラー（２’
Ｏｂ）、（２０Ｃ）および（２ＣＫＩＩ）は、二つの加
湿システム中で同じ様に挙動する。

間接加湿システムはインキ−水相万作用のもう一つの検
査点（ｐｒｏｂｅ　ｐｏｉｎｔ　）を与える。これは、
第２図に点ｒＲＪで示すように、インキだ＼め１−ローラー−第一のインキ着はローラー（２０ａ）
のニップのすぐあとについている。水が第一のインキ着
はローラー（ＺＯａ）に移されるのはこの点であるから
、この点は従来法の加湿システムの第１図の点ＩＰＪに
おけるそれと同様な挙動を示す。しかし、間接加湿シス
テムでは、インキ着ケローラー（ＺＯａ　）を通じてプ
レート（２）へ水を移すようにシステムが設計されてい
るので、より多くの水が、着はローラー（２０ａ）に移
される。さらに、システムは水をエマルジョンとして、
着はローラー（２０ａ　）に移すように設計されている
。それ故、このニップでは比較的少量の表面水が第一の
インキ着はローラー（２０ａ　）に移される。残念なが
ら、この点はやはり一般に近よりがたく、そのため、こ
の加湿システムでも同様に、最終の着はローラー（２０
ｄ　）上の点ＵＰ」で測定を行なわねばならない。プレ
ート（２）の画像領域および非画像領域に相当するイン
キ着はローラー（２０ｃｌ　）上の選ばれた領域の測定
は、センサーがプレートシリンダー（１）の回転と同期
することが必要である。この同期は多くの方法で達成出
来、その一つはプレートシリンダー（１）の回転を調節
する駆動軸上の軸エンコーダーの使用である。エンコー
ダーは、プレートシリンター（１１が回転するに従いそ
の等角度位置に相当するパルス（ｐｕｌｓｅ）を与える
。センサーは、センサーの隣りに来る（着はローラー上
の）画像領域に相当するパルスをエンコーダーが与える
ときに測定を行ない、エンコーダーが非画像領域に相当
するパルスを同様に与えるとき第二の測定を行なう。

測定の行なわれるべき画像領域および非画像領域が予め
決定出来るならば、同期は一度達成すれば、調整の必要
がない。その位置が、作業間で一定しているならば、操
作員の介入は不要である。センサーは画像領域゛と非画
像領域を強く区別するので、そのような同期なしの測定
は極めて複雑な読みを与える。同期が用いられないと、
これらの領域は無作意に測定される。解析は可能である
が、極めて複雑である。それ故同′期は好ましい。

水とインキの間の相互作用を調べるために、インキ着は
ローラー上の画像領域および非画像領域の両方で、鏡面
反射光および散乱反射光を測定することが好ましい。

インキに比べた水の流れの増加は、画像領域と非画像領
域の両方における乳化されたおよび表面水の量を増加さ
せるであろう。これは、乳化の増加に相当する散乱反射
の増加ならびに、）　表面水膜の厚さ０増加に相当する
鏡面反射の増加をもたらすものであろう。しかし、より
多くの量の水がインキ着はローラーへ移されるのでこれ
らの変化は非画像領域において、より太きい。

画像を測定すべきならば、それは、出来るだけインキ中
水の乳化を代表するものであるべきため、ハーフトーン
でなく、ベタ刷りであるべきである。ベタ刷り領域が画
像中にない場合には、ベタ刷りパッチを、印刷物の縁か
、先端または末端につけることが出来る。代りの方法と
して、プレートシリンダー（２）に装置したとき、プレ
ート（２）の両端の間に存在する溝も画像領域として使
用出来る。この溝はブランケットシリンダー（５）とも
、インキ着はローラー（２０ａ　）、（２０ｂ）、（２
０Ｃ）、（２０ｄ）とも接触しないので、センサーは、
配分ローラー翻でインキづけされたインキ着はローラー
上の領域を測定するであろう。

非画像領域は常に印刷物の先端および末端に沿って（溝
のとなりに）見出され得る。

一般に１印刷プレート（２）に沿った任意の幅の細長い
部分（５ｔｒｉｐ　）は、画像領域と非画像領域の分布
を含むであろう。それ故、任意の時点における着け１：
Ｉ−−ｙ　−（２０ａ）、（２０ｂ）、（２０Ｃ）、（
２０ｄ　）上のインキ膜の状態は、それがちょうど接触
した点によって左右されよう。すなわち、画像領域と非
画像領域の平均化をさけるに充分な短い時間での測定を
行なう必要がある。

本発明の特に有用な応用は、プレートのキャッチアップ
の開始の感知（ｓｅｎｓｉｎｇ　）である＠キャッチア
ップは、主として、プレート（２）の非画−像領域上の
不充分な水によって起こる。

点「Ｐ」（第１図）、における非画像領域からの鏡面反
射の強度は、キャッチアップの開始とともに急速に減少
する。これはプレート（２）上の水膜が極めて薄いから
である。

もう一つの有用な応用はインキの粘弾性を測定するため
の乳化された水の感知である。これはドツトゲイン（ｄ
ｏｔ　ｇａｉｎ　）　の調節に重要である。直接ドツト
ゲインを測定するのに使用し得る濃度計（ｄｅｎｓｉｔ
ｏｍｅｔｅｒ　）　とともに、インキ−水バランスセン
サーを併用することは、さらに有利である。インキ−水
バランスの適切な選択はこうして乳化された水とドツト
ゲインの同時測定にもとづいて行なわれ得る。

