JPS60149941A - 光ヘツドの出射光波面収差検知方法および装置 - Google Patents
光ヘツドの出射光波面収差検知方法および装置Info
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- JPS60149941A JPS60149941A JP59000084A JP8484A JPS60149941A JP S60149941 A JPS60149941 A JP S60149941A JP 59000084 A JP59000084 A JP 59000084A JP 8484 A JP8484 A JP 8484A JP S60149941 A JPS60149941 A JP S60149941A
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- G01M11/06—Testing the alignment of vehicle headlight devices
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- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、光ヘッドの出射光波面収差検知方法および
装置に関するものであり、さらに詳しく〜・５と、光デ
ィスクを用いた″ｒＨ報記録、再生装置に用いられる光
ヘッドから出射される光束の波面に含まれる収差を検知
するための出射光波面収差検知方法および装置に関する
ものである。
装置に関するものであり、さらに詳しく〜・５と、光デ
ィスクを用いた″ｒＨ報記録、再生装置に用いられる光
ヘッドから出射される光束の波面に含まれる収差を検知
するための出射光波面収差検知方法および装置に関する
ものである。
近年、光学的記碌媒体を用いた情報処理装置の開発が盛
んに行われており、たとえば、ＰｈｌＪｉｐｓ社規格に
よるＶＬＰ方式光ビデオディスク、Ｐｈ１２ｉｐｓ−８
ｏｎｙ社規格によるＣＤ方式デジタルオー効ディスクな
どは、民生用の読出し専用画像、オージオ媒体として市
場に定着しつつある。さらに、追加記録可能または記録
消去可能な光デイスクシステム等については、上記のＶ
ＬＰ方式、ＣＤ方式のように規格統一こそされていない
が、技術発表は活発に行われており、近い将来の大容量
情報蓄積手段として、その期待は太きい。また、かかる
各方式光デイスクシステムの概要については、たとえば
、神馬：１ビデオディスクとその仲間たち」 。
んに行われており、たとえば、ＰｈｌＪｉｐｓ社規格に
よるＶＬＰ方式光ビデオディスク、Ｐｈ１２ｉｐｓ−８
ｏｎｙ社規格によるＣＤ方式デジタルオー効ディスクな
どは、民生用の読出し専用画像、オージオ媒体として市
場に定着しつつある。さらに、追加記録可能または記録
消去可能な光デイスクシステム等については、上記のＶ
ＬＰ方式、ＣＤ方式のように規格統一こそされていない
が、技術発表は活発に行われており、近い将来の大容量
情報蓄積手段として、その期待は太きい。また、かかる
各方式光デイスクシステムの概要については、たとえば
、神馬：１ビデオディスクとその仲間たち」 。
自然、’／９１３．４月号や浮田、金子＝「光デイスク
記憶技術の動向」 、電子通信学会誌、 Ｖｏｆ、／
。
記憶技術の動向」 、電子通信学会誌、 Ｖｏｆ、／
。
／、 ｔ 、１１６ｇ 、 Ｄｐｇ、３！ｒ等に記載さ
れている。
れている。
かような光デイスクシステムにあっては、ディスクへの
情報書込みおよびディスクからの情報読出しを行うのに
ディスク情報面上に微小光スポットを照射する必要があ
り、このような集光光学系を光ヘッドと称している。
情報書込みおよびディスクからの情報読出しを行うのに
ディスク情報面上に微小光スポットを照射する必要があ
り、このような集光光学系を光ヘッドと称している。
かかる光ヘッドを第１図について説明すると、レーザ光
源／から出射した光束コはコリメートレンズ３によって
平行光化され、ビームスプリッタリを透過して集光レン
ズＳにより光ディスク乙の情報面のトラック上に照射さ
れる。光ディスク６には情報単位であるピット７が含ま
れ、ピット７０列によって情報トラックｇが構成されて
いる。
源／から出射した光束コはコリメートレンズ３によって
平行光化され、ビームスプリッタリを透過して集光レン
