JPS60211832A - パタ−ン形成方法 - Google Patents

パタ−ン形成方法

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JPS60211832A
JPS60211832A JP59067567A JP6756784A JPS60211832A JP S60211832 A JPS60211832 A JP S60211832A JP 59067567 A JP59067567 A JP 59067567A JP 6756784 A JP6756784 A JP 6756784A JP S60211832 A JPS60211832 A JP S60211832A
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JP
Japan
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film
monomolecular
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hydrophobic
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Application number
JP59067567A
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English (en)
Inventor
Yutaka Hirai
裕 平井
Yoshinori Tomita
佳紀 富田
Hiroshi Matsuda
宏 松田
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/1884Manufacture of transparent electrodes, e.g. TCO, ITO
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02107Forming insulating materials on a substrate
    • H01L21/02225Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer
    • H01L21/0226Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process
    • H01L21/02282Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process liquid deposition, e.g. spin-coating, sol-gel techniques, spray coating
    • H01L21/02285Langmuir-Blodgett techniques

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  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
  • Formation Of Insulating Films (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [技術分野] 本発明は新規なパターン形成方法に関する。更に具体的
には、単分子膜又は単分子累積膜のパターンを、下地上
に形成する方法に関する。
[背景技術] 従来、半導体技術分野並びに光学技術分野に於ける素材
利用はもっばら比較的取扱いが容易な無機物を対象にし
て進められてきた。これは有機化学分野の技術進展が無
機材料分野のそれに比べて著しく遅れていたことが一因
している。
しかしながら、最近の有機化学分野の技術進歩には目を
みはるものがあり、又、無機物対象の素材開発もほぼ限
界に近づいてきたといわれている。そこで無機物を凌ぐ
新しい機能素材としての機能性有機材料の開発が要望さ
れている。有機材料の利点は安価かつ製造容易であるこ
と1機能性に富むこと等である。反面、これまで劣ると
されてきた耐熱性、機械的強度に対しても、最近これを
克服した有機材料が次々に生まれている。このような技
術的背景のもとで、論理素子、メモリー素子、光電変換
素子等の集積回路デバイスやマイクロレンズ・アレイ、
光導波路等の光学デバイスの機能を荷う部分(主として
薄膜部分)の一部又は全部を従来の無機薄膜に代えて、
有機薄Hりで構成しようという提案から、はては1個の
有機分子に論理素子やメモリ素子等の機能を持たせた分
子電子デバイスや生体関連物質からなる論理素子(例え
