JP2515343Y2 - 光導波路型吸光光度計 - Google Patents
光導波路型吸光光度計Info
- Publication number
- JP2515343Y2 JP2515343Y2 JP437991U JP437991U JP2515343Y2 JP 2515343 Y2 JP2515343 Y2 JP 2515343Y2 JP 437991 U JP437991 U JP 437991U JP 437991 U JP437991 U JP 437991U JP 2515343 Y2 JP2515343 Y2 JP 2515343Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical waveguide
- detection
- waveguide type
- photodetector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は、液体又は気体中の特定
の化学物質を検出するのに好適な光導波路型吸光光度計
に関する。
の化学物質を検出するのに好適な光導波路型吸光光度計
に関する。
【０００２】
【従来の技術】液体又は気体中の特定の化学物質を検出
する吸光光度計の、従来装置の１例を図３系統図に示す
と、白色光源２０から出た光は分光器２１により特定波
長の単色光が取り出され、その光はビーム分割器２２を
経て２本の光に等分割されて、一方の光が検出光として
液体又は気体からなる被検体の入った被検体容器２３を
透過し、光検出器２４で強度が検出される。このとき他
方の光は参照光としてミラー２５で反射して光検出器２
４に直接導かれ、更にこの２本の光の検出信号が信号処
理装置２６に送られ比較され、ディスプレイ２７に表示
されることにより、特定波長における被検体の吸収量が
求まる。そしてこの操作を波長を変化させながら行えば
被検体の波長に対する吸収特性が求まり、吸収特性は化
学物質の固有の性質により決まっているので、吸収特性
から化学物質を決定することが可能である。
する吸光光度計の、従来装置の１例を図３系統図に示す
と、白色光源２０から出た光は分光器２１により特定波
長の単色光が取り出され、その光はビーム分割器２２を
経て２本の光に等分割されて、一方の光が検出光として
液体又は気体からなる被検体の入った被検体容器２３を
透過し、光検出器２４で強度が検出される。このとき他
方の光は参照光としてミラー２５で反射して光検出器２
４に直接導かれ、更にこの２本の光の検出信号が信号処
理装置２６に送られ比較され、ディスプレイ２７に表示
されることにより、特定波長における被検体の吸収量が
求まる。そしてこの操作を波長を変化させながら行えば
被検体の波長に対する吸収特性が求まり、吸収特性は化
学物質の固有の性質により決まっているので、吸収特性
から化学物質を決定することが可能である。
【０００３】しかしながら、このような吸光光度計にお
いては、白色光源２０，分光器２１が大型であるととも
に分光器２１は振動に弱いため、作業環境が限られると
いう欠点がある。
いては、白色光源２０，分光器２１が大型であるととも
に分光器２１は振動に弱いため、作業環境が限られると
いう欠点がある。
【０００４】
【考案が解決しようとする課題】本考案は、このような
事情に鑑みて提案されたもので、小型でかつ振動に強く
安定した動作が得られ、広範な作業環境で被検体の光吸
収量を的確に検出することができる光導波路型吸光光度
計を提供することを目的とする。
事情に鑑みて提案されたもので、小型でかつ振動に強く
安定した動作が得られ、広範な作業環境で被検体の光吸
収量を的確に検出することができる光導波路型吸光光度
計を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】そのために本考案は、光
導波路内に検出光と参照光の平行な２光束を照射する波
長可変光源と、光導波路内の上記検出光の進路に形成さ
れる被検体検出窓と、光導波路内に表面弾性波を発生さ
せ上記検出光と参照光の進路に回折格子を形成するトラ
ンスデューサーと、同トランスデューサーに高周波電界
を印加する発振器と、上記回折格子での上記検出光と参
照光の反射光をそれぞれ受光する光検出器と、同光検出
器の受光信号を処理する信号処理装置とを具えたことを
特徴とする。
導波路内に検出光と参照光の平行な２光束を照射する波
長可変光源と、光導波路内の上記検出光の進路に形成さ
れる被検体検出窓と、光導波路内に表面弾性波を発生さ
せ上記検出光と参照光の進路に回折格子を形成するトラ
ンスデューサーと、同トランスデューサーに高周波電界
を印加する発振器と、上記回折格子での上記検出光と参
照光の反射光をそれぞれ受光する光検出器と、同光検出
器の受光信号を処理する信号処理装置とを具えたことを
特徴とする。
【０００６】
【作用】本考案光導波路型吸光光度計においては、波長
可変光源と光検出器との間の光学系が光導波路内に集積
化され、小型で安定な動作が可能となり、被検体検出窓
に被検体を接触させるだけで波長分解能の高い検出がで
き、ひいては被検体中の化学物質の検出を容易に行うこ
とができる。
可変光源と光検出器との間の光学系が光導波路内に集積
化され、小型で安定な動作が可能となり、被検体検出窓
