JPS60123778A - 自動テスト装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は自動テスト装置に関し、一層詳しくは回路用自
動テスト装置に関する。

回路用自動テスト装置は、電子素子を印刷回路板に組込
んだ後に個々の電子素子の完全性をテストするために用
いられる。この目的のために、ペソドーオプーネイルス
（ｂｅｄ−ｏｆ−ｎａｌｌｓ）　として知られているよ
うなテスト部（そこには通常数百のはね負荷されたビン
もしくはネイルが設けられている）は印刷回路板（テス
ト下のユニットすなわちＯＵＴ　）に対して位置されて
、各ネイルがＯＵＴ上の所定の回路接合部すなわち節点
と接触させられる。次いで、各電子素子にはそれに適し
たテスト信号のプログラムが適用される。なお、そのよ
うなテスト信号は、励起回路によって、各電子素子の入
力端子に接続された節点に接触しているネイルを介して
与えられる。その結果として得られる出力信号は、各電
子素子の出力端子に接続された節点に接触している別の
ネイルを介して検知回路でもってモニタされ、これによ
シミ子素子が正しく装着されているかどうかについて、
またその電子素子が規格どうりに動作しているかどうか
についてチェックが行なわれる。電子素子を電気的に絶
縁するために、またＵＵＴにおいて相反に連結された他
の電子素子の動作によって生じる乱れを回避するために
、いわゆるガード信号が印刷回路板の他の所定の節点に
与えられ、これにより信号変化が阻止されることになる
。もしそのようにされなければ、テストされるべき電子
素子はかかる信号変化によシ影９されることＫなる。−
経済上の理由で、通常、ネイルよりも少ない励起回路お
よび検知回路が設けられておシ、この場合、各励起回路
あるいは検知回路がいくつか（例えばにつ）のネイルの
グループの中で多−■化されることになる。

従来、ガード信号は、テスト信号を出す励起回路と同一
の励起回路によって与えられていた。したがって、ネイ
ルの任意のグループにおいて、励起回路に接続すべく多
重化回路枠構によって選ばれたネイルの７つだけが、あ
る時点で励起状シバにおかれて、テスト信号あるいはガ
ード信号のいずれかを出すことになる。

このようなことは非効率であり、しかも場合によっては
特別な問題を生じさせ得る。そのよう々場合とけ、テス
ト部の設計において、当該節点付近のネイルを持つ多重
化された励起回路のすべてが他の節点にすでに縛られて
いるときに１仕に付加的なガード信号の必要性が分った
場合であり、このときには上述のテスト部に費用のがか
る変可を加えなければならない。

本発明の一仙１面によれば、テスト下のユニットの回路
節点と接触させるための多数のネイルと、これらネイル
のうちの中から選ばれた７つのネイルを介して、テスト
信号を上述のユニットに与えたシ、あるいはそのユニッ
トの信号を検知したりするための１す」路とよシなる回
路用自動テスト装置であって、上述の選けれた７つのネ
イル以外の任意の７つあるいはそれ以上のネイルを介し
てガード信号を上述のユニットに与えるための手段を具
備する拒１路用自動テスト装置が提供される。

このような析成によれば、実際の励起信号を与えるよう
にされていないか、あるいは出力信号を検知するように
はされていないネイルのいずれかを用いて、ガード信号
ケ与えることができるので、テスト部の設計についての
融通性を高めることができる。

次に、添付図面を艶聞することにより、本発明による回
路用自動テスト装置を例示的に説明することにする。

第１図を参照すると、回路用自動テスト装置（ＡＴＥ）
１０はペッドーオブーネイルス（ｂｅｄ−ｏｆ−ｎａｌ
ｌｓ）形式のテスト部１２を備える。このテスト部１２
は多数（例えば／θ２を本）のばね負荷され洗ネイル１
４を有し、これらネイル１４の配置については、テスト
部１２が図示されていない手段によって電気回路１６（
テスト下のユニットすなわちＵＵＴ）に向って押し付け
られ、ときにＵＵＴ１６の所定の回路接合部すなわち節
点に接触するにされている。