ばバイオのチップス)を作ろうという提案が最近、いく
つかの研究機関により発表された。
かかる有機材料を用いて上記の各種デバイス等を作成す
る際の薄膜は公知の単分子累積法、すなわちラングミュ
ア・ブロジェット法(LB法)(新実験化学講座 18
巻 498頁〜507頁 丸首)によって形成すること
ができる。
LB法は、例えば分子内に親木基と疎水基を有する構造
の分子において、両者のバランス(両親媒性のバランス
)が適度に保たれているとき、分子は水面で親木基を下
に向けて単分子の層になることを利用して単分子膜また
は単分子層の累積膜を作成する方法である。
ところで、このような単分子膜又は単分子累積膜に光導
電性等の各種の機能を持たせ、前述の如き各種デバイス
等を作成するためには、単分子膜又は単分子累積膜の二
次元的な配置を制御する必要がある。しかしながら、上
記の方法では単分子膜又は中分子累積膜が基体全面に形
成されるため、単分子膜又は単分子累積膜の二次元的な
パターニングは、特殊な光重合性を利用したリングラフ
ィ応用のフォトレジストの場合を除いて、すなわち単分
子膜又は単分子累積膜を構成する分子がフォトレジスト
としての性状を有する場合を除いて制御できない欠点が
あった。
[発明の開示] 本発明の目的は、単分子膜又は単分子累積膜の二次元的
な配置を制御することが可能な新規なパターン形成方法
を提供することにある。
本発明の目的は、以下のパターン形成方法によって達成
される。
すなわち、少なくとも下地表面を還元性カス雰囲気下で
光線を走査した後、単分子膜又は中分子累積膜を形成し
パターンを形成することを特徴とするパターン形成方法
によって達成される。
[発明を実施するための最良の形態] 本発明では、下地表面を還元性カス雰囲気下で光線を走
査させることにより改質する。ここで、下地とは、単分
子膜または単分子累積膜が所定のパターンに従って積層
される部材を相称する。そのような部材としては、例え
ば、前述した各種の半導体デバイス等に用いられるカラ
ス、 5102等の無機物からなる基板、ポリエチレン
、ポリエチレンテレフタレート、ポリイミド等の有機物
からなる基板、^1. Ta、 W、 In、 Cu等
の金属やこれらの合金等からなる基板、これ等の基板上
に設けられた各種の層(所定のパターンに従って形成さ
れている)、例えばAI、 Ta、W、 In、 Cu
等の蒸着メタル膜、シリコン、ゲルマニウム等のアモル
ファス、多結晶あるいは単結晶半導体膜、5n02 、
 I TO(In203 + 5n02)等の導電性酸
化物ガラス膜、等の分子性アモルファス半導体膜等が挙
げられる。また、このような基板、膜、あるいは膜が積
層されている基板上に、更に単分子膜又は単分子累積膜
等が積層されている部位等も利用し得るものとして挙げ
られる。
特に好ましくは、ガラス、5i02等の無機物からなる
基板、シリコンのアモルファス、多結晶あるいは単結晶
半導体膜、ITO等の導電性酸化物ガラス膜、単分子膜
又は単分子累積膜等が積層されている下地などが挙げら
れる。
本発明に用いる光線は、可視光線、赤外線、紫外線のい
ずれであってもよい。光線は集束して用い、波長が短い
紫外線の場合には0.5〜0.25uの密度で、池の光
線の場合には1.5〜0.75μの密度でパターン形成
が可能である。光線による表…1の改質を行なうために
は、0.001ジユールIC112〜100ジユール/
Ca2のエネルギーが必要である。
光線による表面の改質は赤外、可視領域の光では、分子
の振動状態励起による基板温度の上昇を用いて、紫外領
域の光では、基板表面分子の電子励起による反応性の向
上を用いて行う。光線による表面の改質は、例えば、以
下のようにして行われる。Si、Ge等の半導体の場合
には水素を流しながら光線で走査すると、表面が疎水性
であったのが親水性に変化したり、より疎水性がつよく
なる。また、カラス、石英の場合には、水素を流しなが
ら光線で走査すると、5i−0結合の一部が水素で置換
され1表面が親木性であったのが疎水性に変化する。上
記の様に下地表面を改質することによってパターニング
を行い、形成されたパターンに従って単分子膜又は単分
子累積膜が下地上に形成される。
本発明における単分子膜又は単分子累積膜を構成する分
子は、その分子内に疎水性部分及び親水性部分を有する
分子であれば広く使用可能である。
このような分子の疎水性部分の構成要素として最も代表
的なものはアルキル基であって、炭素数5〜30.好ま
しくは、炭素数lθ〜25の直鎖状あるいは分校状のも
のが使用しうる。疎水性部分を構成する基としては、上
記アルキル基の他。
例えばビニレン、ビニリデン、アセチレン等のオレフィ
ン系炭化水素基、フェニル、ナフチル、アントラニル等
の如き縮合多環フェこル基、ビフェニル、ターフェニル