に被検体を接触させるだけで波長分解能の高い検出がで
き、ひいては被検体中の化学物質の検出を容易に行うこ
とができる。
【０００７】
【実施例】本考案光導波路型吸光光度計の一実施例を図
面について説明すると、図１はその模式図、図２は図１
のII−IIに沿った断面図である。上図において、光導波
路１は縦横略５０mm，厚さ２mmのスラブ型であり、図２
に示すように、水晶等圧電性のある結晶材からなる基板
２の上に、高分子薄膜の導波層３を塗布して形成されて
おり、導波層３の表面にはバッファー層４が載せられる
とともに、そこに適宜寸法の方形の被検体検出窓５が明
けられている。
面について説明すると、図１はその模式図、図２は図１
のII−IIに沿った断面図である。上図において、光導波
路１は縦横略５０mm，厚さ２mmのスラブ型であり、図２
に示すように、水晶等圧電性のある結晶材からなる基板
２の上に、高分子薄膜の導波層３を塗布して形成されて
おり、導波層３の表面にはバッファー層４が載せられる
とともに、そこに適宜寸法の方形の被検体検出窓５が明
けられている。
【０００８】光導波路１内の被検体検出窓５の近傍に、
被検体検出窓５に向かう検出光６と若干外れた参照光７
の平行な２光束を照射する波長可変光源８が配設され、
この波長可変光源８は、図２に示すように、基板２上に
設けた２個のグレーティング９とその間に挟まれた導波
層３の色素分散部１０により構成されており、色素分散
部１０を外部より光Ｌｐで励起することにより、グレー
ティング９の周期Λｇによって決定される波長の出力光
Ｌｏが得られる分布反射型色素レーザーである。またこ
の波長可変光源８の発振波長はグレーティング周期Λｇ
を基板２の電歪効果を用い変化させて調整可能であり、
従来の白色光源と分光器の動作を行う。
被検体検出窓５に向かう検出光６と若干外れた参照光７
の平行な２光束を照射する波長可変光源８が配設され、
この波長可変光源８は、図２に示すように、基板２上に
設けた２個のグレーティング９とその間に挟まれた導波
層３の色素分散部１０により構成されており、色素分散
部１０を外部より光Ｌｐで励起することにより、グレー
ティング９の周期Λｇによって決定される波長の出力光
Ｌｏが得られる分布反射型色素レーザーである。またこ
の波長可変光源８の発振波長はグレーティング周期Λｇ
を基板２の電歪効果を用い変化させて調整可能であり、
従来の白色光源と分光器の動作を行う。
【０００９】光導波路１内の検出光６及び参照光７の進
路上にはトランスデューサー１１が設置され、これに光
導波路１外に配置の発振器１２から周波数ｆの高周波電
界が印加され、基板２上に表面弾性波による回折格子１
３が形成される。また発振器１２と波長可変光源８との
間には周波数−電圧変換器１４が介装されている。
路上にはトランスデューサー１１が設置され、これに光
導波路１外に配置の発振器１２から周波数ｆの高周波電
界が印加され、基板２上に表面弾性波による回折格子１
３が形成される。また発振器１２と波長可変光源８との
間には周波数−電圧変換器１４が介装されている。
【００１０】上記回折格子１３での検出光６及び参照光
７の反射光進路上には両反射光をそれぞれ通過させる金
属膜からなるスリット１５が配設されており、更にその
先で光導波路１内に光電変換膜よりなる１対の光検出器
１６が設置されている。なおこの光検出器１６の出力端
は光導波路１外の信号処理装置１７に接続され、そこに
はディスプレイ１８が付設されている。
７の反射光進路上には両反射光をそれぞれ通過させる金
属膜からなるスリット１５が配設されており、更にその
先で光導波路１内に光電変換膜よりなる１対の光検出器
１６が設置されている。なおこの光検出器１６の出力端
は光導波路１外の信号処理装置１７に接続され、そこに
はディスプレイ１８が付設されている。
【００１１】このような装置において、波長可変光源８
の色素分散部１０を外部より光Ｌｐで励起してグレーテ
ィング９の周期Λｇにより決定される波長の出力光Ｌｏ
を発振させ、検出光６及び参照光７を照射するととも
に、トランスデューサー１１に発振器１２から周波数ｆ
の高周波電界を印加し、基板２上に表面弾性波を発生さ
せ周期Λｓの回折格子１３を形成する。
の色素分散部１０を外部より光Ｌｐで励起してグレーテ
ィング９の周期Λｇにより決定される波長の出力光Ｌｏ
を発振させ、検出光６及び参照光７を照射するととも
に、トランスデューサー１１に発振器１２から周波数ｆ
の高周波電界を印加し、基板２上に表面弾性波を発生さ
せ周期Λｓの回折格子１３を形成する。
【００１２】そうすると、検出光６は被検体検出窓５の
下を通過した後、回折格子１３に入射しブラッグ回折に
より光の波長と格子１３の周期Λｓによって決まるブラ
ッグ回折角２θｂの方向に進路を変える。そして基板２
上に形成してあるブラッグ回折角の方向に沿ってスリッ
ト１５を通過する。ここで出力光Ｌｏの偏波面が膜面に
垂直なＴＭモード光のみが伝搬し、すなわち図２に示す
ように、導波光電界分布１９は導波層３の外部にしみ出
しており、金属膜の部分ではＴＭモード光に対し大きな
吸収を示し、スリット１５のすき間の部分を伝搬する光
のみがスリット１５を通過することになる。
下を通過した後、回折格子１３に入射しブラッグ回折に
