JPS6018833A - 二波長ビ−ムスプリツタ−を備えた磁気光学記録再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （発明の技術分野） 本発明は、三波長ビームスプリッタ−を備えた磁気光学
記録再生装置に関するものである。

（発明の背景） 最近の情報化社会の発展は著しく、それに伴ない大容量
の記録媒体並びに記録再生方式の必要性が急速に高まっ
ており、一部既にレーザービデオ（２） ディスク、静電容量式ビデオディスク、デジタルオーデ
ィオディスク等が実用化されている。しかしながら、こ
れまでに実用化された記録媒体は書換えができない欠点
があり、書換え可能な記録媒体並びに記録再生方式がＵ
まれており、そのような書換え可能な記録媒体の１つと
して磁気光学記録媒体が提案されている。

磁気光学記録媒体は、例えばＧｄＣｏ　、　ＧｄＴｂＦ
ｅのような垂直磁化膜を記録層とするもので、この垂直
磁化膜の磁化の方向を一旦上向きか下向きのいずれかに
揃えておき、配録したいビットにレーザービームを照射
して、そのビットの温度を例えば磁性材料のキュリ一点
以上に加熱することＫより、元の磁化方向を自由に解放
し、同時に反対向きの弱い磁場をそのビットに印加する
ことで、そのビットの磁化方向を膜の磁化方向とは反対
向きにし、その上でレーザービームの照射を止めて、そ
の反対向きの磁化を固定する。これによｐ仮に膜の磁化
方向１ｏとし、反対方向を１とすれば、レーザービーム
の照射は０．ｌのデジタル信号の（３） 「１」として記録されることになる。

こうして記録されたビットの磁化方向の相違つまり、上
向き、下向きは、直線偏光を照射して、その反射光の偏
光面の回転状況が磁化の向きによって相違する現象（磁
気カー効果）を利用して読み取られる。つまシ、入射光
に対して磁化の向きが上向きのとき、反射光の偏光面が
入射光の偏光面に対してθに度回転したとすると、入射
光に対して磁化の向きが下向きのときは一θに度回転す
る。

従って、反射光の光圧偏光子（アナライザーとも呼ばれ
る）の主軸を一〇！度面にほぼ直交するように置いてお
くと、下向き磁化のビットからの光はアナライザーをほ
とんど透過せず、上向きの磁化のビットからの光はｓｉ
ｎ　２５Ｋを乗じた分だけ透過するので、アナライザー
の先にディテクター（光電変換素子）を設置しておけば
、記録媒体を高速でスキャンニングして行くと、記録さ
れたビットに基づいて電気信号の強弱として再生される
のである。

以上述べ九ような原理に基づく再生装置を磁気（４） 光学再生装置と言うが、この装置は例えば第１図に示す
如き基本構成を有する。つま夛、レーザー光源（Ｌ）か
らの偏光ビームをビームスプリッタ−（Ｂ　Ｓ）で進行
方向を９０度曲げた後、記録媒体（Ｍ）に対しほぼ垂直
に照射し、その反射光を前記ビームスプリッタ−（Ｂ　
Ｓ）を通して信号光検出系（Ｎ）に受光させ、電気信号
として再生する。信号光検出系（Ｎ）は直接法と差動法
とに２分されるが、直接法では第１Ａ図に示すように信
号光をアナライザー（Ａ）Ｋ通し、その透過光をディテ
クター（Ｄ）で受けて電気信号に変換する。差動法では
第１１図に示すように信号光をウオーラストンプリ′ズ
ム、トムソンプリズム、ロションプリズム、薄膜型など
の偏光ビームスプリンター（Ｐ　Ｂ　８）に導き、信号
光を互いに直交した偏光成分を持ち、かつほぼ等しい光
強度に二分し、それらを各ディテクター（Ｄｓ　）　、
　（Ｄｓ　）に受光させ、それ罠より各々電気信号に変
換し、各々の電気信号を差動増幅器（Ｑ）に導いて両電
気信号の差を取る。

第１図に於いて光源（Ｌ）からのビームをＵ偏光、（５
） そのビームのビームスプリッタ−（Ｂ　Ｓ）への入射時
の光強度をＩｓｔ　、ビームスプリッタ−（ＢＳ）の８
偏光反射率をＲ８とすると、ビームスプリッタ−ＣＢＳ
）の反射光強度はｌ１ｌｌ　Ｘ　Ｒ１１で表わされる。

しかし、これが記録媒体ＣＭ）に達するまでには対物レ
ンズ等−の透過効・率が１でないためにある程度減衰す
る。従って、透過効率をηとすると、記録媒体（Ｍ）に
照射される光強度（Ｉ）は、■＝ηＸ　Ｉｓｘ　Ｘ　Ｒ
ｓ で表わされるが、ダは通常０，９５程度であることと、
計算の展開の簡単のためにη；ｌとみなしてＩ　＝　Ｉ
ｓ　ｓ　Ｘ　Ｒｓ　−＝＝”　Ｃ式ｌ）と表わすことに
する。

一方、偏光の回転状況について考えてみると、今、記録
媒体ＣＭ）に入射する光ベクトルを第２図に於いてベク
トルｉで表わす。ベクトルｉは、媒体（Ｍ）で反射され
ると、カー回転を受けてそのビットの磁化の向きに応じ
てベクトルｏｋ、又はＯｋ。

に変化する。

更に、これらのベクトルｏｋ１又はＯｋ、は、ピー（６
） ムスブリツター（ＢＳ）の諷偏光及びｐ偏光に対する透
過率Ｔｓ、Ｔｐの相違（相違があると仮定する）から、
見掛上更に回転を受けてベクトルｏｌｃｌ’又は１２′
に変わる。