ズＳにより光ディスク乙の情報面のトラック上に照射さ
れる。光ディスク６には情報単位であるピット７が含ま
れ、ピット７０列によって情報トラックｇが構成されて
いる。
また光ディスク乙には情報ピット７を含む面を汚し
杉、傷等から保護するためのガラス、アクリル等でなる
透明保護層９が被覆されている。光ディスク６は通常、
円盤状のもので、モータによって回転駆動される。
透明保護層９が被覆されている。光ディスク６は通常、
円盤状のもので、モータによって回転駆動される。
トラックｇによって変調されたディスク反射光束ＩＯは
、ビームスプリッタ弘により光束コと分離されて光検知
器／／に入射する。光検知器／／はトラックｇで変調さ
れた反射光束１０の光強度変化を電気信号に変換し、端
子／、！より出力する。
、ビームスプリッタ弘により光束コと分離されて光検知
器／／に入射する。光検知器／／はトラックｇで変調さ
れた反射光束１０の光強度変化を電気信号に変換し、端
子／、！より出力する。
この出力は以後、信号処理回路（図示せず）により処理
され、読出し情報として活用される。
され、読出し情報として活用される。
逆に、情報の書込みを行うときには、出射光束−の強度
を光変調器（図示せず）により適宜に変化させてトラッ
クざ上にピット７の形で記録する。
を光変調器（図示せず）により適宜に変化させてトラッ
クざ上にピット７の形で記録する。
以上は、主としてＶＬＰ方式、ＣＤ方式の光ディスクを
念頭においての説明であるが、他の方式、たとえば光磁
気効果を利用する光デイスクシステム、相転移を利用す
る光デイスクシステム等であっても、微小スポット集光
光学系を用いている限り、この発明の対象になることを
付言しておく。
念頭においての説明であるが、他の方式、たとえば光磁
気効果を利用する光デイスクシステム、相転移を利用す
る光デイスクシステム等であっても、微小スポット集光
光学系を用いている限り、この発明の対象になることを
付言しておく。
さて、光デイスクシステムにおいては、情報を高密度に
記録できるということが大きな特長の１つであることか
ら、光ディスクへの集光光束は回折限界近くまで絞られ
ることを要する。これをＣＤ方式を例にとると、第２図
の情報面について、情報トラックの幅Ｗ−θＳμｍ、）
ラックピッチＰ＝７７、ｌＬｍとなっている。かように
微小なトラックｇからの情報読出しを、ｖ、ｉ接トラッ
クからのクロストークなくなしうるためには、集光光束
のスポット１３の直径φをトラックピッチＰ以下程度に
小さくする必歇がある。回折限界におけるスポット直径
φが、集ブＣレンズのＮ Ａ （Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ、
Ａｒ＋ｐｅｒｔｕｒｅ５）、光の液入λを用いて、は
ばλ／ＮＡで与えられることはよく知られている。ＣＤ
方式におい又は、半導体レーザの現状における量産的最
短波長であるλ＝０７ざｔｒｍ Ｋ対し、集光レンズＳ
とし”’ＣＮＡ＝ＯＪのものを使用することによつ又回
折限界光束径とし℃λ／ＮＡ〜１６μｍが得られ、トラ
ックピッチＰと同程度の値となる。
記録できるということが大きな特長の１つであることか
ら、光ディスクへの集光光束は回折限界近くまで絞られ
ることを要する。これをＣＤ方式を例にとると、第２図
の情報面について、情報トラックの幅Ｗ−θＳμｍ、）
ラックピッチＰ＝７７、ｌＬｍとなっている。かように
微小なトラックｇからの情報読出しを、ｖ、ｉ接トラッ
クからのクロストークなくなしうるためには、集光光束
のスポット１３の直径φをトラックピッチＰ以下程度に
小さくする必歇がある。回折限界におけるスポット直径
φが、集ブＣレンズのＮ Ａ （Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ、
Ａｒ＋ｐｅｒｔｕｒｅ５）、光の液入λを用いて、は
ばλ／ＮＡで与えられることはよく知られている。ＣＤ
方式におい又は、半導体レーザの現状における量産的最
短波長であるλ＝０７ざｔｒｍ Ｋ対し、集光レンズＳ
とし”’ＣＮＡ＝ＯＪのものを使用することによつ又回
折限界光束径とし℃λ／ＮＡ〜１６μｍが得られ、トラ
ックピッチＰと同程度の値となる。
以上のように、光ヘッドでは、はぼ回折限界に近い光学
的集光性能が要求されることから、光源ｌにはじまり光
ディス上のスポット／３に至る光学系構成要素の収差性
