JPS60205951A - アルミニウムイオン用マイクロ波イオン源 - Google Patents

アルミニウムイオン用マイクロ波イオン源

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JPS60205951A
JPS60205951A JP6068384A JP6068384A JPS60205951A JP S60205951 A JPS60205951 A JP S60205951A JP 6068384 A JP6068384 A JP 6068384A JP 6068384 A JP6068384 A JP 6068384A JP S60205951 A JPS60205951 A JP S60205951A
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JP
Japan
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aluminium
ion
plasma
ionization chamber
microwave
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JP6068384A
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English (en)
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Toshimichi Taya
田谷 俊陸
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
    • H01J37/08Ion sources; Ion guns
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01J27/00Ion beam tubes
    • H01J27/02Ion sources; Ion guns
    • H01J27/16Ion sources; Ion guns using high-frequency excitation, e.g. microwave excitation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
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    • H01J2237/08Ion sources
    • H01J2237/081Sputtering sources
    • HELECTRICITY
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    • H01J2237/30Electron or ion beam tubes for processing objects
    • H01J2237/317Processing objects on a microscale
    • H01J2237/31701Ion implantation

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Combustion & Propulsion (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、半導体製造に用いられるイオン打込装置6の
マイクロ波イオンf〃;(に関するもq)で、特にアル
ミニウムイオンの打込みに用いるマイクロ波イオン源に
関するものである。
〔発明の背景〕
従来、イオン打込装置のイオン源には、フィラメントを
用いたフリーマン型のイオン源が多く用いられている。
ところが、このイオン源はイオンビームを長時間引出そ
うとすると、フィラメントが消耗した頻繁に交換しなけ
ればならないという欠点がある。
この欠点を補うためにフイラメン1〜を用いないマイク
ロ波イオン源が提案さオしている。
例えば、特開昭51−119287号公報で示されてい
るような短冊ビームイオン源や、特開昭52−5489
7号公報で示されているような固体物質用プラズマイオ
ン源、さらに特開昭52−520099号公報に示され
ているようにイオン化箱の材料を窒化ボロンで被覆し、
ボロンのプラズマ化によるボロンイオンを得る固体物質
用プラズマイオン源である。
第1図は従来の固体物質用プラズマイオン源の構造を示
す図であり、1はマイクロ波用アンテナ、2は真空シー
ル用絶縁物、3はイオン化箱、4は磁場コイル、5は引
出電極、6は接地電極、7はイオンビーム、8は固体物
質用蒸発炉、9は固体試料である。
この構造では、固体試料9を蒸発炉8で蒸気化したイオ
ン化箱3に導入し、マイクロ波アンテナ1からのマイク
ロ波を磁場コイル4からの直流磁界によつ°Cブラスマ
化し、引出電極5とイオン化箱3の間に加速電圧を印加
してビームを引出すことができる。
ところが、このイオン源はイオン化箱3の他に固定物質
用蒸発炉8を新たに必要とし、その構造の熱設旧が難し
く、また温度制御回路が必要となるために、操作が複雑
になる欠点がある。
すなわち、蒸気圧を71シトロールするには、蒸気炉8
の温度を微妙に制御しなければならず、イオン化箱3か
らの伝熱を遮断する必要もある。このため、蒸発炉8の
設計が困難となり、温度制御回路の操作も複雑になって
しまう。