印刷機の条件は、インキ中水のエマルジョンを不安定か
つ短命にする。インキ着はローラーの円周に沿って直列
に二つのセンサーを置き、ローラー上の同一の点を順番
に丁度よい時に測定することによって、インキ着はロー
ラー上の点の上のエマルジョンの破壊をその時点で監視
することが出来る。これは、センサーとインキ着はロー
ラーの回転の同期を必要とする。乳化の破壊の下に、鏡
面反射光の強度は、水がエマルジョンから表面に出てく
るに従って増加し、一方散乱反射光の強度は減少するで
あろう。鏡面反射と散乱反射の差の測定はエマルジョン
寿命の有用な指標である。エマルジョン寿命は、勿論印
刷の品質に影響を及ぼすインキの粘弾性の測定に重要で
ある。

前に述べたように、センサーは乳化された水と表面水を
個別に測定出来る。これらの量は必ずしも相互に比例せ
ず、供給水量のような単一のパラメーターを調整するこ
とでは両方とも調節出来ない。例えば、乳化された水の
量は、インキだめ溶液の表面張力（界面活性剤その他の
添加剤で決まる）、インキだめ溶液のｐＨ，インキ組成
およびその他の要因の函数である。プレート（２）の上
の水の量もインキだめ溶液の表面張力およびプレート（
２）の条件によって影響される。

それ故、乳化された水および表面水の両方の量、を調整
するために、供給水量に加えて、インキおよび／又はイ
ンキだめ溶液の化学的組成を調整することが必要であり
得る。

第３図は鏡面反射および散乱反射を測定するのに用い得
る一般化された光学系のブロック図を示す。白熱タング
ステン灯、クセノンアーク灯、レーザーまたは発光ダイ
オードのような光源（ハ）が、レンズｃｌＴＩで示され
る照射光学系を通じて、インキ着はローラーｃ！ｅ上の
スポットを照射するのに使用されることがわかる。その
ような照射を行なうに用いうる光学的構成は多数あり、
その中には、インキ着はローラーｃ２６）上に直接光源
（２ωを結像するシステム、およびインキ着はローラー
（ハ）の上に均一に照射されたすきま（ａ　−ｐｅｒｔ
ｕｒｅ　）を投影するシステムがあり、後者の種類のシ
ステムは普通「投影」光学系として知られている。点線
困で示される投射光はインキ着ケローラー（２Ｑの表面
上のインキ中水エマルジョン＠）と相互作用する。光の
一部は、エマルジョン曽をおおう表面水によって鏡から
のように鏡面反射される。これらの鏡面反射光は点線例
で示される。投射光（至）の他の部分は、エマルジョン
の中の顔料粒子および顕微鏡的水滴の両方によって散乱
させられる。投射光ｔ２８１のさらに他の部分は、イン
キ着はローラーｃ！６）の表面と相互作用し、着はロー
ラーは光を鏡面反射および散乱反射する。鏡面反射光は
、表面水から鏡面反射した光線（至））の光路に従うで
あろう。エマルジョン（２９）およびローラー（ト）の
表面で散乱反射した光はすべての方向に放散する。しか
し我々は点線ｃ３υおよび倣で示した光線に興味がある
。

鏡面反射された光線■は、レンズ（３３１で示される受
光光学系で集光され、光検知１ｃｓ４で感知される。受
光された光は、好ましくは、インキがまたは加湿溶液の
いずれかによって、著しくは吸収されないスペクトμ帯
域にある、所望の波長帯を単離する光学フィルター（３
５１を通過する。

フィルター１３５１は二つの機能を遂行する。第一にそ
れは所望のスペクトル帯域中にある光源□□□からの波
長だけを通す。しかし、レーザーまたは発光ダイオード
のような単色光源が使われる場合は、この機能は不要で
ある。第二に、フィルター６！９は自然光による望まし
くない波長を排除する。この機能を遂行する必要性は、
集光される自然光と比較した集光された光□□□の強度
に左右される。

光線６υおよび（３２は、２つの異った角度で集光され
た散乱光または散乱反射光を示す。これらの散乱光線（
３１）および曽は集光光学系（ト）および０７）で集光
され、光検知器間および６９）で感知される。

光学フィルター６５）と同等の光学フィルター（４Ｇお
よび（４１）が光学集光システム圓およびＣ３７）とと
もに使用出来る。電子回路に、（４３１および（４４１
が、それぞれ光検知器（３Φ、■および１３９）によっ
て感知された光の強度に相当する電気的出力信号を与え
るのに用いられる。これらの電子回路は一般に、光検知
器（３１，１３８）、１３９）の内部に発生した信号を
増幅し、ｐ波するのに使用される。これらの出力信号は
アナログ形でもディジタル形でもよい。

センサー出力信号から乳化された水の百分率および表面
水百分率を計算するだめの、それ以上のコンピュータ一
手段（４５）が与えられる。この情報は印刷機操作者へ
の指標として直接使用されることが出来るし、または、
回路が直接加湿溶液の流れを調節するような、アナログ
またはディジタル様式の器具をつけた調節回路ｔ４Ｅ９
に伝達されることも出来る。散乱反射光（３１１および
Ｃ３２１が鏡面反射光陽に対して位置する角度の選択は
、この方法の正確度に影響を与え得る。一般に、光線（
至））、０Ｄおよび（３々の間には最小の有効な角度の
分離がある。例えば、光線例とＣ（１）の間の角度が減
少するに従って、光検知器（３ａおよび關によって感知
される信号はその大きさが接近して来るだろう。さらに
、光線６Ｄは若干の鏡面反射を含み、そのため表面水に
若干左右されるようになるであろう。さらに、光線Ｃ３
１１およびＣ１２が角度位置で接近しているならば、そ
れらは光度が接近して、それらの比は（１）に近づき、
インキ−水バランスに左右されなくなるであろう。一般
に、光線夏、ｃｌＩ）および３シの間の相互の角度分離
は５゜を・こえるべきである。