能を、それぞれ厳密に管理する必要がある。一方、定量
的に回折限界光学系の許容収差を示す規範として、たと
えばＭａｒｄｃｈａＪは、収差のＲＭＳ （Ｒｏｏｔ
Ｍｅａｎ ５ｑｎａｒｅ）値がλ／ｌ′Ｉ以下になるべ
きであると述べている（Ｍ、ホルン、Ｅ。
的集光性能が要求されることから、光源ｌにはじまり光
ディス上のスポット／３に至る光学系構成要素の収差性
能を、それぞれ厳密に管理する必要がある。一方、定量
的に回折限界光学系の許容収差を示す規範として、たと
えばＭａｒｄｃｈａＪは、収差のＲＭＳ （Ｒｏｏｔ
Ｍｅａｎ ５ｑｎａｒｅ）値がλ／ｌ′Ｉ以下になるべ
きであると述べている（Ｍ、ホルン、Ｅ。
ヴオルフ著、草用他訳「光学の原理」東海大学出版会）
。第１図に示した構成では、収差を生じる要因としては
、光源／自身の有する収差、コリメートレンズ３、ビー
ムスプリッタ弘および集光レンズ５の不完全性ならびに
アラインメント不整に伴う収差、透明保護層９の光学的
不完全性による収差等を挙げることができる。このうち
、光ディスク乙の透明保護層りによつ℃付加される収差
以外が光ヘッドの収差である。前記Ｍａｒ６ｃｈａＬ規
範を満足するために、波長λの光源を用いた光ヘツドの
許容収差と、透明保護層？の許容収差を、たとえば、そ
れぞれ−え虐等分に割振ることにするとなる。
。第１図に示した構成では、収差を生じる要因としては
、光源／自身の有する収差、コリメートレンズ３、ビー
ムスプリッタ弘および集光レンズ５の不完全性ならびに
アラインメント不整に伴う収差、透明保護層９の光学的
不完全性による収差等を挙げることができる。このうち
、光ディスク乙の透明保護層りによつ℃付加される収差
以外が光ヘッドの収差である。前記Ｍａｒ６ｃｈａＬ規
範を満足するために、波長λの光源を用いた光ヘツドの
許容収差と、透明保護層？の許容収差を、たとえば、そ
れぞれ−え虐等分に割振ることにするとなる。
光ヘツド全体としての出射光束を以上のように定量的に
管理することは、良質な読出し信号を再生し、良質に情
報を書込む光ヘッドを具現する上で不可欠である。しか
し、従来技術においては、かかる課題に対応する適切な
方法、装置を欠如していた。
管理することは、良質な読出し信号を再生し、良質に情
報を書込む光ヘッドを具現する上で不可欠である。しか
し、従来技術においては、かかる課題に対応する適切な
方法、装置を欠如していた。
この発明は、以上の事情に鑑みてなされたもので、光ヘ
ツド出射光束の波面収差を観測して、出射光束を定量的
に管理しうる方法、装置を提供することを目的とするも
ので、出射光の集光光束を平行化し、平行化した光束を
コ方向Ｏ第１．第ユの光束に分割し、第１の光束のビー
ム径を拡大したのち第２の光束と合波し、合波した光束
の干渉縞を観測することにより、上記の目的を達成しう
る光ヘッドの出射光波面収差検知方法および、装置を実
現するものである。
ツド出射光束の波面収差を観測して、出射光束を定量的
に管理しうる方法、装置を提供することを目的とするも
ので、出射光の集光光束を平行化し、平行化した光束を
コ方向Ｏ第１．第ユの光束に分割し、第１の光束のビー
ム径を拡大したのち第２の光束と合波し、合波した光束
の干渉縞を観測することにより、上記の目的を達成しう
る光ヘッドの出射光波面収差検知方法および、装置を実
現するものである。
この発明の一実施例装置を示す第３図において、／りは
第１図の光ヘッドの集光レンズＳを除く光学系を示す。
第１図の光ヘッドの集光レンズＳを除く光学系を示す。
光ヘッド／Ｓの集光レンズｊの出力側に透明保護層９と
等価な光学的厚みを有する透明平行板／＆、焦点を集光
レンズタの焦点／７に合わせて配置したコリメートレン
ズ／ｇ、コリメートレンズ／、ｇからの平行光束／デを
透過光束２０と反射光束、２／に分離するノ・−フミラ
ー２．２を配置する。透過光束、２０が入力するビーム
エキスパンダ、２３は焦点ｆを共有する２群のレンズ２
μ。
等価な光学的厚みを有する透明平行板／＆、焦点を集光
レンズタの焦点／７に合わせて配置したコリメートレン
ズ／ｇ、コリメートレンズ／、ｇからの平行光束／デを
透過光束２０と反射光束、２／に分離するノ・−フミラ
ー２．２を配置する。透過光束、２０が入力するビーム
エキスパンダ、２３は焦点ｆを共有する２群のレンズ２
μ。
２Ｓでなり、透過光束２０の径を拡大するものである。
