JPS6019446B2 - 放射温度計 - Google Patents
放射温度計Info
- Publication number
- JPS6019446B2 JPS6019446B2 JP11059878A JP11059878A JPS6019446B2 JP S6019446 B2 JPS6019446 B2 JP S6019446B2 JP 11059878 A JP11059878 A JP 11059878A JP 11059878 A JP11059878 A JP 11059878A JP S6019446 B2 JPS6019446 B2 JP S6019446B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- compensation circuit
- radiation thermometer
- nickel wire
- wire resistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 17
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 8
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
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- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J5/12—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using thermoelectric elements, e.g. thermocouples
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、低温から高温に至るあらゆる温度範囲の被測
温体を常に高精度で測定することができる放射温度計に
関する。
温体を常に高精度で測定することができる放射温度計に
関する。
放射温度計は、被側温体から発生する放射をレンズある
いは円錐鏡などで集光するめの集光系と、集光した放射
を検出素子に受け、これを電気信号に変換するための変
換系とからなり、これらを感温箭内に配設して構成され
ている。
いは円錐鏡などで集光するめの集光系と、集光した放射
を検出素子に受け、これを電気信号に変換するための変
換系とからなり、これらを感温箭内に配設して構成され
ている。
このうち変換系は、外周の熱エネルギーによる影響を受
け易いため、感温儀の温度が大中に変動する条件下では
正確な側温ができなくなる。このため、従来から第1図
のように熱電堆4の冷接点Bに連結する導線間にニッケ
ル線抵抗体6を並列に接続することにより感温筒1の温
度変化に基づく側温誤差を自動的に保障する機構の補償
回路が配置されている。しかしながら、この補償回路は
高温の被測温体を測定する場合(被測温体と感温筒の温
度差が大のとき)には十分有効に作用するが、被側温体
が低温の場合(前記の温度差が小のとき)には、温度補
償が満足に得られない欠点がある。
け易いため、感温儀の温度が大中に変動する条件下では
正確な側温ができなくなる。このため、従来から第1図
のように熱電堆4の冷接点Bに連結する導線間にニッケ
ル線抵抗体6を並列に接続することにより感温筒1の温
度変化に基づく側温誤差を自動的に保障する機構の補償
回路が配置されている。しかしながら、この補償回路は
高温の被測温体を測定する場合(被測温体と感温筒の温
度差が大のとき)には十分有効に作用するが、被側温体
が低温の場合(前記の温度差が小のとき)には、温度補
償が満足に得られない欠点がある。
すなわち、計測にあたって検出素子が受ける実際の放射
エネルギーWは、被測猛体の放射率、熱電堆温暖点の放
射率および空間と光学系による吸収定数をKとすると、
ステフアンボルッマンの法則から次式のように示される
。
エネルギーWは、被測猛体の放射率、熱電堆温暖点の放
射率および空間と光学系による吸収定数をKとすると、
ステフアンボルッマンの法則から次式のように示される
。
W=Kひ(T三−Tき) イー)‘1}式で
、oはステフアンボルッマン定数、T,は被測温体の温
度、そしてT2は熱電堆温暖点の温度である。
、oはステフアンボルッマン定数、T,は被測温体の温
度、そしてT2は熱電堆温暖点の温度である。
従来の補償回路は、感温筒温度の変化に伴うWの変動を
ニッケル線抵抗体4の作用によって自動的に補償しよう
とするものであるが、被測温体が低温の際にはT,とT
2の温度が接近するため、補償限界を越えて誤差をもた
らす。
ニッケル線抵抗体4の作用によって自動的に補償しよう
とするものであるが、被測温体が低温の際にはT,とT
2の温度が接近するため、補償限界を越えて誤差をもた
らす。
他方、熱電堆の起電力Eは、熱電堆の起電力変換定数を
Kとし、冷接点温度をT3とすると、次により与えられ
る。
Kとし、冷接点温度をT3とすると、次により与えられ
る。
E=K T−T3) ・・・‘2}また、
{2)式は【1ー式との関係から{3’式のように2正
できる。
{2)式は【1ー式との関係から{3’式のように2正
できる。
E;K(三吉キヱ)・r−KT3 ‐‐B’このため、
被測温体が低温の場合には、熱電堆の温暖点温度Lの変
動影響ばかりでなく、冷接点温度T3の変動が無視でき
なくなり、感温筒の温度変化に基づく欄溢誤差が一層助
長される。
被測温体が低温の場合には、熱電堆の温暖点温度Lの変
動影響ばかりでなく、冷接点温度T3の変動が無視でき
なくなり、感温筒の温度変化に基づく欄溢誤差が一層助
長される。
本発明は、従来の補償回路に加えてあらたに二次補償回