インキ着はローラー上の乳化された水および表面水の量
を個別に監視するには、鏡面および一つの散乱角の使用
で充分であることに留意すべきである。しかし、乳化さ
れた水滴の寸法分布を示す付帯的情報を与えるのに、そ
れ以上の散乱角が使用され得る。種々の角度での散乱光
の測定の使用は、粒度分布解析の受容された方法である
（例えば、Ｈ，Ｃ，Ｖａｎ　ｄｅ　Ｈｕｌｓｔ　：　「
小粒子による光散乱Ｊ　、Ｄｏｖｅｒ　Ｐｕｂｌｉｃａ
ｔｉｏｎｓ。

’　Ｎ、Ｙ、、１９８１を参照）。それ故、一つより多
い散乱角をインキ−水センサーに包含させるのは、セン
サーを研究の目的のために有効なもとし、もし滴寸法分
布が有用なプロセスパラメーターであることが証される
ならば、実用的な用途を見出し得る。

出力信号がセンサーを標定しく　ｃａｌｉｂｒａｔｉｎ
ｇ）操作するのに使用出来る方法は多数ある。光線■、
６１１およびＣ３２の強度は次のように示される：■３
０″ＩＤ３０　＋■８３０Ｉ３１　”　ＩＤ３１ ■３２　”　ＩＤ３２ここに、付帯文字（５ｕｂｓｏｒｉｐｔ　）　Ｄおよび
Ｓは、それぞれ、散乱および鏡面を表わす（一つの散乱
角が用いられる場合は”３２は適用出来ない）。■３０
は散乱成分ならびに鏡面成分をもつことに注意せよ。乳
化された水は散乱光より３０゜工　、および■　に付随
し、表面水は鏡面Ｄ３１　Ｄ３２光工　に付随する。■、。の測定は単に、合計３０強度、ＩＤ３゜＋１゜３ｏだけしか与えないので、Ｉ　
Ｉ、および■　および乳化されたＤ３０％　Ｄ３１　Ｄ３２水およびＩ　および表面水の間の関係を確定３０出来るように、センサーを標定し、操作するためには、
これらの成分を分離する方法を見出す必要がある。これ
らの関係を確定することで、我々は、実際の印刷作業中
に表面水および乳化された水の挙動の変化を個別に監視
することができるであろう。

センサーを標定出来る−りの方法は、光線叩の鏡面成分
だけが投射光（至）の偏光状態を持続しているという事
実を用いる。その結果、光線（２８１の光路中に偏光器
を置き、光線夏の光路中に分光器（ａｎａｔｙｚｅｒ　
）　（すなわち、第二の偏光器、その主伝達軸は第一の
偏光器のそれに直角である）を置くことによって、この
成分は消去出来る。この方法は、表面水および乳化され
た水の効果を個別に観察するために、標定プロセス中に
組入れることが出来る。

標定プロセスは次の通りである。第３図を参照して、代
表的な長さの印刷作業中に、上述の光線漫および光線■
の光路中にある偏光器によって、強度■３０”３□およ
び工３２が測定される。

インキ−水バランスは印刷作業中変化されねばならない
。偏光器は、示された様式で挿入されているため”　３
０　”　ｋＩＤ３゜である。ここに、ｋは分光器の透光
度（ｔｒａｎｓｍｉｔｔａｎｃｅ　）である。

作業中の種々の時点で、■　■　および１３２３０％３
１の値を測定し、表面水滴はローラー□□□から吸いトラ
ｆｔ　（ｂｌｏｔｔｅｄ　ｏｆｆ　）　、インキ−水エ
マルジョンはローラーからかきとられる（　５ｃｒａｐ
ｅｄｏｆｆ　）。ついでインキ−水エマルジョンは乳化
された水の百分率について化学分析される。乳化された
水は、無水メタノール中でエマルジョンをはげしく振盤
することによって、インキから除去される。このメタノ
−／１／溶液を直ちにカールフィッシャー試薬で滴定し
て、乳化された水の質量（ｍａｓｓ　）　が測定される
。インキは四塩化炭素のような適切な溶媒に溶がして、
その溶液の５試料の光学密度を分光光度計によって測定
する。光学密度はインキの質量（ｍａｓｓ　）　Ｋ比例
する。光学密度を比例常数で割ると、その商はインキ質
量（ｍａｓｓ　）　に等しい。比例常数は既知容積の溶
液中の既知質量のインキの溶液の光学密度を測定し、つ
いで溶液の単位容積当りのインキの質量で光学密度を割
ることによって決定される。インキ−水エマルジョンを
分析する時間間隔は、インキ−水パランヌの変動のない
値が得られるのに充分なだけ長くなければならない。印
刷作業の完了後、ＩＤ３０　’　ＩＤ３１およびＩＤ３
２　対乳化された水の百分率の表を作成する。