さらに、拡大された光束コロをｑｄ曲折するミラー２７
、ヴ！傾斜したハーフミラ−２ｇを配置する。一方、反
射光束ユ／に対しては、ミラー、２９を設け′″Ｃ９σ
Ｃ９σ曲折された反射光束、２／はハーフミラ−２ｇで
反射して拡大された光束、２４と同一方向に向かい、つ
いたて３０上に投射される。
、ヴ！傾斜したハーフミラ−２ｇを配置する。一方、反
射光束ユ／に対しては、ミラー、２９を設け′″Ｃ９σ
Ｃ９σ曲折された反射光束、２／はハーフミラ−２ｇで
反射して拡大された光束、２４と同一方向に向かい、つ
いたて３０上に投射される。
第弘図はついたて３０への投影光のバタンを示し、拡大
された光束２乙の投影３１の中央部に反射光束２／の投
影３λがあられれ、投影３．２内に光束２／、、Ｚ６の
干渉によって生じた干渉縞３３が発生している。
された光束２乙の投影３１の中央部に反射光束２／の投
影３λがあられれ、投影３．２内に光束２／、、Ｚ６の
干渉によって生じた干渉縞３３が発生している。
次に、以上の構成でなる装置によるこの発明の方法およ
び装置の動作を、併せて詳細に説明する。
び装置の動作を、併せて詳細に説明する。
透明板／６は、第１図における透明保護層りと光学的に
等価な要素である。一般に、集光レンズＳは、かかる透
明板／Ａが、出射、集光光束中に挿入されたときに、集
光波面に加えられる球面収差を相殺するように設けられ
ているので、透明板／６を設けたことにより、集光点１
７は光ディスクの情報面に集光されたとき、同等の波面
収差を伴った投影となる。透明板／６を特に光学的に均
一性のすぐれた、たとえばＲＭＳで表示する波面収差が
０．０ ／λ以下程度のものを使用すれば、透明保護層
ワの有する収差の影響をほぼ除去した光ヘツド自身の有
する収差が、集光点／７に与えられるのである。しかし
、透明保護層９を有しない光ヘッドでは、上記の透明板
１６を省略できることはいうまでもない。
等価な要素である。一般に、集光レンズＳは、かかる透
明板／Ａが、出射、集光光束中に挿入されたときに、集
光波面に加えられる球面収差を相殺するように設けられ
ているので、透明板／６を設けたことにより、集光点１
７は光ディスクの情報面に集光されたとき、同等の波面
収差を伴った投影となる。透明板／６を特に光学的に均
一性のすぐれた、たとえばＲＭＳで表示する波面収差が
０．０ ／λ以下程度のものを使用すれば、透明保護層
ワの有する収差の影響をほぼ除去した光ヘツド自身の有
する収差が、集光点／７に与えられるのである。しかし
、透明保護層９を有しない光ヘッドでは、上記の透明板
１６を省略できることはいうまでもない。
さ壬、以上のようにして得た集光点／７を、まず、コリ
メートレンズ／ｇで平行光化し、ノ・−フミン−２ノで
二分割する。以後、ハーフミラ−２２゜２ｇおよびミラ
ー、２７．２９からなる光路配置は、マツハ−ツエンダ
干渉計（［光学的測定ハンドブックＪ ｏ、ｐ、コ２９
．朝倉書店、７９ざ／）として知られている装置と原理
的に同等である。ただ、この発明の装置では、ハーフミ
ラ−２スで分割した光路のうち、ハーフミラ−，２，２
を透過した光束コク中に、ビームエキスパンダー３を配
置して光束径を拡大し℃いる点、従来のマツノ・−ツエ
ンダ干渉計とは相違しており、この発明の大きな特長で
ある。すなわち、ビームエキスパンダ２３で直径がｎ倍
に拡大された光束λ６は、拡大前の透過光束、２０に比
して単位面積当りの波面収差がほぼｌ／♂に比例して小
さくなるという性質があるため、仮りに、ｎ ＝ ７０
として７０倍に光束径を拡大した光束２乙の波面収差は
、もとの平行光束１９に対して、同一面積で比較したと
き、はぼｌ／ｌＯθとなり、無視しうる小さな波面の乱
れを有するだけになっている。このような理由により、
適当な拡大倍率ｎを有するビームエキスパンダ２３を用
いることにより、拡大後の光束２６は拡大前の光束−〇
に比して波面収差を測定する際の基準波面となる程度ま
で、小さな収差の波面になし得、反射光束２／と光凍り
６をハーフミラ−２ｇで合波させ、その干渉縞３３をつ
いたて３０上で観測することにより、光ヘッド／Ｓの出
射光束の有する波面収差を検知することができるのであ
る。
メートレンズ／ｇで平行光化し、ノ・−フミン−２ノで
二分割する。以後、ハーフミラ−２２゜２ｇおよびミラ
ー、２７．２９からなる光路配置は、マツハ−ツエンダ
干渉計（［光学的測定ハンドブックＪ ｏ、ｐ、コ２９