アナライザー（Ａ）の主軸（第２図Ａ軸）をｐ方向に対
し０度傾けておくと、ディテクター（Ｄ）に受光される
偏光は、ベクトル１１′又は１２′のＡ軸に対する写影
ベクトルＯＭｍ又はＯ町で表わされる。

従って、ディテクターＣＤ）の再生信号強度（８）は、
光強度が光ベクトルの２乗で表わされることから、（Ｏ
Ｍ、）”　−（ＯＭ、）！に比例することになる。

韮、は第２図から明らかなようＶｃＯ町′×（２）（４
−θ−６ｘ／　）で表わされ、０町はｏｘｌＸａｎｓ　
（ｔ−θ十〇ｘ′）で表わされるから、 ５−ｄＩ）ｌ−（ル、）雪＝（工、′×幅（計θ−θｘ
′））２Ｆ、、　×部（５・−ｅ−＋−θ−’））”と
なる。

ところで、（９，′ア＝（戎′）２であるから、３　ｏ
ｃ　（ｏＸ１’　）　”　×（（２）２（晋−〇−θに
′）−が（チーθ−θ区′））となり、 Ｓ　ｏｃ　（ａ、’）”ｘ　（ｓｉｎ　２θ）・２ｓｌ
ｎ　ｅＫ’・ａ　Ｏ’・・・式２）（７） と展開される。

ここに於いて、廁θ区′は第２図を簡単にした第２Ａ図
から明らかなように、出θ、／　＝　、ｌ　／　Ｏ町′
で表わされ、αθに′は房θに’　＝＝　ｚｐ／　ＯＫ
、’で表わされる。

ところでベクトル０ＩＫＩのＯＫ、′への変化は、ビー
ムスプリッタ−（Ｂ　Ｓ）の透過によってもたらされる
のであるから、第２Ａ図に於いて０町のｐ成分ベクトル
に等しい長さを有するｙとＯｘ！′のｐ成分ベクトルに
等しい長さを有するｙ′とは、（ｙ’）　！／　ｆ　＝
　Ｔｐ・・・・・・・・・　（式３）（Ｔｐはｐ偏光の
透過率） という関係がちシ、Ｓ成分については、（ｘ’）”　／
　ｘ２−　Ｔｍ　・−”　（式４）（Ｔｓは８偏光の透
過率） という関係がある。そして、第２Ａ図から、ｘ　＝　Ｏ
Ｋ＠　Ｘｃｌｊｓａｔ　、　）ｒ＝＝　ＯＫＩ　Ｘ　ｇ
ｌｎθにという関係が知れるから、 ｘ’　＝　０１１　Ｘ　ｃａｓθＫｘメゾｙ′＝　１）
ＫＩ　Ｘ５ｉｎ　ｅＫ　Ｘ　ｎの関係式が得られ、その
結果 （８） となる。

これらのｍ１ｎ１１ｘ′及び匪θ藍′の値全上述の式２
に代入すると、上述の式２は、 Ｓ　”　−ｔｄｒ＋　２θＸ２Ｘ　（ｏｘｔ）”　Ｘ　
ｐ×出θに一■θ区・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・（式５）と展開される。

ここでＯ町は記録媒体の反射光であるから、その強度（
ｏｘｌ）　”は、記録媒体（Ｍ）Ｋ入射する光ベクトル
Ｏ−の強度（Ｏｌｌ）”Ｋ、記録媒体ＣＭ）の反射率Ｒ
Ｖｌ−乗じたものに等しい。そして、記録媒体への入射
光の強度ＣＩ）は、上述の式ｌから１＝１１１１・Ｒｕ
であるから （”＋）”＝　（Ｏす”　Ｘ　Ｒ＝　ＩＸＲ＝　Ｉｓｔ
　−Ｒａ　ＩＲとなる。

従って、この関係式を上述の式５に代入すると、Ｓ”−
ａｌｎ２θｘ２ＸＩｓｓＸＲｇＸＲｘメチ配×庫θＫ”
ＣｍｆｌＫ＝　Ｉ＠ｌ　・Ｒ−ＫＩ４−ｇｌｎ　２θ区
ｍ１１２０−・・・−Ｃ式６）（９） 従って、記録媒体（Ｍ）の反射率Ｒが一定、カー回転角
が一定、アナライザー（Ａ）の軸の傾きθが一定とすれ
ば、弐６は、 Ｓ　”　Ｉａｔ　−Ｒｓ〆詣野・・・・・・・・・・・
・・・・（式７）以上の論理展開は信号光検出系（Ｎ）
が直接法（第１Ａ図）である場合について行なったが、
差動法（第１Ｂ図）についても、はぼ同様に展開され、
再生信号強度（Ｓ）は Ｓ”Ｉｓｗ・Ｒ鹸１ｉ〒・・・・・・・・・・・・・・
・（式７）が成立する。

してみると、再生信号強度（８）は、式７の右辺の値が
大きい程大きくな、り、Ｓ／Ｎ比は向上する。

しかしながら、記録媒体（Ｍ）　Ｋ照射される光強度を
表わすＩｎｘ・Ｉｔｓは、媒体（Ｍ）　Ｉｃよって最適
範囲があり、むやみに高めることはできない。伺故なら
ば、仮に本装置を再生に使用する場合に、Ｉｓｗ・Ｒｓ
は余りに小さいと読み取りが不可能に々るし、余りに大
きいと照射部分の温度が向上して記（１０） 録を消去するか記録の強度を低下させることになるので
、最適強度範囲が自ずと決まってくるからである。