ＩＤ３゜、ＩＤ３□および■　および乳化された３２水の百分率の間には、独特の関係が存在する。

例えば、ＩＤ３ｏ１■Ｄ３□および工　は、乳化さ３２れた水の百分率に対して、独特の単調な関係をそれぞれ
持つことがわかった。

表面水に関する■　の標定は、偏光器なし３０に、かつローラー（２６）から表面水を最初に吸いとる
ことなしに、印刷作業をくりかえすことによって達成さ
れる。換言すれば、インキ−水系は全水量について化学
的に試験される。この第二の印刷作業の結果の分析にお
いて、上述のよｐ■Ｄ３０　および乳化された水の量の
両方を、作成した表に従って算術的に計算するのに■　
まＤ３またはＩＤ３□が使用される。これは、ＩＤ３２　または
■　対乳化された水の百分率の表を参照し、３１ ■　または■　の測定値を使って、乳化さＤ３２　Ｄ３
１れた水の百分率を見出すことによって達成される。つい
で、Ｉ　／Ｉ　または’Ｄ３２　／　ＩＤ３０Ｄ３工　
Ｄ３０対乳化された水の百分率の表を参照し、上記で決定した
乳化された水の百分率の値を用いて、比Ｉ　／Ｉ　また
はＩＤ３２　／　ＩＤ３０の対応値をＤ３１　Ｄ３０見出す。ＩＤ３１　またはより３２は既知であるため■
　または■　を比’Ｄ３１　／　ＩＤ３０まだはＤ３１
　Ｄ３２Ｉ　／Ｉ　で割ることによって１　が判かＤ３２　Ｄ３
０　Ｄ３０る。実際の表面水は、化学的に測定した全水量から、乳
化された水の計算質量を差引くことによって決定される
。■　は■　から■　を８３０　３０　Ｄ３０差引くことによって決定され（■３０　’Ｄ３０　”■
８３ｏ）、ここで”８３０　対表面水の表が作成される
。

印刷作業中、Ｉ　またはＩ　の測定値かＤ３１　Ｄ３２ら、乳化された水を算術的に計算する。ＩＤ３０の算術
的に計算された値を工、。測定値から差引くと、■　の
値が得られ、その値から、表面３０水が算術的に計算される。この点では、偏光器は不要で
ある。

偏、光器および分光器の使用を伴って、単一の非鏡面角
で反射する光か、鏡面角で反射する光かどちらかを測定
することで実行され得る。標定のプロセスは、乳化され
た水の百分率を散乱光の強度の函数として作表した上述
の方法と類似している。この方法は表面水を計算しない
。

センサーを標定し操作するさらにもう一つの方法は統計
的方法にもとづく。印刷作業中、■３゜、■３□および
”３２のデータを記録し、この間インキー水バランスを
変化させる。作業中、種々の時間間隔で、一般に表面水
および乳化された水の混合物を含むインキ−水混合物の
二りの試料をローラーからかき取る。一つはかきとりの
まえに吸いとられ、乳化された水を分析し、もう一つは
全水量について分析する。この方法で、乳化された水と
表面水の両方が測定される。

３ｏ、３□、Ｉ３２対乳化された水および表面水Ｉの両方の表が、この方法で作成される。標定は次の二つ
の式を仮定することによって達成される：乳化された水＝ａ工■３０＋”２”３□＋ａ３　’３２
表面水−ａ４”３０＋”５■３１＋　ａ６　’３２ａｉ
　は、例えば６基本料学的サブルーチン″第２巻、Ｆ、
　Ｒ，Ｒｕｃｋｄｅｓ″ｃｈｅｌ　、　Ｂｙｔｅ　／　
ＭｃＧｒａｗＨｉｌｌ　、　Ｐｅｔｅｒｂｏｒｏｕｇｈ
　、　Ｎ、Ｈ，（１９８１）に述べられているような最
小二乗回帰法によって決定出来る係数である。一度その
係数が決定されると、上述の式は、実際のセンサー操作
中にＩＩ　および’３２の測定値から乳化され３０％　
３１％た水および表面水を個別に計算するのに使用される。こ
の方法は、もし正確度が要求されるなら、もつと非鏡面
の角度で得られるデータにも使用し得る。同様に、それ
は、■３ｏおよび■３□だけ（すなわち、１つの鏡面角
および１つの非鏡面角）で役に立ち、それ以上の散乱帯
域（ｃ−ｈａ口（Ｉｅｌ　）　によりて与えられるそれ
以上の情報なしで役に立つ。

インキ／水エマルジョン四は、感知される程には、投射
光を吸収しないので、エマルジョンを通過した光の部分
は、インキ着はローラー□□□の表面によって散乱され
、光検知器ｏ４１１ｎおよび１３！３によって測定され
るべきエマルジョンを通して折りかえし通過することに
注意すべきである。これらの信号の効果は、乳化の程度
の函数ではなく、上述の標定プロセス中で計算される。

波長は、それがインキ膜によって部分的に吸収されるよ
うに選択されることが出来、ローラー（２）には達しな
いことにも注意すべきである。

種々の角度で反射された光の同゛時測定が望ましいけれ
ども、二つまたはそれ以上の角度で反ｉ　射される光の
測定を得るように単一の受光光学系を作動させることも
可能であることにも注意すべきである。

センサーの好ましい実施態様を第４図に示す。

光源は、０．９５ミクロンの波長をもつ、発光ダイオー
ド（ＬＥＤ　）■である。この波長で、ローラー（至）
加湿溶液および大ていのインキの吸光係数はかなり小さ
い。この波長の使用で、センサーの応、答はこれらの成
分の選択に比較的不感性になる。ＬＥＤ５０１は複合レ
ンズ６υを含み、これは発光ビームの放射角（ｄｉｖｅ
ｒｇｅｎｃｅ　）　を約６°にまで減らす。照射ビーム
１５２１はインキ着はローラー＋２６＋の上に、４５°
に近い角度で投射される。鏡面反射光（５３）は、同じ
角度で放射する。