．朝倉書店、７９ざ／）として知られている装置と原理
的に同等である。ただ、この発明の装置では、ハーフミ
ラ−２スで分割した光路のうち、ハーフミラ−，２，２
を透過した光束コク中に、ビームエキスパンダー３を配
置して光束径を拡大し℃いる点、従来のマツノ・−ツエ
ンダ干渉計とは相違しており、この発明の大きな特長で
ある。すなわち、ビームエキスパンダ２３で直径がｎ倍
に拡大された光束λ６は、拡大前の透過光束、２０に比
して単位面積当りの波面収差がほぼｌ／♂に比例して小
さくなるという性質があるため、仮りに、ｎ ＝ ７０
として７０倍に光束径を拡大した光束２乙の波面収差は
、もとの平行光束１９に対して、同一面積で比較したと
き、はぼｌ／ｌＯθとなり、無視しうる小さな波面の乱
れを有するだけになっている。このような理由により、
適当な拡大倍率ｎを有するビームエキスパンダ２３を用
いることにより、拡大後の光束２６は拡大前の光束−〇
に比して波面収差を測定する際の基準波面となる程度ま
で、小さな収差の波面になし得、反射光束２／と光凍り
６をハーフミラ−２ｇで合波させ、その干渉縞３３をつ
いたて３０上で観測することにより、光ヘッド／Ｓの出
射光束の有する波面収差を検知することができるのであ
る。
すなわち、ついたて３θ上で得られる干渉縞３３の暗線
間隔は、光ヘッド／Ｓに使用した光源の波長λと等しい
２つの光束の光路差をあられしており、干渉縞３３０等
間隔平行線からのずれの大きさと形を観測することによ
って光ヘッド／左の出射集束光の有する収差の種類、程
度がわかることになる（［光学技術ハンドブックｊ ｐ
、ｐ、 ２９２〜２ＳＯ９朝倉書店、ｔｑｑｓ）。
間隔は、光ヘッド／Ｓに使用した光源の波長λと等しい
２つの光束の光路差をあられしており、干渉縞３３０等
間隔平行線からのずれの大きさと形を観測することによ
って光ヘッド／左の出射集束光の有する収差の種類、程
度がわかることになる（［光学技術ハンドブックｊ ｐ
、ｐ、 ２９２〜２ＳＯ９朝倉書店、ｔｑｑｓ）。
なお、以上の実施例では、ビームエキスパンダ、２３を
ハーフミラ−２２とミラー２７の間に配置したが、これ
をミラー、２７とハーフミラ−，２ｇ間、ハーフミラ−
７２ユとミラー、２９間、あるいはミラー２９とハーフ
ミラ−，２１間に配置しても同様の観測系を構成できる
。また、透明板１６は集光点１７と集光レンズ左の間に
配置したが、コリメートレンズ１ｇ側でもよく、要する
に集光レンズＳとコリメートレンズ１ｇ側であればどこ
に配置しても原理的に光ヘツド出射光束の波面収差状況
は変らず、全く同様の観測ができる。
ハーフミラ−２２とミラー２７の間に配置したが、これ
をミラー、２７とハーフミラ−，２ｇ間、ハーフミラ−
７２ユとミラー、２９間、あるいはミラー２９とハーフ
ミラ−，２１間に配置しても同様の観測系を構成できる
。また、透明板１６は集光点１７と集光レンズ左の間に
配置したが、コリメートレンズ１ｇ側でもよく、要する
に集光レンズＳとコリメートレンズ１ｇ側であればどこ
に配置しても原理的に光ヘツド出射光束の波面収差状況
は変らず、全く同様の観測ができる。
干渉縞３３のコントラストを高めて観測を容易妊するに
は、二つの光束、２／、２１．の断面光束密度が等しい
ことが望ましい。透過光束：ｌＯはビームエキスパンダ
２３によってｎ倍に拡大された後は光束断面の単位面積
当りの光強度がｌ／ｎ’になるので、実際の観測系にお
いてはノ・−フミラー２．２゜２ｇの反射率、透過率の
設定にあたり、この点を考慮して、ついたて３０上の２
つの投影、３／、３．２の光束密度を一致−させるべき
である。さらに、以上のようにノ・−フミラーの反射率
、透過率の設定以外に、ハーフミラ−２２で分割された
光路の一方に第３図に破線で示した減衰板３１Ｉを配置
し、一方の光束の光束密度を低下させ、干渉縞のコント
ラメトを高めることも考えられる。
は、二つの光束、２／、２１．の断面光束密度が等しい
ことが望ましい。透過光束：ｌＯはビームエキスパンダ
２３によってｎ倍に拡大された後は光束断面の単位面積
当りの光強度がｌ／ｎ’になるので、実際の観測系にお
いてはノ・−フミラー２．２゜２ｇの反射率、透過率の
設定にあたり、この点を考慮して、ついたて３０上の２
つの投影、３／、３．２の光束密度を一致−させるべき
である。さらに、以上のようにノ・−フミラーの反射率
、透過率の設定以外に、ハーフミラ−２２で分割された