従って、再生の場合の最適光強度をＩｎとすれば、式ｌ
よｐ Ｉｍ＝＝Ｉｓｔ　・Ｒ１・・・・・・・・・・・・・・
・・・・（弐８）となり１式７は、 ８　”　ＩｍＶ１１５１〒を二 と書き換えられ、■Ｂ＝ｘ一定であるから８５大きくす
るＫは、Ｖ］７ｈ−會高くすればよい。

ところでＴｓは、ビームスプリッタ−に吸収がないとす
ればＴａ　＋　Ｒａ　ｘ　１であるから、Ｒ−を小さく
すればＴ１を大きくすることができる。式８から今Ｉ社
り十分に大きな光強度（Ｉｓｒ）を与えるハイパワーの
光源を入手することができるとすれば（事実、入手可能
である）、Ｒ１け小さくする（例えば２５Ｘ程度）こと
ができ、その結果Ｔ１は大きくなり、一方Ｔｐはこの場
合無関係であるから可能な限ｐ】に近ずければ１／１肩
７は理論的最大値ＩＲ近すき、その結果、再生信号強度
（８）は向上することになる。

（１１） 他方、同じ装置を同じ光源を用いて記録・消去も実行し
ようとすると、記録媒体ＣＭ）に照射される光強度（Ｉ
ｇｒ・Ｒｓ　）にもまた最適光強度（Ｉｗ）があり、光
強度が余りに小さいと記録・消去が不可能であるし、余
りに大きいと記録媒体を焼却破壊する恐れがあるので、 Ｉｗ＝Ｉｇｔ・Ｒｓ・・・・・・川・・・・・・・・・
・・・（式９）としなりればならない。従って、記録・
消去の場合にはビームスプリッタ−のＲｓが小さいとＩ
ｓｔつまｐは光源の光強度を相当に高くしなければなら
ない。

一般にｒｗはＩＲの数倍とされているから、記録・消去
の場合には光源の光強度を数倍にしなければならず、そ
のようなハイパワーのレーザー光源を入手することは、
現在のところ困難か、又は仮に入手できても、光源のエ
ネルギーの相当な割合を無駄に捨てることになる。

そのような理由から、記録・消去時は、ビームスプリッ
タ−（Ｂ　Ｓ）の８偏光反射率（Ｒｅ）は出来るだけ高
い方が好ましい。

（１２） 以−Ｆ述べたとおり、再生時はＲＩｌは出来るだけ低い
方が好ましく、記録及び消去時はＲｇは出来るだけ高い
方が好ましいが、１つのビームスプリッタ−（ＢＳ）で
そのような特性を持つものを入手するのは不可能である
。

以上の論理展開は８偏光に代えてｐ偏光を使用した場合
にも同様に可能であり、この場合には式％式％ となり、ｐ偏光反射率ＲｐについてもＲ−と同様のこと
が言える。

更にまた、第３図に示すようにビームスプリッタ−（Ｂ
　Ｓ）を透過したビームを媒体（Ｍ）　Ｋはぼ垂直に照
射し、媒体ＣＭ）で反射された信号光を（Ｂｅに導き、
（ＢＳ）での反射されたビームを信号光検出系（Ｎ）に
受光させる再生製電に於いても、同様の論理展開ができ
、 Ｓ偏光の場合：Ｓ”ｌｓｒ％ｒ＊〆１１ＴＰ偏光の場合
：　Ｓ　”　Ｉｐｔ・’Ｉ’ｐ〆ＲｐＲｓが成立する。

（Ｔ３） （発明の目的） 従って、本発明の目的は、再生時並びに記録・消去時の
各々に適した偏光反射率又は透過率を有するビームスプ
リッタ−を備えた効率の高い磁気光学記録再生装置を提
供することにある。

（発明の概要） 本発明者らは尚初ビームスプリッタ−を２種設けること
を試みたが、２種のビームスプリッタ−を機械的に交互
に変換する駆動系が複雑になる欠点が生じ、また２種の
ビームスプリッタ−と各々にレーザー光源を設ける試み
は、装置の主要部を納めるピックアップが大きく重くな
ってしまい、ピックアップの機械的駆動系の負担が大き
くなる欠点があり、いずれも実用的ではなかった。

そこで更に研究を進めた結果、ビームスプリッタ−の中
でも、無機誘電体の多層干渉膜を主体とするものは、波
長によって偏光反射率又は透過率を変えて設計、製作す
ることは可能であることを知り、再生時と記録・消去時
に各々波長の異なる偏光ビームを使用することを着想し
、本発明を成（１４） すに至った。

即ち、本発明は記録及び消去用に波長λ１の偏光ビーム
と、再生用にλ１と異なる波長λ、の偏光ビームとを発
する光源（Ｌ）を備え、波長１重の偏光ビームをビーム
スプリッタ−（Ｂ　Ｓ）を経て磁気光学記録媒体ＣＭ）
にｔｌは垂ｉｆに照射することにより記録又は消去を行
ない、波長λ、の偏光ビームを前記ＣＢＳ）を経て前記
媒体（Ｍ）にｌミは垂直に照射し、媒体ＣＭ）で反射さ
れた信号光を再び前記（Ｂ　Ｓ）を経て信号光検出系（
Ｎ）で受光させて電気信号として再生する磁気光学記録
再生装ｆｊｌＫ於いて、前記（Ｂ　Ｓ）として、波長λ
１の偏光ビームに対して射出光強度／入射光強度の割合
が高く、波長λ、の偏光ビームに対して射出光強度／入
射光強度の割合が低い三波長ビームスプリッタ−（ＤＢ
８）を使用することを特徴とする磁気光学記録再生装置
を提供する。

