JPS60128336A - ダスト放射線モニタリングシステム - Google Patents

ダスト放射線モニタリングシステム

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Publication number
JPS60128336A
JPS60128336A JP58236314A JP23631483A JPS60128336A JP S60128336 A JPS60128336 A JP S60128336A JP 58236314 A JP58236314 A JP 58236314A JP 23631483 A JP23631483 A JP 23631483A JP S60128336 A JPS60128336 A JP S60128336A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measuring device
dust
sampling point
sampling
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58236314A
Other languages
English (en)
Inventor
Yuji Morita
森田 裕治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Engineering Co Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Engineering Co Ltd
Priority to JP58236314A priority Critical patent/JPS60128336A/ja
Publication of JPS60128336A publication Critical patent/JPS60128336A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/06Investigating concentration of particle suspensions
    • G01N15/0606Investigating concentration of particle suspensions by collecting particles on a support
    • G01N15/0618Investigating concentration of particle suspensions by collecting particles on a support of the filter type

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明のサンプリングポイントに可搬式の測定装置を接
続する時、測定装置、とサンプルポンプを有するラック
内で測定装置をバイパスできるラインを設けるものに関
する。
〔発明の背景〕
分散測定型放射性ダストモニタリングシステムにおいて
、同じくダスト配管法着分を評価可能とし、より正確な
測定が可能なシステムが記載されているが、サンプリン
グポイントに測定装置を接続し測定するライνは別の設
けているのでその分の配管布設、切替装置、サンプリン
グポンプを設けなければならない。
〔発明の目的〕 □ 放射線検出器、濾紙駆動装置、サンプルポンプを有する
ダストサンプラにおいて、サンプリングポイントに測定
装置を取り付ける場合にはバイパス弁を開き、放射線検
出器、濾紙駆動装置を有する測定ラインをしゃ断してバ
イパスしサンプリングポンプのみを駆動することにより
、このような測定を可能とすることを目的とする。
〔発明の概要〕
従来の原子力発電所施設のダスト放射線モニタリングシ
ステムでは連続監視を目的として各サンプリングポイン
トを選択弁によ−り切り替えて一台のダストサンプラで
測定しているが、この場合、サンプリングポイントから
8I牢装−を有するダスがあり、配管内でのダスト沈着
五まぬがれない。
そこで、可搬式の測定装置をサンプリングポイントへ接
続可能とする為、バイパスラインを設けた。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の詳細について説明する。第1竺に本発明
のシステム概要を示す0選択用電極弁3はサンプリング
ポイント81を除いてすべて閉じ。
Slの雰囲気空気をダストサンプラ20に引き込む、ま
たダストサンプラ20では、測定ラインしゃ所用電極弁
21を開、バイパス弁22を閉とし、吸引した試料空気
よりダストを捕集用濾紙5に吸着させ、放射線′検出器
10により測定しプリアンプ12を経由して計数率計1
3に信号を送る。一方計数率計では記録計15に測定値
を記録させ、マイクロプロセッサ14に測定値を入力す
る。
マイクロプロセッサ14では入力された測定値を演算し
、演算結果をタイソウ、イタ16に印字させる。また上
記の一連の測定操作を制御し、1サンプリングポイント
の測定操作が完了したら次のサンプリングポイントに移
り同一の測定操作を行い、順次ポイントを切り替える操
作を行う、ただし第1図のとと、くサンプリングポイン
ト82.のように可搬型測定装置19が接続されている
ポイントに測定が移行した場合には、あらかじめマイク
ロプロセッサは現場ケーブル接続箱23を介して可搬型
測定装置19が接続しているのを確認できるので、ダス
トサンプラ20内の測定ラインしゃ所用電磁弁21を閉
にし、パ゛イパス弁22を開にして測定操作を行う、第
2図に可搬型測定装置が接続された場合の測定ラインを
示す。
このシステムにおいて従来システムすなわち、ダストサ
ンプラ20内で測定し、連′統的に十数箇所のサンプリ
ングポイントをスキャニングする測定方式をさまたげる
ことなく、特定のサンプリングポイントのみ、可搬型測
定装置を接続してダスト配管沈着のないより正確な測定
が可能となり。
各サンプリングポイントのダストの配管沈着を評価する
ことが可能となる。
【発明の効果〕
建屋の放射性ダクトによる空気汚染を測定する手段とし
ては、配管沈着の起こらないよう測定装置をサンプリン
グポイントに′B[するのが好ましいが、各サンプリン
グポイントに測定装置を設置するのはコストアップとな
り、さらに年々サンプリングポイントが増加する傾向に
あるので対応しきれない。本発明が目的とするのは従来
の集中監視システムに加えてダストの配管沈着による誤
差のない測定を行うことである。
このような測定システムにおいて従来にない下記点が可
能である。
1、ある特定のサンプリングポイントのみ、精度を上げ
て測定できる。
2、数年を経果したダスト放射線モニタリングシステム
で測定値の信頼性を評価する為に測定装置をサンプリン
グポイントに設ける測定方式による測定値と比較するこ
とにより測定値の誤差要因を推定することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の構成の概略図、第2図は本発明の目的
である可搬型測定装置を接続して測定する場合の概略図
である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、内部に放射線検出器と濾紙駆動装置とサンプリング
    ポンプを有する装置と空気中のダストの放射線濃度を測
    定する為、十数箇所のサンプリングポイントと配管で接
    続され選択弁にて順次切替えを行い上記測定装置へサン
    プリング空気を引き込む装置とサンプリングポイントと
    接続可能な放射線検出器と濾紙駆動装置を有する可搬式
    の測定装置とこのシステム全体を制御し一連の測定作業
    及び測定値の演算処理及びDATA印字機能を有するマ
    イクプロセッサより構成するシステムにおいて配置管杭
    着分を評価する機能と、集中監視システムより正確な測
    定を行う機能を有することを特徴とするダスト放射線モ
    ニタリングシステム。
JP58236314A 1983-12-16 1983-12-16 ダスト放射線モニタリングシステム Pending JPS60128336A (ja)

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JP58236314A JPS60128336A (ja) 1983-12-16 1983-12-16 ダスト放射線モニタリングシステム

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JP58236314A JPS60128336A (ja) 1983-12-16 1983-12-16 ダスト放射線モニタリングシステム

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Publication Number Publication Date
JPS60128336A true JPS60128336A (ja) 1985-07-09

Family

ID=16998959

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58236314A Pending JPS60128336A (ja) 1983-12-16 1983-12-16 ダスト放射線モニタリングシステム

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JP (1) JPS60128336A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6281546A (ja) * 1985-10-07 1987-04-15 Hitachi Electronics Eng Co Ltd 小形ダストモニタ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6281546A (ja) * 1985-10-07 1987-04-15 Hitachi Electronics Eng Co Ltd 小形ダストモニタ

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