それらは、光フアイバー束１５４）の末端で集光される
。散乱光１５つは、同様に、第二の光ファイバー乗置に
よって集光される。光学フィルター１５７）は保護窓の
役目を果たし、一方約９　Ｑ　Ｑ　（１ｍ　より低い自
然光の大部分を吸収する。フィルター５７）の表面と裏
面によって反射しもどされたＬＥＤ（５（ｌＩｌからの
光線５１１０は第三の光フアイバー束（５９１によって
集光される。この配置の目的は、ＬＥＤ（５０１の強度
を監視する対照チャンネルを与えることにある。この測
定は、ＬＥＤ（５０１出力のふらつきに不感性の安定な
測定値を与えるために鏡面および散乱測定を標準化する
のに用いられる。光フアイバー束１５４）、（至）およ
び槌の前には、どんな余分の光学系も使用されず、セン
サーの製造を簡単にし、そのサイズを最小にする助けと
なる。

ＬＥＤ１５Ｉに力を与えるのに使われる三つの光フアイ
バーケープ／Ｉ／　５４）　、（至）および（５ｇｌな
らびにワイヤー口）は、保護導管６υの中に置かれる。

この導管は上記の光学ヘッド（６２１を、システムの残
りの部分に接続する。光学ヘッド姉は、インキ着はロー
ラー＋２６）の近くになければならない唯一のセンサー
の部分である。それは、種々の印刷機に装・着するため
、かなり小さいことを要する。

導管ＩυはＬＥＤワイヤー団を電源６３１に導き、光フ
ァイバーケーフ゛１ｖ（５４）　、（ト）および６湧を
シリコン光ダイオード−に導く。これらの光ダイオード
（財）は光学信号を電気信号に変換し、それはついで、
増幅器６５１で増幅される。増幅された信号は沖波ネッ
トワークを通・過し、Ａ／Ｄコンバータ重化される。Ａ
／Ｄコンバーターは、順番に、鏡面、散乱および対照の
チャンネルの出力を与える。ついでこれらのデータは、
コンピューター１９１中で処理され、コンピューターは
鏡面および散乱チャンネルを対照チャンネｌしによって
標準化し、さらにインキ−水バランスを決定するために
データを醜訳する。これらの処理されたデータは、印刷
操イ者による使用のために表示（ｄｉｓｐｌａｙ　）さ
れるか、又は、加湿システムの調節のために調節回路σ
０）へ移送される。センサーの操作を、光学フィルター
５７）で移送される自然光に不感性にするために、ＬＥ
Ｄ（５■を電源線でパルスを与えてもよい。増幅器□□
□による信号出力は、ついで、バイパス沖波されて自然
光に付随する周波数を除去し、ついで、整流され、ロー
パス沖波されて、円清な出力を与える。これらの沖波操
作は、沖波ネットワークのｅ中のアナログ回路で行なわ
れる。

印刷時センサーの使用は、Ｄａｈｌｇｒｅｎ　加湿７ス
テムヲモつ市販の４色２面ウェッブオフセット印刷機で
実施された試験によって示される。

センサーは、上側のシアン色印刷ユニットのインキ着は
ローラー上の第２図の点ｒＰＪに装着された。準備の完
了後、水の水準が増えるまで２０分間印刷作業が続けら
れた。水の水準は、加湿システムが水をインキ着はロー
ラーに供給する速度によって調節される。この場合速度
は最高速度の４０％から５０％まで増加され、この水準
に３分間保持され、その時点で速度は４０％にもどされ
た。鏡面角から３６．５＠に位置された散乱チャンネル
の出力を第５図に示す。

加湿速度の増減の両方に対するセンサーの応答は大きく
かつ迅速であり、エマルジョンの状態も直ちに影響を受
けることがわかる。この角度での散乱光の増加は、より
多くの水がインキ中に乳化されることを意味する。

本発明は、印刷インキおよび加湿溶液から成るエマルジ
ョン以外のエマルジョンを分析スルのにも使用出来るこ
とに注意しなければならない。サラダドレッシング、お
よび酪農製品のような水中油エマルジョンが二つのその
ような例である。

本発明はその好ましい実施態様によって記述されたが、
使用された用語は、限定のだめの用語ではなく、記述の
ための用語であり、付記された特許請求の範囲の領域内
において、本発明の他の実施態様が包含され得る。

【図面の簡単な説明】

第１図は平版印刷機上の加湿およびインキングのシステ
ムを図示し、インキ−水センサーの設置のだめの二種の
可１曵な位置を示す一第２図は、第１図と類似している
が、直接加湿システムでなく間接加湿システムを示す；
第３図は、インキ形成ローラーの鏡面反射およ−び散乱
反射を測定出来る光学系のための一般化された構成を示
す図面である；第４図は、本発明の好ましい実施態様を部分断面図で示
す；そして第５図は、印刷時（’　０ｆｉ−ｐｒｅｓｓ　）　の測
定の結果トしてインキ−水センサーによって与えられる
代表的情報を、グラフ形式で示す。（３）・・・・・・・・・加湿システム（４１・・・・
・・・・・インキングシステム（２■、５３）・・・・
・・・光源ｔ２６）・・・・・・・・・ローラー（２）、關、（５１）・・・・・レンズ困、夏、６υ、
倣・・・光線＠−・１１＠　・・・争・インキ／水エマルジョン６１
、關、（３９・・・・・光検知器Ｃ３５１、＋４０１　、　＋４１１・・・・・光学フィ
ルター＋４２１１１４３１　、　＋４４）・・・・・電
子回路（５０）・・・・・・・・・発光ダイオード（５
２・・・・・・・・・照射ビーム（５４）、６６）、（５９）・・・・・光フアイバー束
６８１・・・・・・・・・光線（６り・・・・・・・・・光学ヘッド特許出願人　コルモーゲン　テクノロジイズコーポレイ
ション代理人　新実健部（外１名）図面の浄書（内容に変更なし）１１１ｍｌ補正図面第２図補正図面第３１１ｍ１ｉ＋つ１し号２・発明ノ名称　平版印刷機上のインキ−水バランスの
監視方法３．補正をする者事件との関係　特許出願人４、代　理　人氏名　弁理士　＜５９６３＞　新　実　健　部１□′（
１）明細書の浄書。（内容に変更なし）（２）図面の浄
書。（内容に変更ない９、添付書類の目録（１）補正明細書　１通（２）補正図面　１通