本発明に於いて、互いに波長の異なる２本のビームを得
るのに単一の光源（Ｌ）で済ませることもできるが、現
在のところスケールが大きくなりす（１５） ぎて実用化は難しいので、各々に別の光源（Ｌｌ）。

（Ｌ、）を使用することが好ましい。

以下、実施例によシ本発明を具体的に説明する。

（実施例１） 本例の記録再生装置は、第４図（磁気光学記録媒体Ｍを
除く）に示すように、波長λ１”７８０ｎｍの記録・消
去用レーザービームを発する光源（Ｌｌ）と、それに並
列に並べた波長λ＊　＝　８３　Ｑｎｍの再生用レーザ
ービームを発する光源（Ｌ、）と、三波長ビームスプリ
ッタ−（ＤＢＳ）と、信号光検出系（ロ）とからなる。

信号光検出系は第１Ａ図又は第１Ｂ図に示すものと同じ
である。

本例に用いるＤＢＳは、第５図（断面図）に示すように
屈折率ｎ＝＝１．７２のガラスプリズム（Ｇ）の斜面に
Ｔｉｅ、とＳｉｎ、との多層誘電体膜（Ｍ　Ｌ）を形成
した後、その上に同一のプリズム（Ｇ）を密着さ特性を
第７図に示す。

第７図から明らかなように、このＤＢＳは波長（１６） λ−７ＢＯｎｍのｐ偏光入射うＹ；に対（７て反射率１
１ｐξ０９（、透過率Ｔｐζ］００５ｇで同８偏光入射
光に対して反射率Ｒｇ＃１１１％、透過率Ｔｇζ０％で
あムまた波長λ、＝８３Ｑｎｍのｐ偏光入射光に対して
反射率Ｒｐ　＃Ｏ％、透過率ＴＰζ１００％、同８偏光
に対して反射率Ｒａ　”ｔ　１２％、透過率Ｔｇ＃８Ｂ
％の特性を示す。

ところで、記録媒体（Ｍ）として、ここでは反射率４０
％、カー回転角θに＝０．３５°のＧｄＣｏ磁性薄膜を
有する記録媒体を使用する。この記録媒体ＣＭ）の再生
に最適な光強度Ｉｎは１．５ｍＷで、記録及び消去に最
適な光強度Ｉｗはｆｌ　ｍＷである。

本例の装置に於ける光＃　（Ｌ、　Ｌｘ）からＤＢＳま
での透過効率ｌ′は０．７４でＤＢＳ　から媒体（Ｍ）
までの透過効率ηけｌとみなす。そうすると記録又は消
去時に光源（Ｌ、）から光強度８．１ｍＷ、波長λ諺＝
７８０ｎｍのＢ偏光ビームをＤＢ８に入射させ、その反
射光を記録媒体ＣＭ）に照射すると、ＤＢＳへの入射光
強度Ｌａ＋は８．Ｉ　Ｘ　Ｏ，７４ｍＷであるから、媒
体（Ｍ）に照射される光強度■は式１より（１７） １＝８．１Ｘ０．７４Ｘ１ ＃　６．ＯｍＷ と彦り、これは最適光強度Ｉｗ　＝　６　ｍＷと一致す
る。

一方、再生時には光源（Ｌ、）から光強度１６．９ｍＷ
波長λ１＝８３０ｎｍの８偏光ビーム’ｅＤＢｓに入射
させ、その反射光を記録媒体（Ｍ）に垂直に照射すると
、ＤＢＳに入射する光強度Ｉ＋＋ｔはｌ　６．９　Ｘ　
ｌ）、７４ｍＷであるから、媒体ＣＭ）に照射される光
強度は式ｌより Ｉ＝１６．９　Ｘｏ、７４　ＸＯ，１２＃　１．５　ｍ
Ｗ となり、これは最適光強度Ｉｔ　＝　１．５　ｍＷと一
致する。

媒体（Ｍ）で反射された信号光は再びＤＢＳ　’ｉ通っ
て検出系（Ｎ）に受光されるが、その結果式７の右辺は
、 １６．９Ｘ０．７４　ＸＯ，ｌ　２Ｘ）１０．８８　Ｘ
　ｌ　＃　１．４１という値になる。

（比較例１ａ） 実施例１の装置に於いて、仮に光源（Ｌｘ）を使（１８
） 用せずに光臨（Ｌｌ）を用いて記録・消去も実施しよう
とすると、記録・消去に最適の光強度１ｗはこの媒体（
Ｍ）では６　ｍＷであるから、光源（１４）の光強度Ｘ
は、 ６；ｘＸｏ、７４ＸＯ，Ｊ２Ｘ１ からｘ　＝　６７．６　ｍＷ必要である。

しかし、このようにレーザー光源（Ｌ、）のパワーを上
げることは困難であるか、又は仮に上げ得ても高価な光
源になるか、若しくは消費電力が高くなる。それに対し
、実施例１では記録・消去時に８．１ｍＷで済む。