より光の波長と格子１３の周期Λｓによって決まるブラ
ッグ回折角２θｂの方向に進路を変える。そして基板２
上に形成してあるブラッグ回折角の方向に沿ってスリッ
ト１５を通過する。ここで出力光Ｌｏの偏波面が膜面に
垂直なＴＭモード光のみが伝搬し、すなわち図２に示す
ように、導波光電界分布１９は導波層３の外部にしみ出
しており、金属膜の部分ではＴＭモード光に対し大きな
吸収を示し、スリット１５のすき間の部分を伝搬する光
のみがスリット１５を通過することになる。
【００１３】スリット１５を通過した２本の光は光検出
器１６に吸収され電気信号として取り出され、更に信号
処理装置１７に導かれ特定の波長における被検体の吸収
量が求まる。
器１６に吸収され電気信号として取り出され、更に信号
処理装置１７に導かれ特定の波長における被検体の吸収
量が求まる。
【００１４】次に出力光Ｌｏの波長を変化すると表面弾
性波による回折格子１３による回折角が変化するが、こ
こでは回折角が常に一定すなわちスリット１５のすき間
に沿った方向になるようにトランスデューサー１１への
印加電界の周波数ｆを調整する。更に波長可変光源８の
波長掃引を電歪効果で行うため、印加電界と発振波長と
の関係を予め求めておき、トランスデューサー１１への
印加電界の周波数とを対応づけるような周波数−電圧変
換器１４を用いると、発振器１２の周波数掃引を行うこ
とによって光源の波長掃引が可能となり、被検体の波長
に対する吸収特性が得られる。
性波による回折格子１３による回折角が変化するが、こ
こでは回折角が常に一定すなわちスリット１５のすき間
に沿った方向になるようにトランスデューサー１１への
印加電界の周波数ｆを調整する。更に波長可変光源８の
波長掃引を電歪効果で行うため、印加電界と発振波長と
の関係を予め求めておき、トランスデューサー１１への
印加電界の周波数とを対応づけるような周波数−電圧変
換器１４を用いると、発振器１２の周波数掃引を行うこ
とによって光源の波長掃引が可能となり、被検体の波長
に対する吸収特性が得られる。
【００１５】
【考案の効果】要するに本考案によれば、光導波路内に
検出光と参照光の平行な２光束を照射する波長可変光源
と、光導波路内の上記検出光の進路に形成される被検体
検出窓と、光導波路内に表面弾性波を発生させ上記検出
光と参照光の進路に回折格子を形成するトランスデュー
サーと、同トランスデューサーに高周波電界を印加する
発振器と、上記回折格子での上記検出光と参照光の反射
光をそれぞれ受光する光検出器と、同光検出器の受光信
号を処理する信号処理装置とを具えたことにより、小型
でかつ振動に強く安定した動作が得られ、広範な作業環
境で被検体の光吸収量を的確に検出することができる光
導波路型吸光光度計を得るから、本考案は産業上極めて
有益なものである。
検出光と参照光の平行な２光束を照射する波長可変光源
と、光導波路内の上記検出光の進路に形成される被検体
検出窓と、光導波路内に表面弾性波を発生させ上記検出
光と参照光の進路に回折格子を形成するトランスデュー
サーと、同トランスデューサーに高周波電界を印加する
発振器と、上記回折格子での上記検出光と参照光の反射
光をそれぞれ受光する光検出器と、同光検出器の受光信
号を処理する信号処理装置とを具えたことにより、小型
でかつ振動に強く安定した動作が得られ、広範な作業環
境で被検体の光吸収量を的確に検出することができる光
導波路型吸光光度計を得るから、本考案は産業上極めて
有益なものである。
【図１】本考案光導波路型吸光光度計の一実施例の模式
図である。
図である。
【図２】図１のII−IIに沿った断面図である。
【図３】従来の吸光光度計の系統図である。
１ 光導波路 ２ 基板 ３ 導波層 ４ バッファー層 ５ 被検体検出窓 ６ 検出光 ７ 参照光 ８ 波長可変光源 ９ グレーティング 10 色素分散部 11 トランスデューサー 12 発振器 13 回折格子 14 周波数−電圧変換器 15 スリット 16 光検出器 17 信号処理装置 18 ディスプレイ 19 導波光電界分布
Claims (4)
- 【請求項１】 光導波路内に検出光と参照光の平行な２
光束を照射する波長可変光源と、光導波路内の上記検出
光の進路に形成される被検体検出窓と、光導波路内に表
面弾性波を発生させ上記検出光と参照光の進路に回折格
子を形成するトランスデューサーと、同トランスデュー
サーに高周波電界を印加する発振器と、上記回折格子で
の上記検出光と参照光の反射光をそれぞれ受光する光検
出器と、同光検出器の受光信号を処理する信号処理装置
とを具えたことを特徴とする光導波路型吸光光度計。 - 【請求項２】 波長可変光源が２個のグレーティングと
その間に挟まれた導波層の色素分散部により構成されて
いる色素レーザーであることを特徴とする請求項１の光
導波路型吸光光度計。 - 【請求項３】 光検出器が光導波路内に形成された光電
変換膜よりなることを特徴とする請求項１，２の光導波
路型吸光光度計。 - 【請求項４】 発振器と波長可変光源との間に周波数−
電圧変換器が介装されていることを特徴とする請求項
