JPS60198039A - 撮像管 - Google Patents
撮像管Info
- Publication number
- JPS60198039A JPS60198039A JP5214884A JP5214884A JPS60198039A JP S60198039 A JPS60198039 A JP S60198039A JP 5214884 A JP5214884 A JP 5214884A JP 5214884 A JP5214884 A JP 5214884A JP S60198039 A JPS60198039 A JP S60198039A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- reflected
- photoconductive film
- film target
- electron beam
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J29/00—Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
- H01J29/46—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the ray or beam, e.g. electron-optical arrangement
- H01J29/58—Arrangements for focusing or reflecting ray or beam
- H01J29/60—Mirrors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J29/00—Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
- H01J29/84—Traps for removing or diverting unwanted particles, e.g. negative ions, fringing electrons; Arrangements for velocity or mass selection
Landscapes
- Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は静電集束形撮像管に関り１、特に戻りビームに
よる偽信号発生を抑えた撮像管に関する。
よる偽信号発生を抑えた撮像管に関する。
従来の静電集束形撮像管においては、集束レンズによっ
て細くしぼりこんだ電子ビームで光導電膜ターゲットを
走査することにより光信号を電気信号に変換して読み出
している。従来のこのような撮像管の構造は、基本的に
は２つに分けることができる。すなわち（１）電子ビー
ム発生部と、（２）電子、ビーム集束レンズ部（主レン
ズ部）である、第１図は、特開昭５８−１０３７５１に
示された電子ビーム集束レンズを用いた撮像管の断面図
である。
て細くしぼりこんだ電子ビームで光導電膜ターゲットを
走査することにより光信号を電気信号に変換して読み出
している。従来のこのような撮像管の構造は、基本的に
は２つに分けることができる。すなわち（１）電子ビー
ム発生部と、（２）電子、ビーム集束レンズ部（主レン
ズ部）である、第１図は、特開昭５８−１０３７５１に
示された電子ビーム集束レンズを用いた撮像管の断面図
である。
１は真空容器、Ｋは陰極、Ｇ１は第１電極、０２″ は
第２電極で、Ｋ’＝ Ｇｔ −Ｇｔで電子ビーム発生部
である３極部２を構成しており、Ｇ３．Ｇ４は電子ビー
ム集束レンズ（主レンズ）を形成するそれぞれ第３．第
４電極で、ＧＢはメツシュ電極で、電１１Ｇ３ｅ Ｇ４
ｔ Ｇｓで主レンズ部３を構成している。４は光導電
膜ターゲットであり、５は撮像管外部に配置された偏向
コイルである。陰極により出た電子ビームは３極部２で
形成されるレンズで集束し、一度クロスオーバーをつく
った後、第２電極Ｇ２に設けもれたビーム制限孔６を通
過し、Ｇ ３ ｔ Ｇ ４で形成される集束レンズ（主
レンズ）で集束され、同時に外部に設けた偏向コイル５
の磁場により偏向され光導電膜ターゲット４を走査する
。電ｔｌＡ Ｇ ４とメツシュ電極Ｇ５とで形成される
コリメーションレンズにより一向した電子ビームを光導
電膜ターゲット４へ垂直にランディングするようにして
いる。通常このような撮像管では、陰極Ｋに対する各電
極の電圧値は、電極Ｇ１が約−４０ｖ程度、電極Ｇ２が
３００ Ｖ、電極Ｇ３が約８０Ｖ程度、電極Ｇ４が６０
０Ｖ、メツシュ電極Ｇ５が１４００Ｖテある。
第２電極で、Ｋ’＝ Ｇｔ −Ｇｔで電子ビーム発生部
である３極部２を構成しており、Ｇ３．Ｇ４は電子ビー
ム集束レンズ（主レンズ）を形成するそれぞれ第３．第
４電極で、ＧＢはメツシュ電極で、電１１Ｇ３ｅ Ｇ４
ｔ Ｇｓで主レンズ部３を構成している。４は光導電