（比較例ｘｂ） 実施例１の装置に於いて、ＤＢＳの代りに最も慣用的な
ハーフミラ−（波長によらずｐ偏光及びＳ偏光入射光に
対して共に反射率透過率５０％である）を使用する。こ
の場合、 （１）記録・消去時には、 ６　＝　ｘ　Ｘ　Ｏ，７４Ｘ　Ｏ，５ ｘ−１６，２ｍＷの光源（Ｌｌ）光強度でなければなら
ず、 （１９） Ｑ）再生時には １．５　＝　ｘ’　Ｘ　Ｏ，７４Ｘ　Ｏ，５ｘ’　＝　
４．１　ｍＷの光源（Ｌ、）光強度でなければならない
。そのため式７の右辺は、 ４、Ｉ　Ｘ　Ｏ，７４Ｘ　Ｏ，５Ｘ　ｙ’　０．５　Ｘ
　Ｏ，５−０，７６という値になる。従って、実施例１
の装置は比較例１ｂの装置に比べて再生信号強度（Ｓ）
が１，４１０．７６　＝　１．８４倍向上していると言
える。

（実施例２） 本例は、第８図（媒体Ｍを除く）に示すように、波長λ
１＝７８Ｑｎｍの記録・消去用レーザービームを発する
光源（Ｌ、）と、波長λｍ＝８３０ｎｍの再生用レーザ
ービームを発する光源（Ｉ４）と、三波長ビームスプリ
ッタ−（ＤＢＳＩ、２）と、再生光細糸（Ｎ）とからな
る記録再生装置である。

ここで用いるＤＢＳ’ｌは、屈折率ｎ　＝　１．５２の
平行平面ガラス板（Ｇ）の片面に多層誘電体膜（ＭＬ）
としてＺｒ０１　（ｎ　＝　２．０　、　ｎｄ　＝　０
．２ｇ４１３λ。）とＭｇＦ’、（ｎ＝１．３８　、ｎ
ｄ＝０．３０２８９λ。）とを交互に２０層（最後の２
０層目はＭｇＦ＊）積層したも（２０） のである。基準波長λ。は６１４．ｙｌｌしている。こ
のＤＢ　８１の分光透過特性グラフを＠９図に示す。

ＤＢ＋３２は基本的には第５図の如き断面構造を有する
もので、ガラスプリズム（Ｇ）の屈折率ｎも特性グラフ
を第１１図に示す。

第９図及び第１１図からＤＢＳＩと２の特性は次の通り
である。

ところで、記録媒体（Ｍ）として、カー回転角０．４度
、記録・消去に最適な光強度Ｉｗ　＝　６．７　ｍＷ。

再生に最適な光強度Ｉｎ＝２ｍＷのＧｄＴｂＦｓ＋磁性
薄膜を有するものを使用する。

（２１） 本例の装置に於ける光源（Ｌｌ　、Ｌｘ　）からＤＢＳ
Ｉまでの透過効率η′は０．７４で、ＤＢＳＩからＤＢ
Ｓ　２までの透過効率り〃及びＤＢＳ２から媒体（Ｍ）
までの透過効率ηはそれぞれｌとみなす。そうすると、
記録・消去時に光源（Ｌｌ　）から光強度９．１ｍＷ、
波長λ□”７８０ｎｍの８偏光ビームをＤＢＳＩに入射
させ、その反射光をＤＢＳ２に入射させ、その反射光を
媒体ＣＭ）に照射すると、媒体ＣＭ）への照射光強度■
は、式ｌより Ｉ　＝　９．Ｉ　Ｘ　Ｏ，７４Ｘ　Ｉ　Ｘ　Ｏ，９９ζ
６．７ｍＷ であり、これは最適光強度Ｉｗ　＝　６．７　ｍＷと一
致する。

一方、再生時に光源（Ｉ４）から光強度９．９ｍＷ、波
長λ１＝８３０ｎｍの８偏光ビームをＤＢＳＩに入射さ
せ、その透過光をＤＢＳ’２に入射させ、その反射光を
媒体ＣＭ）にほぼ垂直に照射すると、媒体ＣＭ）への照
射光強度Ｉは、式１より ■＝９，９　Ｘｏ、７４　Ｘ　Ｏ，９７Ｘｏ、２８ζ２
．０ｍＷ （２２） であり、最適再生光強度ＩＲ＋−２ｒｌＷと一致する。

媒体ＣＭ）で反射された信号光は丙びＤＢＳ２を通って
検出系（Ｎ）Ｋ入射し受光されるが１式７の右辺は ９．９Ｘ０．７４Ｘ０．９７Ｘ０．２８Ｘｌハ嘗１揶１
了＃ｔ６ｓ という値ＶＣなる。

（比較例２ａ） 実施例２の装置に於いて、仮に光源（Ｌｒ）ｔ−使用せ
ずに光源（Ｌ、）を用いて記録・消去も実施しようとす
ると、記録・消去に最適の光強度Ｉｗは、この媒体（Ｍ
）では６．７ｍＷであるから、光源（Ｌ、）の光強度Ｘ
は、式１よ多 ６、７　＝　ｘ　Ｘ　Ｏ，７４Ｘ　Ｏ，９７Ｘ　Ｏ，２
８からｘ　＝　３３．３　ｍＷ必要であり、実施例２の
９．９ｍＷと比べると、約３．４倍となる。

（比較例２ｂ） 実施例２の装置に於いて、ＤＢＳ２の代りにハーフミラ
−を使用する。この場合、 （１）記録・消去時には （２３） ６、７　＝　ｘ　Ｘ　０４７４ＸＩＸ０．５からｘ　”
：　１８．１　ｍＷの光源（Ｌｌ）光強度でなければな
らず、 （２）再生時には ２＝Ｘ’Ｘ０．７４　Ｘｏ、９７　Ｘｏ、５からｘ”；
　５．６　ｍＷの光源（Ｌ、）光強度でなければならな
い。そのため、式７の右辺は、５．６　Ｘ　Ｏ，７４Ｘ
　Ｏ，９７Ｘ　Ｏ，５Ｘ〆０．５　Ｘ　Ｏ，丁場　１．
００ となる。この値を実施例２０１．６８と比較すると、実
施例２の装置の再生信号強度（８）は比較例２ｂのそれ
の１．７倍高いと言える。