一方、半導体製造プロセスにおいては、リンやボロン、
ヒ素のイオン打込の他に、アルミニウムイオンの打込の
要求もある。すなわち、高耐圧電力用半導体製造時には
数十ミクロン以上の深い接合が必要な場合に、アルミニ
ウム、ガリウムなどの拡散係数の大きいP形不純物が用
いられる。
従来このためのアルミニウムのイオンは、固体用蒸発炉
に塩化アルミニウムCAQCQ3)やヨウ化アルミニウ
ム(AQI3)などの固体ハロゲン化合物を入れ、12
0〜150°C程度に温度を上げてイオン化箱でイオン
化することにより取出していた。
しかし、このような低温での温度制御では、イオン化箱
からの高温伝熱を抑える熱遮蔽が難しく、アルミニウム
イオンビームを安定的に得られないという問題点があっ
た。また、ハロゲン化合物が真空ポンプ内にトラップさ
れ、その内部の油を劣化させ、真空度の低下を起こすと
いう問題点があった。
〔発明の目的〕
本発明の■的は、操作と制御が容易で、しかもアルミニ
ウムイオンを安定的に得ることができるアルミニウムイ
オン用マイクロ波イオン源を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明は、イオン化箱をアルミナ等のアルミニウム絶縁
化合物で構成し、ハロゲンガスをこのイオン化箱内でプ
ラズマ化することにより、ハロゲンガスイオンとイオン
化箱のアルミニウム成分とを反応させ、アルミニウムイ
オンを発生させる構造としたものである。
〔発明の実施例〕
第2図は本発明の一実施例を示す図である。同図におい
て、11はマイクロ波用導波管、12はマイクロ波通過
用真空シール材、13はアルミニウム製絶縁体のイオン
化箱、14は磁場用コイル、15は引出電極、16は接
地↑U極、17はイオンビーム、18は加速電極、19
はマイクロ波発振子(マグネトロン)、20はマイクロ
波、21はガス導入パイプ、22はマイクロ波伝達用絶
縁物、23は絶縁碍子である。
本発明の動作原理は次の通りである。
アルミニウムイオンビームを引出ずためにイオン化箱1
3をアルミニウムの絶縁物で構成する。
ガス導入パイプ21からはハロゲンガスが導入され、マ
イクロ波と直流磁界の印加により、イオン化箱13内で
ハロゲンガスがプラズマ化される。
このハロゲンガスのイオンと、イオン化箱13の素材で
あるアルミニウム化合物とが反応し、アルミニウムがプ
ラズマ化される。このプセズマ化されたアルミニウムイ
オンは、加速電極18と引出電極15および接地電極1
6の間に印加された加速電圧で加速されイオンビーム1
7として引出される。
イオンビーム17は、質量分離用電磁石で特定のアルミ
ニウムイオンに分離され、所定の標的に打込まれる。
ここで、具体的な測定結果について述べる。
この測定ではイオン化箱13にはアルミナ(ΔQ120
s) を用いた。これは、通常のアルミナは1500℃
以上でも融けないからである。また、ハロゲンガスとし
ては、BF3を用いた。このように条件におけるマイク
ロ波イオン源からのイオンビームの質量分析スペクトル
を第3図に示している。この第3図に示すように、加速
電圧(30KVの時、全イオン量が約30rnAの時、
質量分離後には4 +y+ Aのアルミニウムイオンが
得られた。、:の場合、アルミニウムイオン量は、マグ
ネトロンのアノード電流や、導入するハロゲンガス、直
流磁場コイル電流によって変化するが、操作としCは、
マグネトロン電流で制御するのが最も容易であろう なす?、アルミナイオン化箱は、使用するに従って消耗
するため適宜交換する必要がある。このようにすると、
イオン化箱力< 71れでクリーニングする必要もない
し、ハロゲン化合物の固体試料によるボンゾ油の劣化も
少なく、アルミイオンを折込む半導体プロセスにおいて
実用的であり、その工業的価値は非t’sに大きい、。
〔発明の効果〕
以」二の説明から明らかなように本発明によれば、アル
ミニウムイオンを筒!トな操作と制御によって安定的に
得ることができ、半導体プロセスにおいて極めて有益な
効果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の固体物質用マイクロ波イオン源の構造を
示す図、第2図は本発明のアルミニウム用マイクロ波イ
オン源の構造を示す図、第3図は本発明のマイクロ波イ
オン源を用いた時のアルミニウムイオンの質量イベクト
ル図である。 11・・・マイクロ波用導波管、12・・・マイクロ波
通過用真空シール材、13・・・イオン化箱、14・・
・磁場コイル、17・・・イオンビーム、19・・・マ
イクロ波発振子、21・・・ガス導入パイプ。 代理人 弁理士 高橋明夫

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、マイクロ波を透過しOr能な材料で構成されたイオ
    ン化箱にマイクロ波と直流磁界を導入し、ガスをプラズ
    マ化して加速するマイクロ波イオン源において、−[−
    記イAン化箱をアルミニウムの絶縁化合物で構成し、ハ
    ロゲンガスを上記イ剖ン化箱内でプラズマ化し、ハロゲ
    ンガスイオンとイオン化箱のアルミニラ11どを反応さ
    ぜ、アルミニウムイオンを発生さ田ることを特徴とする
    アルミニウムイオン用マイクロ波イオン源。
JP6068384A 1984-03-30 1984-03-30 アルミニウムイオン用マイクロ波イオン源 Pending JPS60205951A (ja)

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