等の鎖状多環フェニル基等の疎水基等が挙げられる。こ
れらは各々単独であるいは組合されて上記分子の疎水性
部分を構成し、分子の末端や中間に位置する。
一方、親水性部分の構成要素として最も代表的なものは
、例えばカルボキシル基及びその金属塩並びにアミン塩
、スルホン酸基及びその金属塩並びにアミン塩、スルホ
ンアミド基、アミド基、アミン基、イミノ基、ヒドロキ
シル基、4級アミノ基、オキシアミノ基、オキシイミツ
基、ジアゾニウム基、グアニジン基、ヒドラジン基、リ
ン酸基、ケイ酸基、アルミン酸基等が挙げられる。これ
らも各々学独であるいは組合されて上記分子の親木性部
分を構成し、分子の末端や中間に位置する。
ここで、分子内に親木性部分及び疎水性部分を有すると
は、例えば分子が上記のような親木基及び疎水基の両者
を分子内に一つずつ有するか、又は分子内に一つ以上の
親水性基及び疎水基を有する場合には、分子全体の構成
においである部分が他の部分との関係において親水性で
あり、一方後者の部分は前者の部分との関係において疎
水性の関係を有することをいう。
本発明における単分子膜又は単分子累積1模を構成する
分子としては、下記の如5機能性を有することが所望さ
れる。
■所望の機能性を荷う部位、即ち機能性部分(例えばπ
電子系)が同時に強い親水性(又は強い疎水性)として
の性質を併有する分子、あるいは■機能性部分が特に親
水性、疎水性を有さず、上記の如き親木基、疎水基等を
導入することで1分子内に親水性部分と疎水性部位を構
成する分子。
例えば、 イ1機能性部分が親水性部分の側にあるもの、例えば、
光導電性を有する長鎖アルキル置換のメロシアニン色素
等、 口9機能性部分が疎水性部分の側にあるもの、例えば、
ピレンに長鎖アルキルカルボン酸を結合したもの等、 ハ9機能性部分が中央付近、即ち疎水性部分と親木性部
分の中間にあるもの、例えば、アントラセン誘導体、ジ
アゾ色素の誘導体等、二9機能性部分がなく、疎水性部
分と親水性部分のみでできているもの、例えば、長鎖飽
和脂肪酸であるステアリン酸、アラキシンeI#等が具
体的なものとして挙げられる。
特に好ましくは、長鎖アルキル置換のメロシアニン色素
、アントラセン誘導体、ステアリン酸などが挙げられる
なお1本発明においては、前記下地上に前記構成分子を
用いて単分子膜又は単分子累積膜を形成した後、超音波
振動を加えることを要しないがパターンを更に鮮明にす
るなどの目的で超音波振動を加えることを妨げるもので
はない。
本発明を更に具体的に説明するために、以下に実施例を
示す。
実施例1 第1図に示す方法にてパターンを形成した。
ITOl−2が50OAの厚さで堆積しているガラス基
板1−1を下地とした。前記下地を真空装置中に置き、
水素を流しプラズマ状態(〜0.IJ 1cm 2) 
ニ5iiき、波長51aoA rvアルゴンレーザーを
50μ径に集光し、0.01J 1cm 2で下地表面
を走査した。 レーザー光を走査した部分1−3のみI
TOが還元され、パターン状に変質する。
次に、ステアリン酸のクロロホルム溶液5X10’mo
l/I を用いて、LB法によりステアリン酸の単分子
累積膜を形成した。ステアリン酸の単分子累積膜は、表
面圧 35 dyne/cm、引き上げ速度は、第1層
目は、1.2 cm/min、第2層目からは、10 
cm/akinにて下地を上下し積層した。
単分子累積膜は、l−3の部分には形成されず、1−4
の部分のみに第1図(C)に示す様にパターンに従って
形成された。
以上のように、下地を還元性ガス雰囲気下で電子線走査
により改質することにより、下地表面にパターン状に単
分子膜又は単分子累積膜を形成することが可能である。
電子線を集光することにより微細なパターン形成が可能
である。従ってS1集積回路への応用も可能である。ま
た、電子線の強さを変化させ、下地表面への単分子膜又
は単分子累積膜の付着力を変えたり、同時に単分子膜又
は単分子累積膜の構成分子として親木部分、疎水部分の
強さの異なる分子を用いることによって、植種の分子に
よる二次元配置も可能である。また、これらの組合わせ
により複雑な三次元構造のデフへイスの製造も可能であ
る。
【図面の簡単な説明】 第1図は、本発明のパターン形成方法の実施態様を示す
。 1−1・・・カラス基板 1−2・・・ ITO x−3・・・下地改質部分 1−4・・・下地非改質部分

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 少なくとも下地表面を還元性ガス雰囲気下で光線を走査
    した後、単分子膜又は単分子累積膜を形成しパターンを
    形成することを特徴とするパターン形成方法。
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