（実施例３） 本例は実施例２の変形例であり、本例の装置の全体的な
構成を第１２図（斜視説明図）に示す。

ここで使用するＤＢＳＩは％ｎ＝１．５２の平行平面ガ
ラス板ＣＧ）の片面にＺｒＱ　（ｎ　＝　２．０　、　
ｎｄ　：＝０．２８４１３λ。）とＭｇＦ’、（ｎ＝１
．３８　、ｎｄ＝０．３０２８９λ。）とを交互に２０
層（１層目は基板側でＺｒ０１）積層してなる多層誘電
体膜（ＭＬ）を（２４） 形成したものである。基準波長λ。は６５６ｎｌＴｌで
ある。このＤＢＳ　Ｉの分光透過特性グラフを第１３図
に示す。それによれば７８０ｎｍのｐ偏光入射光に対し
Ｒｐ　＃　９７％で８３０１ｍのｐ偏光入射光に対しＴ
ｐ＃１００％である。

一方、ＤＢＳ　２は、実施例２で使用したＤＢＳ　２と
同じものである。つまり、ＤＢＳ　２は７８０ｎｒｎの
入射光に対し　Ｒｓ＝９９％の特性を有する。

記録媒体（Ｍ）も実施例２で使用したものと同じもの（
Ｉｓ＋　＝　２　ｍＷ　、　Ｉｗ　＝　６．７　ｍＷ）
　ｆ使用する。

本例の装置に於ける光源（Ｌ＋　＋　Ｌｍ）からＤＢＳ
１までの透過効率ダ′は０．７４で、ＤＢＳ　１からＤ
ＢＳ２までの透過効率η〃及びＤＢＳ２から媒体ＣＭ）
までの透過効率ダはそれぞれｌとみなす。

記録・消去時には、光源（Ｌυからλ、＝７８０ｎｍの
ｐ偏光ビームをＤＢＳ１に入射させ、その反射（２５） 光’１ＤＢｓ２に入射させると、入射面の関係でＳ偏光
として入射することになり、その反射光を媒体（Ｍ）　
Ｋはぼ垂直に照射する。光源（Ｌ、）の光強度を９．４
ｍＷとすると、媒体ＣＭ）に照射される光強度■は、 １＝９．４Ｘ０．７４Ｘ０．９７ＸＩＸ０．９９！：ｉ
６．７ｍＷ であり、これは媒体（Ｍ）の最適記録・消去光強度Ｉｗ
　＝　６．７　ｍＷに一致する。

再生時には、光源（Ｉ４）からλｚ　＝８３０　ｎｍの
ｐ偏光ビームをＤＢＳ　１に入射させ、その透過光をＤ
ＢＳ２に入射させると、入射面との関係でｌ個光として
入射することになり、ＤＢＳ２での反射光を媒体ＣＭ）
にｔ”ｔは垂直に照射し、媒体（Ｍ）で反射された信号
光を再びＤＢＳ２に導き、その透過光を検出系（Ｎ）に
導く。光源（Ｌ、）の光強度は今９７ｍＷであるので媒
体（Ｍ）に照射される光強度ＩはＩ　＝　９．７　Ｘ　
Ｏ，７４Ｘ　Ｉ　Ｘ　Ｏ，２８：２．ＯｍＷ となり、これは最適再生光強度ＩＲ＝　２　ｍＷと一致
（２６） し、また式７の右辺は、 ９．７　Ｘ　Ｏ，７４Ｘ　Ｉ　Ｘ　Ｏ，２８Ｘ〆が汀マ
蓮丁ζ１．７０ とな力、比較例２ｂと比べて再生信号強度ＣＢ）は約１
．７倍となる。

尚、実施例２，３に於いて、記録・消去の際に再生用の
ビームを媒体ＣＭ）への照射位置を変えて同時に照射す
ることによｐ、記録・消去の予備チェック又は確認チェ
ックの機能を持たせてもよい。

この場合、記録・消去用のビームが記録媒体ＣＭ）で反
射されて、その反射光がＤＢ８２ｔ−透過して検出系（
Ｎ）に入射し、それが再生用ビームの信号光に対するノ
イズとなることがあるので、その場合にはＤＢＳ２と検
出系（Ｎ）との間に、再生用ビーム（λ１）は透過し、
記録・消去用ビーム（λ、）は反射する干渉フィルター
を挿入するとよい。

（実施例４） 本例の全体構成を第１４図（説明図）に示す。

（Ｌ層）は波長λ１　＝７８０　ｎｍのレーザー光源で
記録・消去用に使用する。（Ｌりは波長λｇ　＝＝　８
３０　ｎｍ（２７） のレーザー光源で再生用に使用する。ＤＢＳ　は実施例
２で使用したＤＢＳ２と同じものである。（Ｆ　Ｒ）は
ファラデーローチーターで入射光の偏光面を４５′回転
させる性質を有する。Ｆは波長λ、＝７８０ｎｍのビー
ムを９９％反射し、波長λ１＝＝８３０ｎｍのビームを
９８％透過する干渉フィルターである。