光路の一方に第３図に破線で示した減衰板３１Ｉを配置
し、一方の光束の光束密度を低下させ、干渉縞のコント
ラメトを高めることも考えられる。
以上の説明から明らかなように、この発明は、光ヘッド
の光学系総体の評価を、出射集光光束の波面収差を観測
することによって、光ディスクに情報を書込み、読出す
際のもつとも基本的な性能となる集光特性を、実際に書
込み、読出しを行うことなく、容易に知ることがで毎、
光ヘッドの開発、量産時の検査等に利用して、その効果
は犬である。
の光学系総体の評価を、出射集光光束の波面収差を観測
することによって、光ディスクに情報を書込み、読出す
際のもつとも基本的な性能となる集光特性を、実際に書
込み、読出しを行うことなく、容易に知ることがで毎、
光ヘッドの開発、量産時の検査等に利用して、その効果
は犬である。
第１図は従来の光ヘッドの光学配置図、第２図は同じく
光ディスクのトラックの一部平面図、第３図はこの発明
の装置の一実施例を示す光学配置図、第弘図は同じく観
測面の平面図である。 Ｓ＠拳集光レンズ、１３・・光ヘッド、１６・・透明板
、１ｇ・・コリメートレンズ（コリメート手段）、２２
・・ハーフミラ−（光束分割手段）、２３・・ビームエ
キスパンダ（ビーム径拡大手段）、２７・・ミラ、２ｇ
−−ハーフミラ−（光束合波手段）、コ９・・ミラー、
３０・・ついたて（観測面）、３弘・・減衰板（光強度
減衰手段）。 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分な示す。
光ディスクのトラックの一部平面図、第３図はこの発明
の装置の一実施例を示す光学配置図、第弘図は同じく観
測面の平面図である。 Ｓ＠拳集光レンズ、１３・・光ヘッド、１６・・透明板
、１ｇ・・コリメートレンズ（コリメート手段）、２２
・・ハーフミラ−（光束分割手段）、２３・・ビームエ
キスパンダ（ビーム径拡大手段）、２７・・ミラ、２ｇ
−−ハーフミラ−（光束合波手段）、コ９・・ミラー、
３０・・ついたて（観測面）、３弘・・減衰板（光強度
減衰手段）。 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分な示す。
Claims (3)
- （１）光ヘッドからの出射集光光束を平行光化し、この
平行光を互いに方向を異にする第１．第２の光束に分割
し、前記第１の光束をビーム径拡大したのち前記第２の
光束と合波し、この合波によって生じる干渉縞を観測し
て前記出射集光光束の波面収差を検知する光ヘッドの出
射光波面収差検知方法。 - （２）光ヘッドからの出射集光光束を平行光化するコリ
メート手段と、平行光化された光束を互いに方向の異る
第１．第一の光束に分割する光束分割手段と、前記第１
の光束の直径を拡大するビーム径拡大手段と、前記第一
の光束と径の拡大された前記第７の光束を合波させる光
束合波手段と、前記合波した光束による干渉縞を形成す
る観測面を備えてなる光ヘッドの出射光波面収差検知装
置。 - （３） 光学ヘッドとコリメート手段の間に透明平行板
光学体を挿設した特許請求の範囲第ユ項記載の光ヘッド
の出射光波面収差検知装置。 （リ 第１．第一の光束のいずれか一方の光路に光強度
減衰手段を挿設した特許請求の範囲第一項記載の光ヘッ
ドの出射光波面収差検知装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59000084A JPS60149941A (ja) | 1984-01-05 | 1984-01-05 | 光ヘツドの出射光波面収差検知方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59000084A JPS60149941A (ja) | 1984-01-05 | 1984-01-05 | 光ヘツドの出射光波面収差検知方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60149941A true JPS60149941A (ja) | 1985-08-07 |
| JPH0441769B2 JPH0441769B2 (ja) | 1992-07-09 |
Family
ID=11464275