Claims

【特許請求の範囲】（リ　二種の物質を光源で照射し；二つまたはそれ以上の角度で二種の物質から反射された
光を集め；集められた光を二つまたはそれ以上の電気信号に変換し
；セして電気信号な鴎訳して、第二の物質中に乳化された第一の
物質の量および、第二の物質の表面上に乗っている第一
の物質の量の数値を得る；各段階から成る、−二の物質
中に乳化された、・イｒおよび第二の物質の表面上に乗っている第一の物質の量
を個別に測定する方法。（２）当該第一の物質が親水性であり、かつ当該第二の
物質が親油性である、特許請求の範囲第（１）項に記載
の方法。（３）当該第一の物質が親油性であり、かつ当該第二の
物質が親水性である、特許請求の範囲第（１）項に記載
の方法。（４）二種の物質の表面を光源で照射し多垂線に関して
第一の角度で二種の物質によって反射される光を集める
妄垂線に関して第二の角度で、二種の物質によって反射さ
れる光を集め；垂線に関して、第三の角度で二種の物質によって反射さ
れる光を集め；垂線に関して、第一の角度で集められた光を、第一の電
気信号に変換し；垂線に関して、第二の角度で集められた光を、第二の電
気信号に変換し；垂線に関して、第三の角度で集められた光を、第三の電
気信号に変換し；そして第一、第二および第三の電気信号を綜訳して、第二の物
質中に乳化された第一の物質の量、および第二の物質の
表面上に乗っている第一の物質の量の数値を得る各段階から成る、第二の物質中に乳化された、および第
二の物質の表面上に乗っている第一の物質の量を個別に
測定する方法。（５）当該第一の物質が親水性であり、かつ当該第二の
物質が親油性である、特許請求の範囲第（４）項に記載
の方法。（６）当該第一の物質が親油性であり、かつ当該第一の
物質が親水性である、特許請求の範囲第（４）項に記載
の方法。（７）角度または角度の一つが照射の鏡面反射角に相当
する、特許請求の範囲第（２）項または第（３）項に記
載の方法。（８）　第一の角度が照射の鏡面反射角に相当する、特
許請求の範囲第（５）項または第（６）項に記載の方法
。（９）二種の物質の表面を光源で照射し；一つまたはそ
れ以上の角度で二種の物質によって反射された光を集め
；集められた光を一つまだはそれ以上の電気信号に変換し
；電気信号を綜訳して、第二の物質中に乳化された第一の
物質の量の数値を得る；各段階から成る、第二の物質中に乳化された第一の物質
の量を測定する方法。（１０）当該第７の物質が親水性でちり、かつ当該第二
の物質が親油性である、特許請求の範囲第（９）項に記
載の方法。Ｕυ　当該第一の物質が親油性であり、かつ当該第二の
物質が親水性である、特許請求の範囲第（９）項に記載
の方法。（１２１角度の一つが照射の鏡面反射角に相当する、特
許請求の範囲第００）項または第０１１項に記載の方法
。０３）第二の物質が印刷インキであり、かつ第一の物質
が平版インキだめ溶液である、特許請求の範囲第（１）
項に記載の方法。（１４１第二の物質が印刷インキであり、かつ第一の物
質が平版インキだめ溶液である、特許請求の範囲第（４
）項に記載の方法。Ｃ５）第二の物質が印刷インキであり、かつ第一の物質
が平版インキだめ溶液である、特許請求の範囲第（９）
項に記載の方法。（１６）集められた光が、インキおよび加湿溶液の吸光
係数がいずれも２０００　／　ａｓより小さいスペクト
ル領域に限定される、特許請求の範囲第（１３１項に記
載の方法。Ｃ１力　集められた光が、インキおよび加湿溶液の吸光
係数がいずれも２０００／Ｇより小さいスペクトル領域
に限定される特許請求の範囲第０１項に記載の方法。 ■　集められた光が、インキおよび加湿溶液の吸光係数
がいずれもｚｏｏｏ／＋＋より小さいスペクトル領域に
限定される、特許請求の範囲第ｕ項に記載の方法。（ｉ９　集められた光が０．９ないし１．０ミクロンの
スペクトル領域に限定される、特許請求の範囲第１１３
１項に記載の方法。シ０）集められた光が０．９ないし１．０ミクロンのス
ベク）／＆領領域限定される、特許請求の範囲第■項に
記載の方法。Ｃ！υ　集められた光が０．９ないし１．０ミクロンの
スペクトル領域に限定される、特許請求の範囲第（１５
１項に記載の方法。＠　光源が発光ダイオードである、特許請求の範囲第ｕ
３）項に記載の方法。Ｃ！々　光源が発光ダイオードである、特許請求の範囲
第圓項に記載の方法。（２４１光源が発光ダイオードである、特許請求の範囲
第ｕ９項に記載の方法。四　二種の物質を照射するだめの発光ダイオード；本質
的に鏡面角で二種の物質から反射された光を集めるだめ
の第一の光学系逼少くとも第一の非鏡面角で二種の物質から反射された光
を集めるだめの少くとも第二の光学系；少くともそれぞれ当該第一および第二の光学系から集め
られた光を少くともそれぞれ第一および第二の電気信号
に変換するための少くとも第一および第二の光検知器；
および少くとも当該第一、および第二の電気信号を綜訳して当
該親油性物質中に乳化された当該親水性物質の量および
当該親油性物質の表面上に乗っている当該親水性物質の
量の数値を得るための計算手段；からなる、親油性物質中に乳化された、および親油性物