この干渉フィルターＣＦ）は屈折率ｎ＝１．５２のガラ
ス基板の上に、Ｈ層（ｎ　＝　２．０のＺｒＯ，で光学
的膜厚ｎｄ　＝　０．２５λ。）とＬ層（ｎ　＝　１．
３８のＭｇＦ、で光学的膜厚ｎｄ＝ｏ、２５λ。）とを
基板側から叫ｈＨＬＬ　（）（Ｌ）　ｆｆ　ＨＬＬ　（
ＨＬ）　Ｉ　Ｈの順に２５層積層したもので、第１５図
に示す分光透過特性を有する。

ここで、λ。”８３０ｎｍである。記録・消去時に光源
（Ｌ、）から８偏光ビームをＤＢＳに入射させると、９
９％反射される。その反射光をファラデーローチーター
（ＦＲ）に通すと偏光面は４５°回転する。

（Ｐ　Ｒ）の透過光を干渉フィルター（Ｆ）に入射させ
ると９９％反射される。その反射光を再び（Ｆ　Ｒ）に
通すと偏光面は更に４５６回転させられ、そのため今度
はｐ偏光としてＤＢＳに入射する。ＤＢＳは（２８） ｐ偏光を９９％透過し、ｐ偏光は記録媒体（Ｍ）にｔｌ
は垂直に入射する。

光源（Ｌ、）からＤＢＳへの透過効率η′は０．７４で
ＤＢＳから（ＰＲ）までの透過効率、（Ｆ　Ｒ）から（
乃まで及びその逆の透過効率並びにＤＢＳから媒体ＣＭ
）までの透過効率ηはいずれも１とみなす。従って、光
源（Ｌｌ）の光強度を８．３ｍＷとすると、媒体（Ｍ）
に照射される光強度工は １＝８．３Ｘ０．７４Ｘ０．９９ＸＩ　ＸＩ　Ｘｏ、９
９ＸＩＸＩＸ０．９９ −６．０ｍＷ であυ、ＤＢＳでの損失は僅か２Ｘである。

一方、再生時には光源（Ｌ、）から１偏光ビームをＤＢ
Ｓに入射させると、２８Ｘ反射される。その反射光を記
録媒体（Ｍ）にほぼ垂直に照射し、媒体（Ｍ）で反射さ
れた信号光を再びＤＢＳに入射させ、今度はその透過光
ｆｆｉ　（ＦＲ）を通してＣＦ）に導くと、９９Ｎ透過
して検出系（Ｎ）　Ｋ入射し、受光される。

従って、光源（Ｌ層）の光強度ｆ　９．７　ｍＷとする
と媒体（Ｍ）に照射される光強度■は、式１より、（２
９） Ｉ　＝　９．７　Ｘ　Ｏ，７４Ｘ　Ｏ，２８ζ２．Ｏｍ
Ｗ であり、式７の右辺は ９．７　Ｘ　Ｏ，７４Ｘ　Ｏ，２８ｘ、、’了し■侃可
×０９９＃１．７ となる。

（実施例５） 本例は実施例４の変形例でおり、その全体構成を第１６
図（説明図）に示す。

ＤＢＳは実施例４のそれと同じものであり。

ｏ７８０ｎｍの入射光に対し　Ｒｍ＝９９％／／　Ｔｐ
＝９９％ ａ８３Ｑｎｆｌ＋の入射光に対し　Ｒ［ｌ　＝　２８　
Ｘｔｔ　Ｔｓ＝７２％ Ｉ　Ｔｐ＝９９Ｘ の分光反射透過特性を示す。

ファラデーローチーター（ＦＲ）及び干渉フィルター（
Ｆ）も実施例４のそれと同じものである。

記録・消去時には光源（ＬＩ）から光強度８．３ｍＷ　
、波長λＩ＝７８０ｎｍのｐ偏光ビームをＤＢＳに（３
０） 入射させ、その透過光を（ＦＲ）に導き、それにより偏
光面を４５°回転させた上で干渉フィルターＣＦ）に入
射はせる。干渉フィルター（Ｆ）は７８０ｎｒｌ！の光
は９９％反射するので、はとんどが再び（Ｆ　Ｒ）に入
射し、そこで偏光面が更に４５°回転させられ、その結
果（ＦＲ）からＤＢＳに戻るビームは８偏光としてＤＢ
Ｓに入射１２、ＤＢＳで反射された園側光ビームが記録
媒体（Ｍ）に入射する。

光源（Ｌ、）からＤＢＳまでの透過効率が０．７４で、
ＤＢＳから（ＦＲ）’に通ってフィルター（Ｆ）で反射
され、再び（Ｐ　Ｒ）を通ってＤＢＳに戻る透過効率を
１とみなＬ、ＤＢＳから媒体（Ｍ）までの透過効率を１
とみなすと、媒体（Ｍ）に照射される光強度■は、Ｉ　
＝　８．３　Ｘ　Ｏ，７４Ｘ０．９９ＸＩ　Ｘｏ、９９
Ｘ０．９９−６．ＯｍＷ となる。

一方、再生時には光源（Ｌ２）から光強度９．７　ｍＷ
、波長λ、−８３０１ｍの４５°偏光ビームをフィルタ
ー（Ｆ）に通すし、フィルター　（Ｆ）は５３ｏｎｒｐ
の光を９９％透過する。フィルター（、Ｆ）を透過した
４５゜（３］） 偏光ビームは（Ｆ”Ｒ）を通ると偏光面が４５°回転さ
せられて、Ｂ偏光としてＤＢＳに入射する。そしてＤＢ
Ｓで反射された８偏光は媒体ＣＭ）にほぼ垂直に入射す
る。