ネイル１４はｇ本のネイルからなる枠数のグル−ノに配
置Ｎされ、しかも各グルニゲのうちのいずれか７本のネ
イルはｇ方向スイッチすなわちリレーネットワーク１８
によって選択できるようになっており、このに方向スイ
ッチは、ｇつのチャンネル制御アレイ（ＣＣＡ）２０を
持つモジュール２２のそれぞれのチャンネル制御アレイ
にＷ：に’、されている。チャンネル制御アレイ２ｏけ
テスト信号を発生させかつ所定のネイル１４に送って、
そのテスト信号をＵＬＩＴ１６に与えることもできるし
、またＵＵＴ１６から所Ｗのネイルを介して出力信号を
受けて、その出力信号をモニタすることもできる。／対
のＣＣ’Ａモジュール２２の動作は共スｊｎの制御盤２
４によって制御され、その制御盤はマスタープロセッサ
２６によって動作させられる０ 図示の明瞭・化のために、第１図には、ＯＣＡモジュー
ル２２の７つに対してのみ、いくつかのネイルグループ
およびスイッチ１８だけが示されている。代表的なＡＴ
Ｅにはｇ組の制御盤２４およびｇ対のモジュール２２が
設けられることになシ、この場合ＣＣＡ２０およびネイ
ル１４の員数はそれぞれ７２ｇおよび１０．２１Ｉとな
る。

回路用自ｄ１１１テストｅ　ｆｉ’２１０のｔ！ｌ成お
よび’ｉｇｈ作についての一般的原理は当該技術分Ｗｆ
においては周知であり、しかも本発明の一部を（１う模
するものではないので、それらが１理についての曾）１
７川なき分」月は省略する。

次に、第２し１を参照して、０ＣＡ２０の７つについて
の構成および動作を説明するが、この場合出力起部１同
路１席能の説明について特に−重きがおかれる。

Ｈ２図を参照すると、ブロック３０によって図示されて
いるように、ＣＣＡ２０は１１０信号およびＨ／Ｌ信号
を発生し、前者の信−ｑはチャンネルがその時点で入力
チャンネルとしであるいは出力チャンネルとして動作し
ているかどうかを示し、また後者の信号はチャンネルが
テストプログラムのその時点でのステップに対して高信
号あるいは低信号を送るためのものであるかどうかを示
す。これらの信号はＮＡＮＤゲート３２および３４なら
びにＮＯＲゲート３６によって許容イバ号（ＥＮＡＢＬ
Ｅ）と絹合わされ、これにより高電潴出カび衝器３８が
割す１１１されたり、高フォーシング信号おるいけ低フ
ォーシンゲイｄ号がＬＩ　Ｕ　Ｔに与えられるべくライ
ン４０に発生さぜらｔまたり、もしくは高インピーダン
ス状態が作られて、ＵｔＪＴからの信号が検知され得る
ようにされたりする。

このよりなＵＵＴからの信号はライン４ｏにょツーｃコ
ニｙｚ＋ｖ−夕４２１ｔｃ送うｈ、このコンノぞレータ
４２の出カイ８号は基準信号ＲＥＦに対する検知信号の
低に応じて検知ラインに沿ってブロック３０に送られる
。このような出力信号は、ＣＣＡ２０および制ｉ盤２４
によってその時点でのテスト下の電子素子についての完
全性の検査処理においてｎ：Ｃ析される。

ライン４０は、３つのリレー１８（１ン１示の明Ｈｌｆ
化のために、第２図にはそのうちの２つだけが図示され
ている）のうちの該当するものを励起させることによっ
て、テストグログラムの各ステップに適したネイル１４
に接続される。テストプログラムの構成については、所
定の任意の時点において、任意のＣＣＡ　２０に組合わ
されたリレー１８の７つだけが閉じられるようにされる
。

また、各ネイル１４はそこに４？ｊＥ　ｋＡされた別の
λつのリレー４４および４６をイ：、胃える。すべての
リレー４４は低電圧信号を与える雷流制限柵衝増幅器４
８に接続され、またすべてのリレー４６は品Ｔｈ：圧信
号を力える雷流制限緩価増１１呪器５０に接続される。

テストプログラムの構成については、任意のリレー１８
によって閉じられたネイル１４に幻しては、当該リレー
４４および４６は閉じることができないようにされる。

しかしながら、この場合、同一グルーグ内のその他の７
本のネイル１４に対しては、リレー４４および４６のい
ずれか７つが閉じられ得るようにされるが、この場合グ
ループ内のその他の７本のネイルに対して、それらリレ
ーがどのようにセツティングされるかについては問題と
されない。リレーセツティングの正確な組合せについて
は、テストグログラムの条件に応じて、リレー制御論理
回路５２によって決められる。