膜ターゲットであり、５は撮像管外部に配置された偏向
コイルである。陰極により出た電子ビームは３極部２で
形成されるレンズで集束し、一度クロスオーバーをつく
った後、第２電極Ｇ２に設けもれたビーム制限孔６を通
過し、Ｇ ３ ｔ Ｇ ４で形成される集束レンズ（主
レンズ）で集束され、同時に外部に設けた偏向コイル５
の磁場により偏向され光導電膜ターゲット４を走査する
。電ｔｌＡ Ｇ ４とメツシュ電極Ｇ５とで形成される
コリメーションレンズにより一向した電子ビームを光導
電膜ターゲット４へ垂直にランディングするようにして
いる。通常このような撮像管では、陰極Ｋに対する各電
極の電圧値は、電極Ｇ１が約−４０ｖ程度、電極Ｇ２が
３００ Ｖ、電極Ｇ３が約８０Ｖ程度、電極Ｇ４が６０
０Ｖ、メツシュ電極Ｇ５が１４００Ｖテある。
従来、上述した構造の撮像管では、戻りビームにより出
力信号中に偽信号が入り、特に低照度の撮像時にカメラ
の感度を上げた場合顕著となり画質を低下させるという
欠点がある。
力信号中に偽信号が入り、特に低照度の撮像時にカメラ
の感度を上げた場合顕著となり画質を低下させるという
欠点がある。
この原因は、メツシュ電極あるいは光導電膜ターゲット
でおし返された戻りビームが電極Ｇ２で反射して再び光
導電膜ターゲットへ向かう反射ビームとなり、この反射
ビームが光導電膜ターゲットに到達し、正規のイ目号以
外の偽信号を発生ずるためと考えられる。すなわち、第
１図においてビーム制限孔６から出た電子ビーム（１次
ビー１１）７は光導電膜ターゲット４を走査するが、そ
の一部はメツユ電極あるいは光導電膜ターゲットでおし
返される戻りビーム８となり￥Ａ極に側へ向かう。
でおし返された戻りビームが電極Ｇ２で反射して再び光
導電膜ターゲットへ向かう反射ビームとなり、この反射
ビームが光導電膜ターゲットに到達し、正規のイ目号以
外の偽信号を発生ずるためと考えられる。すなわち、第
１図においてビーム制限孔６から出た電子ビーム（１次
ビー１１）７は光導電膜ターゲット４を走査するが、そ
の一部はメツユ電極あるいは光導電膜ターゲットでおし
返される戻りビーム８となり￥Ａ極に側へ向かう。
この戻りビームは最終的に電ｔｌｉｉ Ｇ ７上のビー
１ｚ制限孔６の周りに衝突し、光導電膜ターゲラ１−へ
到達することになる。この時、特定の走査時間に発生す
る反射ビームは光導電膜ターゲットＪ二の非走査領域Ｂ
（走査領ｉｆｊ、Ａの外の領域）に到達する。
１ｚ制限孔６の周りに衝突し、光導電膜ターゲラ１−へ
到達することになる。この時、特定の走査時間に発生す
る反射ビームは光導電膜ターゲットＪ二の非走査領域Ｂ
（走査領ｉｆｊ、Ａの外の領域）に到達する。
領域Ｂは１次ビーム７による走査をうけず、その面電位
は、ターゲット印加電圧にほぼ等しく、数１０ｖの高い
電圧となっており、反射ビーム９の入射により偽信号を
発生する。この偽信号により、画面中央部に画面の約３
分の１の大きさで画面に相似な黒い偽像が発生する。
は、ターゲット印加電圧にほぼ等しく、数１０ｖの高い
電圧となっており、反射ビーム９の入射により偽信号を
発生する。この偽信号により、画面中央部に画面の約３
分の１の大きさで画面に相似な黒い偽像が発生する。
本発明の目的は、このような戻りビームにより生ずる偽
信号像を取り除した静電隼束型撮伶管を提供することに
ある。
信号像を取り除した静電隼束型撮伶管を提供することに
ある。
〔発明の概要〕 ・
本発明は、静電レンズを構成する円筒状電極内部に戻り
ビームを反射する円板状電極を設け、」二記円板状電極
で反射した電子ビームをさらに内部に設けた円筒電極に
反射するよう構成し、反射した電子ビームがすべて光導
電膜ターゲット上の走査領域に到達するようになし１反
射ビームが非走査領域に入射するため発生する偽信号の
発生を阻止しようとするものである。
ビームを反射する円板状電極を設け、」二記円板状電極
で反射した電子ビームをさらに内部に設けた円筒電極に
反射するよう構成し、反射した電子ビームがすべて光導
電膜ターゲット上の走査領域に到達するようになし１反
射ビームが非走査領域に入射するため発生する偽信号の
発生を阻止しようとするものである。
以下、本発明を実施例を参照して詳細に説明する。第２
図および第３図は本発明の一実施例を示す図で、第１図
と同じ部分には同・−記号を付している。第２図におい
てメツシュｉｔ ｔｍ ａ ｒ、あるいは光導電膜ター
ゲット４でおし返された戻すビー１１８は、電極Ｇ ４
ｙ Ｇ ｆｉで形成されるコリメーションレンズの作
用で中心軸ｌＯを横切り、電極Ｇ。
図および第３図は本発明の一実施例を示す図で、第１図
と同じ部分には同・−記号を付している。第２図におい
てメツシュｉｔ ｔｍ ａ ｒ、あるいは光導電膜ター
ゲット４でおし返された戻すビー１１８は、電極Ｇ ４
ｙ Ｇ ｆｉで形成されるコリメーションレンズの作
用で中心軸ｌＯを横切り、電極Ｇ。
に設けた円板状電極１１に衝突する。上記円板状電極１