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59000084A Granted JPS60149941A (ja) | 1984-01-05 | 1984-01-05 | 光ヘツドの出射光波面収差検知方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60149941A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6342038A (ja) * | 1986-08-06 | 1988-02-23 | Pioneer Electronic Corp | 光学式記録情報ピックアップにおける照射光パタ−ン調整装置 |
| US4789978A (en) * | 1985-12-04 | 1988-12-06 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | System and method of astigmatism correction in an optical head apparatus |
| JPH02252130A (ja) * | 1989-03-27 | 1990-10-09 | Ricoh Co Ltd | 光ピックアップの出射光検査方法 |
| JPH0386937A (ja) * | 1989-08-29 | 1991-04-11 | Asahi Optical Co Ltd | 光学式情報記録再生装置用光学系の波面収差補正方法及び測定装置 |
| JPH0386938A (ja) * | 1989-08-29 | 1991-04-11 | Asahi Optical Co Ltd | 光学式情報記録再生装置用光学系の測定装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5187056A (ja) * | 1975-01-28 | 1976-07-30 | Olympus Optical Co |
-
1984
- 1984-01-05 JP JP59000084A patent/JPS60149941A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5187056A (ja) * | 1975-01-28 | 1976-07-30 | Olympus Optical Co |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4789978A (en) * | 1985-12-04 | 1988-12-06 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | System and method of astigmatism correction in an optical head apparatus |
| JPS6342038A (ja) * | 1986-08-06 | 1988-02-23 | Pioneer Electronic Corp | 光学式記録情報ピックアップにおける照射光パタ−ン調整装置 |
| JPH02252130A (ja) * | 1989-03-27 | 1990-10-09 | Ricoh Co Ltd | 光ピックアップの出射光検査方法 |
| JP2723959B2 (ja) * | 1989-03-27 | 1998-03-09 | 株式会社リコー | 光ピックアップの出射光検査方法 |
| JPH0386937A (ja) * | 1989-08-29 | 1991-04-11 | Asahi Optical Co Ltd | 光学式情報記録再生装置用光学系の波面収差補正方法及び測定装置 |
| JPH0386938A (ja) * | 1989-08-29 | 1991-04-11 | Asahi Optical Co Ltd | 光学式情報記録再生装置用光学系の測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0441769B2 (ja) | 1992-07-09 |
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|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |