JPS60119423A - 光ビ−ムの強度分布計測装置 - Google Patents

光ビ−ムの強度分布計測装置

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JPS60119423A
JPS60119423A JP58225421A JP22542183A JPS60119423A JP S60119423 A JPS60119423 A JP S60119423A JP 58225421 A JP58225421 A JP 58225421A JP 22542183 A JP22542183 A JP 22542183A JP S60119423 A JPS60119423 A JP S60119423A
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JP
Japan
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light beam
intensity distribution
optical beam
measuring device
light
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Pending
Application number
JP58225421A
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English (en)
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Kenji Saito
謙治 斉藤
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
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Publication of JPS60119423A publication Critical patent/JPS60119423A/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/38Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using extension or expansion of solids or fluids
    • G01J5/42Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using extension or expansion of solids or fluids using Golay cells

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、光ビームの強度分布測定装置、特に光音響分
光法が適用可能な光ビームの強度分布測定装置に関する
従来、光ビームの強度分布測定には、例えばピンホール
等を有する測定面の走査光を光検出器で把捉して光ビー
ムの強度分布を測定する光学系を用いてきた。即ち、第
1図に示すように、光ビーム1内の測定面2の上に、ピ
ンホール又はスリット4を設け、これを通過した光を測
定面の背後に配置した光検出器5で捉えてその位置にお
ける光ビームの強度とし、この測定面2を矢印乙の方向
に走査することにより、第2図に示すような光ビームの
強度分布を測定していた。
しかし光ビームの強度分布を高分解能をもって測定する
には、ピンホール径またはスリット幅を微小にする必要
があり、そのため、光検出器の感度を十分に高め、しか
も光ビームが常に光検出器に垂直に入射するように、入
射方向の調節も考慮しなければならなかった。しかし、
この場合、前記ピンホール径やスリット幅を余り小さく
すると、光の回折により、検出器内へ光が届かず、測定
困難になる欠点を含んでいる。
また、白色光に対して、各波長ごとの光ビーム径を測定
するには、光路中に特定波長選択性のフィルタを入れる
か、光検出器自体の分光感度特性を異にする検出器を所
要数用意し、所望により選択的に使用する必要があり、
これは計測誤差の原因となるものが多く、精度の高い測
定が困難であった。
本発明は従来技術における上述の回折による影響を除去
し、さらに光ビームの入射方向を特に考慮することなく
、光ビームの強度分布を計測する手段を提供することを
目的とする。
以下に、本発明の実施例およびその変形実施例を示す附
図を参照しつつ本発明を説明する。
第6図は本発明に係る光ビームの強度分布計測装置の1
実施例の構成図で、被測定光ビーム1の強度分布を測定
する断面2は矢印6で示す方向に走査運動が可能で、光
検出セルが、吸収のほとんど無い例えば石英ガラスで造
られた窓と、試料セル9と、マイクロホン10によって
構成される。
試料セル9には空気その他の試料気体が封入されて後述
す光音響特性を発揮させる媒体を形成する。
この試料セル9内には測定断面2−トに対象光ビームに
適合した吸収物質11が配設される。ここに6はチョッ
パーで一般に光ビームが試料セル9に入射する前方7に
配置され選択される所定周波数をもって光ビームを断続
する。チョッパーの変調信号およびマイクロホン10か
らの信号は、ロックインアンプ12に送られ、該ロック
インアンプはレコーダ16に接続されている。
一般に物質が光を吸収して音響的反応を示す現象である
光音響効果は、該物質が光を吸収することにより、局部
的に温度が上昇し、それが圧力として物質中を伝搬する
ことであって、第4図にその基本原理を示す。変調され
た入射光ビーム1は、吸収物質に当り吸収されろ(プロ
セスA)。このエネルギーは無放射緩和過程により断続
的な熱を発生し、物質中を熱波として伝搬する(プロセ
スB)。物質表面に達した熱波は、接する気体を断続的
に熱し、音波を発生する(プロセスC)。又、物質中を
伝わる熱波は弾性波に変換され試料M内を伝搬する(プ
ロセス1))。
前記第1実施例の構成において、光ビーム1は、光チョ
ツノξ−6の断面位置7において、該チョツノ々−によ
り周期的な断続光に変調され、この変調された光ビーム
は、石英ガラス窓8を通り、試料セル9を経て、セル内
に配置された所定の吸収物質11に当る。吸収物質によ
って光が吸収され、そのエネルギーは上記の如く断続的
