JPS6022634A - 画像パタ−ンの分離装置 - Google Patents

画像パタ−ンの分離装置

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JPS6022634A
JPS6022634A JP58131765A JP13176583A JPS6022634A JP S6022634 A JPS6022634 A JP S6022634A JP 58131765 A JP58131765 A JP 58131765A JP 13176583 A JP13176583 A JP 13176583A JP S6022634 A JPS6022634 A JP S6022634A
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JP58131765A
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Takeshi Miyazaki
武志 宮崎
Mitsuo Kama
釜 三夫
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Nippon Steel Corp
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Nippon Steel Corp
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    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
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    • G06T7/11Region-based segmentation
    • GPHYSICS
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    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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    • G06V10/40Extraction of image or video features
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  • Image Processing (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、濃淡の色調をもつ画像についてその画像を構
成する複数の濃淡別パターンをその濃度レベルに基いて
分離する装置に関するものである。
例えば鉱石、石炭等の鉱物類あるいは焼結鉱等の組成の
解析、その他種々の物質の組織の解析等においては、当
該物質の顕微鏡像等の光学的画像を各構成組成別に分類
することが行われている。
本発明はこのような画像の構成組成または成分別(これ
は画像で言えば前記バクーン別)分離を正確に行うもの
である。
(従来技術) 鉱物などの顕微鏡像を一旦メモリに記憶させ、それを読
出して処理して該画像に現われる種々のパターンを色相
別、濃度別に分離する場合、画像データの採取過程にお
ける統計的な変動に加えて、鉱物成分の境界および境界
近傍は互に他成分の影響を受けて両成分の濃度の中間的
な濃度となるので、該境界およびその近傍に対応する画
素も中間的な濃度を持ち、従って濃度ヒストグラムを作
るとこれは各成分の濃度レベルを中心(ピーク)に拡が
り(裾)をもっている。
通常、濃淡レヘルによって画像を各パターンに分割する
場合、第1図および第2図に示すようなヒストグラムを
作り、その谷の部分例えば第1図におけるa、b、cで
各成分の濃度範囲ΔA、ΔB、ΔCを決め、各成分に分
割している。しかしながら成分の濃度レベルの差が小さ
い場合には、谷の検出が困難である。特に第2図に示す
ように成分の一つ本例ではGの頻度が少い場合釜fは目
立たず、分離が不可能になることがある。なおこれらの
図で横軸は濃度、縦軸はそれが現われる頻度を示してお
り、A、B、・・・・・・Gは頻度が極大になる濃度従
って当該成分またはパターンの代表点を示す。
(発明の目的) 本発明は第2図に示すような従来技術では分離が困難な
ものに対しても分離を容易に行えるようにしようとする
ものである。
(発明の構成) 本発明の画像分離装置は複数の種々の濃度を有するパタ
ーンにより構成される画像の個々の画素についで、その
周囲の画素との濃度差がすべて一定値以下の画素を抽出
する手段、該画素の濃度を用いて濃度ヒストグラムを作
成する手段、該濃度ヒストグラムの各ピーク点の濃度及
びピーク高さにより各パターン毎の濃度範囲を決定する
手段、前記抽出された画素について前記濃度範囲に従っ
て各パターン毎にクラスクリングする手段、および前記
抽出された画素を対象にパターン周囲を膨張させる操作
を対象となる画素が無くなるまで繰返し、次いで前記抽
出操作において抽出されなかった画素を対象に、前記の
膨張操作を画面に空き画素がなくなる迄繰返す膨張手段
とを備えることを特徴とするものである。
(発明の実施例) 以下図面により本発明について説明する。第3図はハー
ドウェアイメージで本発明の概要を示す図で、■は原画
像を現出する表示機構、2は該画像を構成する画素のう
ち周囲の画素と濃度差の小さい画素を抽出する抽出機構
、3は該機構2により抽出された画素により濃度ヒスト
グラムを作成するヒストグラム作成機構、4は濃度範囲
決定機構、5は濃度範囲決定機構4の出力に基いて分類
を行うクラスクリング機構、6はその出力に基いて画素
の膨張処理を行う膨張操作機構である。表示機構1はC
RTディスプレイとその画像メモリなどからなり、鉱物
組織の解析では試料鉱物の表面の顕微鏡像をテレビカメ
ラで撮像してビデオ信号を得、それをAD変換して画像
メモリに格納し、それを読み出して後述の処理に供しま
た必要に応じてCRTディスプレイに表示する。画像メ
モリに格納するビデオ信号(画像データ)はモノクロ画
像なら各画素の濃淡(輝度)信号、カラー画像ならそれ
に色情報が加わるが、こ\では濃淡情報のみとして説明
する。
本発明により画像の分離を行うには、分離しようとする
原画像を表示機構1に現出し、また当該線画像のデータ
を抽出機構2に入力し、画像の各画素毎に第4図に示す
ようにその周囲(上下左右4近傍あるいはそれに斜め上
下を加えた8近傍)の画素との濃度差がすべて一定値以
下の画素のみを抽出′させる。この第4図の中心Oは抽