路を付設することにより、従来構造では補償しきれなか
った温接点Aならびに袷接点Bの温度変化に基づく出力
電圧の変動誤差を効果的に消去したものである。すなわ
ち、本発明はたとえ感温筒温度が大中に変動する条件下
においても、低温から高温に至るあらゆる温度範囲の被
側温体を常に高精度で預り温できる放射温度計を提供す
るもので、その構造は熱電堆の袷接点に連結する導線間
にニッケル線抵抗体を並列に接続して構成した一次補償
回路と、一方の導線に定電流供給装置に結線するニッケ
ル線抵抗体を直列に接続して構成した二次補償回路とを
変換系とすることを特徴とする。
路を付設することにより、従来構造では補償しきれなか
った温接点Aならびに袷接点Bの温度変化に基づく出力
電圧の変動誤差を効果的に消去したものである。すなわ
ち、本発明はたとえ感温筒温度が大中に変動する条件下
においても、低温から高温に至るあらゆる温度範囲の被
側温体を常に高精度で預り温できる放射温度計を提供す
るもので、その構造は熱電堆の袷接点に連結する導線間
にニッケル線抵抗体を並列に接続して構成した一次補償
回路と、一方の導線に定電流供給装置に結線するニッケ
ル線抵抗体を直列に接続して構成した二次補償回路とを
変換系とすることを特徴とする。
第2図は、本発明に係る放射温度計の構造を示した例図
である。
である。
図中、1は感温筒で、この内部に光学フィルター2およ
び円錐鏡3からなる光学系と、熱電堆4、一次補償回路
RIおよび二次補償回路R2からなる変換系を配設内蔵
する。一次補償回路RIは熱電堆4の冷接点B,B′に
連結する導線間にニッケル線抵抗体5を並列に接続して
構成される。二次補償回路R2は、一次補償回路RI後
の一方の導線に定電流供給装置6に結線するニッケル線
抵抗体7を直列に接続して構成されるが、定電流供給装
置6は必要に応じて感温筒1の系外に設置することもで
きる。また、ニッケル線抵抗体7には、巻線誤差を補正
するために分割補正抵抗8,8′を付設することが望ま
しい。各ニッケル線抵抗体5,7の抵抗値は、用いる熱
電堆4の材質ならびに超電力などを考慮して適宜決定さ
れる。
び円錐鏡3からなる光学系と、熱電堆4、一次補償回路
RIおよび二次補償回路R2からなる変換系を配設内蔵
する。一次補償回路RIは熱電堆4の冷接点B,B′に
連結する導線間にニッケル線抵抗体5を並列に接続して
構成される。二次補償回路R2は、一次補償回路RI後
の一方の導線に定電流供給装置6に結線するニッケル線
抵抗体7を直列に接続して構成されるが、定電流供給装
置6は必要に応じて感温筒1の系外に設置することもで
きる。また、ニッケル線抵抗体7には、巻線誤差を補正
するために分割補正抵抗8,8′を付設することが望ま
しい。各ニッケル線抵抗体5,7の抵抗値は、用いる熱
電堆4の材質ならびに超電力などを考慮して適宜決定さ
れる。
これら変換系を経た出力導線は、系外の電圧計9に接続
する。本発明の放射温度計は、変換系が上記のように構
成されているから、高温測定時に感温筒1の温度変化に
伴って生ずる温接点温度Lの変動は一次補償回路RIの
ニッケル線抵抗体5により補償され、低温測定時に生ず
る一次補償回路RIで補償しえなかった温接点温度T2
の変動誤差、ならびに冷接点温度T3の変動に基づく電
位差変動は、二次補償回路R2のニッケル線抵抗体7の
電気抵抗変化作用によって円滑に補償される。
する。本発明の放射温度計は、変換系が上記のように構
成されているから、高温測定時に感温筒1の温度変化に
伴って生ずる温接点温度Lの変動は一次補償回路RIの
ニッケル線抵抗体5により補償され、低温測定時に生ず
る一次補償回路RIで補償しえなかった温接点温度T2
の変動誤差、ならびに冷接点温度T3の変動に基づく電
位差変動は、二次補償回路R2のニッケル線抵抗体7の
電気抵抗変化作用によって円滑に補償される。
したがって、感溢筒の温度変化が大きい測定条件下にお
いても常に正確な洩り温が保障され、とくに従来かかる
条件下では困難とされていた低温被測温体の高精度側塩
をも可能となるから、あらゆる温度範囲の計測目的に適
用できる利益がある。実施例熱起電力101.1mV(
100oo)を有するCRC熱電堆(16対の熱電対)
を検出素子とし、一次補償回路RIのニッケル線抵抗体
5の抵抗値が38.370(25qo)、こ次補償回路
R2のニッケル線抵抗体7の抵抗値が9.119(25
午○)、定電流供給装置の出力電流1.卸A、分割補正
抵抗8、および8′の抵抗値がそれぞれ144.30(
25oo)と855.70(25℃)の各部材で変換系
を構成した第2図構造の放射温度計(本発明)を作成し
た。
いても常に正確な洩り温が保障され、とくに従来かかる
条件下では困難とされていた低温被測温体の高精度側塩
をも可能となるから、あらゆる温度範囲の計測目的に適
用できる利益がある。実施例熱起電力101.1mV(
100oo)を有するCRC熱電堆(16対の熱電対)
を検出素子とし、一次補償回路RIのニッケル線抵抗体
5の抵抗値が38.370(25qo)、こ次補償回路
R2のニッケル線抵抗体7の抵抗値が9.119(25
午○)、定電流供給装置の出力電流1.卸A、分割補正
抵抗8、および8′の抵抗値がそれぞれ144.30(
25oo)と855.70(25℃)の各部材で変換系
を構成した第2図構造の放射温度計(本発明)を作成し
た。
この放射温度計を用い、感温筒の温度を34ooから0
.か0/分の昇温速度で上昇させながら、1時間に亘り
43ooの被側温体について出力電圧を計測記録した。
.か0/分の昇温速度で上昇させながら、1時間に亘り
43ooの被側温体について出力電圧を計測記録した。
同時に、一次補償回路のみを内蔵した従来構造の放射温
度計(第1図)を用いて同様に出力電圧の経時変化を計