１はＧ３ｔ Ｇ４で形成される集束レンズ（主レンズ）
の作用を乱さない位置に置かれる。
１はＧ３ｔ Ｇ４で形成される集束レンズ（主レンズ）
の作用を乱さない位置に置かれる。
上記円板状電４１ｔｔを挿入することにより、第１図に
おける反射ビーム９のごとく走査領域の外の領域Ｂへ向
かう軌道を生みだす戻りビーム８の軌道を途中で遮断し
反射させて１３で示したごとくＧ３電極に髄射させた後
−０４電極の内壁へ向がわせる。円板状電極１１で反射
してもＧ３電極に当たらない電子ビームは全て走査領域
Ａ内へ向かうことが分っている。Ｇ４電極には円筒電極
１２が設けられ、電子ビーム１３をここで反射させるよ
うにしている。円筒電極１２で反射した電子ビームは全
て走査領域Ａ内へ向がう。もし、上記円筒型４＠１２が
ない場合、円板状電極１１で反射した電子ビーＡ１３は
１４で示したごとく電極０４で反射して走査領域の外の
領域Ｂへ向かい、偽信号を発生してしまうことになる。
おける反射ビーム９のごとく走査領域の外の領域Ｂへ向
かう軌道を生みだす戻りビーム８の軌道を途中で遮断し
反射させて１３で示したごとくＧ３電極に髄射させた後
−０４電極の内壁へ向がわせる。円板状電極１１で反射
してもＧ３電極に当たらない電子ビームは全て走査領域
Ａ内へ向かうことが分っている。Ｇ４電極には円筒電極
１２が設けられ、電子ビーム１３をここで反射させるよ
うにしている。円筒電極１２で反射した電子ビームは全
て走査領域Ａ内へ向がう。もし、上記円筒型４＠１２が
ない場合、円板状電極１１で反射した電子ビーＡ１３は
１４で示したごとく電極０４で反射して走査領域の外の
領域Ｂへ向かい、偽信号を発生してしまうことになる。
上述のように本実施例では、円板状電極１１および円筒
電極１２により反射した電子ビームを全て走査領域Ａ内
へ向かわせ、領域Ｂに反射ビームが入射することによる
偽信号の発生を抑えている。
電極１２により反射した電子ビームを全て走査領域Ａ内
へ向かわせ、領域Ｂに反射ビームが入射することによる
偽信号の発生を抑えている。
また、Ｇ４電極に円筒電極を設けず、第３図の実施例に
示したごと＜Ｇ４１１１極の途中の内径を部分的に小さ
くしても同様の効果が得られることは明らかである。
示したごと＜Ｇ４１１１極の途中の内径を部分的に小さ
くしても同様の効果が得られることは明らかである。
以上説明したごとく本発明によれば、第３電極Ｇ３に円
板状電極を置は戻りビームを反射させ、さらに上記第３
ｆｆｉ＠に続く少なくとも一つの電極の内側に設けた円
筒重積に反射させ、走査領域の外へ飛び込むことを防ぎ
、反射ビームが走査領域外へ当たることによる余計な偽
信号をなくすことができ、撮像管の画質を大幅に向上す
ることができる。
板状電極を置は戻りビームを反射させ、さらに上記第３
ｆｆｉ＠に続く少なくとも一つの電極の内側に設けた円
筒重積に反射させ、走査領域の外へ飛び込むことを防ぎ
、反射ビームが走査領域外へ当たることによる余計な偽
信号をなくすことができ、撮像管の画質を大幅に向上す
ることができる。
なお、本発明はここで示した２つの電極で構成される焦
束レンズを用いた撮像管に限らず、一般に良く知られた
３つ以トの円ｎ電極で構成された集束レンズを用いた撮
像管に適用できることは言うまでもない。
束レンズを用いた撮像管に限らず、一般に良く知られた
３つ以トの円ｎ電極で構成された集束レンズを用いた撮
像管に適用できることは言うまでもない。
第１図は従来の静電推束型撮像管の断面図、第２図およ
び第３図は本発明による撮像管の実施例を示す電極断面
図である。 ■・・・真空容器、２・・・３極部、３・・・主しンス
部、４・・光導電膜ターゲット、５・・・偏向コイル、
６・・ビーム制限孔、７・・・走査電子ビーム軌道、８
・・・戻りビーム軌道、９，１３，１．／ｌ・・・反射
ビーム軌道、１０・・・中心軸、１１・・・円板状電極
、１２・・・円筒電極、Ａ・・・正規走査領域、Ｂ・・
・走査外領域、ｌ（・・・陰極、Ｇ、・・・第１電極、
Ｇ２・・・第２電極、Ｇ３・・・第第１頁の続き ＠発明者船木 利春 茂原市早野３３５＠地の２ 日立デバイスエンジニアリ
ング株式会社内
び第３図は本発明による撮像管の実施例を示す電極断面
図である。 ■・・・真空容器、２・・・３極部、３・・・主しンス
部、４・・光導電膜ターゲット、５・・・偏向コイル、
６・・ビーム制限孔、７・・・走査電子ビーム軌道、８
・・・戻りビーム軌道、９，１３，１．／ｌ・・・反射
ビーム軌道、１０・・・中心軸、１１・・・円板状電極
、１２・・・円筒電極、Ａ・・・正規走査領域、Ｂ・・
・走査外領域、ｌ（・・・陰極、Ｇ、・・・第１電極、
Ｇ２・・・第２電極、Ｇ３・・・第第１頁の続き ＠発明者船木 利春 茂原市早野３３５＠地の２ 日立デバイスエンジニアリ
ング株式会社内
Claims (1)
- １、陰極と第１電極とビーム電流を制限するビーム制限
孔をその上に設けた第２ＷＬ極とを有する電子ビーム発
生部と、第３電極に続く複数個の電極により形成される