出対象画素、1〜4はその4近傍の画素、1〜8は8近
傍の画素である。この抽出操作により成分境界、ノイズ
などに対する画素が除去される。第5図は本発明での画
像処理を説明する模式図で、■は原画像である。■は抽
出操作後の画像を示し、成分境界などが失なわれている
。抽出操作後の画像データをヒストグラム作成機構3に
導入し、濃度別ヒストグラムを作成する(第5図■)。
このようにすると画像を構成する各成分の分離が容易に
なる。
即ち第5図■の点線曲線は抽出操作をしないで濃度ヒス
トグラムをめた場合で、これより、抽出操作済みのもの
実線曲線の方が、各成分(パターン)を分離しやすい。
第1図および第2図における点線も抽出操作後のものの
状態を示す。次に濃度範囲決定機構4により該ヒストグ
ラムの各成分のピーク濃度位置とピーク高さにより濃度
範囲即ち第1図および第2図におけるΔA乃至ΔHを決
定する。この濃度範囲の決定は、各成分のピーク濃度を
中心にして、その上下成分のピーク濃度に比例した範囲
を例えば次式により設定することにより行なう。
ピーク濃度よりbツ度の大きい範囲 Pi+ (PH+1−Pi) X1li/ (旧+Hi
+I ) X F(ただし最大濃度成分の場合は濃度の
上限値)ピーク濃度より濃度の小さい範囲 Pi+ (Pl−1−Pi) X1li/ (Ili+
HI−1) XF(ただし最小濃度成分の場合は濃度の
下限値)P:ピーク濃度、11:ピーク濃度の頻度。
F;重み係数≦1.0 次にクラスタリング機構5によって、先に抽出機構2に
より抽出された画素について、上記により決定した濃度
範囲に含まれる画素をクラスタリングする。このクラス
タリングを行なって得られるクラスタ画像を第5図■に
示す。本例では各成分くパターン)を、■〜■の4種に
クラスタリングしている。次に抽出機構2により抽出さ
れた画素で前記クラスタリング操作によりクラスタリン
グされない画素に対して、膨張操作機構6により1画素
毎の膨張処理を行う。このようにして抽出機構2・によ
って抽出された画素について新たにクラスタリングされ
る画素が無くなるまで膨張操作を繰返す。第5図■ばこ
の状態におけるクラスタ画像を示す。更に抽出機構2で
抽出されなかった画素を対象に膨張処理を画面上に空き
画素がなくなるまで繰返す。第5図■はこの状態の画像
を示す。このようにすれば境界ははっきりしており、画
像の各パターンの分離を容易に行うことができる。
第6図に本発明の具体例を示す。第6図■に示す原画像
を抽出機構2によって周囲4近傍との濃度差が全て±3
以内にある画素を抽出する。抽出された画像を第6図■
に示ず。抽出された画素を用いて第6図■に示すような
濃度ヒストグラムを得る。さらにこの濃度ヒストグラム
に基づいて濃度範囲決定機構4によって I O±3 → 1 20±3 → 2 30±3 → 3 40±3−4 50±1 → 5 のような番号づげを行い、さらにクラスクリング機構5
によって第6図■のようにクラスタリングする。そこで
さらに膨張)榮作機構6により、抽出機構2で抽出され
クラスタリング機構5によってクラスタリングされない
画素に対して膨張処理を行う。第6図■の口開を付した
画素が、この膨張処理により付加された画素である。こ
れらは第6図■の45.48.25に対応し、クラスタ
リングで失なわれてしまったものである。この膨張操作
は各パターンの周辺を上、下、左、右いずれかに延長さ
せるという処理で行ない、両パターンからの延長処理が
かち合う場合は番号の若い方(処理を先に行なった方)
を採用する。次いで抽出機構2で抽出されなかった画素
について膨張(渠作機構6により画面上に空き画素が無
くなるまで繰返す(第6図■〜■参照)。その結果第6
図■に示すような画像の分離ができる。
第7図〜第11図は上記の処理をソフトウェアで行なう
場合のフローチャートを示す。第7図は第2図に示した
抽出機構2での処理、第8図はヒストグラム作成機構3
での処理、第9図は濃度範囲決定機構4での処理、第1
0図はクラスクリング機構5での処理、第11図は膨張
l采作機構6での処理を示す。
(発明の効果) 以上説明したように本発明によれば、従来の方法では画
像の濃淡による分離が困難な画像の分離を正確に行うこ
とができ、各種顕微鏡の光学的画像を各構成組成別に正
確に分離することができ、その効果は極めて大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は濃淡レベルによる画像のヒストグ
ラム、第3図は本発明の構成を示す説明図、第4図は本
発明によるクラスタリング方法を示す説明図、第5図お
よび第6図は本発明による画像分離の実例を示す説明図
、第7図〜第11図はフローチャーl−である。 ■:゛表示機構、2:抽出機構、3:ヒストグラム作成
機構、4:濃度範囲決定機構、5:クラスクリング機構
、6:膨張操作機構。 出 願 人 新日本!!!鐵株式会社 代理人弁理士 青 柳 稔 第1臀I AaBbC,cD 第2図 ΔE ΔF ΔG △H EdFeGf H 第3日 ■ 第4.IZl 第51り1 第8図 第9図 第1O図 第11図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数の種々の濃度を有するパターンにより構成される画
    像の個々の画素について、その周囲の画素との濃度差が
    すべて一定値以下の画素を抽出する手段、該画素の濃度
    を用いて濃度ヒストグラムを作成する手段、該濃度ヒス
    トグラムの各ピーク点の濃度及びピーク高さにより各パ
    ターン毎の濃度範囲を決定する手段、前記抽出された画
    素について前記濃度範囲に従って各パターン毎にクラス
    タリングする手段、および前記抽出された画素を対象に
    パターン周囲を膨張させる操作を対象となる画素が無く
    なるまで繰返し、次いで前記抽出操作において抽出され
    なかった画素を対象に、前記の膨張操作を画面に空き画
    素がなくなる迄繰返す膨張手段とを備えることを特徴と
    する画像パターンの分離装置。
JP58131765A 1983-07-19 1983-07-19 画像パタ−ンの分離装置 Granted JPS6022634A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58131765A JPS6022634A (ja) 1983-07-19 1983-07-19 画像パタ−ンの分離装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP58131765A JPS6022634A (ja) 1983-07-19 1983-07-19 画像パタ−ンの分離装置