媒体ＣＭ）で反射された信号光は再びＤＢＳを通して検
出系（Ｎ）に導く。その結果、光源（Ｌりからフィルタ
ーＣＦ）　ｔでの透過効率’ｉｉＯ，７４、フィルター
（Ｆ）からＤＢＳまでの透過効率を１．ＤＢＳから媒体
（Ｍ）　ｔでの透過効率を１とすると、媒体（Ｍ）に照
射される光強度工は、 Ｉ　＝　９．７　Ｘ　Ｏ，７４Ｘ　Ｏ，９９Ｘ　Ｉ　Ｘ
　Ｏ，２８ζ２．ＯｍＷ となる。また、式７の右辺は、 ９．７Ｘ０．７４Ｘ０．９９ＸＩＸ０．２８Ｘメ己１ｉ
コ９＃１．７となる。

以上の実施例１〜５で光源としてλ１＝７８０ｎｍλ１
＝８３０ｎｍの２種類のレーザー光源を使用したが、現
在のところ容易に入手し得る光源がそれらであるから使
用したまでで、入手可能ならば他の波長の光源を使用し
てもよいことはもちろんであ（３２） る。

また、第１７図のようが構成の記録再生装置も考えられ
るが、現在のところ適当なりＢＳが入手するのは難しい
。

（発明の効果） 以上の通ｐ、本発明によれば記録・消去時に光源のパワ
ーが高効率で利用されるので相対的に小さなパワーで済
み、再生時には高い再生信号強度（Ｓ）が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の磁気光学再生装置の概念的構成を示す説
明図である。 第１Ａ図及び第ＪＢ図は信号光検出系（Ｎ）の構成を示
す説明図である。 第２図は光ベクトルの説明図である。 第２Ａ図は第２図の部分図である。 第３図は、従来の磁気光学再生装置の概念的構成を示す
説明図である。 第４図は本発明の実施例１にかかる装置の概念的構Ｍ、
′ｔ−示す説明図である。 （３３） 第５図は三波長ビームスプリッタ−（ＤＢＳ）の断面図
である。 第６図はＤＢＳに使用される多層＠電体膜の層構造図で
ある。 第７図はＤＢＳの分光反射特性グラフである。 第８図は実施例２の装置の概念的構成を示す説明図であ
る。 第９図はＤＢＳの分光透過特性グラフである。 第１０図はＤＢＳに使用される多層誘電体膜の層構造図
である。 第１１図はＤＢＳの分光反射特性グラフである。 第１２図は実施例３の装置の概念的構成を示す説明図で
ある＠ 第１３図はＤＢＳの分光透過特性グラフである。 第１４図は実施例４の装置の概念的構成を示す説明図で
ある。 第１５図は干渉フィルターの分光透過特性グラフである
。 第１６図は実施例５の装置の概念的構成を示す説明図で
ある。 （３４） 第１７図は他の夾施例の装置の概念的構成を示す説明図
である。 〔主要部分の符号の説明〕 Ｌｐ　ＬＩ　＋　Ｉ４・・・・・・・・・・・・レーザ
ー光源ＤＢＳ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・三波長ビームスプリッタ−Ｎ・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・信号光検出系Ｍ・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・磁気光学記録媒休出１私＝叩ム愈Ｙロ…式会捺 ■１４ヨ１１−叙＝→１−褐 （３５） 第１表（第６図の符号の説明） （３６） 第２表（第１０図の符号の説明） （３７） 士７図 反射率（％９ 波長ユ（ｎ塵） 才９図 誘■♀（％） １７７− ７′１０図 　ＢＳ２ ７１３図 盪過奪（弼 波長（ｒＬ机）

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、　記録及び消去用に波長λ諺の偏光ビームと、再生
   用にλ、と異なる波長りの偏光ビームとを発する光源（
   Ｌ）を備え、波長λ、の偏光ビームをビームスプリッタ
   −（Ｂ８）？経て磁気光学記録媒体ＣＭ）にはは垂直に
   照射することによシ記録又は消去を行ない、波長λ、の
   偏光ビームを前記（Ｂ８）ｔ−経て前記媒体（Ｍ）にほ
   ぼ垂直に照射し、媒体（Ｍ）で反射された信号光を再び
   前記（Ｂ　Ｓ）を経て信号光検出系（Ｎ）で受光させて
   電気信号として再生する磁気光学記録再生装置に於いて
   、前記（Ｂ　Ｓ）として、波長λ１の偏光ビームに対し
   て射出光強度／入射光強度の割合が高く、波長λ、の偏
   光ビームに対して射出光強度／入射光強度の割合が低い
   三波長ビームスプリッタ−（ＤＢＳ）　’ｉ使用するこ
   とを特徴とする磁気光学記録再生装置。 （１） ２、　前記光源（Ｌ）が波長λ□の偏光ビームを発する
   光源（Ｌｌ　）と波長λ、の偏光ビームを発する光源（
   Ｌ、）とからなることを特徴とする特許請求の範囲第１
   項記載の磁気光学再生記録装置。 ３、前記三波長ビームスプリッタ−（ＤＢＳ）が波長λ
   １の偏光ビームに対する反射率が７０％以上で、波長λ
   ８の偏光ビームに対する反射率が５０％未満で、かつ該
   波長λ！の入射光の偏光面と直交する偏光面を有する波
   長λ宜の偏光ビームに対する透過率が７０％以上である
   ことを特徴とする特許請求の範囲第１項又は第２項記載
   の磁気光学記録再生装置。