１，２，３の光導波路型吸光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP437991U JP2515343Y2 (ja) | 1991-01-16 | 1991-01-16 | 光導波路型吸光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP437991U JP2515343Y2 (ja) | 1991-01-16 | 1991-01-16 | 光導波路型吸光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0496051U JPH0496051U (ja) | 1992-08-20 |
| JP2515343Y2 true JP2515343Y2 (ja) | 1996-10-30 |
Family
ID=31734129
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP437991U Expired - Lifetime JP2515343Y2 (ja) | 1991-01-16 | 1991-01-16 | 光導波路型吸光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2515343Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002168776A (ja) * | 2000-12-01 | 2002-06-14 | Advantest Corp | 環境モニタ方法及び装置並びに半導体製造装置 |
-
1991
- 1991-01-16 JP JP437991U patent/JP2515343Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0496051U (ja) | 1992-08-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5827971A (en) | Optical vibration detection spectral analysis assembly and method for detecting vibration in an object of interest | |
| US7397596B2 (en) | Surface and subsurface detection sensor | |
| US4934816A (en) | Laser absorption detection enhancing apparatus and method | |
| JP3288672B2 (ja) | 試料の物理的性質の測定装置 | |
| US5351127A (en) | Surface plasmon resonance measuring instruments | |
| JPH07311182A (ja) | 光熱変位計測による試料評価方法 | |
| US7852488B2 (en) | Method and device for characterising a structure by wavelength effect in a photoacoustic system | |
| US6204926B1 (en) | Methods and system for optically correlating ultrashort optical waveforms | |
| US4682897A (en) | Light scattering measuring apparatus | |
| JP3288671B2 (ja) | 試料の物理的性質の測定装置 | |
| JPH07270308A (ja) | 光学式ガス分析装置 | |
| JP3288670B2 (ja) | 試料の物理的性質の測定装置 | |
| JP4284284B2 (ja) | 光熱変換測定装置及びその方法 | |
| JP2515343Y2 (ja) | 光導波路型吸光光度計 | |
| JP4119411B2 (ja) | 光熱変換測定装置及びその方法 | |
| JP4290142B2 (ja) | 光熱変換測定装置及びその方法 | |
| JP4601516B2 (ja) | テラヘルツ分光装置 | |
| US6867863B1 (en) | Integrated diagnostic for photoelastic modulator | |
| JP2923779B1 (ja) | 超音波検出用光干渉装置 | |
| JP3390355B2 (ja) | 表面プラズモンセンサー | |
| JPH09257755A (ja) | レーザー超音波検査装置及びレーザー超音波検査方法 | |
| JP3063131B2 (ja) | 光集積型干渉計 | |
| JP3357363B2 (ja) | 音響光学デバイスを使用する測定のための方法及び装置 | |
| JP3844688B2 (ja) | 全反射減衰を利用したセンサー | |
| Tanaka et al. | Brillouin scattering measurement of optothermally excited phonon |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19960528 |