したがって、例えば、ネイル１４のうちの７つすなわち
＃３が７組のテスト信号をＵＵＴ１６の電子素子に与え
るか、もしくは他のグループの任刹の１つのネイル１４
からのそのような７組の信号に対する上述の電子素子の
応答を検知すると同時に、別のλつのネイルすなわち＃
ａおよび＃７が安定した低電圧ガード信号をＬＩ　Ｕ　
Ｔ　１６に与えることができ、また別の３つのネイルす
なわち＃／、＃Ｓおよび＃乙が安定した高電圧ガード信
号を与えることができる。

以上のような構成によれは、テストプログラムの各ステ
ップでの特定の＋＄能に対するネイルの割シ当てについ
て大きな隔通性を得ることができ、また、所定の任意の
ステップにおいて、その時点ではテスト信号を与えてい
ないか、あるいは出力信号を検知していないネイルを一
時的に余分なものとせずに使用状態にしておくことがで
きる。このため、例えば、テストプログラムの中に、特
定の節点に付加的なガード信号を与えるような予期しな
い必要性が生じた場合でも、その節点がテストプログラ
ムのどこか他のテストステップにおいて入力もしくは出
力用に割り光てられたネイルをすでに備えることになる
こと１は明らかであろう。

したがって、テストプログラムの該当ステップに一対し
て適当なリレー４４あるいはリレー４６を単に閉じさせ
るようにすることによって、そのように存在するネイル
を用いて、必要な新たなガード信号を与えることができ
る。このようにして、テスト部１２に対する変更の必要
性を回昏すること−ができるし、またネイルの割シ当て
について完全に再構成を行なうことさえできる。

【図面の簡単な説明】

第７図は自動テスト装置の棚°１１ｉブロック図であり
。 第２図は本発明による自動テスト装置の一部を形成する
チャンネル制御アレイのブロック図である０ １０・・・・・・回路用自’ｆＪＪテストＡＡ［、１２
・・・・・・テスト部、１４・・・・・・ネイル、１６
・・・・・・電気回路、１８・・・・・・リレーネット
ワーク、２０・・・・・・チャンネル！１ｕｌｌ　４１
１アレイ、２２・・・・・・モジュール、２４・・・・
・・１！！１０％１Ｑ４１．２６・・・・・・マスタプ
ロセッサ、３０・・・・・・ブロック、　３２．３４・
・曲１’４　Ａ　Ｎ　Ｄダート、３６・・・・・・国Ｏ
Ｒダート、３８・曲・？？＋％　＋Ｒ丁ａ、４２・・曲
コンツクレータ、４４．４６・・曲す　し　−　、　４
８．５０　・・・・・・　１？７　流　ｊｌ＋ｌ　ｌ恨
　Ｌε　矧ｉｔ曽　１１・ｔ　器。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１１テスト下のユニットの回路節点と接触させるだめ
   の多数のネイルと、前記ネイルのうちの中から選ばれた
   ７つのネイルを介して、テスト信号を前記ユニットに与
   えたシ、あるい畔前記ユニットからの信号を検知したシ
   するための回路とよシ成る回路用自動テスト装置：であ
   って、前記の選ばれた７つのネイル以外の任意の７つあ
   るいはそれ以上のネイルを介してガード信号を前記ユニ
   ットに与えるための手段を具備する回路用自動テスト装
   置。 （２）前記ネイルが複数のグループに配置され、各グル
   ープ内の７つのネイルがテスト信号を前記ユニットに与
   えるかあるいは前記ユニットの信号を検知するために選
   択自在となっておシ、各グループ内の他のネイルがガー
   ド信号を寿えるようになっていることを特徴とする前記
   第１項に記載の回路用自動テスト装置。 （３）ダート信号がネイルの選択を行なっていないグル
   ープのネイルを介して与えられ借るようになっているこ
   とを特徴とする前記第２項に記載の回路用自動テスト装
   置。 （４）　リレ一手段がネイルに接Ｋ・記されて、第１の
   リレー状態において、前記ネイルがフジ４択され得るよ
   うになっており、また坑コのリレー状態において、ダー
   ト信号が与えられ偵るようになっていることを特徴とす
   る前記第１頂ないし第７項のいずれかに記載の回路用自
   動テスト装置。 （５）別のリレ一手段がネイルに接続されて、ガード信
   号が交互に与えられ得るようになっていることを特徴と
   する前記第ｙ項に記載の回路用自動テスト装置０