測した。第3図は、計測記録を示したもので、aは感温
筒の温度変化を出力電圧で示した昇温水準、bは本発明
放射温度計により記録された出力電圧、cは従来構造の
放射温度計により記録された出力電圧である。
度計(第1図)を用いて同様に出力電圧の経時変化を計
測した。第3図は、計測記録を示したもので、aは感温
筒の温度変化を出力電圧で示した昇温水準、bは本発明
放射温度計により記録された出力電圧、cは従来構造の
放射温度計により記録された出力電圧である。
第3図の結果から、従来構造においては感温筒の温度上
昇による電位差の減少が補償できず出力電圧は経時的に
低下して誤差を生じているが、本発明構造では一定の出
力電圧を示し、感温筒の温度変化は十分に補償されてい
ることが確認された。
昇による電位差の減少が補償できず出力電圧は経時的に
低下して誤差を生じているが、本発明構造では一定の出
力電圧を示し、感温筒の温度変化は十分に補償されてい
ることが確認された。
第1図は従来の放射温度計を示した断面構成図、第2図
は本発明に係る放射温度計の一例を示した断面構成図で
ある。 第3図は感温筒の温度変化に伴う検出電圧の変動状態を
本発明構造ならびに従来構造につき対比して示したもの
である。1・…・・感温筒、3・・・・・・円錐鏡、4
・・・・・・熱電堆、5,7・・…・ニッケル線抵抗体
、6・・・・・・定電流供給装置、R1・・…・一次補
償回路、R2・・・・・・二次補償回路。 努 / 史9 第2 努3四
は本発明に係る放射温度計の一例を示した断面構成図で
ある。 第3図は感温筒の温度変化に伴う検出電圧の変動状態を
本発明構造ならびに従来構造につき対比して示したもの
である。1・…・・感温筒、3・・・・・・円錐鏡、4
・・・・・・熱電堆、5,7・・…・ニッケル線抵抗体
、6・・・・・・定電流供給装置、R1・・…・一次補
償回路、R2・・・・・・二次補償回路。 努 / 史9 第2 努3四
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 熱電堆の冷接点に連結する導線間にニツケル線抵抗
体を並列に接続して構成した一次補償回路と、一方の導
線に定電流供給装置に結線するニツケル線抵抗体を直列
に接続して構成した二次補償回路とを変換係とすること
を特徴とする放射温度計。 2 二次補償回路のニツケル線抵抗体に分割補正抵抗を
付設する特許請求の範囲第1項記載の放射温度計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11059878A JPS6019446B2 (ja) | 1978-09-11 | 1978-09-11 | 放射温度計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11059878A JPS6019446B2 (ja) | 1978-09-11 | 1978-09-11 | 放射温度計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5537917A JPS5537917A (en) | 1980-03-17 |
JPS6019446B2 true JPS6019446B2 (ja) | 1985-05-16 |
Family
ID=14539903
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11059878A Expired JPS6019446B2 (ja) | 1978-09-11 | 1978-09-11 | 放射温度計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6019446B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02274575A (ja) * | 1989-04-17 | 1990-11-08 | Nec Corp | プリンタ装置のプラテン |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5229612B1 (en) | 1990-08-01 | 1998-04-14 | Exergen Corp | Radiation detector with remote temperature reference |
DE4331574C2 (de) * | 1993-09-16 | 1997-07-10 | Heimann Optoelectronics Gmbh | Infrarot-Sensormodul |
US6292685B1 (en) | 1998-09-11 | 2001-09-18 | Exergen Corporation | Temporal artery temperature detector |
US20120083710A1 (en) | 2010-09-30 | 2012-04-05 | Medism Ltd. | Ergonomic hand-held thermometer |
-
1978
- 1978-09-11 JP JP11059878A patent/JPS6019446B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02274575A (ja) * | 1989-04-17 | 1990-11-08 | Nec Corp | プリンタ装置のプラテン |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5537917A (en) | 1980-03-17 |
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