質の表面上に乗っている親水性物質の量を、個別に測定
するための装置。（４）当該親油性物質が印刷インキであり、かつ当該親
水性物質が平版インキだめ溶液である、特許請求の範囲
第Ｇ項に記載の装置。（２つ　二種の物質を照射するだめの光源；二種の物質
から鏡面反射された光を検知するだめの第一の手段；二種の物質から非鏡面反射された光を検知するだめの少
くとも第二の手段；および第二の物質中に乳化された第一の物質の量の表示を与え
るための当該第一および第二の元栓ｉ　、、、エラに６
つえ。１ツ。から成る、第二の物質中に乳化された第一の物質の量を
測定する装置。儲　さらに、二種の物質から非鏡面反射される光を検知
するための第三の光検知手段を含む、特許請求の範囲第
Ｃ！η項に記載の装置。四　当該第一の物質が印刷インキであり、かつ当該第二
の物質が平版インキだめ溶液である、特許請求の範囲第
酩項に記載の装置。 ■　角度または角度の一つが照射の鏡面反射角に相当す
る、特許請求の範囲第σ３）項、第１項または第（１５
１項に記載の方法。ＯＢ　印刷インキおよびインキだめ溶液がインキ着はロ
ーラーの表面に位置付けられている、特許請求の範囲第
夏項に記載の方法。Ｃり　測定の行なわれるインキ着はローラーの部分が、
測定のすぐ前に、印刷プレートに接触を終り、まだイン
キ着はローラーと接触していない、特許請求の範囲第Ｃ
３１）項に記載の方法。關　二つの測定が順番に行なわれ、そのような測定の一
つは、グレートの画像領域にすでに接触ずみのインキ着
はローラーの部分について行なわれ、かつ、もう一つの
測定はグレートの非画像領域にすでに接触ずみのインキ
着はローラーの部分について行なわれる、特許請求の範
囲第６ｚ項に記載の方法。（３４）　プレートの非画像領域にすでに接触ずみのイ
ンキ着はローラーの部分で測定が行なわれる、特許請求
の範囲第（３３項に記載の方法。（至）測定の行なわれる時点がプレートシリンダーの回
転と同期する、特許請求の範囲第關項に記載の方法。（ト）測定の行なわれる時点がプレートシリンダーの回
転と同期する、特許請求の範囲第（３４）項に記載の方
法。ｔ３７］　測定が二つの角度で行なわれ、一つの角度は
照射の鏡面反射角に相当し、もう−っの角度は照射の非
鏡面反射に相当し、当該光源が発光ダイオードである、
特許請求の範囲第０３１項または第（１５１項に記載の
方法。關　印刷インキおよびインキだめ溶液が印刷プレートの
表面に位置されている、特許請求の範囲第夏項に記載の
方法。（３９印刷インキおよびインキだめ溶液がインキ着はロ
ーラーの表面に位置している、特許請求の範囲第３７）
項に記載の方法。旧　測定が行なわれるインキ着はローラーの部分が、測
定のすぐ前に、印刷プレートに接触を終り、まだインキ
配分ローラーと接触していない、特許請求の範囲第（３
９）項に記載の方法。（４１）二つの測定が順番に行なわれ、そのような測定
の一つはプレートの画像領域にすでに接触ずみのインキ
着はローラーの部分について行なわれ、かつもう一つの
測定はプレートの非画像領域にすでに接触ずみのインキ
着はローラーの部分について行なわれる、特許請求の範
囲第四項に記載の方法。（４２１プレートの非画像領域にすでに接触ずみのイン
キ着はローラーの部分について測定が行なわれる、特許
請求の範囲第（４０）項に記載の方法。（４３１測定の行なわれる時点が、プレートシリンダー
の回転と同期する、特許請求の範囲第（４１）項に記載
の方法。（仙　測定の行なわれる時点が、プレートシリンダーの
回転と同期する、特許請求の範囲第（４２１項に記載の
方法。（４５）　角度または角度の一つが照射の鏡面反射角に
相当する、特許請求の範囲第１２９１項に記載の装置。（４６）測定されるべき印刷インキおよびインキだめ溶
液がインキ着はローラーの表面に位置づけられている、
特許請求の範囲第□□□項に記載の装置。（４７）測定されるべき印刷インキおよびインキだめ溶
液がインキ着はローラーの表面に位置づけられている、
特許請求の範囲第（４５）項に記載の装置。（４８１印刷インキおよびインキだめ溶液が印刷プレー
トの表面に位置づけられている、特許請求の範囲第（２
ｏ項に記載の装置。（４９）印刷イにキおよびインキだめ溶液が印刷プレー
トの表面に位置づけられている、特許請求の範囲第（４
５１項に記載の装置。（５０）二つの測定が順番に行なわれ、そのような測定
の一つはプレートの画像領域にはすでに接触ずみである
が、インキ配分ローラーにはまだ接触していないインキ
着はローラーの部分について行なわれ、かつ、もう一つ
の測定はプレートの非画像領域にはすでに接触ずみであ
るが、イン代配分ローラーにはまだ接触していないイン
キ着はローラーの部分について行なわれる、特許請求の
範囲第（４６）項に記載の装置。（５１１二つの測定が順番に行なわれ、そのような測定
の一つは、プレートの画像領域にはすでに接触ずみであ
るが、インキ配分ローラーにはまだ接触していないイン
キ着はローラーの部分について行なわれ、かつもう一つ
の測定はプレートの非画像領域にはすでに接触ずみであ