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Publication Number Publication Date
JPS6022634A true JPS6022634A (ja) 1985-02-05
JPH0413751B2 JPH0413751B2 (ja) 1992-03-10

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ID=15065641

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JP58131765A Granted JPS6022634A (ja) 1983-07-19 1983-07-19 画像パタ−ンの分離装置

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JP (1) JPS6022634A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63113780A (ja) * 1986-10-31 1988-05-18 Agency Of Ind Science & Technol ピ−ク抽出方法
US4955043A (en) * 1987-09-28 1990-09-04 Siemens Aktiengesellschaft X-ray diagnostics installation
JPH0314077A (ja) * 1989-06-12 1991-01-22 Nec Corp パターン認識方法および装置
JPH03191482A (ja) * 1989-12-21 1991-08-21 Nec Corp パターン認識方法および装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS63113780A (ja) * 1986-10-31 1988-05-18 Agency Of Ind Science & Technol ピ−ク抽出方法
US4955043A (en) * 1987-09-28 1990-09-04 Siemens Aktiengesellschaft X-ray diagnostics installation
JPH0314077A (ja) * 1989-06-12 1991-01-22 Nec Corp パターン認識方法および装置
JPH03191482A (ja) * 1989-12-21 1991-08-21 Nec Corp パターン認識方法および装置

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JPH0413751B2 (ja) 1992-03-10

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