な熱となり、吸収物質表面から放出される。この断続的
な熱により試料セル内の気体は断続的に圧力変化し、マ
イクロホンにより音として検出される。この光音響信号
の強度は、吸収物質に照射される光ビーム強度に比例す
ることが理論的にも確かめられている。従って、吸収物
質11の位置を光ビーム測定面2上を6の方向のように
移動させると、それぞれの位置に対応した光ビーム強度
が得られろ。このようにしてめられる光音響信号は光変
調される変調周波数に等しいので、この光変調信号を参
照信号としてロックインアンプ12を通し、増幅するこ
とができる。これを走査位置に対応してプロットすれば
、光ビーム強度分布をめることができる。
吸収物質の大きさは自由に選択でき、小さくすることに
よって分解能を上げることができ、例えば0.1μmの
広がりをもたせれば0.1μmと々る。
捷だ、測定したい波長に応じ、吸収特性の適合する物質
を選ぶことにより、任意の波長における光ビーム強度分
布、及びビーム径を測定することができる。
さらに、第5図に示すように、吸収物質11を点装置と
せずに、光検出セル内の光ビーム測定面2上に、直線状
に配置し、該配列直線11と直角方向乙に走査すれば、
従来のスリット使用の測定と同様な成果が得られる。こ
の場合、線幅の微細化により、開側分解能が向上される
光チョツ・ミー6の断続面7は、試料セル9入射前なら
ば任意に選定できる。光チョツノぐ−6の断続波長の変
調、光音響出力信号、および走査動作なコンピューター
制御により測定系を補正してさらに精度の高い処理が可
能である。
第6図は、本発明ににる光ビームの強度分布計測装置の
別種実施例を示し、光音響信号の検出手段どして第1実
施例の如くマイクロホンを用いずに圧電素子を用いた構
造をもつ。この装置において変調された被測定光ビーム
1の測定断面2上に吸収物質11をおき、その後ろに後
板14、圧電素子15を順次配置する。吸収物質11に
にり吸収された光エネルギーにより、発生した断続的な
熱は、吸収物質11及び後板14を伝わるうちに弾性エ
ネルギーに変換され、圧電素子15により検出される。
この光音響信号は光ビーム強度に比例するので、平面2
上を方向乙のように走査することにより、光ビーム強度
分布を測定することができる。このとき、吸収物質11
の捷わりは反射物質16でかこむことにより、他の部分
による吸収の影響をとりのそくことができる。又、後板
14は必ずしも必要でなく、16と一体化してもよい。
この方法に」:れば、マイクロホン法では考慮する必要
があったガラス窓8の影響は無視することができる。
吸収物質を第7図のような層構造にして、各層ごとに分
光吸収特性の異なった物質11a−cを配置すれば、各
波長の信号を同時にとることができ、この場合各層にお
ける光音響信号は、各層から圧電素子15捷での距離に
対応した位相遅れが生ずるため、それらを分離して測定
することができる。
又、第8図のように、層ごとに吸収物質11d〜11の
位置を変えてやれば、光ビーム内を走査すること々く、
位相遅れ成分から、各場所における強度分布を測定する
ことができる。
吸収層の厚さが、強度分布位置分解能より小さければ深
さ方向による測定断面からの影響は問題ない。
本発明は、以上述べた如く構成されかつ作用す7− るから、光ビームの強度分布を、ビーム内に配置された
吸収物質の大きさのオーダー1で高分解能をもって、光
の回折の影響や光ビームの入射方向の如何に拘らず計測
でき、しかも吸収物質の吸収特性を選択配置することに
より、白色光の場合においても光ビーム強度分布を簡単
(で測定することかり能になった。さらに吸収物質の配
列パターンを適当に選定することにより、光ビーム内を
走査せずに、ビーム内の各部位における光ビームの強度
分布の測定感度および操作性が向上でき、ビームの形状
、性格を性能」二の基底とする光計測分野、OA機器等
の精度向上に顕著な効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来型の光ビームの強度分布測定装置の構成
を示す概要図、第2図は、光ビームの強度分布形態、第
6図は、本発明による光ビームの強度測定装置の1実施
例の構成図、第4図は、光音響効果の原理図、第5図は
、直線状に配置した吸収物質を含む測定部の図、第6図
は、光ビームのエネルギー検出手段に圧電素子を用いた
本発明8− による装置の実施例、第7図は、白色光の光ビームの強
度を同時に測定する本発明による装置における吸収物質
の配置例、第8図は、機械的走査を行わずに光ビームの
強度分布の測定が可能外吸収物質の配列パターンを示す
。 1 光ビーム 2 測定断面 4・ピンホールまたはスリット 5 光検出器6・・・
光チヨツパ−7チョッソ面 8・・・透明板 9・・・試料セル 10・・マイクロホン 11吸収物質 12・ ロックインアン−1’ 13・・レコーダー1
4・・・後板 15・・圧電素子 16・・・反射物質 1 第1図 第2図 第3図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被測定光ビームを断続的に遮断する手段と、光ビー
    ム内に配置された吸収物質によって吸収されたエネルギ
    ーを、熱的に検出する手段とを備えたことを特徴とする
    光ビームの強度分布計測装置。 2 エネルギーを熱的に検出する前記手段が、マイクロ
    ホンセルによる光音響分光手法を含む特許請求の範囲第
    1項記載の光ビームの強度分布計測装置。 6、 エネルギーを熱的に検出する前記手段が、圧電素
    子による光音響分光手法を含む特許請求の範囲第1項記
    載の光ビームの強度分布計測装置。 4 それぞれ分光吸収特性を異にする前記吸収物質を配
    置し、被測定光ビームの各波長に対応した強度分布が同
    時に測定可能である特許請求の範囲第1項記載の光ビー
    ムの強度分布計測装置。 5 光ビーム内における前記吸収物質が任意に選択配置
    可能であり、これにより向上された測定感度および操作
    性が得られる特許請求の範囲第1項記載の光ビームの強
    度分布計測装置。
JP58225421A 1983-12-01 1983-12-01 光ビ−ムの強度分布計測装置 Pending JPS60119423A (ja)

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