るが、インキ配分ローラーにはまだ接触していないイン
キ着はローラーの部分について行なわれる、特許請求の
範囲ｍ　（４７）項に記載の装置。６２１　当該回路手段がさらに当該光検知手段の出力を
増幅しｐ波するための手段を含む、特許請求の範囲第（
２旬項に記載の装置。５３１　当該回路手段がさらに当該光検知手段の出力を
増幅し沖波するだめの手段を含む、特許請求の範囲第（
侶項に記載の装置。ｔ５４）当該回路手段がさらに当該光検知手段の出力を
増幅し、沖波するための手段を含む、特許請求の範囲第
（４（ト）項に記載の装置。５９　当該回路手段がさらに当該光検知手段の出力を増
幅し、沖波するための手段を含む、特許請求の範囲第備
項に記載の装置。（イ）当該回路手段がさらに当該光検知手段の出力を増
幅し、沖波するための手段を含む、特許請求の範囲第□
□□項に記載の装置。５７）当該回路手段が、当該光検知手段の、増幅され沖
波された出力を処理するだめの計算手段を含む、特許請
求の範囲第Ｑ項に記載の装置。弥　当該回路手段が、当該光検知手段の増幅され沖波さ
れた出力を処理するための計算手段を含む、特許請求の
範囲第５３）項に記載の装置。ｒ５９）当該回路手段が、当該光検知手段の増幅され沖
波された出力を処理するだめの計算手段を含む、特許請
求の範囲第６４）項に記載の装置。（６０）　当該回路手段が、当該光検知手段の増幅され
沖波された出力を処理するための計算手段を含む、特許
請求の範囲第５５）項に記載の装置。６υ　当該回路手段が、当該光検知手段の増幅されＨｐ
波された出力を処理するだめの計算手段を含む、特許請
求の範囲第５６１項に記載の装置。（６２１当該回路手段がさらに、加湿溶液の流れを自動
的に調節するだめの当該計算手段に応じる制御回路を含
む、特許請求の範囲第５７）項に記載の装置。（６３）当該回路手段がさらに加湿溶液の流れを自動的
に調節するだめの当該計算手段に応じる制御回路を含む
、特許請求の範囲第槌項に記載の装置。６４）当該回路手段がさらに、加湿溶液の流れを自動的
に調節するための当該計算手段に応じる制御回路を含む
、特許請求の範囲第（５９）項に記載の装置。（６５）当該回路手段がさらに、加湿溶液の流れを自動
的に調節するための尚該計算手段に応じる制御回路を含
む、特許請求の範囲第（６ｏ）項に記載の装置。 −当該回路手段がさらに、加湿溶液の流れを自動的に調
節するだめの当該計算手段に応じる制御回路を含む、特
許請求の範囲第６υ項に記載の装置。Ｉη　当該第一の光検知手段が、当該第二の光検知手段
と、少くとも５°異った角度で配置され、かつ当該第三
の光検知手段が当該第一および第二の光検知手段と少く
とも５°０異った角度で配置されている、特許請求の範
囲第１６２１項に記載の装置。１）当該第一の光検知手段が、当該第二の光検知手段と
少くとも５°異った角度で配置され、かつ当該第三の光
検知手段が当該第一および第二の光検知手段と少くとも
５°異った角度で配置されている、特許請求の範囲第ｉ
３）項に記載の装置。、　１９　当該第一の光検知手段が、当該第二の光検知
手段と少くとも５°異った角度で配置され、かつ当該第
三の光検知手段が当該第一および第二の光検知手段と少
くとも５°異った角度で配置されている、特許請求の範
囲第６ａ項に記載の装置。 σＱ　当該第一の光検知手段が、当該第二の光検知手段
と少くとも５°異った角度で配置され、かつ当該第三の
光検知手段が当該第一および第二の光検知手段と少くと
も５°異った角度で配置されている、特許請求の範囲第
（６５項に記載の装置。 σＤ　当該第一の光検知手段が、当該第二の光検知手段
と少くとも５°異った角度で配置され、かつ当該第三の
光検知手段が、当該第一および第二の光検知手段と少く
とも５°異った角度で配置されている、特許請求の範囲
第（６６）項に記載の装置。＠　当該光検知手段が多数の光フアイバーケーブルを含
む、特許請求の範囲第６７１項に記載の装置。 σｊ　当該光検知手段が多数の光フアイバーケーブルを
含む、特許請求の範囲第一項に記載の装置。 σ４　当該光検知手段が多数の光フアイバーケーブルを
含む、特許請求の範囲第１Ｉ項に記載の装置。 σω　当該光検知手段が多数の光フアイバーケーブルを
含む、特許請求の範囲第σ〔項に記載の装置。（７０当該光検知手段が多数の光フアイバーケーブルを
含む、特許請求の範囲第Ｃ１１）項に記載の装置。ａη　インキの中に乳化されたおよびインキの表面上に
乗っているインキだめ溶液の量が、インキだ−め溶液の
流れおよびインキだめ溶液の少くとも１つの化学的性質
を変化させることによって調節される、特許請求の範囲
第夏項に記載の方法。徹　インキの中に乳化されたおよびインキの表面上に乗
っているインキだめ溶液の量が、インキだめ溶液の流れ
およびインキの少くとも１つの化学的性質を変化させる
ことによって調節される、特許請求の範囲第夏項に記載
の方法。囮　二つの測定が、インキの中に乳化されたおよびイン
キの表面上に乗っているインキだめ溶液の量の時間的変
化を測定する目的のために、当該インキ着はローラーの
同一回転の間の異゛りた時点で行なわれる、特許請求の
範囲第Ｃ３１１項に記載の方法。