電子ビーム集束レンズ部と、メツシュ電極と光導電膜タ
ーゲットを有し、 □光導電膜ターゲット側より陰極へ
向かう戻りビームが上記第３電極に設けた円板状電極に
反射し、その反射ビームが上記第３電極からメツシュ電
極までの間の少なくとも−・つの電極の内側に設けた円
筒電極に反射して、光導電膜ターゲット上の走査領域内
に向かうよう構成したことを特徴とする撮像管、。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5214884A JPS60198039A (ja) | 1984-03-21 | 1984-03-21 | 撮像管 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5214884A JPS60198039A (ja) | 1984-03-21 | 1984-03-21 | 撮像管 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60198039A true JPS60198039A (ja) | 1985-10-07 |
Family
ID=12906785
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5214884A Pending JPS60198039A (ja) | 1984-03-21 | 1984-03-21 | 撮像管 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60198039A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0458179A2 (en) * | 1990-05-23 | 1991-11-27 | Hitachi, Ltd. | Image pickup tube and its operating method |
-
1984
- 1984-03-21 JP JP5214884A patent/JPS60198039A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0458179A2 (en) * | 1990-05-23 | 1991-11-27 | Hitachi, Ltd. | Image pickup tube and its operating method |
| US5384597A (en) * | 1990-05-23 | 1995-01-24 | Hitachi, Ltd. | Image pickup tube utilizing third electrode and its operating method |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2869827B2 (ja) | 走査電子顕微鏡 | |
| JPS60198039A (ja) | 撮像管 | |
| JPS59141153A (ja) | 低雑音電子銃 | |
| JPS647455B2 (ja) | ||
| JPH0131259B2 (ja) | ||
| JPS60198038A (ja) | 撮像管 | |
| JP3005991B2 (ja) | テレビジョン受像機 | |
| US4752715A (en) | Television camera tube | |
| KR860000816B1 (ko) | 촬상관 전자총 | |
| JPS6079648A (ja) | 撮像管 | |
| JP2003045359A (ja) | 陰極線管 | |
| JPS63892B2 (ja) | ||
| US4645983A (en) | Image tube circuit | |
| JPS58103751A (ja) | 電子ビ−ム集束レンズ装置 | |
| JPH069132B2 (ja) | 静電偏向型撮像管 | |
| JPH0117809Y2 (ja) | ||
| JPS60163348A (ja) | 撮像管 | |
| US3281622A (en) | Scan conversion tube wherein the flood beam passes through the storage electrode and is scanned over an image dissector | |
| JPS61109245A (ja) | 撮像管 | |
| JPS624817B2 (ja) | ||
| JPS6134834A (ja) | 撮像管 | |
| JPH0139622B2 (ja) | ||
| JPS62119841A (ja) | 電磁集束静電偏向形撮像管 | |
| JPH0719543B2 (ja) | 陰極線管 | |
| JPS6074243A (ja) | 静電集束形撮像管 |